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Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen
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Schaltungen, insbesondere Leiterplatten Die Erfindung bezieht sich
auf eine Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Schaltungen, insbesondere Leiterplatten,
bei der zwischen einer Montageplatte mit Aufnahmevorrichtungen für die Leiterplatten
und einer relativ zu dieser parallel beweglichen Kontaktplatte ein Vakuum ziehbar
ist und so Kontaktstifte mit bestimmten Leiterbahnpunkten in Berührung bringbar
sind, sowie wenigstens eine der beiden Platten Randdichtungen für eine abgedichtete,
kolbenartiye Verschiebung an den Innenwänden eines Rahmens oder dergleichen aufweist.
(DBk .. .G 84 21 022.2).
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Bei Vorrichtungen der vorgenannten Art besteht die
eigentliche
Prüfvorrichtung aus einem deckelartigen Bauteil, in dem die Kontaktplatte und die
Montageplatte mit dem zwischen diesen angeordneten Vakuumraum vorge sehen sind,
wobei dann diese Einheit als klappbarer Deckel ein nach oben offenes Prüfgehäuse
abschließt.
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Die Notwendigkeit, derartige Prüfvorrichtungen einzusetzen, erweitert
sich ständig, da in zunehmendem Maße auch kleinere Firmen Leiterplatten prüfen müssen.
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Der bisher erforderliche Aufwand für eine derartige Prüfvorrichtung
muß daher kostenmäßig und aufwandsmäßig dem neu entstehenden Bedarf angepaßt werden.
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Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine derartige Vorrichtung
zum Prüfen von Leiterplatten sowohl in Bezug auf den Raumbedarf als auch in Bezug
auf die Ausstattung zu vereinfachen und insbesondere auch für kleinere Prüflinge
geeignet zu machen.
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Die Erfindung löst die gestellte Aufgabe durch eine Vorrichtung nach
Anspruch 1.
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Die bisher ausschließlich als Deckel- oder Aufsatzeinheit ausgebildete,
eigentliche Prüfvorrichtung mit der Montageplatte und der Kontaktplatte, zwischen
denen ein Vakuum angeordnet ist, ist so konstruktiv in die Gesamtvorrichtung mit
e.inbezogen, daß diese den Rahmen und das eigentliche Gehäuse zusätzlich mit bilden.
Dies wird auch aus der Lösung nach Anspruch 2 deutlich.
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Bei kleineren Einheiten ist die Lösung nach Anspruch 3 besonders vorteilhaft,
weil dadurch die Zahl der Bauteile reduziert wird. Die Kontaktplatte und die Monta
geplatte bestehen dann jeweils mit ihren zugehörigen Rahmen aus einem Stück.
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Durch den Anspruch 4 wird deutlich, daß einer der Zylinderabschnitte
gleichzeitig das Standgehäuse bilden kann. Je nach den Umständen kann dies jeder
der Zylin
derabschnitte sein. Diese bilden mit ihren jeweiJtgn Zylinderabschnitten
topfförmige Einheiten. Daher ist es durchaus denkbar, diese mit ihren Topföffnungen
gegeneinander zu richten oder gleichgerichtet zu ordnen. Jede dieser Einheiten kann
gegebenenfalls das Standgehäuse bilden.
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Insbesondere bei kleineren Einheiten kann die kreisrunde Form sehr
vorteilhaft sein.
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Wenn nach Anspruch 6 eine dritte Teleskopeinheit hinzukommt, so ergibt
sich einleuchtend eine sehr einfache Montage und Demontage, weil die einzelnen Teleskopeinheiten
lediglich zusammmengeschoben und für die Demontage auseinandergezogen werden.
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Der Anspruch 7 ist lediglich eine konstruktiv zweckmäßige Maßnahme,
während der Anspruch 8, basierend auf Vorschlägen des Standes der Technik, eine
vorteil hafte Ausgestaltung, insbesondere bei einer vakuumgesteuerten Trennstelle,
ist. Dazu gehören auch ergänzend die Ansprüche 9 und 10.
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Insgesamt ergibt sich durch die Erfindung eine sehr vorteilhafte,
einfache und daher auch billige Prüfeinrichtung, die den Bedürfnissen bei häufig
wechseln den Prüflingsformen und -Schaltmustern ebenso wie bei ständig gleichen
Prüflingen gerecht wird. Alle Bauteile sind leicht zugänglich. Reparaturen und Überprüfungen
werden erleichtert.
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Die Zeichnung zeigt mit Figur 1 einen Vertikal schnitt durch die Prüfvorrichtung
nach der Erfindung, Figur 2 eine Draufsicht nach Figur 1.
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Die Vorrichtung nach der Erfindung besteht im wesentlichen aus zwei
oder drei Zylinderabschnitten mit 10 als erstem, 12 als zweitem und 16 als drittem
Teleskopteil, das ebenfalls einen Zylinderabschnitt bilden kann. Jeder der drei
Zylinderabschnitte könnte das ruhende Gehäuse als Standgehäuse 13 bilden.
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Diesem gegenüber bewegen sich dann die beiden anderen oder nur das
eine andere durch das Vakuum gesteuert relativ zueinander. Zur Verdeutlichung dieser
Moglichkeiten wurde bei der Zeichnung ein drittes Teleskopteil 16 als Standgehäuse
13 gewählt. Die Anordnung dieser teleskopisch gegeneinander bewegbaren Teile zueinander
kann gleichgerichtet oder entgegengerichtet sein, je nachdem, wie dies besondere,
konstruktive Gegebenheiten erfordern.
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Eine Leiterplatte 1 liegt in einer Aufnahmevorrichtung 3, die in bekannter
Weise eine umlaufende, elastische Fassung bildet. Unterhalb der Leiterplatte 1 sind
die verschiedenen Kontaktpunkte Kontaktstiften 5 zugänglich, wenn die Montageplatte
2 und die Kontaktplatte 4 aufeinander zu bewegt werden und so die Kontaktstifte
5 mit den Kontaktstellen 6 in Berührung kommen. Zwischen der Montageplatte 2 und
der Kontaktplatte 4 sind in bekannter Weise Spreizfedern 24 und Verbindungsmittel
25 vorgesehen, deren Ausbildung und Anordnung nicht Gegenstand der Erfindung sind.
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Die Kontaktstifte 5 können doppelteleskopisch federnd ausgebildet
sein. Derartige Ausführungen sind handels
üblich. Auf der Montageplatte
2 ist der Ansaugstutzen 23 für die Vakuumziehvorrichtung vorgesehen.
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Bei der dargestellten Ausführungsform mit drei Teleskopteilen sind
natürlich zwischen dem dritten Teleskopteil und dem zweiten Teleskopteil entsprechend
Spreiz- und Führungsmittel vorgesehen, jedoch nicht dargestellt.
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Wird nun über die Vakuumziehvorrichtung in dem Raum 17 ein Vakuum
gezogen, so werden, wenn man sich-den Vakuumraum 17 abgeschlossen vorstellt, die
Montageplatte 2 und die Kontaktplatte 4 aufeinander zu bewegt, und die Kontaktstifte
5 kommen mit vorbestimmtem, federnd elastischem Andruck mit den Kontaktstellen 6
in Berührung.
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Bei der dargestellten Form soll jedoch erst dann eine elektrische
Verbindung zu der E]ektronik der Meß-und Prüfinstrumente hergestellt werden, wenn
auch die Schnittstelle 20 durch eine entsprechende Relativ bewegung zwischen der
Kontaktplatte 4 und dem dritten Teleskopteil 16 erfolgt ist und die Kontaktstellen
22 mit den Kontaktstiften 5 in leitender Berührung stehen.
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Das eigentliche Prüfmuster wird durch das dritte Teleskopteil 16 bestimmt,
bei dem nämlich lediglich diese nigen Kontaktstellen unter Strom stehen, die einen
Prüfvorgang bewirken sollen.
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Zweckmäßig kann es sein, die Zahl der Kontaktstift so groß zu machen
und so regelmäßig anzuordnen, daß alle möglichen Kontaktstellen erfaßt werden. Aber
nur die zu prüfenden, im Muster der jeweiligen Leiter platte und dem Prüfmuster
angepaßten Kontaktstellen werden beispielsweise über Steckverbindungen 26 anqeschlossen.
Nun ist es möglich, den Vakuumraum 17 mit dem Unterdruckraum 18 über Verbindungen
19 zu einem einzigen Raum so auszubilden, daß beim Ziehen eines
Vakuums
alle drei Teleskopteile einander angenähert werden, wobei in dem dargestellten Beispiel
das ruhende Gehäuse 13 natürlich am Ort verbleibt, während die beiden anderen sich
relativ zu diesem bewegen.
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Die vorstehende Beschreibung macht deutlich, daß genausogut auch lediglich
der Zylinderabschnitt 10 und der zweite Zylinderabschnitt 12 Verwendung finden können,
wobei einer dieser beiden dann durch eine Verlängerung der Zylinderabschnitte bzw.
der Rahmenteile als Standgehäuse 13 dienen kann.
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Die Randdichtungen 7 sorgen für eine entsprechende Abdichtung des
Vakuumraumes 17 oder des Unterdruckraumes 18. Dabei gleiten die Randdichtungen 7
an den Innenwänden 8 der Rahmen 9 bzw. der Zylinderinnenwände 11. Der dritteZylinderabschnitt
12a dient als Standgehäuse 13. In seiner Zylinderwand 14 sind ebenfalls umlaufende
Randdichtungen 7 vorgesehen. Der dritte Zylinderabschnitt 12a bildet als Wechselteil
das dritte Teleskopteil 21.
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Die Figur 2 zeigt die Leiterplatte 1 auf der Aufnahmevorrichtung 3
der Kontaktplatte 2 aufliegend sowie die Kontaktstifte 5 und die Leiterbahnpunkte
6 in symbolischer Darstellung, so als wäre die Leiterplatte durchsichtig. Die Darstellung
der Leiterbahnpunkte 6 soll das Prüfmuster symbolisieren.
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Die Anordnung der Spreizmittel 24 und der Verbindungs mittel 25 ergänzt
die Darstellung nach Figur 1.
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Mit Hilfe der Erfindung ist es, wie das vorbeschriebene Ausführungsbeispiel
erkennen läßt, möglich, eine große Variationsbreite von Ausführungsformen derartiger
Prüfvorrichtungen bei einer verhältnismäßig geringen Zuhl unterschiedlicher Teile
zu erfassen.
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B ez u g sz e i c h e n l i s t e 1 Leiterplatte 2 Montageplatte
3 Aufnahmevorrichtung 4 Kontaktplatte 5 Kontaktstifte 6 Leiterbahnpunkte 7 Randdichtungen
8 Innenwände 9 Rahmen 10 Zylinderabschnitt 11 Zylinderinnenwände 12 Zylinderabschnitt
(zweiter) 12a Zylinderabschnitt (dritter) 13 Standgehäuse 14 Zylinderwand 15 16
Teleskopteil 1 7 Vakuumraum 18 Unterdruckraum 19 Verbindung (pneumatisch) 20 Schnittstelle
21 drittes Teleskopteil (Wechselteil) 22 Kontaktstellen 23 Ansaugstutzen 24 Spreizfedern
25 Verbindungsmittel 26 Steckverbindungen