DE3623318A1 - Vorrichtung zum eindimensionalen vermessen eines objektes - Google Patents

Vorrichtung zum eindimensionalen vermessen eines objektes

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Geb Dieste Diestelhorst-Becker
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3816322A1 (de) * 1988-05-13 1989-11-23 Udo Dr Ing Tutschke Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen messung der aussenabmessungen von koerpern
DE3843286C1 (en) * 1988-12-22 1990-06-13 Hoesch Stahl Ag, 4600 Dortmund, De Profile measuring device
DE19806288A1 (de) * 1998-02-16 1999-08-26 Fraunhofer Ges Forschung Laserscanner-Meßsystem

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2116469A1 (de) * 1971-04-03 1972-10-05 Elektro Optik Gmbh & Co Kg Verfahren zur Realisierung von Lichtpunktdisplays
DE2313439A1 (de) * 1972-03-17 1973-09-20 Ti Group Services Ltd Profilbreite-messvorrichtung
DE2404373A1 (de) * 1973-01-30 1974-08-01 Nat Res Dev Vorrichtung zum schaetzen bzw. messen der abmasse, gestalten und geschwindigkeiten von tropfen in einem spruehnebel
DE2657938A1 (de) * 1975-12-22 1977-06-30 Monsanto Co Verfahren und einrichtung zum optischen messen der abmessungen eines gegenstandes
DE2802724A1 (de) * 1977-01-25 1978-08-03 Schumag Gmbh Verfahren zum optischen abtasten von objekten und optischer abtaster
DE3220790A1 (de) * 1981-06-04 1982-12-23 Zumbach Electronic AG, 2552 Orpund Vorrichtung zur erzeugung eines telezentrischen lichtstrahls und verwendung der vorrichtung
DE3526656A1 (de) * 1984-07-26 1986-02-06 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd., Tokio/Tokyo Optische messeinrichtung

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2116469A1 (de) * 1971-04-03 1972-10-05 Elektro Optik Gmbh & Co Kg Verfahren zur Realisierung von Lichtpunktdisplays
DE2313439A1 (de) * 1972-03-17 1973-09-20 Ti Group Services Ltd Profilbreite-messvorrichtung
DE2404373A1 (de) * 1973-01-30 1974-08-01 Nat Res Dev Vorrichtung zum schaetzen bzw. messen der abmasse, gestalten und geschwindigkeiten von tropfen in einem spruehnebel
DE2657938A1 (de) * 1975-12-22 1977-06-30 Monsanto Co Verfahren und einrichtung zum optischen messen der abmessungen eines gegenstandes
DE2802724A1 (de) * 1977-01-25 1978-08-03 Schumag Gmbh Verfahren zum optischen abtasten von objekten und optischer abtaster
DE3220790A1 (de) * 1981-06-04 1982-12-23 Zumbach Electronic AG, 2552 Orpund Vorrichtung zur erzeugung eines telezentrischen lichtstrahls und verwendung der vorrichtung
DE3526656A1 (de) * 1984-07-26 1986-02-06 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd., Tokio/Tokyo Optische messeinrichtung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
MARSHALL, Gerald F.: Laser Beam Scanning, Marcel Dekker Inc., New York 1985 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3816322A1 (de) * 1988-05-13 1989-11-23 Udo Dr Ing Tutschke Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen messung der aussenabmessungen von koerpern
DE3843286C1 (en) * 1988-12-22 1990-06-13 Hoesch Stahl Ag, 4600 Dortmund, De Profile measuring device
DE19806288A1 (de) * 1998-02-16 1999-08-26 Fraunhofer Ges Forschung Laserscanner-Meßsystem
US6858836B1 (en) 1998-02-16 2005-02-22 Fraunhofer Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. Laser scanner measurement system

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