DE3527826A1 - Optisches grossteleskop - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein optisches Großteleskop zur Beobachtung von Leuchterscheinungen im sichtbaren, infra­ roten und nahen UV-Spektralbereich, mit einem Primär­ reflektor, der aus mehreren Einzelreflektoren zusammen­ gesetzt ist, mit einem um eine Hochachse (Azimut) und um eine Querachse (Elevation) schwenkbaren Unterbau zur Stützung der Einzelreflektoren und mit einem auf Stützen gehaltenen Sekundärreflektor zur Fokussierung des von dem Primärreflektor empfangenen und reflektierten Lichtes.

Bei Einzelreflektoren zur Beobachtung von Leuchterschei­ nungen in einem Spektralbereich von ca. 0,3 µm bis ca. 1 mm Wellenlänge gibt es aufgrund der Herstellungs- und Bearbeitungsmöglichkeiten eine natürliche Durchmesser­ begrenzung, die bei etwa 5 bis 7 m liegt. Obwohl rein theoretisch auch die Anfertigung größerer Monolithe möglich wäre, wird dieser Weg deshalb nicht beschritten, weil die Kosten in keinem Verhältnis mehr zu dabei er­ zielbaren Vorteilen stehen. Dennoch gibt es ein Bedürfnis, optische Großteleskope mit einem größeren Druchmesser als 7 m zur Verfügung zu haben.

Es ist schon versucht worden, diese durch die Bearbeitung gesetzte Grenze dadurch zu überschreiten, daß der Primär­ reflektor eines optischen Großteleskopes aus einem Mosaik zahlreicher Einzelreflektoren zusammengesetzt wird, die in einzelnen Bearbeitungsschritten auf herkömmlichen Be­ arbeitungsmaschinen geschliffen und später auf einem Unterbau zu einem einzigen Primärreflektor zusammenge­ setzt werden. Dieser Vorschlag ist zumindest im Jahre 1984 unterbreitet worden und in der Druckschrift "Inter­ nat. Astronom. Union Colloquium", (Eds.: M.H. Ulrich, K. Kjär), Nr. 79, September 1984, Seite 109 veröffentlicht worden. Dieser Vorschlag zielt darauf ab, einen extrem steifen und genauen Unterbau zu erzeugen, dessen Auflage­ punkte für die Einzelreflektoren ihrerseits geschliffen sind, und darauf in sich relativ weiche, gleich dicke Einzelreflektoren aufzusetzen und durch Vakuum zu halten.

Bei einem optischen Großteleskop, das nach diesem Vor­ schlag gefertigt ist, wird zwar die Stützfunktion und die Reflektionsfunktion getrennt, es muß jedoch bezweifelt werden, daß die erhofften Vorteile tatsächlich eintreten. Das Auf-Maß-Schleifen der Auflagestellen des Unterbaus verlangt ja seinerseits Bearbeitungsmaschinen, die Durch­ messer des späteren Gesamtreflektors bearbeiten können, so daß von daher ein erheblicher Aufwand erforderlich ist. Zwar muß im Zuge dieser Bearbeitung keine optimal reflek­ tierende Fläche erzeugt werden, so daß Riefen und der­ gleichen gestattet werden können, an die Genauigkeit sind jedoch hohe Anforderungen zu stellen. Der genannte Vorschlag weist denn auch hauptsächlich Vorteile bei der Auffrischung der Reflektionsschicht auf; bei dieser Reparatur können die Einzelreflektoren nacheinander aus­ gebessert und nachher wieder reproduzierbar in Stellung­ gebracht werden.

Eine weitere Schwierigkeit besteht darin, den zusammen­ gesetzten Mosaikspiegel zu testen. Die Einjustierung erfordert einen zuverlässigen Nullfestspiegel, der zur Bildung einer Referenz-Wellenfront erforderlich ist. In der erforderlichen Größe sind bisher derartige Nullfest­ spiegel nicht vorhanden.

Es ist demnach Aufgabe der Erfindung, ein optisches Groß­ teleskop der eingangs genannten Art vorzuschlagen, das bei extremer Genauigkeit Durchmesser für den Primärreflek­ tor gestattet, die auf herkömmlichen Anlagen nicht her­ gestellt und/oder nicht bearbeitet werden können, ohne die normalerweise zu erwartenden enormen Kosten zu ver­ ursachen.

Zur Lösung dieser Aufgabe schlägt die Erfindung vor, daß der Unterbau in den Einzelreflektoren zugeordnete Bereiche eingeteilt ist, daß eine Hilfsstrahlenquelle und ein Hilfs­ strahlenempfänger zur Aussendung und zum Empfang einer Meß- und Eichstrahlung vorgesehen sind, und daß die Auf­ lagepunkte für den Einzelreflektor in jedem Bereich in Abhängigkeit von dem in dem Hilfsstrahlenempfänger re­ gistrierten Reflektionsergebnis verstellbar sind.

Die Erfindung wendet sich von der bisher üblichen Art, den Primärreflektor eines optischen Großteleskopes bei der Herstellung ein für allemal einzujustieren, ab und schlägt statt dessen vor, im laufenden Betrieb eine Ein­ messung der einzelnen Reflektorbereiche vorzunehmen und nach den jeweiligen Erfordernissen zu verstellen bzw. nachzukorrigieren. Bei dieser Art der Einjustierung bzw. der Konstruktion eines Großteleskopes kann die Erwärmung, eine Verformung infolge einer Neigung, die Windkraft und sonstige Einflüsse berücksichtigt werden, also nach der jeweils vorherrschenden Bedingung ein optimaler Meßzustand herbeigeführt werden. Als Folge dieser anderen Art der Betriebsweise kommt es auf eine extreme Steifigkeit des Unterbaus nicht mehr so sehr an wie bisher. Selbstver­ ständlich werden auch hier nur geringe Verformungen toleriert, das Großteleskop gemäß der Erfindung ist jedoch aufgrund der Nachstellmöglichkeit in der Lage, Verformungen auszugleichen, die andernfalls nicht hätten in Kauf genommen werden dürfen oder hätten ausgeglichen werden müssen.

Die Hilfsstrahlung für die Einmessung der Einzelreflek­ toren zu einem Gesamt-Primärreflektor sollte eine Genau­ igkeit von λ/8 der verwendeten Wellenlänge aufweisen. Die Einmessung erfolgt daher mit einem Lasersystem, das von der mechanischen Grundgenauigkeit von zum Beispiel ± 15 µm ausgeht und nach und nach die Flächengenauigkeit durch Verwendung kürzerer Wellenlängen auf die gewünschte Genauigkeit bringt.

In der Regel wird der Meß- und Eichvorgang intermittierend durchgeführt, beispielsweise bei der Verfolgung einer Leuchterscheinung alle zehn Minuten, wenn die Bewegungen nicht zu stark sind. Während dieser Perioden tritt kaum eine Lageveränderung des Großteleskopes ein, so daß der sich am Ende dieser Periode möglicherweise ergebende Fehler gering ist. Abweichend davon kann auch eine fort­ laufende Messung und Eichung vorgenommen werden, wobei dann allerdings die Hilfsstrahlung aus der zu beobachtenden Strahlung herausgefiltert werden muß. Störungen sind dann allenfalls durch Streuungen möglich, die in Kauf genommen oder gesondert unterdrückt werden müssen.

Es ist besonders vorteilhaft, wenn im Zentrum des Primär­ reflektors ein Einzelreflektor als Monolith herkömmlicher Bauart verwendet wird, insbesondere von einem großen Durchmesser (zum Beispiel von 5 bis 7m), jedoch als ver­ hältnismäßig dünner Meniskus. In diesem Fall besteht für die Hilfsstrahlung ein großflächiges, stets korrektes Referenzbild, von dem aus die ringsherum angeordneten Einzelreflektoren viel leichter und zuverlässig einzu­ messen sind. Außerdem kann auch bei Ausfall der Meß- und Eicheinrichtung beobachtet und gemessen werden, wenn auch möglicherweise unter teilweisem Verzicht auf den durch die Einzelreflektoren beigesteuerten Lichtanteil.

Falls Schwierigkeiten bestehen, die Einzelreflektoren am äußersten Rand des zusammengesetzten Primärreflektors beispielsweise für eine kurzwellige Strahlung genau genug einzumessen, kann dennoch beispielsweise für eine Infra­ rotstrahlung der gesamte Primärreflektor und für eine kurzwellige, UV-nahe Strahlung nur der Monolith im Sinne einer Apodisierung eingesetzt werden. Dieses Prinzip ge­ stattet im übrigen den sukzessiven Ausbau des Großteles­ kopes ausgehend von dem zentralen Monolithen zu größeren Einheiten, wenn der Unterbau von vornherein entsprechend darauf vorbereitet worden ist.

Der monolithische Zentralreflektor kann nach einem be­ kannten Verfahren der Firma Karl Zeiss im wesentlichen passiv gelagert werden. Das heißt, daß bei einer Kippung die Unterstützungskräfte an den einzelnen Auflagestellen so einjustiert werden, daß die Fläche automatisch ihre ursprüngliche Gestalt beibehält. In ähnlicher Weise werden alle Einzelreflektoren gelagert. Wie bei der bekannten Konstruktion kann also der Reflektor an bestimmten Stellen "verdrückt" werden, also die Kontur beeinflußt werden. In dieser Weise werden Störungen durch die genannten Ein­ flüsse aufgefangen und, wenn möglich, unschädlich gemacht. Allerdings erfolgt die Justierung nach einem Programm, das bei der Herstellung festgelegt worden ist und das gegebenenfalls beispielsweise mit Hilfe eines hellen Sternes überprüft werden kann.

Diese Art der passiven Lagerung hat den Vorteil, daß zu­ sätzlicheaktive Lageänderungen der Reflektoren verhältnis­ mäßig selten sind oder langsam erfolgen können. Die gemäß Erfindung vorgesehene Meß- und Eichvorrichtung kommt also nur dann zur Anwendung, wenn das vorhandene passive System, das eine Einjustierung nach einem festen Programm vornimmt, nicht ausreicht bzw. überlagert werden muß.

Die den Monolithen in Kreisringen umgebenden Einzelreflek­ toren können bei annähernd gleichem Material zu annähernd gleicher optischer Qualität ihrer Oberflächen sehr dünn ausgeführt werden, da die Biegungseffekte etwa proportional dem Quadrat von Fläche zu Dicke anwachsen. Bei einem reinen Monolithen für ein Großteleskop ist die Dicke in den äußeren Randbereichen gerade besonders groß, was statisch gesehen den schlechtesten Fall darstellt, wenn eine möglichst geringe Verformung des Monolithen in sich angestrebt wird. Hier bietet die Erfindung erhebliche Vorteile, da die Einzelreflektoren für die Außenbereiche wesentlich dünner ausgebildet werden können, als ent­ sprechende Bereiche eines gleich großen Monolithen. Dieser Umstand wirkt sich positiv auf den Aufwand bei dem Unter­ bau aus, da die auftretenden Kräfte leichter beherrscht werden können, also der Unterbau bei gleichem Aufwand steifer bzw. bei geringerem Aufwand gleich steif wie ein entsprechender Monolith ausgebildet werden kann.

Unabhängig von der Verwendung eines Monolithen oder von im wesentlichen gleich großen Einzelreflektoren für den Primärreflektor läuft ein Meß- und Eichvorgang etwa folgendermaßen ab: Die Hilfsstrahlenquelle sendet eine Strahlung aus, die bereichsweise oder durch Abrastern auf die Einzelreflektoren gerichtet wird. Nach der Reflek­ tion wird in dem Hilfsstrahlenempfänger die Lage und Qualität des Bildes überprüft, also die an der entsprechen­ den Stelle gewünschte Qualität des reflektierten Bildes mit dem tatsächlichen verglichen. Wenn dabei Abweichungen festgestellt werden, wird der betreffende Einzelreflektor mit Hilfe einer Verstellung an einem oder an mehreren seiner Auflagepunkte in eine andere Stellung gebracht, die das reflektierte Bild dem Sollbild näherbringt. Für diese Auswertung des Prüfbildes und für die Abgabe des Steuer­ signals an die Auflagestelle bedient man sich eines Pro­ zessrechners, in den die idealen Bilder jedes Einzelreflek­ tors eingespeichert sind.

Die Verstellung der Auflagepunkte jedes Einzelreflektors kann auf die unterschiedlichste Weise geschehen. Es kommt lediglich darauf an, daß besonders kleine Verstell­ wege reproduzierbar erzielt werden, die im Bereich unter­ halb 1/2 µm liegen. Darüber hinaus muß die entsprechende Verstellmöglichkeit feststellbar sein, also eine einmal aufgefundene Stellung beibehalten werden können. Da das Ergebnis der Verstellung durch die Meß- und Eicheinrich­ tung nachkontrolliert werden kann, kann auf die Vorgabe eines bestimmten Verstellweges verzichtet werden, wohl aber muß die minimal mögliche Verstellung bei einer Ansteuerung extrem klein sein. Allerdings wird bei einer passiven Lagerung auch ein vorgegebener Verstellweg ge­ fordert.

Eine dieser Verstellmöglichkeiten besteht zum Beispiel aus einer magneto-mechanischen Verstellvorrichtung. Dabei ist ein Stahlstab, der als eine von mindestens drei ähnlich gestalteten Auflagestellen dient, an zwei Stellen von einer Klemmvorrichtung umgeben, von denen stets eine betätigt ist. Zur Verstellung wird der Stab magnetisiert, wodurch er seine Länge linear ändert. Nach dieser Änderung wird die andere Klemmvorrichtung betätigt und eine Demagnetisierung durchgeführt. Dadurch gibt es wieder eine Verschiebung an der ersten Klemmvorrichtung, die dann im Falle einer erneuten Verstellung geschlossen wird.

Abweichend davon kann auch eine hydraulisch-mechanische Verstellung vorgenommen werden. Dabei wird jede Auflage­ stelle von der elastischen Wandung einer Kammer gebildet, in der sich eine inkompressible Flüssigkeit befindet. Mit Hilfe eines mehr oder weniger tief in die Kammer eindringenden Verdrängers - hier eignen sich Kolben oder Membranen - wird die elastische Wandung verschieden stark gewölbt, so daß es zu der erwünschten Verstellung kommt. Als Antriebseinrichtung für den Verdränger kommen Linearmotoren, mit Hilfe von Schrittmotoren bewegte Exzenter und dergleichen in Frage.

Die übliche Anordnung von Großteleskopen ist so, daß neben dem um die Hochachse und um die Querachse schwenk­ baren Primär- und Sekundärreflektor ein eigenes Gebäude für die Instrumentierung, die fest aufgestellt werden muß, vorhanden ist. Der empfangene und für die Beobachtung vor­ gesehene Lichteinfall wird in dieses separate Gebäude mit Hilfe von zusätzlichen Spiegeln umgelenkt. Die dabei auf­ tretenden Verluste sind beträchtlich, da pro Reflektion die Intensität nur noch ca. 70 bis 80% des Ausgangswertes beträgt. Zur weiteren Optimierung des Großteleskopes schlägt deshalb die Erfindung als selbständig schutz­ fähigen Gedanken vor, die Instrumentierung in das Gehäuse zu verlegen, das zur Einjustierung des Azimuts drehbar ist, wobei die Fokalebene des Sekundärreflektors in die Nähe der Elevationsachse gelegt wird. In dieser Weise kann entweder bei mitverschwenkter Instrumentierung bereits ein dritter Reflektor eingespart werden, zumindest sind jedoch nicht mehr als insgesamt drei Reflektoren er­ forderlich, wenn die Instrumentierung bezüglich des Ge­ häuses fest installiert ist und sich ein gegebenenfalls verstellbarer Reflektor im Fokalbereich auf der Elevations­ achse befindet.

Statt des dritten Reflektors können auch die Lichteintritts­ flächen von Lichtleitern angeordnet werden, beispiels­ weise mittels Faseroptiken. Die Verluste sind außerordent­ lich gering, außerdem sind die Fasern geschmeidig, so daß bei gehäusefester Instrumentierung die Lichteintrittsfläche beweglich mit dem Primär- und Sekundärreflektor ausge­ bildet werden kann. In dieser Weise ist ein besonders wirkungsvolles und verlustfreies Beobachten simultan mit zahlreichen Instrumenten oder Meßgeräten möglich. Ein Großteleskop der eingangs genannten Art wird so in idealer Weise ergänzt, nämlich die gewonnene bessere Lichtausbeute wird bis zur Instrumentierung besser er­ halten als bei bisherigen optischen Großteleskopen und Entwürfen für solche.

Nachfolgend wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung, das in der Zeichnung dargestellt ist, näher erläutert; in der Zeichnung zeigen:

Fig. 1 eine schematische Seitenansicht eines optischen Großteleskopes gemäß der Erfindung in einem Elevationswinkel von 90°,

Fig. 2 eine Seitenansicht des Großteleskopes ge­ mäß Fig. 1 in einer Stellung mit dem Ele­ vationswinkel 0°,

Fig. 3 eine schematische Draufsicht auf ein erstes Ausführungsbeispiel für einen Primärreflektor an einem Großteleskop gemäß den Fig. 1 und 2 und

Fig. 4 eine Ansicht gemäß Fig. 3 eines weiteren Ausführungsbeispiels für einen Primärre­ flektor.

Das in der Fig. 1 wiedergegebene optische Großteleskop gemäß der Erfindung ruht auf einem Gehäuse 1, das um eine Hochachse 2 zur Einjustierung der azimutalen Posi­ tion auf einer nicht näher dargestellten Vorrichtung dreh­ bar ist. In der Regel besteht diese Vorrichtung aus kreis­ förmig angeordneten Präzisionsschienen. Im oberen Teil des Gehäuses 1 ist eine Lagerung für eine Einheit vor­ handen, die aus einem Primärreflektor 5 und einem mit Hilfe von vier bzw. einer ähnlichen, noch genauer fest­ zusetzenden Anzahl von Stützen gehaltenen Sekundärreflek­ tor 7 besteht. Diese Einheit ist um eine Querachse 3 zur Einjustierung der Elevationsposition schwenkbar. Unter­ halb des eigentlichen Primärreflektors 5 befindet sich ein Unterbau 4 bzw. eine Trägerstruktur, die im vor­ liegenden Fall als Gitterrahmen dargestellt ist. Ab­ weichend von der Darstellung gemäß der Fig. 2, wonach die Querachse 3 an der einen Seite des Gehäuses 1 liegt, kann die Anordnung dieser Querachse 3 etwa in Gehäuse­ mitte erfolgen, falls entsprechende Zwänge aufgrund der innerhalb des Gehäuses 1 untergebrachten Instrumentierung dies verlangen.

Die Fig. 1 und 2 veranschaulichen nur das Prinzip der Montierung des Primärreflektors 5 des Großteleskopes ge­ mäß der Erfindung. In den Fig. 3 und 4 sind Ausführungs­ beispiele des Primärreflektors 5 wiedergegeben, bei denen ein zentraler Monolith 10 von etwa 5 bis 7 m Durchmesser vorhanden ist, um den sich weitere Einzelreflektoren 11 gruppieren, die die Gestalt von Kreisringsegmenten haben. Die Erfindung gibt der Ausführung mit einem zentralen Monolith 10 deutlich den Vorzug. Der Aufbau des Primär­ reflektors im Bereich des Monolithen 10 ist im wesent­ lichen frei wählbar, es kommt nur darauf an, daß seitlich ein Unterbau für die Einzelreflektoren 11 angeschlossen werden kann bzw. in den Gesamtunterbau 4 derjenige für den Monolithen 10 mit einbezogen ist.

Jeder Einzelreflektor 11 ist mindestens an drei Stellen auf den Unterbau 4 aufgelegt und gehalten. Dadurch ist eine Rotation um jede Achse möglich, die in der durch die drei Punkte definierte Ebene liegt sowie die Ab­ senkung und Anhebung dieser Ebene.

Die Einjustierung jedes Einzelreflektors 11 wird nach Maßgabe einer Meß- und Eicheinrichtung vorgenommen, deren Hilfsstrahlenquelle beispielsweise außerhalb des Sekundär­ reflektors 7 liegt, und zwar so weit außerhalb, daß bei Abrasterung der Einzelreflektoren 11 im äußeren Kreisring des Primärreflektors 5′ gemäß der Fig. 4 noch die Prüf­ strahlung in den an gleicher Stelle angeordneten Hilfs­ strahlenempfänger fällt. Die Meß- und Eicheinrichtung ist in den Figuren nicht dargestellt, da bezüglich der eigentlichen Technik bekannte Wege beschritten werden.

Die von dem Sekundärreflektor 7 fokussierte Strahlung hat ihren Fokalbereich auf der Querachse 3, um die die Einheit aus dem Primärreflektor 5 und dem Sekundärre­ flektor 7 zur Einjustierung der Elevationsposition schwenkbar ist. Die hier fokussierte Strahlung fällt auf die Lichteingangsfläche beispielsweise von Fiber­ optiken, an deren Lichtaustrittsfläche dann die gehäuse­ festen Instrumentierungen angeordnet sind. Statt der Fiberoptiken können auch ein feststehender oder beweglicher dritter Reflektor im Bereich der Querachse 3 vorhanden sein. Selbstverständlich können auch mehrere Fokusposi­ tionen innerhalb des Gehäuses 1 festgelegt und durch ent­ sprechende Ausrichtung der Lichtleiter bzw. von Reflek­ toren nacheinander oder gleichzeitig die einfallende Strahlung empfangen.

Claims (10)

1. Optisches Großteleskop zur Beobachtung von Leucht­ erscheinungen im sichtbaren, infraroten und nahen UV- Spektralbereich, mit einem Primärreflektor, der aus mehreren Einzelreflektoren zusammengesetzt ist, mit einem um eine Hochsachse (Azimut) und um eine Querachse (Elevation) schwenkbaren Unterbau zur Stützung der Einzelreflektoren und mit einem auf Stützen gehaltenen Sekundärreflektor zur Fokussierung des von dem Primär­ reflektor empfangenen und reflektierten Lichtes, dadurch gekennzeichnet, daß der Unterbau (4) in den Einzelreflektoren (11) zugeordnete Bereiche eingeteilt ist, daß eine Hilfsstrahlenquelle und ein Hilfsstrahlen­ empfänger zur Aussendung und zum Empfang einer Meß- und Eichstrahlung vorgesehen sind, und daß die Auflagepunkte für den Einzelreflektor (11) in jedem Bereich in Ab­ hängigkeit von dem in dem Hilfsstrahlenempfänger registrier­ ten Reflektionsergebnis verstellbar sind.

2. Großteleskop nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Hilfsstrahlenquelle inter­ mittierend betreibbar ist und aus einem Laser besteht.

3. Großteleskop nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Einzelreflektoren (11) aus Kreisringsektoren bestehen, und daß ein zentraler Einzel­ reflektor als Monolith (10) herkömmlicher Bauart zur Bildung einer grundlegenden Referenzfläche vorhanden ist.

4. Großteleskop nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Einzelreflektor (11) an mindestens drei Stellen aufliegt, die jeweils individuell verstellbar sind.

5. Großteleskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Verstellung jedes Auflagepunktes eines Bereiches aus einer Kammer mit einer elastischen Wandung als Auflagefläche für den Einzelreflektor (11) gebildet ist, daß die Kammer mit einer inkompressiblen Flüssigkeit gefüllt ist, und daß mit der Kammer ein einstellbarer Verdränger verbunden ist.

6. Großteleskop nach Anspruch 5, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Verdränger ein Kolben oder eine Membran ist, und daß zur Verstellung des Verdrängers ein feststellbarer Linearmotor oder magnetostriktiver Motor vorgesehen ist.

7. Großteleskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Fokalpunkt des Sekundärreflektors (7) im wesentlichen auf der Quer­ achse (3) für die Einjustierung der Elevation liegt, und daß ein die Lagerung dieser Bewegung aufnehmendes Gehäuse (1) unmittelbar auf einer Drehvorrichtung um die Hoch­ achse (2) schwenkbar ist.

8. Großteleskop nach Anspruch 7, dadurch gekenn­ zeichnet, daß im Fokalpunkt ein dritter Reflektor oder die Eingangsfläche eines oder mehrerer Lichtleiter, insbesondere einer Faseroptik, zur Umlenkung des ein­ fallenden Lichtes auf einen festen Punkt innerhalb des Gehäuses (1) angeordnet ist.

9. Großteleskop nach Anspruch 7, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Instrumentierung fest mit dem Gehäuse (1) verbunden ist.

10. Großteleskop nach Anspruch 8 oder 9, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der dritte Reflektor bzw. die Eingangsfläche des Lichtleiters bzw. der Lichtleiter um die Querachse (3) verstellbar ausgebildet ist.