DE3221159A1

DE3221159A1 - Eddy current tester for components

Info

Publication number: DE3221159A1
Application number: DE19823221159
Authority: DE
Inventors: Hans-Jürgen 8720 Schweinfurt Hentrich; Bruno Osebold
Original assignee: SIDCO
Current assignee: SIDCO
Priority date: 1982-06-04
Filing date: 1982-06-04
Publication date: 1983-12-08
Also published as: GB2121544B; JPS58219449A; GB8311842D0; GB2121544A; DE3221159C2

Description

Die Erfindung betrifft eine Wirbelstromprüfeinrichtung für Eigenschaften von Bauteilen mit einem Rahmen, einer Wirbelstromprüfvorrichtung mit einer ersten Spule, einem ersten am Rahmen befestigten Träger, der die Spule trägt und einem zweiten am Rahmen befestigten Träger, der die zu prüfenden Teile trägt.The invention relates to an eddy current testing device for properties of components with a frame, an eddy current test device with a first coil, a first bracket attached to the frame carrying the coil and a second bracket attached to the frame, who carries the parts to be tested.

Wirbelstromprüfgeräte sind für die statische oder dynamische Prüfung der Eigenschaften von Teilen bekannt, die aus verschiedenen Werkstoffen bestehen. Beispielsweise werden diese Prüfvorrichtungen zur Entdeckung von Rissen, Härteprüfungen, Erkennung von örtlichen Strukturänderungen·, WerkstoffIdentifizierung, Vergütungsprüfungen usw. im allgemeinen bei Bauteilen eingesetzt, die aus Metall oder jedenfalls aus elektrisch leitenden Werkstoffen bestehen.Eddy current testers are for static or dynamic Examination of the properties of parts known that are made of different materials. For example These test devices are used for the detection of cracks, hardness tests, detection of local structural changes, Material identification, tempering tests, etc. generally used for components, which are made of metal or in any case of electrically conductive materials.

Die bekannten Wirbelstromprüfeinrichtungen bestehen neben der Auswerteelektronik im Grunde aus zwei Sondentypen: Punktsonde und Ringspule,In addition to the evaluation electronics, the known eddy current testing devices basically consist of two types of probes: Point probe and ring coil,

Die Wirbelstrompunktsonde weist eine um einen Ferritkern gewickelte Spule auf. Ein Wechselstrom fließt durch die Spule und erzeugt ein Magnetfeld, das den Ferritkern durchdringt. Im Betrieb wird die Sonde vorzugsweise in einem bestimmten Abstand vom stationären oder bewegten Prüfling angeordnet, damit der Induktionsfluß einen Luftspalt und den Prüfling durchströme. Der magnetische oder Induktionsfluß induziert Wirbelströme im Prüfling, die ein dem vom Strom in der Spule erzeugten Magnetfeld entgegengesetztes Magnetfeld erzeugen. Damit beeinflußt das von den Wirbelströmen erzeugte Magnetfeld die elektrischen Größen der Spule, wobei durch Untersuchen und Verarbeiten dieser Größen die gewünschten Merkmale erkannt werden können. .The eddy current point probe has a coil wound around a ferrite core. An alternating current flows through the Coil and creates a magnetic field that penetrates the ferrite core. In operation, the probe is preferably in a certain distance from the stationary or moving test object, so that the induction flux a Air gap and flow through the test object. The magnetic or induction flux induces eddy currents in the test object, which generate a magnetic field opposite to the magnetic field generated by the current in the coil. Affected by it the magnetic field generated by the eddy currents the electrical quantities of the coil, whereby by examining and Processing these sizes the desired features can be recognized. .

Λ * » ft ft e »caΛ * »ft ft e» approx

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Die Grundfrequenz des Spulenstromes kann sich in Abhängigkeit von bestimmten Anwendungen ändern, z.B. von einigen 10 Hz bis zu einigen MHz.The basic frequency of the coil current can change depending on certain applications, e.g. from a few 10 Hz to a few MHz.

Wirbelstromringspulen weisen eine in einem geschlossenen Ringträger angeordnete Spule auf, die eine Innenbohrung für das Durchlaufen der Prüflinge bildet, die normalerweise zylinderförmig oder sphärisch sind.Während der Prüfung umschließt die Spule somit den Prüfling, wobeiEddy current ring coils have a coil which is arranged in a closed ring carrier and has an inner bore for going through the specimens that normally forms are cylindrical or spherical Test encloses the coil thus the test object, whereby

IQ in der der Spule zugekehrten Oberflächenschicht des Prüflings Wirbelströme induziert werden. Um eine genügend große Prüfempfindlichkeit und -genauigkeit zu erhalten, müssen der Durchmesser des Prüflings und der des Spulenträgers oder der Sonde in einem bestimmten Verhältnis zueinander stehen. Dies wird mit dem Ausdruck "Füllungsgrad" bezeichnet. Der wünschenswerte Zustand besteht in einem optimalen und konstanten Füllungsgrad. Dies würde jedoch eine jeweils an die Abmessung des Prüflings angepaßte unterschiedliche Ringspule oder Sonde erforderlieh machen. Aus praktischen und Kostengründen kann diese Lösung jedoch nicht verfolgt werden, und daher weisen eine Reihe von Ringspulen oder Sonden Bohrungen mit bestimmten Durchmessern auf, um zylinderförmige Teile zu prüfen, deren Außendurchmesser innerhalb bestimmter Teilbereiche liegen. IQ eddy currents are induced in the surface layer of the test object facing the coil. In order to obtain a sufficiently high test sensitivity and accuracy, the diameter of the test object and that of the coil carrier or the probe must be in a certain ratio to one another. This is referred to by the term "degree of filling". The desirable state consists in an optimal and constant degree of filling. However, this would require a different toroidal coil or probe, each adapted to the dimensions of the test object. For practical and cost reasons, however, this solution cannot be pursued, and therefore a number of toroidal coils or probes have bores with specific diameters in order to test cylindrical parts, the outer diameters of which are within specific subranges.

Bei der dynamischen Wirbelstromprüfung von Teilen weisen die Ringspulen einige Nachteile bezüglich der Handhabung der Prüflinge auf. Wegen des geringen zur Verfügung stehenden Raumes und der großen Zahl von Prüflingen, die meist getestet werden müssen (häufig mehrere tausend je Stunde) läßt man die Prüflinge durch Gewicht oder Schwerkraft fallen oder gleiten, um den erforderlichen Transport der Prüflinge durchzuführen, damit die Ringspule die Oberfläche des Prüflings axial abtasten kann. Da sich Durchmesser und Gewicht der Prüflinge verändern können, lassen sich keine konstante GeschwindigkeitWhen doing dynamic eddy current testing of parts the toroidal coils have some disadvantages with regard to the handling of the test objects. Because of the small amount available standing room and the large number of test items that usually have to be tested (often several thousand each Hour) the specimens are allowed to fall or slide by weight or gravity to the required Carry out transport of the test objects so that the ring coil can scan the surface of the test object axially. Since the diameter and weight of the test objects can change, the speed cannot be constant

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und Positionierung der Teile während der Prüfung erzielen, d.h. wenn sie die Bohrung der Sonde durchlaufen. Daher sind Prüfempfindlichkeit und Prüfgenauigkeit sehr mäßig.
5and positioning of the parts during the test, that is, as they pass through the bore of the probe. Therefore, the test sensitivity and test accuracy are very moderate.
5

Um einen unerwünschten magnetischen Schluß in der Sonde zu vermeiden, kann diese nicht aus einem elektrisch leitenden Werkstoff gefertigt werden. Meist werden Kunststoffe verwendet, die jedoch nicht die Robustheit und Widerstandsfähigkeit aufweisen, welche den Betriebsbedingungen von Prüfmaschinen entsprechen, die Tausende von Teilen pro Stunde prüfen müssen.In order to avoid an undesired magnetic circuit in the probe, it cannot be made from an electrical conductive material. Most of the time plastics are used, but they do not have the robustness and resilience to suit the operating conditions of testing machines that have to inspect thousands of parts per hour.

Somit besteht die Aufgabe der Erfindung darin, eine ■ Wirbelstromprüfexnrxchtung für Anwendungen zu schaffen, bei denen herkömmlicherweise Wirbelstromringspulen eingesetzt werden und die eine Wirbelstromprüfvorrichtung enthält, welche die Nachteile bekannter Ringspulen nicht aufweist.Thus, the object of the invention is to provide a Eddy current test equipment for applications in which eddy current toroidal coils are conventionally used and which contains an eddy current test device which does not have the disadvantages of known toroidal coils having.

Diese Aufgabe wird durch eine Wirbelstromprüfeinrichtung der vorbezeichneten Art gelöst, die dadurch gekennzeichnet ist, daß eine Prüfvorrichtung eine von einem ersten Träger getragene erste Spule und eine an die erste Spule gekoppelte zweite Spule aufweist, daß ein dritter Träger die zweite Spule trägt, wobei der erste und dritte Träger sowie die erste und zweite Spule eine im wesentlichen offene Sonde der Prüfeinrichtung bilden sowie einen im wesentlichen offenen Raum zwischen dem ersten und dritten Träger, der der Prüfposition für die Prüflinge entspricht, bildet.This object is achieved by an eddy current testing device of the aforementioned type, which is characterized by is that a test device has a first coil carried by a first carrier and one attached to the first coil coupled second coil comprises that a third carrier carries the second coil, the first and third carrier and the first and second coils form a substantially open probe of the test device and an im substantial open space between the first and third carrier, which corresponds to the test position for the test objects, forms.

Nach einem besonders vorteilhaften Merkmal der Erfindung zur dynamischen Prüfung von Teilen, umfaßt der zweite Träger eine bewegliche Transportvorrichtung zur Halterung und Beförderung der Teile durch die Prüfposition.According to a particularly advantageous feature of the invention for dynamic testing of parts, the second carrier comprises a movable transport device for holding and moving the parts through the inspection position.

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Die Erfindung ist nachstehend näher erläutert. Alle in der Beschreibung enthaltenen Merkmale und Maßnahmen können von erfindungswesentlicher Bedeutung sein. Die Zeichnungen zeigen:The invention is explained in more detail below. Alone Features and measures contained in the description can be of importance to the invention. The painting demonstrate:

Fig. 1 einen schematischen Aufriß, teilweise im Schnitt,Fig. 1 is a schematic elevation, partly in section,

einer Wirbelstromprüfeinrichtung für Bauteile, Fig. 2 einen Seitenriß der Einrichtung der Fig. 1 mitan eddy current testing device for components, Fig. 2 is a side elevation of the device of Fig. 1 with

einer aktiven Förderungseinrichtung zum Fördern IQ der Prüflinge,an active funding facility for funding IQ of the test items,

Fig. 3 einen Grundriß der Einrichtung der Fig. 1 und 23 is a plan view of the device of FIGS. 1 and 2

mit der aktiven Fördereinrichtung, Fig. 4 einige elektrische Schaltungen der Wirbelstromprüfeinrichtung der Fig. 1 bis 3.with the active conveying device, Fig. 4 some electrical circuits of the eddy current testing device of FIGS. 1 to 3.

Die Einrichtung der Fig. 1 bis 3 umfaßt einen kanalförmigen Hauptrahmen oder eine Hauptsonde 1, eine obere Platte 2, eine untere Platte 3 und eine senkrechte Platte 4. Die Enden zweier senkrechten Führungsstangen 5, sind an der oberen und unteren Platte 2, 3 befestigt.The device of FIGS. 1 to 3 comprises a channel-shaped one Main frame or probe 1, an upper plate 2, a lower plate 3 and a vertical plate 4. The ends of two vertical guide rods 5, are attached to the upper and lower plates 2, 3.

Eine senkrechte Stange 7 ist drehbar in den Platten 2, 3 gelagert, wobei ihr oberes Ende mit einem Handrad 8 verbunden ist. Ein Oberteil der Stange 7 ist mit einem Rechtsgewinde 9 und ein Unterteil mit einem Linksgewinde 10 versehen. Das Rechtsgewinde 9 und das Linksgewinde sind mit Muttern 1.1, 12 verschraubt. Die Mutter 11 ist am oberen Träger, das heißt einem Schlitten 13 und die Mutter 12 an einem unteren Träger, d.h. einem Schlitten 14 verschraubt.A vertical rod 7 is rotatably mounted in the plates 2, 3, its upper end with a hand wheel 8 connected is. An upper part of the rod 7 is with a right-hand thread 9 and a lower part with a left-hand thread 10 provided. The right-hand thread 9 and the left-hand thread are screwed together with nuts 1.1, 12. The mother is 11 on the upper beam, i.e. a slide 13, and the nut 12 on a lower beam, i.e. a slide 14 screwed.

Die Schlitten 13, 14.weisen zwei Bohrungsbuchsen auf, die mit den Führungsstangen 5, 6 zusammenwirken, um die Schlitten 13, 14 in senkrechter Richtung zu führen. Eine Buchse ist in Fig. 1 mit dem Bezugszeichen 15 gekennzeichnet. The carriages 13, 14. have two bore bushes that cooperate with the guide rods 5, 6 in order to guide the carriages 13, 14 in the vertical direction. One The socket is identified by the reference numeral 15 in FIG. 1.

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Die Spulenträger 16,17 und 18,19, die an den Schlitten 13,14, befestigt sind, tragen Ringspulen 20, 20',The coil carriers 16, 17 and 18, 19 attached to the slide 13, 14, are attached, carry toroidal coils 20, 20 ',

21, 21', 22, 22', 23, 23' und die Magnetkerne 24,21, 21 ', 22, 22', 23, 23 'and the magnetic cores 24,

25, 26, 27 (Fig. 4). Diese Spulen umfassen Geberspulen 20, 21, 22, 23, wobei die Geberspulen 20, 22 und 21, jeweils in Reihe geschaltet sind. Die Spulen 20, 21 und25, 26, 27 (Fig. 4). These coils include transmitter coils 20, 21, 22, 23, the transmitter coils 20, 22 and 21, are each connected in series. The coils 20, 21 and

22, 23 sind jeweils miteinander verbunden. Die Anschlüsse einer Wechselspannungsquelle 28 sind an die Verbindungspunkte der Spulen 20, 22 und 21, 23 geführt. Die anderen Spulen 20',21',22',23' sind Empfängerspulen und nach Figur 4 beschaltet. Die Spule 22' ist in Vergleichschaltung an die Spule 20" und die Spule 23* in Vergleichschaltung an die Spule 21' geführt. Eine Seite der Spule 20' ist mit einer Seite der Spule 21' verbunden und am Punkt 30 an Masse geführt.22, 23 are each connected to one another. The connections of an alternating voltage source 28 are at the connection points of the coils 20, 22 and 21, 23 out. The other coils 20 ', 21', 22 ', 23' are receiver coils and wired according to FIG. The coil 22 'is in a comparison circuit to the coil 20 "and the coil 23 * in a comparison circuit to the coil 21 '. One side coil 20 'is connected to one side of coil 21' and is connected to ground at point 30.

Ein Ende der Spule 22' und eines der Spule 23' sind an Widerstände 31, 32 geführt, die an den Eingängen eines Differentialverstärkers 33 einer Auswerteelektronik 34 in Reihe geschaltet sind.One end of the spool 22 'and one end of the spool 23' are on Resistors 31, 32 out, which are connected to the inputs of a differential amplifier 33 of evaluation electronics 34 are connected in series.

Auflagen 35, 36 aus elektrisch nichtleitendem Werkstoff sind an den Schlitten 13, 14 befestigt. Die Auflagen 35, 36 wirken mit einem Musterstück 37 zusammen und positionieren es zwischen den Spulenträgern 17, 19. Die Positionierung des Referenzteiles 37 erfolgt durch das Handrad 8.Supports 35, 36 made of electrically non-conductive material are attached to the carriages 13, 14. The conditions 35, 36 cooperate with a sample 37 and position it between the coil carriers 17, 19. The positioning of the reference part 37 is carried out by the Hand wheel 8.

Eine Trägerscheibe 38 aus elektrisch nichtleitendem Werk stoff weist an ihrem Umfang mehrere federyorgespannte Klemmen auf (nicht gezeigt), welche anpassungsfähige Lagersitze 39 für die Prüflinge 40 bilden. Die Trägerscheibe 38 ist mit einer nicht gezeigten Steuerung verbunden, die die Scheibe 38 mit einer konstanten vorgegegebenen Drehzahl drehen läßt, um Prüflinge 40 anschließend durch den Raum zu befördern, der zwischen den Spulenträgern 16, 18 gebildet ist.A carrier disk 38 made of electrically non-conductive material has several springyor-tensioned on its circumference Clamps on (not shown), which form adaptable bearing seats 39 for the specimens 40. The carrier disk 38 is connected to a control, not shown, which the disk 38 with a constant predetermined Can rotate speed to test specimens 40 to then convey through the space between the Coil carriers 16, 18 is formed.

ΜΙ Wenn die Schlitten 13, 14 in der Stellung sind, in der das Referenzteil 37 zwischen den Auflagen 35 und 36 positioniert ist, besteht ein Raum, welcher die Luftspalte zwischen den Spulenträgern 16,18 und dem Prüfling 40 bildet. Zwei in Figur. 1 aus Einfachheitsgründen nicht gezeigte Näherungsschalter 41, 42 sind am Schlitten 13 befestigt, um die Ankunft eines Prüflings 40 an der Prüfposition zu melden, die Prüfzeit zu steuern und möglicherweise eine nicht gezeigte Ausstoßvorrichtung zu steuern, entsprechend dem vom Verarbeitungsgerät 34 gelieferte Meßergebnis- Die Ausstoßvorrichtung kann mehrere Ausstoßstangen umfassen, die an bestimmten Stellungen am Umfang der Scheibe 38 angeordnet sind. Eine Ladevorrichtung (nicht gezeigt) ist auch am Umfang der Scheibe 38 angeordnet, um die Prüflinge 40 in die Sitze 39 zu laden.ΜΙ When the carriages 13, 14 are in the position in which the reference part 37 is positioned between the supports 35 and 36, there is a space which the air gaps forms between the coil carriers 16, 18 and the test object 40. Two in figure. 1 for the sake of simplicity Proximity switches 41, 42, not shown, are attached to the slide 13 to detect the arrival of a test object 40 at the test position to control the test time and possibly an ejector, not shown according to the measurement result supplied by the processing device 34 - the ejector may include multiple ejector rods positioned at specific locations on the circumference of disk 38 are arranged. A loading device (not shown) is also disposed on the periphery of the disk 38 to allow the Load specimens 40 into the seats 39.

Eine an der Platte 2 befestigte Steckverbinderbuchse 4 dient zum Anschluß der Spulen 20, 20', 21, 21', 22, 22', 23, 23' an die Spannungsquelle 28 und das Gerät 34, Dieses ist mit den Näherungsschaltern 41, 4 2 und mit einer nicht gezeigten elektrischen Steuerung verbunden, an welcher die Ausgangssignale der Näherungsschalter 41, anliegen und welche die Ladevorrichtung und die Ausstoßvorrichtung steuert.A connector socket 4 attached to the plate 2 is used to connect the coils 20, 20 ', 21, 21', 22, 22 ', 23, 23 'to the voltage source 28 and the device 34, this is connected to the proximity switches 41, 4 2 and to an electrical control (not shown) which are the output signals of the proximity switches 41, and which the loading device and the ejecting device controls.

Die Arbeitsweise der Einrichtung der Figur 1 bis 4 ist wie folgt:The operation of the device of Figures 1 to 4 is as follows:

Vor der Prüfung einer Reihe von Teilen 40 wird die Einrichtung mechanisch und elektrisch durch das Handrad entsprechend dem Referenzteil 37 zwischen den Auflagen 35 und 36 auf Null gestellt. Das Drehen des Handrades in einer Richtung bewirkt eine gegenseitige Annäherung der Schlitten 13, 14 und in der anderen Richtung eine gegenseitige Entfernung der Schlitten 13 und 14 voneinander. Before testing a number of parts 40, the facility mechanically and electrically by the handwheel according to the reference part 37 between the supports 35 and 36 set to zero. Turning the handwheel in one direction brings about a mutual approach the carriage 13, 14 and one in the other direction mutual distance of the carriages 13 and 14 from one another.

l·² ■ Mechanisch gesehen sorgt diese Nullstellung für einen genügend großen Abstand zwischen den Spulenträgern 16,18, damit die Teile 40 ohne Gefahr des Anstoßens an die Spulenträger 16, 18 durchlaufen können. Gleichzeitig erzeugen die differentialbeschalteten Spulen 21',23' an einem Eingang des Differentialverstärkers 33 über den Widerstand 32 ein elektrisches Bezugssignal. l seen · ² ■ Mechanical this zero position ensures a sufficiently large distance between the coil carriers 16,18 so that the parts 40 without any risk of colliding with the coil support 16, can pass through the eighteenth At the same time, the differentially connected coils 21 ', 23' generate an electrical reference signal at an input of the differential amplifier 33 via the resistor 32.

Nach der Nullstellung werden die Teile 40 automatisch beschickt, geprüft und ausgestoßen.After the zero setting, the parts 40 are automatically loaded, checked and ejected.

Die offene Bauweise der Prüfeinrichtung 16-19, 20-23, 20'-23', 24-27 gewährleistet einen Füllungsgrad, der geringeren Schwankungen unterworfen ist als der Füllungsgrad von herkömmlichen Ringspulen, wenn Lose von Teilen mit unterschiedlichen Durchmessern geprüft werden. Außerdem ermöglicht es die offene Bauweise mit Hilfe der Näherungsschalter 41, 42, konstante Prüfzeiten zu erzielen, indem eine aktive Fördereinrichtung mit einer konstanten Drehzahl wie die Scheibe 38 eingesetzt werden kann. Die Näherungsschalter 41, 4 2 können auch zur Steuerung der Beschickung, des Ausstoßes und der Sortierung der Teile verwendet werden.The open design of the test facility 16-19, 20-23, 20'-23 ', 24-27 ensures a degree of filling that is less subject to fluctuations than the degree of filling of conventional toroidal coils when testing lots of parts with different diameters. aside from that With the help of the proximity switches 41, 42, the open design enables constant test times to be achieved, by using an active conveyor at a constant speed such as disk 38. the Proximity switches 41, 4 2 can also be used to control the loading, ejection and sorting of the parts be used.

Bei herkömmlichen Einrichtungen werden Prüfzeit und Sortierung der geprüften Teile normalerweise durch Verwendung der Prüfsignale gesteuert. Jedoch ist wegen der möglichen Schwankungen der Geschwindigkeit, der Abmessungen und des Gewichts der Prüflinge die Arbeitsweise der herkömmlichen Einrichtungen nicht betriebssicher und genau.In conventional facilities, testing time and sorting of the tested parts are usually reduced by use controlled by the test signals. However, because of that possible fluctuations in the speed, dimensions and weight of the test objects affect the operation of the conventional facilities are not reliable and accurate.

Die offene Bauweise der Prüfeinrichtung bietet auch den Vorteil, metallische Sondenträger zu verwenden, die widerstandsfähiger sind als die herkömmlichen Träger von herkömmlichen Ringspulen.The open design of the test facility also offers the advantage of using metallic probe carriers, which are more resistant are than the conventional carriers of conventional toroidal coils.

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Ein weiterer 'Vorteil der erfindungsgemäßen Einrichtung beruht auf seiner Vielseitigkeit: Die gleiche Einrichtung kann ohne Notwendigkeit des Austausches von Bauelementen leicht für die Prüfung von Teilen angepaßt werden, die innerhalb eines ziemlich großen Bereiches verschiedene Abmessungen aufweisen.Another 'advantage of the device according to the invention is based on its versatility: the same device can be used without the need to exchange components Easily adapted for testing parts that are within a fairly large range have different dimensions.

Gegenüber herkömmlichen Ringspulen braucht man nur eine stark verringerte Zahl von Prüfspulen, um verschiedene IQ Abmessungsbereiche der Prüflinge zu erfassen.Compared to conventional toroidal coils, you only need a significantly reduced number of test coils to cover different IQ dimension ranges of the test objects.

Eine erste Variante der in den Fig. 1-4 gezeigten Ein-A first variant of the input shown in Figs. 1-4

Spulenträqer richtung kann darin bestehen, daß die 17, 19 mit den entsprechenden Spulen 21, 21', 23, 23' und den Kernen 25, 27 sowie den Auflagen 35, 36 entfallen. In diesem Falle kann ein elektrisches Bezugssignal von elektronischen Schaltungen anstelle durch Messen eines Kontrolloder MusterStücks 37 erzeugt werden.Spulenträqer direction can be that the 17, 19 with the respective coils 21, 21 ', 23, 23' and the cores 25, 27 and the requirements 35, 36 are omitted. In this case, an electrical reference signal from electronic Circuits are created instead of measuring a control or sample piece 37.

Wenn das Gewicht der Prüflinge 40 und die Drehzahl der Scheibe 38 so beschaffen sind, daß die Gefahr eines unbeabsichtigten Ausstoßes von Teilen besteht, kann eine weitere Variante im Einsatz einer Drehscheibe aus elektrisch nicht leitendem Werkstoff bestehen, in der Ausnehmungen oder Lagersitze ausgeformt sind, auf denen die Prüflinge nur aufgrund ihres Gewichtes ruhen.If the weight of the test objects 40 and the speed of the disk 38 are such that the risk of accidental Ejection of parts consists of another variant in the use of a turntable There are electrically non-conductive material, in the recesses or bearing seats are formed on which the test specimens only rest because of their weight.

Eine weitere Variante kann sich durch Ersatz von verschiedenen Förder- und Führungseinrichtungen für die Scheibe 38 ergeben. Beispielsweise kann ein in Fig. 3 durch gestrichelte Linien dargestelltes Rohr 45 eingesetzt werden, um die Teile 40 durch die Spulenträger 16, 18 zu leiten. Die Förderung der Teile durch das aus nicht leitendem Werkstoff bestehende Rohr 45 kann durch Schwerkraft, durch hin- und hergehende Stangen oder auch in anderer Weise erreicht werden.Another variant can be achieved by replacing various conveying and guiding devices for the pane 38 result. For example, a tube 45 shown in Fig. 3 by dashed lines can be used, to guide the parts 40 through the coil carriers 16,18. The promotion of the parts by the made of non-conductive Material existing pipe 45 can by gravity, by reciprocating rods or in can be achieved in another way.

Obwohl die Erfindung ganz besonders für automatische Prüfmaschinen zum Prüfen einer sehr großen Anzahl von Teilen je Sekunde (z.B. 10 Teile/Sekunde) geeignet ist, kann sie auch vorteilhafterweise bei handbedienten Prüfbänken eingesetzt werden. In beiden Fällen ist die Anpassung der Maschine oder Bank an die Prüfung von Teilen mit verschiedenen Abmessungen in einem ziemlich großen Bereich sehr schnell und leicht möglich.Although the invention is particularly useful for automatic testing machines for testing a very large number of Parts per second (e.g. 10 parts / second) is suitable, it can also advantageously be used with manually operated test benches can be used. In both cases, the machine or bench is adapted to the testing of parts with different dimensions in a fairly large area very quickly and easily possible.

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Claims

M.) Eddy current testing device for testing the material properties of components with a frame, a first coil, a carrier attached to the frame, the the coil carries and a second attached to the frame Carrier which carries the test objects, characterized in that the test device, which is attached to the first carrier (13, 16) mounted first coil (20, 20 ') and a second coil (22, 22'), which with the first Coil (20, 20 ') is connected and also a second coil (22, 22') supporting third carrier (14, 18), the first and third carriers (13,

X5 16; 14, 18) and the first and second spools (20, 20 '; 22, 22 ') form a test device in an open design and an open space between the first and the third carrier (13, 16; 14, 18) is created, which forms the test probe for the test items (40),

2. Device according to claim 1, characterized in that at least the first or third carrier (13, 16; 14,18) are adjustable on the frame (1 - 4).

3. Device according to claim 1 or 2, characterized in that that the second carrier comprises an active conveyor device (38) which carries the test objects (40) and promoted them to the probe.

4. Device according to claim 3 for dynamic testing, characterized characterized in that the active conveying device has a carrier (38) which carries the test objects (40) one after the other conveyed through the probe at a substantially constant rate.

5. Device according to claim 4, characterized in that

that the carrier has a disk (38) which rotates at a constant speed and forms the bearing seats for several test objects (40).
5

6. Device according to claim 2 or one of the claims 3-5, characterized in that it has a third coil (21, 21 ') carried by the first carrier (13, 17) and a fourth coil (23, 23 ') connected to the third coil (21, 21 "), which is carried by the third carrier (14, 19), the first and third carriers (13, 14) being a reference device (35, 36) for comprising positioning a sample (37) corresponding to the third and fourth spools (21, 21 '; 23, 23') and that the third and fourth coil (21, 21 '? 23, 23') generate a reference signal which corresponds to that of the first and second coil (20, 20 "; 22, 22 ') generated Test signal is compared.

7. Device according to claim 6, characterized in that each of the first, second, third and fourth. Coil a transmitter coil (20-23) and a receiver coil (20 '- 23').

8. Device according to claim 7, characterized in that that the receiver coils (20 ', 22'; 21 ', 23') of the first and second coils (20, 20 '; 22, 22') and the third and fourth coils (21, 21 '; 23, 23') in di.fferential circuit are connected to each other.

9. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the frame (1 - 4) has guide rods (5, 6) and a threaded part (7), to adjustably mount the first and third supports (13, 14).

1

10. Device according to one of claims 3-5, characterized characterized in that it comprises switches (41, 42) to control the test time for the test items (4 0).