DE3341844C2 - - Google Patents

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DE3341844C2
DE3341844C2 DE19833341844 DE3341844A DE3341844C2 DE 3341844 C2 DE3341844 C2 DE 3341844C2 DE 19833341844 DE19833341844 DE 19833341844 DE 3341844 A DE3341844 A DE 3341844A DE 3341844 C2 DE3341844 C2 DE 3341844C2
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DE
Germany
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contour
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measuring arrangement
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output signals
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DE19833341844
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German (de)
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DE3341844A1 (de
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Wilfried Dipl.-Ing. 2800 Bremen De Heinisch
Wilhelm Dipl.-Ing. 2874 Lemwerder De Janning
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
STN Systemtechnik Nord GmbH
Original Assignee
Messerschmitt Bolkow Blohm AG
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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DE3341844A1 DE3341844A1 (de) 1985-05-30
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