DE3508112A1 - Vorrichtung zum pruefen von leiterplatten - Google Patents

Vorrichtung zum pruefen von leiterplatten

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DE3508112A1
DE3508112A1 DE19853508112 DE3508112A DE3508112A1 DE 3508112 A1 DE3508112 A1 DE 3508112A1 DE 19853508112 DE19853508112 DE 19853508112 DE 3508112 A DE3508112 A DE 3508112A DE 3508112 A1 DE3508112 A1 DE 3508112A1
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DE
Germany
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contact
cylinder
contact plate
vacuum
plate
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Withdrawn
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DE19853508112
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English (en)
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Helmut 4712 Werne Kaffka
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PTR MESSTECHNIK GmbH
Original Assignee
PTR MESSTECHNIK GmbH
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Description

  • Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen
  • Schaltungen, insbesondere Leiterplatten Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Schaltungen, insbesondere Leiterplatten, bei der zwischen einer Montageplatte mit Aufnahmevorrichtungen für die Leiterplatten und einer relativ zu dieser parallel beweglichen Kontaktplatte ein Vakuum ziehbar ist und so Kontaktstifte mit bestimmten Leiterbahnpunkten in Berührung bringbar sind, sowie wenigstens eine der beiden Platten Randdichtungen für eine abgedichtete, kolbenartiye Verschiebung an den Innenwänden eines Rahmens oder dergleichen aufweist. (DBk .. .G 84 21 022.2).
  • Bei Vorrichtungen der vorgenannten Art besteht die eigentliche Prüfvorrichtung aus einem deckelartigen Bauteil, in dem die Kontaktplatte und die Montageplatte mit dem zwischen diesen angeordneten Vakuumraum vorge sehen sind, wobei dann diese Einheit als klappbarer Deckel ein nach oben offenes Prüfgehäuse abschließt.
  • Die Notwendigkeit, derartige Prüfvorrichtungen einzusetzen, erweitert sich ständig, da in zunehmendem Maße auch kleinere Firmen Leiterplatten prüfen müssen.
  • Der bisher erforderliche Aufwand für eine derartige Prüfvorrichtung muß daher kostenmäßig und aufwandsmäßig dem neu entstehenden Bedarf angepaßt werden.
  • Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine derartige Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten sowohl in Bezug auf den Raumbedarf als auch in Bezug auf die Ausstattung zu vereinfachen und insbesondere auch für kleinere Prüflinge geeignet zu machen.
  • Die Erfindung löst die gestellte Aufgabe durch eine Vorrichtung nach Anspruch 1.
  • Die bisher ausschließlich als Deckel- oder Aufsatzeinheit ausgebildete, eigentliche Prüfvorrichtung mit der Montageplatte und der Kontaktplatte, zwischen denen ein Vakuum angeordnet ist, ist so konstruktiv in die Gesamtvorrichtung mit e.inbezogen, daß diese den Rahmen und das eigentliche Gehäuse zusätzlich mit bilden. Dies wird auch aus der Lösung nach Anspruch 2 deutlich.
  • Bei kleineren Einheiten ist die Lösung nach Anspruch 3 besonders vorteilhaft, weil dadurch die Zahl der Bauteile reduziert wird. Die Kontaktplatte und die Monta geplatte bestehen dann jeweils mit ihren zugehörigen Rahmen aus einem Stück.
  • Durch den Anspruch 4 wird deutlich, daß einer der Zylinderabschnitte gleichzeitig das Standgehäuse bilden kann. Je nach den Umständen kann dies jeder der Zylin derabschnitte sein. Diese bilden mit ihren jeweiJtgn Zylinderabschnitten topfförmige Einheiten. Daher ist es durchaus denkbar, diese mit ihren Topföffnungen gegeneinander zu richten oder gleichgerichtet zu ordnen. Jede dieser Einheiten kann gegebenenfalls das Standgehäuse bilden.
  • Insbesondere bei kleineren Einheiten kann die kreisrunde Form sehr vorteilhaft sein.
  • Wenn nach Anspruch 6 eine dritte Teleskopeinheit hinzukommt, so ergibt sich einleuchtend eine sehr einfache Montage und Demontage, weil die einzelnen Teleskopeinheiten lediglich zusammmengeschoben und für die Demontage auseinandergezogen werden.
  • Der Anspruch 7 ist lediglich eine konstruktiv zweckmäßige Maßnahme, während der Anspruch 8, basierend auf Vorschlägen des Standes der Technik, eine vorteil hafte Ausgestaltung, insbesondere bei einer vakuumgesteuerten Trennstelle, ist. Dazu gehören auch ergänzend die Ansprüche 9 und 10.
  • Insgesamt ergibt sich durch die Erfindung eine sehr vorteilhafte, einfache und daher auch billige Prüfeinrichtung, die den Bedürfnissen bei häufig wechseln den Prüflingsformen und -Schaltmustern ebenso wie bei ständig gleichen Prüflingen gerecht wird. Alle Bauteile sind leicht zugänglich. Reparaturen und Überprüfungen werden erleichtert.
  • Die Zeichnung zeigt mit Figur 1 einen Vertikal schnitt durch die Prüfvorrichtung nach der Erfindung, Figur 2 eine Draufsicht nach Figur 1.
  • Die Vorrichtung nach der Erfindung besteht im wesentlichen aus zwei oder drei Zylinderabschnitten mit 10 als erstem, 12 als zweitem und 16 als drittem Teleskopteil, das ebenfalls einen Zylinderabschnitt bilden kann. Jeder der drei Zylinderabschnitte könnte das ruhende Gehäuse als Standgehäuse 13 bilden.
  • Diesem gegenüber bewegen sich dann die beiden anderen oder nur das eine andere durch das Vakuum gesteuert relativ zueinander. Zur Verdeutlichung dieser Moglichkeiten wurde bei der Zeichnung ein drittes Teleskopteil 16 als Standgehäuse 13 gewählt. Die Anordnung dieser teleskopisch gegeneinander bewegbaren Teile zueinander kann gleichgerichtet oder entgegengerichtet sein, je nachdem, wie dies besondere, konstruktive Gegebenheiten erfordern.
  • Eine Leiterplatte 1 liegt in einer Aufnahmevorrichtung 3, die in bekannter Weise eine umlaufende, elastische Fassung bildet. Unterhalb der Leiterplatte 1 sind die verschiedenen Kontaktpunkte Kontaktstiften 5 zugänglich, wenn die Montageplatte 2 und die Kontaktplatte 4 aufeinander zu bewegt werden und so die Kontaktstifte 5 mit den Kontaktstellen 6 in Berührung kommen. Zwischen der Montageplatte 2 und der Kontaktplatte 4 sind in bekannter Weise Spreizfedern 24 und Verbindungsmittel 25 vorgesehen, deren Ausbildung und Anordnung nicht Gegenstand der Erfindung sind.
  • Die Kontaktstifte 5 können doppelteleskopisch federnd ausgebildet sein. Derartige Ausführungen sind handels üblich. Auf der Montageplatte 2 ist der Ansaugstutzen 23 für die Vakuumziehvorrichtung vorgesehen.
  • Bei der dargestellten Ausführungsform mit drei Teleskopteilen sind natürlich zwischen dem dritten Teleskopteil und dem zweiten Teleskopteil entsprechend Spreiz- und Führungsmittel vorgesehen, jedoch nicht dargestellt.
  • Wird nun über die Vakuumziehvorrichtung in dem Raum 17 ein Vakuum gezogen, so werden, wenn man sich-den Vakuumraum 17 abgeschlossen vorstellt, die Montageplatte 2 und die Kontaktplatte 4 aufeinander zu bewegt, und die Kontaktstifte 5 kommen mit vorbestimmtem, federnd elastischem Andruck mit den Kontaktstellen 6 in Berührung.
  • Bei der dargestellten Form soll jedoch erst dann eine elektrische Verbindung zu der E]ektronik der Meß-und Prüfinstrumente hergestellt werden, wenn auch die Schnittstelle 20 durch eine entsprechende Relativ bewegung zwischen der Kontaktplatte 4 und dem dritten Teleskopteil 16 erfolgt ist und die Kontaktstellen 22 mit den Kontaktstiften 5 in leitender Berührung stehen.
  • Das eigentliche Prüfmuster wird durch das dritte Teleskopteil 16 bestimmt, bei dem nämlich lediglich diese nigen Kontaktstellen unter Strom stehen, die einen Prüfvorgang bewirken sollen.
  • Zweckmäßig kann es sein, die Zahl der Kontaktstift so groß zu machen und so regelmäßig anzuordnen, daß alle möglichen Kontaktstellen erfaßt werden. Aber nur die zu prüfenden, im Muster der jeweiligen Leiter platte und dem Prüfmuster angepaßten Kontaktstellen werden beispielsweise über Steckverbindungen 26 anqeschlossen. Nun ist es möglich, den Vakuumraum 17 mit dem Unterdruckraum 18 über Verbindungen 19 zu einem einzigen Raum so auszubilden, daß beim Ziehen eines Vakuums alle drei Teleskopteile einander angenähert werden, wobei in dem dargestellten Beispiel das ruhende Gehäuse 13 natürlich am Ort verbleibt, während die beiden anderen sich relativ zu diesem bewegen.
  • Die vorstehende Beschreibung macht deutlich, daß genausogut auch lediglich der Zylinderabschnitt 10 und der zweite Zylinderabschnitt 12 Verwendung finden können, wobei einer dieser beiden dann durch eine Verlängerung der Zylinderabschnitte bzw. der Rahmenteile als Standgehäuse 13 dienen kann.
  • Die Randdichtungen 7 sorgen für eine entsprechende Abdichtung des Vakuumraumes 17 oder des Unterdruckraumes 18. Dabei gleiten die Randdichtungen 7 an den Innenwänden 8 der Rahmen 9 bzw. der Zylinderinnenwände 11. Der dritteZylinderabschnitt 12a dient als Standgehäuse 13. In seiner Zylinderwand 14 sind ebenfalls umlaufende Randdichtungen 7 vorgesehen. Der dritte Zylinderabschnitt 12a bildet als Wechselteil das dritte Teleskopteil 21.
  • Die Figur 2 zeigt die Leiterplatte 1 auf der Aufnahmevorrichtung 3 der Kontaktplatte 2 aufliegend sowie die Kontaktstifte 5 und die Leiterbahnpunkte 6 in symbolischer Darstellung, so als wäre die Leiterplatte durchsichtig. Die Darstellung der Leiterbahnpunkte 6 soll das Prüfmuster symbolisieren.
  • Die Anordnung der Spreizmittel 24 und der Verbindungs mittel 25 ergänzt die Darstellung nach Figur 1.
  • Mit Hilfe der Erfindung ist es, wie das vorbeschriebene Ausführungsbeispiel erkennen läßt, möglich, eine große Variationsbreite von Ausführungsformen derartiger Prüfvorrichtungen bei einer verhältnismäßig geringen Zuhl unterschiedlicher Teile zu erfassen.
  • B ez u g sz e i c h e n l i s t e 1 Leiterplatte 2 Montageplatte 3 Aufnahmevorrichtung 4 Kontaktplatte 5 Kontaktstifte 6 Leiterbahnpunkte 7 Randdichtungen 8 Innenwände 9 Rahmen 10 Zylinderabschnitt 11 Zylinderinnenwände 12 Zylinderabschnitt (zweiter) 12a Zylinderabschnitt (dritter) 13 Standgehäuse 14 Zylinderwand 15 16 Teleskopteil 1 7 Vakuumraum 18 Unterdruckraum 19 Verbindung (pneumatisch) 20 Schnittstelle 21 drittes Teleskopteil (Wechselteil) 22 Kontaktstellen 23 Ansaugstutzen 24 Spreizfedern 25 Verbindungsmittel 26 Steckverbindungen

Claims (10)

  1. Patentansprüche 1. Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Schaltungen, insbesondere Leiterplatten (1), bei der zwischen einer Montageplatte (2) mit Aufnahmevorrichtungen (3) für die Leiterplatten (1) und einer relativ zu dieser, parallel beweglichen Kontaktplatte (4) ein Vakuum ziehbar ist, und so Kontaktstifte (5) mit bestimmten Leiterbahnpunkten (6) in Berührung bringbar sind, sowie wenigstens eine der beiden Platten (2, 4), Randdichtungen (7) für eine abgedichtete, kolbenartige Verschiebung an den Innenwänden (8) eines Rahmens (9) oder dergleichen aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß ein Rahmen (9) und die Montageplatte (2) fest miteinander verbunden sind und einen einseitig geschlossenen Zylinderabschnitt (10) bilden, an dessen Zylinderinnenwänden (11) die Kontaktplatte (4) wie ein Kolben beweglich geführt ist.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktplatte (4) ebenfalls mit einem zweiten Zylinderabschnitt (12) fest verbunden ist.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktplatte (4) mit ihrem zweiten Zylinderabschnitt (12) und/oder die Montageplatte (2) mit ihrem ersten Zylinderabschnitt (10) einstückige Formteile sind.
  4. 4. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß einer der Zylinderabschnitte (10, 12, 12a) das Standgehäuse (13) der Prüfvorrichtung bilden.
  5. 5. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Zylinderabschnitte (10,12, 12a) im Querschnitt kreisrund snd.
  6. 6. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß an den Zylinderwänden (14) des zweiten Zylinderabschnittes (12) ein drittes Teleskopteil (16) parallel geführt ist.
  7. 7. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß oberhalb der Kontaktplatte (4) der Vakuumraum (17) und unterhalb der Unterdruckraum (18) angeordnet sind.
  8. 8. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Vakuumraum (17) und der Unterdruckraum (18) untereinander verbunden (Verbindung 19) und von einer gemeinsamen Vakuumziehvorrichtung bedienbar sind.
  9. 9. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Schnittstelle (20) zwischen der Kontaktplatte (4) und dem dritten Teleskopteil (21) vorgesehen ist.
  10. 10. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich bekannter Weise die Kontaktplatte (4) eine Maximalzahl von vorzugsweise doppelseitig teleskopischen Kontaktstiften (5) nach Art eines Rasters trägt, während das dritte Teleskopteil (21) als Wechselteil mit im Prüfmuster angeordneten Kontaktstellen (22) versehen ist.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4325078A1 (de) * 1993-07-22 1995-01-26 Deutsche Telephonwerk Kabel Vorrichtung zur Montage einer Tastenmatte in einem Kommunikations-Endgerät
DE4416151C1 (de) * 1994-05-09 1995-07-27 Ingun Pruefmittelbau Vorrichtung zum Kontaktieren von Prüfpunkten einer elektronischen Leiterplatte o. dgl. Prüfling

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE4325078A1 (de) * 1993-07-22 1995-01-26 Deutsche Telephonwerk Kabel Vorrichtung zur Montage einer Tastenmatte in einem Kommunikations-Endgerät
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