DE3900040C2

DE3900040C2 - Procedure for the electrical testing of conductor tracks for short circuits

Info

Publication number: DE3900040C2
Application number: DE3900040A
Authority: DE
Inventors: Martin Barnaba
Original assignee: Nokia Deutschland GmbH
Current assignee: Nokia Deutschland GmbH
Priority date: 1989-01-03
Filing date: 1989-01-03
Publication date: 1995-03-30
Anticipated expiration: 2009-01-04
Also published as: DE3900040A1

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur elektrischen Prüfung von Leiterbahnen auf Kurzschlüsse, insbesondere von parallelen auf einem Substrat angebrachten Leiterbahnen, wie sie beispielsweise für Flüssigkristallanzeigen in Matrixbauweise gebraucht werden. Die Ansteuerung der Flüssigkristallanzeigen erfolgt über parallele Leiterbahnen, die matrixartig auf dem Substrat angebracht sind. Für eine einwandfreie Funktion der Anzeigeeinrichtung ist es wichtig, daß zwischen den einzelnen Leiterbahnen keine Kurzschlüsse bestehen. Vor dem Aufbau einer Flüssigkristallzelle ist daher zu prüfen, ob Kurzschlüsse zwischen Leiterbahnen vorliegen oder nicht. The invention relates to a method for electrical Checking conductor tracks for short circuits, in particular of parallel mounted on a substrate Conductor tracks, such as for Liquid crystal displays used in matrix construction become. The control of the liquid crystal displays takes place via parallel conductor tracks that are matrix-like are attached to the substrate. For a flawless Function of the display device, it is important that no short circuits between the individual conductor tracks consist. Before building a liquid crystal cell therefore check whether there are short circuits between conductor tracks are present or not.

Üblicherweise bedient man sich dazu einer Prüfvorrichtung die aus einem Anzeigeinstrument und zwei Tastspitzen bestehen. Die Tastspitzen sind über Verbindungsleitungen mit dem Anzeigeinstrument verbunden. Anzeigeinstrument und Tastspitzen stellen einen offenen Stromkreis dar, solange zwischen den beiden Tastspitzen keine leitende Verbindung hergestellt ist. Zum Testen der Leiterbahnen auf Kurzschluß werden die beiden Tastspitzen auf ein Paar benachbarte Leiterbahnen aufgesetzt. Bei Kurzschluß zwischen den Leiterbahnen wird der offene Stromkreis geschlossen und das Anzeigeinstrument gibt ein optisches und/oder akustisches Signal ab.A test device is usually used for this purpose from a display instrument and two probe tips exist. The probe tips are connected to the Display instrument connected. The display instrument and probe tips provide an open one Circuit as long as no conductive connection is established between the two probe tips is. The two probe tips are used to test the conductor tracks for short circuits placed on a pair of adjacent conductor tracks. In the event of a short circuit between the conductor tracks the open circuit is closed and the display instrument gives an optical and / or acoustic signal.

Sind auf einem Substrat, wie dies im Falle von Flüssigkristallanzeigen durchaus der Fall sein kann, mehrere hundert Leiterbahnen angebracht, ist das paarweise Testen benachbarter Leiterbahnen sehr zeitaufwendig.Are on a substrate, as is the case with liquid crystal displays If several hundred conductor tracks are attached, testing in pairs is more adjacent Traces very time consuming.

Deneben ist aus dem Aufsatz Bernhard, J.: Verfahren zum Orten von Kurzschlüssen auf Leiterplatten. In: Sonderdruck aus elektronik praxis 16. Jahrgang (1981 Heft 7) ein Verfahren zum Orten von Kurzschlüssen auf Leiterplatten bekannt, bei welchem mittels eines Meßkabels einer Wechselspannung in die zu prüfenden Leiterbahnen eingespeist wird. Ein Tastkopf wird entlang der Leiterbahn geführt, wobei durch Zunahme der Tonhöhe eines Schallwandlers die Nähe eines Kurzschlusses geortet werden kann. Da gemäß diesem Verfahren die gesamte mit Leiterbahnen versehene Fläche abgescannt werden muß, ist auch dieses Verfahen zur Ortung von Kurzschlüssen sehr zeitintensiv.In addition, from the essay Bernhard, J .: Procedure for locating short circuits Circuit boards. In: reprint from electronics practice 16th year (1981 issue 7) a procedure known for locating short circuits on printed circuit boards, in which by means of a Measuring cable of an AC voltage is fed into the conductor tracks to be tested. A Probe is guided along the conductor track, increasing by a pitch Transducer can be located near a short circuit. Because according to this The entire surface provided with conductor tracks must be scanned this procedure for locating short circuits is also very time-consuming.

Daher besteht nach wie vor das Bedürfnis ein Verfahren anzugeben, mit dem sich die Prüfung von Leiterbahnen erheblich schneller ausführen läßt.Therefore, there is still a need to specify a procedure with which the examination of conductors can run much faster.

Gelöst wird diese Aufgabe durch ein Verfahren mit der Merkmalskombination des Hauptanspruchs. In den Unteransprüchen sind vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung angegeben.This task is solved by a method with the combination of features of the main claim. In the subclaims advantageous embodiments of the invention are specified.

Die Vorrichtung gemäß der Erfindung hat den Vorteil, daß durch geeignete elektrische Verbindung eines Teils der Leiterbahnen die Prüfung mit nur einer einzigen Tastspitze durchgeführt werden kann.The device according to the invention has the advantage that by suitable electrical connection of some of the conductor tracks, the test was carried out with just one probe tip can be.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden beschrieben und anhand einer Figur näher erläutert. An embodiment of the invention is described below and using a Figure explained in more detail.

Es zeigt die Figur einen Ausschnitt aus einem mit Leiterbahnen versehenen Substrat und den zur Prüfung auf Kurzschluß notwendigen Elementen.It shows the figure a section from a Conductor provided substrate and the for testing Short circuit necessary elements.

In der Figur ist mit 10 ein Substrat bezeichnet, auf dem zwei Gruppen von Leiterbahnen zu erkennen sind. Mit 12, 14, 16 und 18 sind Leiterbahnen einer ersten Gruppe von Leiterbahnen bezeichnet, mit 11, 13, 15, 17 und 19 Leiterbahnen einer zweiten Gruppe von Leiterbahnen. An den Rändern des Substrates sind die Leiterbahnen zu sogenannten Anschlußpads 20 erweitert. Die erste Gruppe von Leiterbahnen (12, 14, 16, 18) ist elektrisch über eine mit 25 bezeichnete Leitgummischiene verbunden. Die Leiterbahnen 12, 14, 16 und 18 liegen elektrisch somit auf demselben Potential. Die Leitgummischiene 25 steht über eine Verbindungsleitung 24 mit einem Tastinstrument 23 in Verbindung. Das Tastinstrument 23 ist über eine Verbindungsleitung 22 mit einer Tastspitze 21 verbunden.In the figure, 10 denotes a substrate on which two groups of conductor tracks can be seen. 12 , 14 , 16 and 18 denote conductor tracks of a first group of conductor tracks, 11, 13, 15, 17 and 19 conductor tracks of a second group of conductor tracks. At the edges of the substrate, the conductor tracks are expanded to so-called connection pads 20 . The first group of conductor tracks ( 12 , 14 , 16 , 18 ) is electrically connected via a conductive rubber rail labeled 25 . The conductor tracks 12 , 14 , 16 and 18 are thus electrically at the same potential. The guide rubber rail 25 is connected to a keyboard instrument 23 via a connecting line 24 . The keyboard instrument 23 is connected to a probe tip 21 via a connecting line 22 .

Will man prüfen, ob zwischen den Leiterbahnen der ersten Gruppe und den Leiterbahnen der zweiten Gruppe ein Kurzschluß besteht, so werden mit der Tastspitze 21 die Leiterbahnen der zweiten Gruppe (11, 13, 15 ...) der Reihe nach abgetastet. Liegt ein Kurzschluß mit einer Leiterbahn der ersten Gruppe vor, gibt das Tastinstrument 23 ein Signal ab. Die Tastspitze wird dabei beispielsweise in einer mit 26 bezeichneten Richtung weiterbewegt.If one wants to check whether there is a short circuit between the conductor tracks of the first group and the conductor tracks of the second group, the conductor tracks of the second group ( 11 , 13 , 15 ...) are scanned in sequence with the probe tip 21 . If there is a short circuit with a conductor track of the first group, the keyboard 23 emits a signal. The probe tip is moved for example in a direction designated by 26 .

Mit dem bisher beschriebenen Prüfverfahren werden Kurzschlüsse, die zwischen den Anschlußpads der Leiterbahnen einer Gruppe bestehen, nicht detektiert. Hierzu braucht man eine Prüfvorrichtung mit zwei Tastspitzen, die dann jeweils auf ein Paar benachbarter Leiterbahnenanschlußpads derselben Gruppe aufgesetzt werden, z.B. auf die Pads der Leiterbahnen 12 und 14 oder 14 und 16 usw. Zur Vereinfachung dieses Verfahrens ist es sinnvoll, eine Prüfvorrichtung zu verwenden, bei der die Tastspitzen nicht frei beweglich, sondern durch einen Rahmen in einem festen Abstand zueinander gehalten werden.With the test method described so far, short circuits that exist between the connection pads of the conductor tracks of a group are not detected. For this you need a test device with two probe tips, which are then each placed on a pair of adjacent conductor connection pads of the same group, for example on the pads of conductor tracks 12 and 14 or 14 and 16 , etc. To simplify this method, it is useful to use a test device, in which the probe tips are not freely movable, but are held at a fixed distance from one another by a frame.

Claims

1. Method for the electrical testing of conductor tracks, in particular of parallel conductor tracks attached to substrates, for short circuits, consisting of the following steps:

- The conductor tracks of a first group, which are each formed by the next but one conductor tracks ( 12, 14, 16 ...), Are connected to one another in an electrically conductive manner and to a first input of a keyboard instrument ( 23 ).
- A probe tip ( 21 ) connected to a second input of the keyboard ( 23 ) individually scans the conductor tracks of a second group of conductor tracks ( 11, 13, 15 ...) Lying between the conductor tracks of the first group.

2. The method according to claim 1, characterized in that the conductor tracks of the first group are connected to one another via a conductive rubber rail ( 25 ).

3. The method according to claim 1, characterized in that an acoustic and / or optical signal emitting instrument is used as the keyboard instrument ( 23 ).