DE3002620C2 - Verfahren zum berührungslosen optischen Empfang von Ultraschallwellen - Google Patents
Verfahren zum berührungslosen optischen Empfang von UltraschallwellenInfo
- Publication number
- DE3002620C2 DE3002620C2 DE3002620A DE3002620A DE3002620C2 DE 3002620 C2 DE3002620 C2 DE 3002620C2 DE 3002620 A DE3002620 A DE 3002620A DE 3002620 A DE3002620 A DE 3002620A DE 3002620 C2 DE3002620 C2 DE 3002620C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- frequency
- light
- absorption
- laser
- gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/24—Probes
- G01N29/2418—Probes using optoacoustic interaction with the material, e.g. laser radiation, photoacoustics
- G01N29/2425—Probes using optoacoustic interaction with the material, e.g. laser radiation, photoacoustics optoacoustic fluid cells therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H9/00—Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by using radiation-sensitive means, e.g. optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/042—Wave modes
- G01N2291/0423—Surface waves, e.g. Rayleigh waves, Love waves
Description
küle angeregt, dann ist das Absorptionsvermögen für
einen anderen Lichtstrahl der entsprechenden Frequenz weitgehend aufgehoben. Die gasgefüllte Absorptionszelle wird also dann für diese Frequenzen lichtdurchlässig.
Diese Betrachtung bezieht sich nur auf die Atome und Moleküle, die eine passende Geschwindigkeitskomponente
in Richtung des eingestrahlten Lichtes besitzen. Die übrigen Atome und Moleküle nehmen mit ihrer der
Temperatur entsprechenden kinetischen Energie am Sättigungsprozeß nicht teil. Das bedingt, daß der gesättigte
Bereich gegenüber dem Absorptionsbereich sehr schmal ist In der F i g. 2 ist das skizziert Es bedeutet
F i g. 1 eine beispielhafte Anordnung von Prüfstück,
Laser, Lichtfilter und Fotodetektor zur Durchführung des Verfahrens;
Fig.2 eine Absorptionskurve eines Lichtfilters mit gesättigtem Teilbereich;
F i g. 3 eine Absorptionskurve eines Lichtfilters nach dem Stand der Technik;
F i g. 4 eine beispielhafte Anordnung zur Durchführung des Verfahrens mit einem einzigen Laser;
Fig. 5 eine Absorptionskurve für ein in den Laserresonator
angebauten Lichtfilter;
Fig.6 eine Absorptionskurve bei Berücksichtigung der Hyperfeinstruktur.
Es ist also vorteilhaft den Arbeitspunkt des Flankendiskriminators
auf eine der steilen Flanken des gesättigten Bereiches des Lichtfilters zu legen, wie es folgend
beispielhaft beschrieben wird.
In der Fig.2 ist der Punkt A1 ein solcher Arbeitspunkt.
Daher erhält man bei gleichem Frequenzhub eine größere Amplitudenmodulation als bei einem Arbeitv
punkt A der F i g. 3 einer nicht im Teilbereich gesättigten Absorptionszelle.
In einer beispielhaften Ausgestaltung des Verfahrens nach dem Hauptanspruch beleuchtet gemäß Fi g. 1 ein
frequenzstabilisierter Laser 1 mit einem Lichtstrahl 2 die Oberfläche 3 des Prüfstückes 4. Der gestreute Lichtstrahl
5 ist durch den Dopplereffekt mit der Ultraschallschwingung im Prüfstück frequenzmoduliert. Eine Sammellinse
6 bündelt das vom Oberflächenanteil 3 gestreute Laserlicht 5 und leitet es über den Lichtfilter 7 zum
Fotodetektor 8. Der ebenfalls frequenzstabilisierte Einmoden-Laser
21 beleuchtet mit seinem Lichtstrahl hoher Intensität den Lichtfilter 7, ggfs. über Umlenkspiegeleinheiten,
so daß der Lichtfilter 7 in Teilbereichen seiner Absorptionskurve gesättigt und somit in diesen
Teilbereichen in seinem Absorptionsvermögen stark herabgesetzt wird; es ist ein solcher Bereich S in F i g. 2
skizziert. Hierbei werden sehr hohe Forderungen an die Frequenzstabilität der Laser gestellt.
Zur Sättigung des Lichtfilters 7 kann auch vorteilhafterweise der die Werkstückoberfläche beleuchtende Laser
1, der sowieso genügend frequenzstabilisiert sein muß, mitverwendet werden. In F i g. 4 ist eine derartige
Anordnung beschrieben. Der Lichtstrahl 27 des frequenzstabilisierten Einmoden-Lasers 1 wird durch den
Lichtfilter 7, der eine mit Joddampf unter geringem Druck gefüllte Absorptionszelle sein kann, goführt Der
Lichtfilter wird in dem Teilbereich B seines Absorp- t,o tionsbereiches 22 gesättigt Bei ausreichender Laserleistung
und geeigneter Dichte des Joddampfes, die mit der Temperatur einstellbar ist, tritt ein großer Teil des
Lichtstrahles aus der Absorptionszelle wieder aus, erfährt im Frequenzschieber 24 eine konstante Frequenzverschiebung
Δ /"und beleuchtet die Oberfläche 3 des Prüfstückes 4. Das durch die Schallbewegung infolge
des Dopplereffektes freauenzmodulierte Streulicht 5 wird durch eine Sammeloptik 6 und einer Umlenkspiegelanordnung
26 möglichst in gleicher Richtung wie der sättigende Lichtstrahl 27 durch den Lichtfilter geführt
Mit einem Fotodetektor 8 wird eine elektrische Größe z. B. eine elektrische Spannung, die von der Lichtintensität
abhängig ist, erzeugt Die Frequenzverschiebung Δ f wird so gewählt, daß der Arbeitspunkt des durch den
Lichtfilter gebildeten Flankendiskriminators an die steilste Stelle der Sättigungsflanke, Punkt Au zu liegen
kommt Dieser Arbeitspunkt bleibt wagen der konstanten Frequenzverschiebung Δ f erhalten, auch dann,
wenn die Laserfrequenz driftet so lange sie nur innerhalb der Absorptionslinie bleibt was durch die Frequenzstabilisierung
des Lasers gewährleistet ist. Der Frequenzschieber 24 läßt sich z. B. mit Braggzellen, mit
Schwingspiegeln oder anderen an sich bekannten Mitteln aufbauen. Als Gas für die Absorptionszelle des
Lichtfilters kann — wie schon angeführt — z. B. Dampf des Jodisotops !29/2 oder ™J2 verwendet werden.
In einer Abwandlung des Verfahrens kann die Absorptionszelle 7 auch im Resonator des für die Sättigung
benutzten Lasers angeordnet werden. Die im Resonator des Lasers herrschende sehr hohe Lichtintensität wird
dabei zur Sättigung ausgenutzt. Da aber in diesem Resonatorraum zwischen den Resonatorspiegeln je eine
hin- und zurückgehende Lichtwelle existiert, entstehen 2 Sättigungsbereiche symmetrisch zur Mitte der Absorptionslinie,
die nur dann zusammenfallen, wenn der Laser auf Linienmitte abgestimmt ist. In F i g. 5 ist dies
durch die Bereiche S1 und B2 mit den Arbeitspunkten A3
und A4 angedeutet. Entstehen durch die Hyperfeinstruktur
im Gas der Absorptionszelle mehrere Sättigungslinien, wie es F i g. 6 darstellt, dann ergeben sich entsprechend
der Frequenzverschiebung Δ /mehrere Arbeitspunkte Aio, Au, Ai2 usw.
Arbeitet der sättigende Laser auf mehr als nur einer Frequenz, so tragen alle in den Absorptionsbereich des
Lichtfilters fallenden Laserfrequenzen mit ihren Sättigungsbereichen zur Amplitudenmodulation, also zur
Bildung der elektrischen Signalgröße, bei.
Durch die schmalbandige Sättigung mittels eines frequenzstabilisierten
Einmoden-Lasers läßt sich in einem Lichtfilter, der aus einer Absorptionszelle besteht, ein
schmalbandiger Sättigungseinbruch erzeugen, wodurch eine sehr steile Flanke entsteht, die einen besseren Amplitudenmodulationsgrad
ergibt as bei den viel flacher verlaufenden Flanken der Absorptionskennlinie einer
nicht gesättigten Absorptionszelle.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Verfahren zum berührungslosen optischen Schallintensität abhängiges Signal erzeugt Dabei wird
Empfang von Ultraschallwellen in der zerstörungs- s zum Ultraschall-Empfang die Oberfläche des Prüfstükfreien Werkstoffprüfung durch beleuchten eines im kes mit Laserlicht beleuchtet Die Oberflächenelemente
Takt der Ultraschallwelle ausgelenkten Oberflä- des Prüfstückes bewegen sich im Takt des im Prüfstück
chenanteils eines Prüfstückes mit dem Licht eines vorhandenen Ultraschall-Druckfeldes mit einer Geersten frequenzstabilisierten Einmodenlasers, wobei schwindigkeit deren Maximalwert mit Schallschnelle
das von einem Oberflächenanteil des Prüfstücks re- io bezeichnet wird, wodurch das reflektierte Laserlicht inflektierte und durch den schallbedingten Doppleref- folge des Dopplereffektes frequenzmoduliert ist Als
fekt frequenzmodulierte Licht durch einen gasgefüll- Flankendiskriminator zur Erzeugung einer Amplitudenten Lichtfilter geführt und die Frequenz des Lasers modulation des empfangenen und durch den Dopplerefgieich einer Frequenz an der Absorptionsflanke des fekt frequenzmodulierten Laserlichtes wird ein Lichtfil-Lichtfilters zur Amplitudenmodulation des fre- is ter verwendet dessen Absorptionsflankensteilheit für
quenzmodulierten Lichtes gewählt wird und das am- den Grad der Amplitudenmodulation maßgebend ist
plitudenmodulierte Licht in einem Fotodetektor ein Als Lichtfilter werden gasgefüllte Absorptionszellen bevon der Ultraschallintensität abhängiges Signal er- nutzt, die nach dem Slanü der Technik Gase unter gerinzel-'St. gern Druck enthalten. So ist z. B. für ein Laserlicht mit
20 einer Wellenlänge von 514,5 nm als Gas für die Absorp-
dadurchgekennzeichnet, tionszelle der Dampf von Jod l27/2 oder des Jodisotops
129T2 unter geringem Druck geeignet Nachteilig ist, daß
— daß das Gas des Lichtfilters (7) durch einen dieses Gas in der Nähe der genannten Wellenlänge und
zweiten unmodulierten frequenzstabilisierten bei Raumtemperatur einen Absorptionsbereich mit ei-Laserstrahl (23) zur Verminderung der Absorp- 25 ner Bandbreite in der Größenordnung von 1 GHz hat
tionseigenschaft des Lichtfilters (7) für die Fre- Um eine Amplitudenmodulation von ca. 1 % zu erhalten,
quenz oder die Frequenzen dieses unmodulier- also eine Intensitätsschwankung des Lichtes in der Gröten Laserstrahls (23,27) bestrahlt wird, ßenordnung von 1 Vo, müßte der Frequenzhub im emp-
— daß die Frequenz des die Prüfstücksoberfläche fangenen Laserlicht in der Größenordnung der 10 MHz
(3) beleuchtenden ersten Laserlichts zur Ampli- 30 liegen. Die Frequenzmodulation des reflektierten und
tudenmodulation gleich der Frequenz des Ar- empfangenen Laserlichtes durch den Dopplereffekt inbeitspunktes des Flankendiskriminators an ei- folge der Schwingungen der Oberflächenelemente des
ner der steilen Flanken (A 1) des gesättigten Prüfstückes unter dem Einfluß der Ultraschall-Druck-Bereichs des Lichtfilters gewählt wird, welle ist aber bei den in der Werkstoffprüfung ange-
35 wendeten Frequenzen und Ultraschall-Intensitäten we-
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn- sentlich geringer, wodurch sich nachteilig kleine Amplizeichnet, daß der für die Beleuchtung der Prüf- tudenmodulationen ergeben.
Stücksoberfläche (3) verwendete erste Laserstrahl Die breite Absorptionslinie einer gasgefüllten Ab-(27) vor seiner Frequenzmodulation an der Prüf- sorptionszelle ist thermodynamisch durch die zur Aufstücksoberfläche als zweiter Laserstrahl zur Ab- 40 rechterhaUung des Gaszustandes notwendige Temperasorptionsverminderung des Lichtfilters (7) mit- tür, also durch die kinetische Energie der Atome und
benutzt wird. Moleküle, bedingt Wird jedoch eine solche gasgefüllte
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekenn- Absorptionszelle in ihrem verhältnismäßig breiten Abzeichnet, daß der Lichtfilter (7) im Resonatorraum Sorptionsbereich mit sehr schmalbandigem Laserlicht
des einzigen Lasers (1) angeordnet ist « ausreichender Intensität bestrahlt, entsteht für den Frequenzbereich des Laserlichtes in der Absorptionszelie
eine Sättigungserscheinung und in diesem Bereich ist
die Absorption weitgehend aufgehoben. Dieses Phänomen ist bekannt und z. B. von M. Hercher, Applied Op-
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum berührungs- 50 tics, Vol. 6, Nr. 5, Mai 1967, S. 947 bis S. 954, beschrieben
losen optischen Empfang von Ultraschallwellen in der worden. Hierbei ist es nachteilig, daß in diesem Bereich
zerstörungsfreien Werkstoffprüfung durch beleuchten der aufgehobenen oder stark verminderten Absorption
eines im Takt der Ultraschallwelle ausgelenkten Ober- der Effekt der Amplitudenmodulation sehr klein und
flächenanteils eines Prüfstückes mit dem Licht eines er- von einem Gleichrichtereffekt überlagert ist
sten frequenzstabilisierten Einmodenlasers, wobei das 55 Es ist Aufgabe der Erfindung, durch Vergrößerung
von einem Oberflächenanteil des Prüfstücks reflektierte der Flankensteilheit im Absorptionsbereich eines Licht-
und durch den schallbedingten Dopplereffekt frequenz- filters, der als gasgefüllte Absorptionszelle ausgebildet
modulierte Licht durch einen gasgefüllten Lichtfilter ge- ist, die bei gegebenem Frequenzhub erzielbare Amplituführt und die Frequenz des Lasers gleich einer Frequenz denmodulation wesentlich zu erhöhen,
an der Absorptionsflanke des Lichtfilters zur Amplitu- 60 Die Aufgabe der Erfindung wird durch die Merkmale
denmodulation des frequenzmodulierten Lichts gewählt im Kennzeichen des Hauptanspruches gelöst
wird und das amplitudenmodulierte Licht in einem Fo- Bei der Absorption von Photonen werden pro Zeit-
todetektor ein von der Ultraschallintensität abhängiges einheit Atome oder Moleküle des beleuchteten Gasvo-Signal erzeugt. lumens angeregt. Je mehr Atome oder Moleküle aber
Es ist bekannt (DE-OS 27 10 638), das von einem 65 angeregt sind, um so weniger stehen für eine weitere
Oberflächenanteil des Prüfstückes reflektierte und Absorption zur Verfügung. Wird nun durch sehr starke
durch den schallbedingten Dopplereffekt frequenzmo- Beleuchtung des Gasvolumens mit einer entsprechenduherte Licht durch einen Lichtfilter zu führen und die den Frequenz der größte Anteil der Atome oder Mole-
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3002620A DE3002620C2 (de) | 1980-01-25 | 1980-01-25 | Verfahren zum berührungslosen optischen Empfang von Ultraschallwellen |
US06/205,304 US4345475A (en) | 1980-01-25 | 1980-11-10 | Method and apparatus for receiving ultrasonic energy by optical means |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3002620A DE3002620C2 (de) | 1980-01-25 | 1980-01-25 | Verfahren zum berührungslosen optischen Empfang von Ultraschallwellen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3002620A1 DE3002620A1 (de) | 1981-07-30 |
DE3002620C2 true DE3002620C2 (de) | 1984-09-20 |
Family
ID=6092907
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3002620A Expired DE3002620C2 (de) | 1980-01-25 | 1980-01-25 | Verfahren zum berührungslosen optischen Empfang von Ultraschallwellen |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4345475A (de) |
DE (1) | DE3002620C2 (de) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3029776C2 (de) * | 1980-08-06 | 1983-04-07 | Krautkrämer, GmbH, 5000 Köln | Verfahren zum berührungslosen Empfang von Ultraschallwellen |
JPS606860A (ja) * | 1983-06-15 | 1985-01-14 | Hitachi Ltd | 非接触式超音波探傷方法およびその装置 |
US4567769A (en) * | 1984-03-08 | 1986-02-04 | Rockwell International Corporation | Contact-free ultrasonic transduction for flaw and acoustic discontinuity detection |
US4897541A (en) * | 1984-05-18 | 1990-01-30 | Luxtron Corporation | Sensors for detecting electromagnetic parameters utilizing resonating elements |
CA1299727C (en) * | 1989-03-06 | 1992-04-28 | David Donald Caulfield | Acoustic detection apparatus |
CA2007190C (en) * | 1990-01-04 | 1998-11-24 | National Research Council Of Canada | Laser optical ultrasound detection |
US6628408B1 (en) * | 1999-04-15 | 2003-09-30 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Amplitude measurement for an ultrasonic horn |
US7323941B1 (en) * | 2004-02-18 | 2008-01-29 | Princeton University | Method and system for operating a laser self-modulated at alkali-metal atom hyperfine frequency |
WO2011068417A1 (en) * | 2009-12-01 | 2011-06-09 | Jevon Joseph Longdell | Method and apparatus for detection of ultrasound |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2710638C2 (de) * | 1977-03-11 | 1984-10-11 | Krautkrämer GmbH, 5000 Köln | Vorrichtung zum berührungslosen optischen Empfang von Ultraschallwellen in der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung |
-
1980
- 1980-01-25 DE DE3002620A patent/DE3002620C2/de not_active Expired
- 1980-11-10 US US06/205,304 patent/US4345475A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3002620A1 (de) | 1981-07-30 |
US4345475A (en) | 1982-08-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4223337C2 (de) | Verfahren und Anordnung zur photothermischen Spektroskopie | |
DE3013498C2 (de) | ||
DE3018212A1 (de) | Hf-spektralanalysator | |
DE2710638C2 (de) | Vorrichtung zum berührungslosen optischen Empfang von Ultraschallwellen in der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung | |
DE1919869B1 (de) | Signalverarbeitungsvorrichtung fuer einen optischen Strahl | |
EP0438465B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur quantitativen bestimmung optisch aktiver substanzen | |
DE3002620C2 (de) | Verfahren zum berührungslosen optischen Empfang von Ultraschallwellen | |
EP0042514A1 (de) | Planare Wellenleiterlinse, ihre Verwendung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE2413423A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur verringerung des optischen rauschens | |
DE2713890A1 (de) | Optisches abtastsystem mit einem optischen system zur ausbildung von halbtonbildern | |
DE2451654A1 (de) | Vorrichtung zum messen von stoerstellen und/oder laengen von glasfasern | |
DE1253468B (de) | Vorrichtung zur Bestimmung der Entfernung zu einem Reflektor | |
DE2707933C2 (de) | Verfahren zur Erzeugung impulsförmiger ebener Schallwellen vorbestimmter Ausbreitungsrichtung in stark lichtabsorbierenden Werkstücken | |
EP0768531A1 (de) | Verfahren und Anordnung zur Messung physikalischer Grössen von lichtstreuenden bewegten Teilchen mittels eines Laser-Doppler-Anemometers | |
EP0303156A2 (de) | Verfahren für die Laser-Doppler-Anemometrie | |
DE2234593A1 (de) | Akustisch-optische filteranordnung | |
DE2438944A1 (de) | Frequenzverdopplersystem bzw. system zur optischen modulation | |
EP0154701B1 (de) | Braggzellen-Spektralanalysator | |
DE2231409A1 (de) | Vorrichtung zur steuerbaren ablenkung von elektromagnetischen strahlen | |
DE3816755C2 (de) | ||
DE2221894A1 (de) | Einrichtung zur geschwindigkeitsmessung aufgrund der dopplerfrequenzverschiebung einer messtrahlung | |
DE2235715A1 (de) | Akustisch-optische filter | |
DE2420732C3 (de) | Anordnung zur Untersuchung der Bewegung eines festen Körpers mit einer kohärenten Lichtquelle | |
DE2127765A1 (de) | Holografie mit beschränkt kohärentem Licht | |
DE2246468A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur feststellung und messung von aenderungen der optischen eigenschaften eines koerpers |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: KRAUTKRAEMER GMBH, 5030 HUERTH, DE |
|
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: KRAUTKRAEMER GMBH & CO, 5030 HUERTH, DE |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |