DE3421213A1 - Zweikanal-zweifrequenz-laserinterferometer - Google Patents

Zweikanal-zweifrequenz-laserinterferometer

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DE3421213A1
DE3421213A1 DE19843421213 DE3421213A DE3421213A1 DE 3421213 A1 DE3421213 A1 DE 3421213A1 DE 19843421213 DE19843421213 DE 19843421213 DE 3421213 A DE3421213 A DE 3421213A DE 3421213 A1 DE3421213 A1 DE 3421213A1
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Hans-H. Dr.-Ing. 7054 Korb Schüßler
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Daimler Benz AG
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    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02001Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
    • G01B9/02007Two or more frequencies or sources used for interferometric measurement
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/70Using polarization in the interferometer

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

  • Zweikanal-Zweifrequenz-Laserinterferometer
  • Die Erfindung betrifft ein Zweikanal-Zweifrequenz-Laserinterferometer nach dem Oberbegriff des Patentanspruches, wie es beispielsweise aus der DE-PS 31 24 357 als bekannt hervorgeht. Parallel dazu kann auch auf die Firmenschrift Hewlett-Packard, 5526 A Laser-Meßsystem verwiesen werden.
  • Neben dem Laserkopf und den einzelnen Bausteinen zur Strahltrennung für die Interferometrie ist vor allen Dingen ein nicht unerheblicher Aufwand für die Signalauswertung nötig. Bei einem Zweikanal-Laserinterferometer sind bisher stets zwei sogenannte Anzeigeeinheiten nötig geworden, die je zwei sehr schnelle Zähler, einen Rechner, eine digitale Anzeige und Interface-Einheiten enthalten. Ausgangs dieser beiden Anzeigeeinheiten mußte häufig noch eine zusätzliche Einheit verwendet werden, die die Ausgangssignale dieser beiden Anzeigeeinheiten in bestimmter Weise noch verknüpfte und zu einem eigentlichen aussagekräftigen Meßsignal umwandelte und dieses anzeigte. Bei hohen Genauigkeitsanforderungen und einer laufenden Temperatur-, Luftdruck- und Feuchtigkeitsmessung in der Meßstrecke mußten diese Werte laufend korrigierend in die Signale hineingerechnet und entsprechende Fehler kompensiert werden, wozu mindestens ein, wenn nicht zwei sogenannte Kompensationsrechner nötig wurden. Der Gesamtaufwand für diese Anzeigeeinheiten und Kompensatoren liegt etwa in der Größenordnung von 50 bis 60.000 DM.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, das zugrunde gelegte Laserinterferometer dahingehend auszugestalten, daß für eine zweikanalige, winkelkompensierende Längenmessung trotz einer hohen Meßauflösung nur eine einzige Anzeigeeinheit und demgemäß auch höchstens ein einziger Kompensationsrechner erforderlich wird.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs gelöst. Dank der Durchführung der Längenmessung in den beiden Meßkorridoren mit unterschiedlichen Frequenzen und einer anschließenden Differenzbildung der beiden Signale entsteht in der Anzeigeeinheit der doppelte Mittelwert der Meßstreckenlänge der beiden Meßkorridore. Durch eine einfache Halbierung dieses Wertes wird eine höhere Genauigkeit als bei einer einfachen Messung dieses Mittelwertes erreicht.
  • Die Erfindung ist anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles nachfolgend noch erläutert. Dabei zeigt die einzige Figur eine schematische Grundrißdarstellung eines Interferometer-Aufbaues für eine zweikanalige, winkelkompensierende Längenmessung.
  • Der in der Figur gezeigte Meßaufbau enthält zunächst einen Laserkopf 1. Dieser umfaßt eine Laserlichtquelle 2, die einen Lichtstrahl 3 mit zwei Strahlanteilen unterschiedlicher Frequenz f1 und f2 erzeugt, wobei die beiden Strahlanteile auch unterschiedlich linear polarisiert sind. Auch eine unterschiedliche zirkulare Polarisation ist denkbar, was jedoch bei der Auswahl der später noch zu erwähnenden Polarisationstrahlteiler berücksichtigt werden muß. Außer der Laserlichtquelle sind im dem Laserkopf noch zwei Empfänger 4 und 5 für zurückkehrendes Licht angeordnet, wobei es sich um opto-elektrische Wandler mit sehr geringer zeitlicher Trägheit handelt.
  • Mit ihnen kann eine Interferenz der beiden aus der Meßstrecke zurückkehrenden Strahlanteile bzw. die zeitliche Meßsignal-Schwebung abgezählt werden. Die Lichtstrahleingänge für diese beiden Empfänger sind um ein definiertes Maß und in einer definierten Richtung gegenüber der Austrittsstelle des ausgesandten Lichtstrahles 3 versetzt. Üblicherweise ist im innern eines Laserkopfes auch noch ein innerer Intensitätsstrahlteiler 6 angebracht, der beide Strahlanteile auf den Referenzempfänger 7 wirft, der dort die Referenz-Schwebung der beiden Strahlanteil-Frequenzen laufend feststellt und an dem dieses Referenzsignal entnehmbar ist. Vorliegend wird jedoch dieses Signal nicht benötigt. Vielmehr ist der Umschalter 8 im Inneren des Laserkopfes auf "Differenz" geschaltet, bei dem die Ausgänge der beiden Empfänger 4 und 5 nach außen geschaltet sind.
  • Nachfolgend sei die zu Beginn der Meßstrecke 13 ortsfest und starr gehalterte Anordnung zur Strahlteilung beschrieben: Zunächst ist im ausgesandten Strahl 3 ein externer Intensitätsstrahlteiler 9 angeordnet, der den austretenden Lichtstrahl in zwei gleichartige Strahlanteile aufspaltet, die beide noch die beiden unterschiedlichen Strahlfrequenzen enthalten. Der abgelenkte Strahlanteil wird über einen ersten Umlenkspiegel 10 erneut umgelenkt, so daß er parallel zum austretenden Lichtstrahl 3 aber um ein definiertes Maß a seitenversetzt zu ihm zu einem ersten Polarisationsstrahlteiler 14 verläuft. Der am Intensitätsstrahlteiler 9 geradlinig hindurchlaufende Strahlanteil läuft zu dem zweiten Polarisationsstrahlteiler 15 hin. Beide Polarisationsstrahlteiler 14 und 15 sind in starrer Relativlage zueinander gehaltert; sie markieren den Beginn der Meßstrecke 13.
  • Durch den erwähnten Intensitätsstrahlteiler 9 und den ersten Umlenkspiegel 10 wird das ausgesandte Laserlicht auf zwei in definiertem Abstand parallel nebeneinanderliegende Strahlkorridore 12 und 12' aufgeteilt bzw.
  • umgelenkt.
  • Durch die beiden Polarisationsstrahlteiler 14 und 15 werden nun die beiden unterschiedlich polarisierten Strahlanteile mit den unterschiedlichen Frequenzen f1 und f2 getrennt, und zwar tritt der jeweils geradlinig durch den Polarisationsstrahlteiler hindurchtretende Strahlanteil in die Meßstrecke 13 ein, wogegen der am Polarisationsstrahlteiler abgelenkte Strahlanteil über jeweils einen ersten Referenzreflektor 16 bzw. den zweiten Referenzreflektor 17 mittelbar zu den jeweils zugehörigen Empfängern 4 bzw. 5 im Laserkopf zurückgeleitet wird. Da die beiden den Polarisationsstrahlteilern 14 und 15 starr zugeordneten Referenzreflektoren 16 bzw. 17 als Tripelreflektoren ausgebildet sind, der einfallende Lichtstrahl jedoch seitenversetzt gegenüber dem zentralsymmetrischen Punkt dieser Reflektoren liegt, läuft der reflektierte Strahl um das doppelte Maß dieses Seitenversatzes gegenüber dem einfallenden Lichtstrahl zurück. Das von dem in der Figur oberen Strahlkorridor 12 zurückkehrende Referenzlicht wird über den ersten Umlenkspiegel 10 und über einen mit dem Intensitätsstrahlteiler 9 planebenen zweiten Umlenkspiegel 11 in den Empfänger 4 zurückgeleitet.
  • Das aus dem unteren Strahlkorridor 12' zurückkehrende Licht gelangt geradlinig zu dem unteren Empfänger 5 zurück.
  • Wie die Figur veranschaulicht, sind die beiden Polarisationsstrahlteiler 14 und 15 und die ihnen starr zugeordneten Referenzreflektoren 16 bzw. 17 zueinander um 900 verschwenkt in die Anordnung eingebaut. Während der erste Polarisationsstrahlteiler den Referenzstrahl in der Zeichenebene umlenkt, ist der zweite Polarisationsstrahlteiler derart eingebaut, daß das Referenzlicht senkrecht zur Zeichenebene abgelenkt wird. Der zweite Referenzreflektor 17 ist demgemäß in der Zeichnung oberhalb des zweiten Polarisationsstrahlteilers angeordnet. Durch diese Anordnung wird erreicht, daß in den beiden Strahlkorridoren 12 bzw. 12' unterschiedliche Strahlanteile als Referenzlicht verwendet werden. Während beim oberen Strahlkorridor 12 der Strahlanteil mit der Frequenz f1 als Referenzlicht benutzt wird, wird beim unteren Strahlkorridor 12' der Strahlanteil mit der Frequenz f2 vom Referenzreflektor zurückgeworfen. Demgemäß wird beim oberen Strahlkorridor der Strahlanteil mit der Frequenz f2 als Meßlicht verwendet, und es tritt beim unteren Strahlkorridor 12' der Strahlanteil mit der Frequenz f1 in die Meßstrecke ein.
  • Durch die hier geschilderte unterschiedliche Einbaulage der beiden Polarisationsstrahlteiler 14 bzw. 15 wird auf einfachste Art die hier gewünschte Differenzierung, nämlich Verwendung unterschiedlicher Strahlanteile in den Meßstrecken der beiden Strahlkorridore, erreicht, weil gleichartige Polarisationsstrahlteiler verwendet werden können und keine Zusatzteile nötig sind. Es wäre statt dessen auch denkbar, unterschiedliche Polarisationsstrahleiler zu verwenden, diese jedoch gleichartig in die Anordnung einzubauen. Für den einen Polarisationsstrahlteiler müßte dieser für die eine Polarisationsart durchlässig und für die andere ablenkend sein und beim anderen Polarisationsstrahlteiler müßte es umgekehrt sein. Als weitere Möglichkeit ist auch noch denkbar, zwei gleichartige Polarisationsstrahlteiler zu verwenden und diese auch gleichartig in die Anordnung einzubauen; jedoch müßte dann vor einem der beiden Polarisationsstrahlteiler ein polarisationswandelndes Element vorgesehen werden, welches den Polarisationszustand der beiden Strahlanteile derart wandelt, daß eben der oben angesprochene gewünschte Effekt eintritt. Als polarisationswandelndes Element kann beispielsweise eine sogenannte x/2-Platte verwendet werden.
  • Das Ende der Meßstrecke 13 ist durch ein Paar von Meßreflektoren 18 bzw. 18' definiert, die beide beim dargestellten Ausführungsbeispiel ebenfalls als Tripelreflektor ausgebildet sind. Der Abstand ihrer zentralsymmetrischen Punkte beträgt ebenfalls das Maß a. Sie sind in starrer Relativlage zueinander auf einem gemeinsamen Halter 19 gehalten, welches starr auf einem zu vermessenden Schlitten 20 gehaltert ist; dieser ist seinerseits entlang einer parallel zur Meßrichtung sich erstreckenden Führung 21 beweglich.
  • Für die Signalauswertung bei der Interferometrie ist zunächst eine Anzeigeeinheit 24 vorgesehen, in die lediglich die Ausgänge der beiden Empfänger 4 und 5 eingegeben werden; der Ausgang des Referenzempfängers 7 ist nicht erforderlich für die Signalauswertung. Bei hohen Genauigkeitsanforderungen ist außerdem noch eine Korrekturrechnung für die Einflüsse von Temperatur, Luftdruck und Feuchtigkeit innerhalb der Meßstrecke nötig. Deswegen ist beim dargestellten Ausführungsbeispiel noch ein Kompensationsrechner 23 dargestellt, der von Meßfühlern 22 für Temperatur, Luftdruck und Feuchtigkeit ansteuerbar ist und dessen Ausgang ebenfalls auf die Anzeigeeinheit 24 geschaltet ist.
  • Dadurch, daß in den beiden Strahlkorridoren der Meßstrecke unterschiedliche Frequenzanteile des ausgesandten Lichtstrahles verwendet werden, kommt es zu einer unterschiedlichen Interferenzbildung. Und zwar sind die beiden Interferenzen innerhalb der beiden Strahlkorridore gerade negativ zueinander. Aufgrund einer Differenzbildung dieser beiden Interferenzsignale kommt es gerade zu einer Addition, so daß ausgangs der Anzeigeeinheit 24 der doppelte Mittelwert der Meßstreckenlänge in der Mittelachse zwischen den beiden Strahlkorridoren 12 bzw. 12 anzeigbar ist. Häufig ist die Mittelachse optisch nicht zugänglich, so daß eine beiderseitige versetzte Messung nötig wird.
  • Dadurch, daß man in jedem Strahlkorridor innerhalb der Meßstrecke eine sogenannte A/4-Platte anordnet und die beiden Meßreflektoren 18 bzw. 18' als Planspiegel ausbildet und zusätzlich an den beiden Polarisationsstrahlteilern 14 und 15 - den Referenzreflektoren gegenüberliegend -jeweils weitere Tripelreflektoren anbringt, kann das Meßlicht in jedem Strahlkorridor insgesamt zweimal hin-und herlaufen, so daß die Auflösegenauigkeit verdoppelt wird. Diese Möglichkeit ist auch schon in der eingangs zitierten Patentschrift realisiert.

Claims (1)

  1. Patentanspruch = | w Zweikanal-Zweifrequenz-Laserinterferometer, mit einem nur einen Laserlichtstrahl mit zwei Anteilen unterschiedlicher Frequenz und unterschiedlichen Polarisationszustandes aussendenden Laserkopf, in dem zwei verschiedene Empfänger für zurückkehrende Lichtstrahlen angeordnet sind, ferner mit einem im ausgesandten Laserlichtstrahl zunächst angeordneten Intensitätsstrahlteiler und Umlenkspiegeln oder dergleichen, mittels derer der Laserlichtstrahl auf zwei in definiertem Abstand parallel neben einanderliegende Strahlkorridore aufgeteilt und geleitet wird, ferner mit je einem in jedem der Strahlkorridore ortsfest angeordneten, den Beginn der Meßstrecke des betreffenden Strahlkorridores markierenden Polarisationsstrahlteiler und je einem diesem jeweils ortsfest zugeordneten Referenzreflektor für jeweils den am Polarisationsstrahlteiler abgelenkten Strahlanteil, wobei der am Polarisationsstrahlteiler nicht abgelenkte Strahlanteil geradelinig in die Meßstrecke einläuft, ferner mit je einem in jedem der Strahlkorridore am Ende der Meßstrecke angeordneten Meßreflektor, die beide in starrer Relativlage zueinander gehaltert sind dadurch geke nnz ei chne t ,daß die beiden Polarisationsstrahlteiler (14, 15) derart unterschiedlich ausgebildet oder angeordnet sind oder, daß in einem der Strahlkorridore (12, 12') vor dem zugehörigen Polarisationsstrahlteiler derart polarisationswandelnde Elemente angeordnet sind, daß in den beiden Strahlkorridoren (12, 12') Strahlanteile unterschiedlicher Frequenz (1 f2) in die Meßstrecke (13) einlaufen und daß bei der Signalauswertung der an den beiden Empfängern (4, 5) anstehenden Interferenzsignale eine Differenzbildung oder Phasenmessung zwischen diesen beiden Signalen durchgeführt wird.
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