DE3111351A1 - Untersuchungs- und pruefsystem - Google Patents
Untersuchungs- und pruefsystemInfo
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
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- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft allgemein Untersuchungs- und Prüfsysteme/ bei denen die Untersuchung der Charakteristiken
bzw. Eigenschaften von Stromkreiselementen oder dergleichen automatisch ausgeführt werden kann,
und insbesondere Untersuchungs- und Prüfsysteme/ bei denen Oszilloskope mit Braun'scher Röhre verwendet
werden/ um die automatische Untersuchung durchzuführen
.
In den letzten Jahren wurden die elektrischen Stromkreise
im Zusammenhang mit dem Fortschritt elektronischer Technologien zunehmend Hochpräzisionseinrichtungen/
während eine große Vielzahl von Stromkreiselementen als neue Materialien eingeführt werden,
entwickelt werden/ und eine derartige Verarbeitungstechnologie schreitet fort. Zur selben Zeit werden
hohe Ansprüche an die Funktion oder speziellen Charakteristiken derartiger Stromkreise oder Elemente
gestellt/ und bei der Überprüfung solcher elektrischer Charakteristiken bzw. Eigenschaften werden
diese Anforderungen durch Einpunkt-überprüfung/ z.B.
der Frequenzcharakteristik, des Spektrums, der Einschwingcharakteristik
oder des VerzerrungsVerhältnisses, nicht befriedigt, und es wird z.B. eine Präzisionsmessung
der Veränderungen bezüglich der Zeit verlangt.
Normalerweise wird eine derartige Untersuchung und Prüfung unter Verwendung eines Oszilloskops mit
Braun'scher Röhre durchgeführt, indem die Spannung
oder Frequenz auf der Zeitachse, die abgetastet oder gewobbelt wird, um eine Wellenform auf der Braun'sehen
Röhre zu erzeugen, genommen wird, und indem eine solche Wellenform visuell untersucht wird, um zu
kontrollieren/ ob die geforderten Charakteristiken und Eigenschaften erfüllt sind oder nicht. Derzeit
ist es üblich, solche Stromkreiselemente in Massenproduktion
herzustellen/ und die Gegebenheiten für automatische Untersuchung und Prüfung solcher elektrischen
Eigenschaften sind in Wirklichkeit vorbereitet. Gegenwärtig ist es jedoch eine Tatsache, daß Systeme,
die eine solche automatische Untersuchung und Prüfung möglich machen, noch nicht vorgeschlagen worden sind.
10
Im folgenden wird ein bekanntes Untersuchungs- und
Prüfsystem unter Verwendung eines Oszilloskops mit
Braun1scher Röhre in Bezug auf Fig. 1 und Fig. 2 beschrieben.
In Fig. 1 ist die Vorderansicht eines BiIdschirms PS eines Oszilloskops mit Braun'scher Röhre
dargestellt. Mit der Kurve a auf diesem Bildschirm PS ist eine gewöhnlich zu sehende Bandpaß-Kennlinie
(Standardwelle) des Hochfreguenzstromkreises eines zu überprüfenden Objektes gezeigt, wobei in diesem Fall
z.B. die Untersuchungspunkte die Frequenzbreite f1 am Rand der Bandcharakteristik-Kurve a, das Frequenzband
f 2 in den Höhenbereichen oder der Einschnitt oder die Abfälle L1 (Pegelvariation) an den oberen
Abschnitten sind. Bei der Untersuchung und Überprüfung von tatsächlichen Stromkreisen werden tolerierbare
obere und untere Grenzwerte für die Werte f1, f2 oder L1 eingerichtet, und wenn die Kurve a innerhalb
eines solchen Toleranzbereiches bleibt, wird der untersuchte Stromkreis als qualifiziertes Produkt
SO akzeptiert.
Dementsprechend ist gewöhnlich, wie in Fig. 2 gezeigt ist, ein Standardbereich R auf dem Bildschirm PS der
Braun1sehen Röhre dargestellt, der durch ausgezogene
Kurven b und c begrenzt ist, welche die oberen und
J ι ι I J
J ι ι
unteren Toleranzwerte der gewünschten Kurve a anzeigen,
die durch die gestrichelte Linie a gezeigt ist. Hiermit wird die tatsächliche Kurve eines überprüften
Objekts, die auf dem Bildschirm PS ausgezogen ist, visuell dahingehend überprüft, ob die Kurve innerhalb
des Standardbereichs R liegt oder nicht.
Vom praktischen Standpunkt her gesehen, ist die Untersuchung und Überprüfung jedoch mit Schwierigkeiten verbunden,
wenn die Überprüfung durch imaginäre Einstellung eines solchen Standardbereichs R auf dem
Bildschirm PS eingestellt wird, wenn die Natur des Bildschirms PS auf der Braun'sehen Röhre und die
Fluktuation der untersuchten Kurve a in Betracht gezogen wird. Eine präzise und positive Untersuchung
und Überprüfung kann daher nicht vorausgesehen werden. Des weiteren wird die Überprüfung schwieriger, wenn der
Toleranzbereich R klein ist.
Wenn große Mengen von Objekten überprüft werden sollen, treten viele Fehler zusätzlich auf, z.B. die Anhäufung
von unvermeidbarer Ermüdung des Auges der überprüfenden Person.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Untersuchungs- und Prüfsystem zu schaffen, mittels
dessen eine automatische Untersuchung und Überprüfung der oben aufgeführten verschiedenen Charakteristiken
von elektrischen Stromkreisen unter Verwendung von Oszilloskopen mit Braun'scher Röhre durchgeführt
werden kann.
Die Merkmale der vorliegenden Erfindung liegen in einem Untersuchungs- und Prüfsystem, welches einen optischen
Sensor besitzt, welcher als Reaktion auf das vom Bild-
schirm der Braun'sehen Röhren, fallenden Licht Ausgangssignale
erzeugt, während Oszilloskope mit Braun'scher Röhre verwendet werden, um die elektrischen
Charakteristiken der überprüften Objekte, bei denen es sich z.B. um elektrische Stromkreise oder
Elemente von elektrischen Stromkreisen handelt, bezüglich der Zeit abgetastet oder gewobbelt werden,
wobei solche Untersuchungs- und Prüfsysteme verwendet werden, um ein überprüftes Objekt dahingehend zu
untersuchen, ob es gut oder schlecht ist, indem die Wellen beobachtet werden, die die elektrische Charakteristik
des überprüften Objektes anzeigen, wie sie auf dem Bildschirm der Braun'sehen Röhre erscheinen,
auf welchen auf der Braun'sehen Röhre Anordnungen gemacht werden, um eine optische Maske anzuordnen, die
praktisch jedes Hindurchtreten von Licht von einem Standardbereich an einem festgelegten Ort vermeidet,
wobei eine solche Form mit der Standardwelle der elektrischen Charakteristiken eines überprüften Objekts
zusammenfällt.
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise anhand der Zeichnung beschrieben; in dieser zeigen:
Figur 1 und Figur 2 Vorderansichten der Bildschirme von Braun'sehen Röhren auf Oszilloskopen mit
Braun'scher Röhre und
Figur 3 eine schematische Zeichnung eines Beispiels eines erfindungsgemäßen Untersuchungs- und
Prüfsystems.
Im folgenden wird ein Beispiel des erfindungsgemäßen Untersuchungs- und Prüfsystems unter Bezugnahme auf
Fig. 3 erläutert.
In Fig. 3 ist mit dem Bezugszeichen 1 ein Frequenzwobbler
oder Wobbelgenerator bezeichnet, der Wobbelsignale auf Zeitachsen erzeugt, die je nach dem
Zweck der auszuführenden Messungen von der Spannung oder Frequenz abhängen. Diese Signale werden den zu
untersuchenden Objekten/zugeführt, bei denen es sich z.B. um elektrische Stromkreise oder um Stromkreiselemente
handelt. Die vom Wobbelgenerator 1 erfolgten Signale, die durch die überprüften Objekte, z.B. den
elektrischen Stromkreis 2, hindurchgelaufen sind, werden einem Oszillographen 3 mit Braun'scher Röhre zugeführt,
so daß die Charakteristik bzw. Kennlinie des überprüften elektrischen Stromkreises 2 auf dem Bildschirm
PS der Braun'sehen Röhre als Kennlinie ausgezogen
wird.
Bei der vorliegenden Erfindung ist eine optische Abschirmmaske
OM vorgesehen, die den oberen und unteren Grenzwerten der Standardkennlinie bezüglich der
Charakteristiken des zu messenden oder überprüfenden Objekts, d.h. der elektrischen Schaltung 2, entspricht.
Es handelt sich somit um eine Maske, die den tolerierbaren Wertbereich R der gemessenen Kurve abdeckt, d.h.
den entsprechenden Bereich auf dem Bildschirm PS der Braun'sehen Röhre, der sich an einer festgelegten
Stelle befindet, wo die Kennlinie des überprüften Objekts 2 auf dem Bildschirm PS erscheint, und diese
befindet sich an der Position, die dem oben erwähnten Toleranzbereich R entspricht, so daß die optische
Maske OM das Hindurchtreten von Licht vom Bildschirm PS der Braun'sehen Röhre unter einer solchen Maske abser:-.'Tit.
Bei der tatsächlichen Messung wird so, wenn
-β-
ι es sich bei dem überprüften Objekt 2 um ein gutes Produkt
handelt oder dieses innerhalb der Standardwerte liegt, die Kennlinie auf dem Bildschirm PS innerhalb
der optischen Maske OM verborgen, und es gibt auf dem Bildschirm PS keinen Lichtpunkt. Wenn es sich
bei dem überprüften Objekt 2 jedoch um ein schlechtes Produkt handelt, d.h. um ein Produkt, das nicht innerhalb
der Standardgrenzen liegt, entweicht die Kennlinie auf dem Bildschirm PS dem durch die Maske OM verdeckten
Bereich, bzw. sie läuft aus diesem heraus, wodurch Lichtpunkte oder dergleichen auf dem Bildschirm
PS erscheinen. Wenn sich die oben aufgeführte Maske OM in einer festgelegten Position auf dem Bildschirm PS
der Braun'sehen Röhre befindet, kann geprüft werden,
ob das überprüfte Objekt 2 gut oder schlecht ist, indem überprüft wird, ob auf dem Bildschirm PS Lichtpunkte
erscheinen oder nicht.
Gemäß der vorliegenden Erfindung befindet sich daher "0 ein optischer Sensor 4, bei dem es sich z.B. um Foto-.dioden
handeln kann, an einer gewünschten Position vor dem Bildschirm PS der Braun'sehen Röhre, z.B. auf
deren vertikaler Achse, mittels dessen festgestellt werden kann, ob der optische Fleck auf dem Bildschirm
ps erscheint oder nicht, und es kann automatisch geprüft werden, ob der überprüfte Stromkreis 2 gut oder
schlecht ist. In der praktischen Ausführung gelangt z.B. das Ausgangssignal vom Sensor 4 durch einen Verstärker
5, was erforderlich ist, um ein anzutreibendes Alarmsystem 6 zu versorgen, welches einen Summer oder
eine Lampe, etc. enthält.
Gemäß der Erfindung erzeugt der Sensor 4 ein Ausgangssignal,
wenn ein Lichtpunkt auf dem Bildschirm PS er-
nur
scheint, d.h.,/wenn die Kennlinie des überprüften Objekts 2 aus dem durch die Maske OM abgedeckten Bereich hinausläuft oder es sich bei dem Objekt 2 um ein schlechtes Produkt handelt. Somit erzeugt das Alarmsystem 6, dem das Ausgangssignal vom Sensor 4 zugeführt wird, nur ein Alarmsignal, wenn es sich bei dem überprüften Objekt um ein Ausschußteil handelt.
scheint, d.h.,/wenn die Kennlinie des überprüften Objekts 2 aus dem durch die Maske OM abgedeckten Bereich hinausläuft oder es sich bei dem Objekt 2 um ein schlechtes Produkt handelt. Somit erzeugt das Alarmsystem 6, dem das Ausgangssignal vom Sensor 4 zugeführt wird, nur ein Alarmsignal, wenn es sich bei dem überprüften Objekt um ein Ausschußteil handelt.
Das Ausgangssignal vom Sensor 4 kann einem Komparator zugeführt werden (was in der Zeichnung nicht gezeigt
ist), durch welchen das Ausgangssignal vom Sensor 4 gegenüber einem geeignet eingestellten Schwellenwert
ausgewählt wird, um das Signal*-/Rausch -Verhältnis oder
%den Rauschabstand zu vergrößern. 15
Um das Vorkommen einer irrtümlichen Funktion durch unnötige Lichtzufuhr von außen, bei der es sich nicht um
den Lichtfleck vom Bildschirm PS handelt, zum Sensor zu vermeiden, kann eine äußere Lichtabschirmabdeckung
zwischen dem Sensor 4 und dem Bildschirm PS installiert sein, oder es kann eine optische Maske auf dem
Bildschirm PS oder auf dem Sensor 4 installiert sein, welche nur den Lichtfleck auf dem Bildschirm PS hindurchläßt.
Des weiteren kann die Detektionsempfindlichkeit oder das Auflösungsvermögen erhöht werden, indem eine Videokamera
als Sensor 4 verwendet wird.
Wenn z.B. die optische Charakteristik der optischen Maske OM so ausgewählt wird, daß sie nur für ein
menschliches Auge sichtbar ist, jedoch nicht für dun
Sensor 4 detektierbares Licht hindurch läßt, wird der Vorteil bewirkt, daß der Beobachter visuell überprüft,
- ιοί ob die Prüfung durchgeführt wird oder nicht.
Gemäß der Erfindung können die verschiedenen elektrischen
Charakteristiken oder Kennlinien des überprüften Objekts, z.B. Veränderungen mit extrem kurz vorübergehenden
Merkmalen in der Größenordnung von Nanosekunden akurat und positiv automatisch als Wellenformen
überprüft werden, und die Vorteile sind groß.
Bei dem in Fig. 3 veranschaulichten Beispiel der vorliegenden Erfindung sind die Elemente Λ, 2, 3, 4, 5 und
6 separat für die Erläuterungen veranschaulicht, aber diese Elemente können vereinheitlicht werden, um ein
spezialisiertes Überprüfungssystem sehr leicht zu bilden.
Claims (4)
- It 4949 -/T-Untersuchungs- und PrüfsystemPatentansprücheUntersuchungs- und Prüfsystem, bei dem ein Oszilloskop mit Braun'scher Röhre verwendet wird und die elektrischen Charakteristiken von Objekten, z.B. den Elementen eines elektrischen Stromkreises oder dergleichen überprüft werden, wobei die elektrischen Charakteristiken bezüglich der Zeit gewobbelt werden, um entsprechende Wellenformen auf einer Braun'- ^O sehen Röhre des Oszilloskops mit Braun'scher Rohre zu bilden und die Wellenformen beobachtet werden, um zu überprüfen, ob die Objekte gut sind oder nicht, gekennzeichnet durcha) eine optische Maske, die aus einem solchen Mate--j^5 rial hergestellt ist, daß sie im wesentlichen das Hindurchtreten von Licht verhindert, welches auf den Bildschirm als die elektrischen Charakteristiken des Objekts erscheint und eine Form besitzt, welche einer Standardwellenform für die elektrisehen Charakteristiken der Objekte besitzt, wobei die optische Maske auf dem Bildschirm in einer festgelegten Position angeordnet ist, undb) eine optische Sensoreinrichtung, die dazu dient, vom Bildschirm emittiertes Licht abzutasten, um ein elektrisches Ausgangssignal zu erzeugen.
- 2. Untersuchungs- und Prüfsystem nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine mit der optischen Sensoreinrichtung verbundene Alarmeinrichtung, die dazu dient, einen Alarm zu geben, wenn die optische Sensoreinrichtung das elektrische Ausgangssiynal erzeugt.
- 3. Untersuchungs- und Prüfsystem nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Komparatoreinrichtung, die mit dem Ausgangssignal von der optischen Sensoreinrichtung versorgt wird, um basierend auf einem gewünschten Schwellenwert das Ausgangssignal auszuwählen, um ein Signal-Rausch-Verhältnis zu erhöhen.
- 4. Untersuchungs- und Prüfsystem nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Lichtabschirmeinrichtung, die zwischen dem Bildschirm und der Sensoreinrichtung vorgesehen ist, um zu verhindern, daß ungewünschtes Licht auf die optische Sensoreinrichtung einfällt.
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DE2209980A1 (de) * | 1972-03-02 | 1973-09-06 | Licentia Gmbh | Vorrichtung zur messtechnischen bestimmung oder kontrolle der messdaten eines messobjektes |
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- 1980-03-24 JP JP3715580A patent/JPS56133667A/ja active Pending
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- 1981-03-23 CA CA000373620A patent/CA1152739A/en not_active Expired
- 1981-03-23 DE DE19813111351 patent/DE3111351A1/de active Granted
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Also Published As
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FR2478821B1 (fr) | 1985-09-27 |
FR2478821A1 (fr) | 1981-09-25 |
CA1152739A (en) | 1983-08-30 |
GB2072862B (en) | 1984-07-11 |
JPS56133667A (en) | 1981-10-19 |
GB2072862A (en) | 1981-10-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |