DE3220389A1 - Verfahren und einrichtung zur messung der rotationsgeschwindigkeit unter ausnutzung des sagnac-effekts - Google Patents
Verfahren und einrichtung zur messung der rotationsgeschwindigkeit unter ausnutzung des sagnac-effektsInfo
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Description
— ο ""
J.S.Heeks 29
Verfahren und Einrichtung zur Messung der Rotationsgeschwindigkeit
unter Ausnutzung des Sagnac-Effekts.
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Einrichtung zur Messung der Rotationsgeschwindigkeit unter
Ausnutzung des Sagnac-Effekts. Eine solche Einrichtung enthält
mindestens eine spulenförmig angeordnete Lichtleitfaser.
Das Verfahren und die Einrichtung beziehen sich insbesondere auf eine Seitenbandmodulation/DemoduLation der
Teilstrahlen, nachdem sie die Lichtleitfaserspule gegensinnig
durchlaufen haben.
Die Verwendung von Lichtleitfaserspulen mit mehreren
Windungen, die Verwendung geeigneter Strahlteiler und
St rah I kombinierer sowie die Ankoppelung an eine einzelne
kohärente Lichtquelle, zum BeispieL ein Laser, ist an sich bekannt. Das eingekoppelte Licht wird in zwei Teilstrahlen
aufgeteilt und diese beiden Teilstrahlen durchlaufen die LichtLeitfaserspuLe gleichzeitig in entgegengesetzten
Richtungen. Dadurch erhält man Ausgangssignale,
die von der Rotationsgeschwindigkeit abhängen. Zur Auswertung
wird ein Fotodetektor verwendet. An solche Einrichtung
ist beispielsweise aus "Sensitivity Analysis of
the Sagnac-Effeet Optical Fiber Ring Interferometer" von
Shih-Chun Lin und Thomas G. Giallorenzi in Applied Optics,
ZT/pi-Sra/R
27.05.1982 ~7~
J.S.Heeks 29
Band 18, Nr. 6, 15. März 1979 bekannt. Wenn die AusgangssignaLe
einander überlagert werden entstehen ringförmige
Interferenzmuster, die in einem stationärem System von unbeschränkter
Breite sind, einheitlich und konstant sind. Wenn sich das System um die Achse der Lichtleitfaserspule
dreht, wandert die Lage der Ringe und bei einer geeigneten Auswertung kann man hieraus die Rotationsgeschwindigkeit
ermitteln.
Für solche Einrichtungen zur Messung der Rotationsgeschwindigkeit
gibt es zahlreiche interessante Anwendungsmöglichkeiten/
es bestehen jedoch noch eine Vielzahl technischer Schwierigkeiten, die vor einer Anwendung dieser Messeinrichtungen
gelöst werden müssen. Es bestehen sowohl Schwierigkeiten
hinsichtlich der gerät emäßigen Realisierung als auch hinsichtlich
der Auswertung.
Die Erfindung wird anhand der Zeichnungen beispielsweise
näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 eine Zeichnung zur Erläuterung des Grundprinzips
und der Funktionsweise des neuen Verfahrens in
der neuen Einrichtung,
Fig. 2 ein Blockschaltbild einer Einrichtung zur
Messung der Rotationsgeschwindigkeit mit einer
- LichtLeitfaserspuLe,
Fig. 3 eine schematische Darstellung eines integrierten optischen Untersystems der Einrichtung zur
Messung der Rotationsgeschwindigkeit für ein
Ausführungsbeispiel mit zwei spulenförmigen
Lichtleitfasern, und
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J.S.Heeks 29
Fig. 4 eine schematische DarsteLLung eines AusführungsbeispieLs
mit einer LichtLeitfaserspuLe und
mit optischen ZirkuLatoren.
Bei dem AusführungsbeispieL nach Fig. 1 wird jeweiLs ein
LichtimpuLs in die beiden Enden 2 und 3 einer LichtLeitfaserspuLe 4 eingekoppeLt . Die LichtimpuLse breiten sich
in der LichtLeitfaserspuLe gLeichzeitig und gegensinnig
aus. Die beiden ImpuLse verLassen die LichtLeitfaserspuLe
an den Enden 2 und 3 jeweiLs zum Zeitpunkt t=0 und geLangen zu einem optischen ypsilonförmigen VerbindungsgLied 4.
Dieses optische VerbindungsgLied besteht aus einem Paar
optischer WeLLenLeiter 5, 6, die in einem einzeLnen optischen WeLLenLeiter 7 münden. Die optischen WeLLenLeiter 5, 6 und
7 sind in einem Substrat 8 eines eLektrooptisehen aktiven
Materials gebiLdet. Die beiden Zweige 5 und 6 des ypsiLonförmigen
VerbindungsgLiedes sind mit den Enden 2 bzw. 3 der LichtLeitfaserspuLe verkoppeLt. Die optischen WeLLenLeiter
werden beispieLsweise durch Eindiffundieren von
Titan in Lithiumniobat gebiLdet.Ein erstes Elektrodenmuster
9 ist auf der OberfLäche des Substrats 8 gebildet und zwar in der Nähe von und paraLLeL zu den äußeren
Grenzen der LichtweLLenleiter, die die Zweige 5 und 6
biLden. Es ist weiterhin eine zweite Elektrode 30 auf der
OberfLäche des Substrats 8 vorgesehen und zwar zwischen 5 den Zweigen 5 und 6. Es wird zuerst die Auswirkung eines
dreieckförmigen elektrischen ModuLationssignaLs, das an
die Elektroden 9 und 10 angelegt wird, untersucht. Das dreieckförmige ModuLationssigna I prägt dem kombinierten
optischen Ausgangssignal eine Amplitudenmodulation auf,
die abhängt von der Phase, die der eLektrooptisehe Effekt
in entgegengesetzten Richtungen in die Zweige des ypsilonförraigen
VerbindungsgLiedes induziert.
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— ο _
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Unter der Voraussetzung, daß der Sagnac-Effekt keine
Phasenverschiebung verursacht und daß durch den Modulator
eine Phasenverschiebung erzeugt wird, die einem ganzzahligen
Vielfachen von halben Wellenlängen entspricht, ist der resultierende optische Träger des Ausgangssignal
kontinuierlich sinusförmit amplitudenmoduliert (Modulationsgrad
300 /O . In Wirklichkeit sind jedoch harmonische
Multiplikationen vorhanden zwischen der modulierenden
dreieckförmigen WeLLe mit der Frequenz f = —.und der EinhüLlenden
des Ausgangssigna Ls der Photodiode, wobei der harmonische Faktor = 2_n_ ist,wobei n_ die Zahl ist der
halben Wellenlängen der aufgeprägten Phasenverschiebung
bei der maximalen Modulation. Wenn man jetzt weiterhin synchron zu dem dreieckförmigen ModulationssignaL den
Elektroden 10 und 9 ein rechteckiges Modulationssignal
zuführt, variiert die Phase der Amp I itudenmoduLation
ohne das Vorhandensein von Phasendiskontinuitäten an den
singulären Punkten der Einhüllende des ModuLationssignaLs.
Die Phasenänderung ist linear verbunden mit der Amplitude des rechteckförmigen Signals.
Die Amplitude des dreieckförmigen Signals ist so gewählt,
daß sich die ganzzahlige HalbweLlenlängen-Phasenbedingung
ergibtz-und die Amplitude des recht eckf örmigen Signals ist
so gewählt, daß für das Ausgangssignal des Interferometers
(gebildet durch die eLektrooptisehe Einrichtung) folgende
Bedingungen erfüllt sind: Phase Null, keine Verzerrung, sinusförmige Modulation. Die Amplitude, die für das rechteckförmige
SignaL notwendig ist, um diesen AusgLeich zu
erreichen, ist ein Maß für die Rotationsgeschwindigkeit
der LichtLeitfaserspuLe um die SpuLenachse. Die Referenzphase
für die PhasenregeLschleife wird abgenommen von
- .3 0 -
J.S.Heeks 29
dem dreieckförmigen Modulationssignal und das Regelsignal
ist rückgekoppelt in Bezug auf die Amplitude des rechteckförmi
gen Si gnaIs.
In der Praxis sind perfekte dreieckförmige und rechteckige
ModuLationssignaIe nicht rea Ii sierbar, aber infolge der
Unterscheidungsmöglichkeit gegenüber unerwünschten Harmonischen
in einem abgestimmten Verstärker· 21 ist das System relativ unempfindlich gegenüber Abweichungen
in Bezug auf die Wellenform der Modulationssignale. Betrachtet
man beispielsweise die dreieckförmige Welle und
nimmt an,daß dieses Signal in Bezug auf seinen Verlauf so verschlechtert ist,daß es nahezu einen sinusförmigen
Verlauf hat, dann ist die ausgefilterte EinhüLlende des
Photodetektors immer noch sinusförmig, wenn die benachbarten Seidenbänder der Grundwelle durch den abgestimmten
Verstärker zurückgehalten werden. Für eine durch den Mach Zehnder gegebene Lichtintensität ist das System in
diesem Fall jedoch nicht so wirksam, weil in dem harmonischen Anteil der AusgangssignaLe Leistung verloren geht.
Betrachtet man schließlich die Verschlechterung der dreieckförmigen
Wellenform und der rechteckförmigen Wellenform
der Modulationssignale bis zum übergang in sinusförmige
Wellenformen in Phasenquadratur, dann wird es sogleich
ersichtlich, daß die Phasenregelung nur für kleine
Abweichungen linear ist, d. h. für eine kleine Amplitude der phasenregelnden SinusweLle.
In der Fig 2 ist ein komplettes Blockschaltbild der neuen
Einrichtung zur Messung der Rotationsgeschwindigkeit dargestellt.
Von einem Laser 11 abgegebenes Licht wird über
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eine Linse 14 auf einen ha IbversiLberten Spiegel 15 gerichtet.
Eine zweite Linse 14 Lenkt den Lichtstrahl auf das elektrooptisehe Interferometer 4 und anschließend zu
der Lichtleitfaserspule 1. Nach einer Zeit T wird der
Vorspannungsschalter 12 für den Laser geöffnet und der
Generator zur Erzeugung der dreieckförmigen Wellenform
wird wirksam geschaltet. Das dreieckförmige Modulationssignal
wird zu dem Interferometer geleitet. Gleichzeitig wird der Generator zur Erzeugung der rechteckförmigen
Welle 18 wirksam geschaltet. Dieeinander überlagerten Lichtstrahlen nach Durchlaufen der LichtLeitfaserspuLe
werden vom Interferometer 4 über eine Linse 16 und den haLbversilberten Spiegel 15 zu einer dritten Linse 19 geleitet;
die Linse 19 bildet den Lichtstrahl auf einen Photodetektor 20 ab. Das Ausgangssigna L des Photodetektors
20 wird in einem abgestimmten Verstärker 21 verstärkt und zu einer PhasenvergLeichseinrichtung 32 geleitet. Die
PhasenvergLeichseinrichtung wird durch eine Zeitregelschaltung
13 wirksam geschaltet. Das Ausgangssignal der
Phasenvergleichseinrichtung 22 wird verstärkt und als
AmplitudenregeLsignaL dem Generator 18 zur Erzeugung der
rech teekförmigen WeLIe zugeführt. Durch diese Regelung
wird das AusgangssignaL des Interferometers wieder zum
Wert Phasenverschiebung NuLL gebracht wie bereits oben
erläutert.
Der Sensor kann nur während der halben der zur Verfugung
stehenden Zeit betrieben werden, denn es ist notwendig, in den Sensor Licht von der Lichtquelle ohne Modulation
einzukoppeln. Die Lichtquelle ist für eine Zeit X eingeschaltet,
wobei T = der Laufzeit des Lichtsignals in der
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Lichtleitfaser ist. Anschließend ist die Lichtquelle für
eine weitere Zeitperiode X abgeschaltet. Während dieser
Zeit verläßt der Lichtstrahl über das elektrooptisehe
Interferometer die Lichtleitfaser. Abhängig davon, ob für
die maximale Änderung der Rotationsgeschwindigkeit das
Nyquist-Kriterium erfüllt ist, ist diese Tatsache von Bedeutung
oder nicht.
Um dieses Problem zu lösen,wird ein komplexeres geschaltetes
Lichtleitfaserspulensystem wie in Fig. 3 dargestellt verwendet.
Getrennte Eingangs- und Ausgangslichleitfasern 30/ 31 sind über einen geschalteten Richtkoppler 32 überkreuz
gekoppelt. Diese Richtkoppler sind ebenfalls als optische Wellenleiter in demselben Substrat wie die Interferometer
realisiert. Bei dieser Anordnung werden zwei benachbarte Interferometer 33 und 34 in dem Substrat gebildet und die
Interferometer sind mit zwei identischen Lichtleitfaserspulen,
die zueinander koaxiaL angeordnet sind, verbunden. Die beiden Lichtleitfaserspulen sind mit 35 und 36 bezeichnet.
Dem Richtkoppler wird über eine Lichtleitfaser
von einem dauernd betriebenen Laser (nicht dargestellt) Licht zugeführt. Der Richtkoppler und die Interferometer
sind so geschaltet, daß während der Zeit TJ ,während der
ersten LichtLeitfaserspuIe Licht zugeführt wird, das in
der zweiten Lichtleitfaserspule vorhandene Licht ausgekoppeLt
wird. Auf diese Weise ist ein kontinuierlicher
Betrieb der Einrichtung zur Messung der Rotationsgeschwindigkeit
mög lieh.
Eine hierzu alternative Anordnung ist in der Fig. 4 dargestellt. Hier ist eine einzige Lichtleitfaserspule 40 vor-
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J.S.Heeks 29
gesehen, der kontinuierlich Licht zugeführt wird und aus
der kontinuierlich Licht ausgekoppelt wird. Die kontinuierlich
vorhandenen Ausgangssignale werden zu einem Interferometer
41 geleitet. Bei dieser Anordnung sind optische Zi ι—
kulatoren 42 und 43 vorgesehen,um den Eingang vom Ausgang
zu entkoppeln.
ZT/Pl-Sm/R
27.05.1982
27.05.1982
Claims (1)
- INTERNATIONAL STANDARD ELECTRIC
CORPORATION, NEW YORKJ.S.Heeks 29PatentansprücheAuswerteverfahren für eine Einrichtung zur Messung der Rotationsgeschwindigkeit unter Ausnutzung des Sagnac-Effekts, bei der am Ausgang von mindestens einer spulenförmig angeordneten Lichtleitfaser zwei Signale vorhanden sind,dadurch gekennzeichnet,daß die beiden Ausgangssignale mit einem dreieckförmigen Signal, das eine vorgegebene Amplitude hat, gegensinnig moduliert werden, daß die SignaLe außerdem mit einem rechteckförmigen SignaL, das zu dem ersten Modulationssignal synchron ist,moduliert wird, daß die doppelt modulierten optischen Signale kombiniert werden (5, 6, 7),um ein Interferenzmuster zu bilden, und daß die Amplitude des zweiten, rechteckförmigen Modulationssignals so geregelt wird, daß sich für das Interferenzmuster die Phasenverschiebung 0 ergibt und daß das kontinuierliche sinusförmig amplitudenmodulierte Signal, das sich durch die Kombination der beiden LichLeitfaserausgangssignaIe, die mit dem ersten dreieckförmigen Signal moduliert sind, ergibt,im wesentlichen unverzerrt ist.2. Auswerteverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Enden (2, 3) der Lichtleitfaserspule mit einem optischen StrahItei Ie r/St rah IkombiniererZT/Pl-Sm/R _2_27.05.1982J.S.Heeks-29(14, 15, 16, 19} verbunden sind, welcher wiederum mit einer Lichtquelle (11) und einem Fotodetektor (20) abwechselnd verbunden ist und zwar für jeweils gleiche Zeiten 1X , wobei 1X die Laufzeit der optischen Signale in der Lichtleitfaserspule ist.3. Auswerteverfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwei gleichartige LichtLeitfaserspu len (35, 36) mit entsprechendem St rah I teiLer/Strah Ikombinierer vorgesehen sind, wobei die Eingänge/Ausgänge jeweils alternativ mit einem Fotodetektor und einer Lichtquelle verbunden sind.4. Auswerteverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Enden der Lichtleitfaserspule jeweils mit einem optischen Zirkulator (42, 43) verbunden sindrwobei Licht von einer Lichtquelle kontinuierlich in jedes Ende der Spule eingekoppelt wird und Licht kontinuierlich von den beiden Enden der Spule ausgekoppelt wird und zu einem optischen Kombinierer geleitet wird^nachdem die Lichtausgangssignale auf die beschriebene Weise zweimal moduliert werden.5. Einrichtung zur Messung der Rotationsgeschwindigkeit unter Ausnutzung des Sagnac-Effekts mit mindestens einer Lichtleitfaser, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Enden (2, 3) der Lichtleitfaser mit einem optischen ypsilonförmigen Verbindungselement (5, 6, 7) verbunden sind, dessen optische Eigenschaften seiner Zweige sich abhängig von einem angelegten elektrischen Feld ändern, daß Einrichtungen (4) vorgesehen sind zur Speisung der Lichtleit--3--Z-J.S.Heeks 29faserspule mit einem optischen Signal, das in zwei Teilsignale aufgeteilt wird, wobei die beiden Teilsignale die Lichtleitfaserspule gegensinnig durchlaufen, daß eine Einrichtung (20) vorgesehen ist ,die die beiden Ausgangssignale der Lichtleitfaserspule, nachdem sie einander überlagert worden sind, was in dem ypsi lonförmigen Verbindungsglied geschieht, auswertet, daß eine Modulationseinrichtung (9, 10) vorgesehen ist, die in den beiden Zweigen des ypsilonförmigen Verbindungsgliedes die Signale einerseits dreieckförmig moduliert und zwar für die beiden Zweige gegensinnig und andererseits die Signale in den beiden Zweigen mit einem Rechtecksignal moduliert und zwar synchron zu dem ersten dreieckförmigen Modu lationssignaL, daß Einrichtungen (21, 22) vorgesehen sind, die die Amplitude des zweiten Modutationssigna Is so regeln, daß die Phasenverschiebung des Interferenzmusters, das man bei der Kombination der beiden modulierten opt i sehen Signale erhält, im wesentlichen gleich Null ist^und daß das Signal, das man durch die Kombination der beiden Signale, die mit dem ersten dreieckförmigen ModulationssignaL moduliert sind,erhäIt,im wesentlichen unverzerrt und von sinusförmiger Form ist, und daß Zeitsteuereinrichtungen (13) vorhanden sind für die Steuerung des optischen Einkoppeins und der Modulationseinrichtung.6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß eine Schalteinrichtung (12, 13) vorgesehen ist, die das Zuführen der Lichtsignale über das ypsilonförmige Verbindungsglied zu den beiden Enden der Lichtleitfaserspule steuert, daß die Zeiten, während denen Signale zugeführt bzw. nicht zugeführt werden,a Iternierend aufein--4-ψ m · φ atJ.S.Heeks 29ander folgen und jeweils gleich der Signa L laufzeit in der Lichtleitfaser sind, und daß eine Einrichtung (20, 21) zur Auswertung des modulierten Lichtstrahls, der durch überlagerung der beiden Teilstraheln in dem ypsilonförmigen Verbindungsglied erhalten wird, vorgesehen ist.7. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß zwei identische und zueinander koaxial angeordnete LichtLeitfaserspulen (35, 36) vorgesehen sind, daß deren Enden jeweils mit den Zweigen ypsilonförmiger Verbindungsglieder verbunden sind, daß eine erste Einrichtung vorgesehen ist, die eines der ypsi lonförmigen Verbindungsglieder mit Licht speist, daß eine zweite Einrichtung vorgesehen ist, die von dem anderen ypsilonförmigen Verbindungsglied das auszuwertende Signal erhält, daß schaltbare Richtkoppler vorgesehen sind zum kreuzweisen Ankoppeln der ersten bzw.-zweiten Einrichtung an die ypsilonförmigen Verbindungsg I ieder,und daß eine Steuereinrichtung vorgesehen ist, die periodisch jeweils nach einer Zeit, die gleich der Signallaufzeit in einer Lichtleitfaserspule ist, umscha I tet.8. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Enden der Lichtleitfaserspule (40) mit den Zweigen des ypsilonförmigen Verbindungsglieds über Zi r kulatoren (42, 43) verbunden sind,und daß die Lichteinkopplung in die Enden der Lichtleitfaserspule ebenfalls über diese Zirkulatoren erfolgt.9. Einrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß das ypsilonförmige Verbindungsglied aus einem Paar optischer Wellenleiter besteht, die inJ.S.Heeks 29einen einzigen optischen Wellenleiter einmünden, daß die Wellenleiter in einem Substrat eines elektrooptisch wirksamen Materials gebildet werden, daß auf dessen Oberfläche in der Nähe der und parallel zu den Wellenleitern Elektroden (9, 10) aufgebracht sind,und daß den Elektroden so Signale zugeführt werden, daß die optischen Signale moduliert werden.10. Einrichtung nach Anspruch 7 , dadurch gekennzeichnet, daß die ypsi lonförmigen Verbindungsglieder und die Richtkoppler optische Wellenleiter sind, die in einem einzigen Substrat eines elektrooptisch wirksamen Materials gebildet werden, daß auf dessen Oberfläche in der Nähe der und parallel zu den Wellenleitern Elektroden angeordnet sind und daß den Elektroden Signale so zugeführt werden, daß die Signale in den Wellenleitern, die die ypsilonförmigen VerbindungsgLieder bilden, moduliert werden, und daß für die Signale in den Wellenleitern, die die Richtkoppler bilden, ein Kreuzkopplung erfolgt.11. Einrichtung nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenleiter durch Eindiffundieren von Titan in ein Lithium-Niobat-Substrat gebildet werden.ZT/Pl-Sm/R27.05.1982 -6-
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: STC PLC, LONDON, GB |
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8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: WALLACH, C., DIPL.-ING. KOCH, G., DIPL.-ING. HAIBA |
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8141 | Disposal/no request for examination |