DE3000451C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3000451C2 DE3000451C2 DE3000451A DE3000451A DE3000451C2 DE 3000451 C2 DE3000451 C2 DE 3000451C2 DE 3000451 A DE3000451 A DE 3000451A DE 3000451 A DE3000451 A DE 3000451A DE 3000451 C2 DE3000451 C2 DE 3000451C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- electrode
- substrates
- substrate surfaces
- shielding elements
- cathode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
- C23C14/32—Vacuum evaporation by explosion; by evaporation and subsequent ionisation of the vapours, e.g. ion-plating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/02—Pretreatment of the material to be coated
- C23C14/021—Cleaning or etching treatments
- C23C14/022—Cleaning or etching treatments by means of bombardment with energetic particles or radiation
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/58—After-treatment
- C23C14/5826—Treatment with charged particles
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vakuumaufdampfanlage mit einer
Einrichtung zur Erzeugung einer Gleichstromglimmentladung zwecks Be
handlung der zu beschichtenden Substratflächen. Eine solche Behand
lung kann als Vorbereitung zur Aufdampfung oder während des Aufdampfens
einer Schicht oder auch zur Nachbehandlung derselben nützlich sein.
Ein Beispiel einer derartigen Behandlung stellt die Reinigung der
Substratflächen vor dem Bedampfen dar. Neben den meist chemischen
Reinigungsverfahren, die vor dem Einbringen der Substrate in die Be
schichtungskammer angewendet werden, hat sich eine Reinigung durch
Kathodenzerstäubung unmittelbar vor dem Beginn der Beschichtung oder
auch eine laufende Reinigung während des Beschichtens besonders in der
Anfangsphase der Aufdampfung gut bewährt, weil sie oft eine außerge
wöhnlich gute Haftung der Schichten ergibt. Dabei wurden die Substrate
an den negativen Pol einer Gleichspannungsquelle gelegt und der Druck
des Restgases so eingestellt, daß die mittlere freie Weglänge der
Gasmoleküle zwischen zwei aufeinanderfolgenden Stößen im Gasraum
etwa 1/30 bis 1/100 des Abstandes der Substrate von der gegenüberlie
genden Wand des Rezipienten beträgt. In der Kathodenfallstrecke, deren
Dicke etwa 20 mittlere freie Weglängen beträgt und an der fast die ge
samte Potentialdifferenz zur Entladung abfällt, werden die gebildeten
Ionen auf die Kathode zu beschleunigt, treffen auf die Substrate auf
und entfernen durch Zerstäubung zunächst die Verunreinigungen und
dann auch die obersten Oberflächenschichten, wobei die abgestäubten
Atome in das Restgas der Beschichtungskammer hineindiffundieren und
durch einen Gasstrom weggespült werden können. Bei diesem Prozeß
entladen sich die positiv geladenen Gasionen an den Substraten und
der entsprechende elektrische Strom muß abgeführt werden, was die
Anwendung des Verfahrens in erster Linie auf die Reinigung elektrisch
leitender Substrate beschränkt.
Für die Anwendung auf elektrisch nichtleitende Substrate kann man, wie
bekannt, die Gleichspannungsquelle durch eine Hochfrequenzquelle er
setzen, doch erfordert dies bedeutend höhere apparative Aufwendungen.
Es ist auch schon vorgeschlagen worden, die isolierenden Substrate
in ein Netz einzuschließen, bzw. hinter einem Gitter anzuordnen,
welches dann auf eine negative Gleichspannung gelegt wird. Doch
ist dabei nicht zu vermeiden, daß gleichzeitig eine unerwünschte
Verunreinigung der Substratoberfläche mit dem Metall erfolgt, aus wel
chem das Netz oder Gitter gefertigt ist, da die nunmehr als Kathode
wirksamen Metallteile desselben ebenfalls einer Zerstäubung unterlie
gen und die abgestaubten Metallatome teilweise an der Substratoberfläche
kondensiert werden. Falls Metallschichten auf die Substrate aufgebracht
werden sollten, stört dies zwar meist nicht. Wenn jedoch transparente
Schichten beispielsweise reflexvermindernde Schichten z. B. auf der
Oberfläche von Linsen aufzubringen sind, ist eine derartige Vorbeschich
tung mit einem Metall nicht zulässig. Aus diesen Gründen war das Rei
nigen von elektrisch nichtleitenden Substraten durch Kathodenzerstäu
bung trotz der damit erreichbaren besseren Haftfestigkeit der Schichten
nicht sehr gebräuchlich.
Vielmehr wird oft eine andere elektrische Reinigungsmethode angewendet,
die in einer von der vorbeschriebenen völlig verschiedenen geometrischen
Anordnung betrieben wird, nämlich die Glimmentladung, bei welcher die
Substrate sich auf Erdpotential befinden und zusammen mit der Rezipien
tenwand die Anode bilden, die von den Elektronen getroffen wird. Im
Gegensatz zur Reinigung durch Kathodenzerstäubung ist hierbei die eben
falls negativ gepolte Kathode viele mittlere freie Weglängen von den
Substraten entfernt. Die bei diesem Verfahren auf die Substratflächen
treffenden Elektronen bewirken aber nur eine Desorption schwach gebun
dener Adsorbate und keine Zerstäubung fest gebundener Oberflächen
schichten. Die Reinigung der Substrate bei der Glimmentladungsanordnung
erfolgt zwar sehr schonend, ist aber wie gesagt, nur mäßig wirksam.
Außerdem wird auch bei diesem Verfahren von der Kathode (Glimmelektro
de) Metall abgestäubt; da jedoch die Entfernung zu den Substraten viele
mittlere freie Weglängen beträgt, gelangen nur relativ wenige von der
Kathode abgestäubte Metallatome auf die Substratoberfläche, so daß die
Verunreinigung derselben bei der Glimmentladungsmethode für viele An
wendungen nicht merklich ist.
Ein weiteres Verfahren, bei dem eine Behandlung der Substrate mittels
einer elektrischen Entladung stattfindet, ist unter dem Namen "Ionpla
ting" oder "ionenunterstützte Aufdampfung" bekanntgeworden. Hierbei spielt
nicht nur die laufende Entfernung von Verunreinigungen während der
Kondensation der Schicht durch Ionenbeschuß eine Rolle, sondern mehr
noch der Umstand, daß durch die Ionen Energie auf die zu beschichten
de Fläche übertragen wird, was für die Erzielung einer guten Haftfestig
keit förderlich ist. Diese Energieübertragung kann dabei direkt durch
aufprallende Ionen erfolgen oder indirekt, wenn durch Zusammenstöße
mit neutralen Molekülen (der Restgasatmosphäre oder des Dampfes des
zu kondensierenden Materials) zuerst auf diese Energie übertragen wird
und die neutralen Moleküle dann ihrerseits Energie auf die Substrat
oberfläche übertragen. Eine solche Energieübertragung kann auch zur
Nachbehandlung einer Schicht wünschenswert sein, z. B. um sie durch Er
hitzung härter und widerstandsfähiger gegen äußere Einflüsse zu machen,
oder zur Durchführung einer chemischen Reaktion, z. B. Oxidation der
Schicht in einer entsprechenden reaktiven Atmosphäre.
Der vorliegenden Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, eine Vakuum
bedampfungsanlage zu schaffen, die eine Behandlung, vorzugsweise eine
Reinigung der Substratflächen vorwiegend mit Neutralteilchen ermöglicht.
Diese Vakuumaufdampfanlage mit einer Vakuumkammer, einer Gaseinlaß
öffnung in der Kammer, einer Dampfquelle und einer Haltevorrichtung für
die zu beschichtenden Substrate, wobei vor den zu beschichtenden Sub
stratflächen eine Durchbrechungen aufweisende, als Kathode schaltbare
Elektrode angeordnet ist, ist dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der
genannten Elektrode und den Substratflächen Abschirmelemente vorgesehen
sind, derart, daß die Sichtverbindung von der Elektrode zu den Sub
stratflächen unterbrochen ist.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der
Zeichnung näher beschrieben. Die
Fig. 1 stellt schematisch die Gesamtanordnung der Vakuumanlage
dar. Die
Fig. 2a-2e zeigen verschiedene Formen der Abschirmele
mente.
In Fig. 1 bedeutet 1 die zylindrische Wand einer Vakuumkammer, die
durch eine Bodenplatte 2 und eine Deckplatte 3 stirnseitig abgeschlos
sen ist. In der Kammer befindet sich die schematisch dargestellte Ver
dampfungsquelle 4, der der Heizstrom mittels der vakuumdichten Strom
durchführungen 5 und 6 zugeführt wird. Die Evakuierung der Kammer ge
schieht durch den Absaugstutzen 7 . Durch die Deckplatte 3 ist zentral
eine Antriebswelle 8 vakuumdicht hindurchgeführt, welche die Träger
platte 9 für die zu beschichtenden Substrate trägt. Während der Bedam
pfung wird diese Trägerplatte in Drehbewegung versetzt, um die der
Dampfquelle zugewandten Substratflächen möglichst gleichmäßig beschich
ten zu können. Zwischen der Dampfquelle und den Substratflächen ist fer
ner die mit Durchbrechungen versehene Elektrode 10 z. B. in Form einer
Mehrzahl von parallelen Gitterstäben angeordnet, die miteinander elek
trisch leitend verbunden sind und mittels einer Spannungszuführung 11,
die ihrerseits bei 12 durch die Kammerwand nach außen geführt ist,
mit einem gegenüber der Dampfquelle 4 negativen Potential beaufschlagt,
d. h. als Kathode geschaltet werden können. Der Abstand der Elektrode 10
von den Substraten sollte in der Größenordnung weniger mittlerer freier
Weglängen der Gasmoleküle bei Betriebsdruck in der Aufdampfkammer liegen.
Im Sinne der Erfindung sind nun zwischen den Elektrodenstäben 10 und
den Substratflächen Abschirmelemente 13 vorgesehen, die die Aufgabe
haben, die Sichtverbindung von den Elektroden 10 zur besagten Substrat
oberfläche zu unterbrechen. Dadurch wird erreicht, daß die von den
kathodisch geschalteten Elementen 10 gegebenenfalls abgestäubten Metall
atome die Substratflächen nicht erreichen können; nichtsdestoweniger
gelangen die von den im elektrischen Feld beschleunigten Ionen gesto
ßenen Neutralteilchen durch die Zwischenräume zwischen den Elektroden
stäben 10 hindurch auf die Substratflächen, und indem sie kinetische
Energie auf diese übertragen, wird eine laufende Reinigung derselben
während der Beschichtung und eine bessere Haftfestigkeit der nieder
geschlagenen Schichten erzielt. Vorzugsweise sind die Abschirmele
mente 13, wie in der Zeichnung dargestellt, mit der Kammerwand 1 elek
trisch verbunden.
Anstelle der beschriebenen durch parallele Gitterstäbe gebildeten Elek
trode kann natürlich auch eine anders geformte, Durchbrechungen für den
Dampfdurchtritt aufweisende Elektrode z. B., wie an sich bekannt, ein Netz
oder ein Lochblech vorgesehen werden, wobei jedoch stets im Auge zu
behalten ist, daß die Durchtrittsöffnungen genügend zahlreich und ge
nügend groß sein müssen, um auf den Substraten den gewünschten Nieder
schlag in der gewünschten Verteilung erhalten zu können. Für eine gleich
mäßige Verteilung ist es zweckmäßig, den Substratträger 9, wie in Fig.
1 durch den Pfeil angedeutet, mittels der Welle 8 in Rotation wäh
rend der Bedampfung zu versetzen. Auch eine Relativbewegung der Elek
trode und ihrer Abschirmung gegenüber den Substratflächen, kann für eine
gleichmäßige Kondensatverteilung dienlich sein.
Die Elektrode 10 und die ihr zugeordneten Abschirmelemente 13 können
mechanisch miteinander verbunden sein, wobei sie jedoch elektrisch
gegeneinander isoliert werden müssen.
Die Fig. 2a und 2b zeigen brauchbare Querschnittsformen der Elek
trodenstäbe 10 und der Abschirmelemente. Das einem bestimmten Elektro
denstab zugeordnete Abschirmelement kann dieses dachförmig übergrei
fen. Die Formen nach den Fig. 2c und 2e sind besonders brauchbar.
In den Fig. 2c-2e bedeutet 14 die als Kathode schaltbare Elektrode
von jeweils unterschiedlicher Querschnittsform. Diese Elektrode trägt
mittels eines Isolators 15 das Abschirmelement 16 im Sinne des Patent
anspruchs. Die mechanische Verbindung zwischen den genannten Teilen
kann auf jede bekannte Art und Weise, die im Hinblick auf die Benutzung
dieser Elemente unter Vakuum in Frage kommt, erfolgen.
Besondere Vorteile bietet die Ausführungsform der Fig. 2e mit T-förmi
gem Profil der Elektroden-Gitterstäbe, wobei die auf die Dampfquelle
zu gerichtete Kante 17 eine solche elektrische Feldverteilung bewirkt,
daß einerseits die von den Substratflächen fernzuhaltenden Ionen
hauptsächlich an die genannte Kante geführt werden, andererseits die von
diesen Ionen (durch Stoß oder Ladungsaustausch) erzeugten schnellen
Neutralteilchen auf den Substraten eine hohe Ätzrate erzielen. Die
hohe Ionenstromdichte an der vorspringenden Kante 17 bewirkt, daß
diese auch bei hohen Beschichtungsraten mit elektrisch isolierenden
Materialien ihre Funktion als Kathode der Entladung beibehält, weil
die auf die Kante aufwachsende Isolierschicht durch die Entladung
selbst laufend weggestäubt wird. Außerdem ergibt das T-Profil einen
mechanisch stabilen Aufbau. Die Ausführungsformen der Fig. 2c bis
2e bieten ferner den Vorteil, daß die die Abschirmelemente tragenden
Isolatoren 15 durch die Elektrode 14 gegen Bedampfung geschützt sind.
Claims (5)
1. Vakuumbedampfungsanlage mit einer Vakuumkammer, einer Gaseinlaß
öffnung in der Kammerwand, einer Dampfquelle und einer Haltevor
richtung für die zu beschichtenden Substrate, wobei vor den zu be
schichtenden Substratflächen eine Durchbrechungen aufweisende, als
Kathode schaltbare Elektrode angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der genannten Elektrode (10) und den Substratflä
chen (9) Abschirmelemente (13) vorgesehen sind, derart, daß die
Sichtverbindung von der Elektrode zu den Substratflächen unter
brochen ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Abschirmelemente (13) mit der Kammerwand (1) elek
trisch leitend verbunden sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Elektrode (10) gegenüber den Abschirmelementen (13)
elektrisch isoliert und von diesen getragen ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Elektrode aus Gitterstäben (10) T-förmigen Profils
besteht.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Elektrode (14) so geformt ist, daß die die Abschirm
elemente (13) tragenden Isolatoren (15) durch die Elektrode (14)
gegen Bedampfung geschützt sind.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH118279A CH636647A5 (de) | 1979-02-01 | 1979-02-01 | Vakuumbedampfungsanlage. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3000451A1 DE3000451A1 (de) | 1980-08-14 |
DE3000451C2 true DE3000451C2 (de) | 1987-09-24 |
Family
ID=4204413
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19803000451 Granted DE3000451A1 (de) | 1979-02-01 | 1980-01-08 | Vakuumbedampfungsanlage |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4279216A (de) |
CH (1) | CH636647A5 (de) |
DE (1) | DE3000451A1 (de) |
FR (1) | FR2448223B1 (de) |
GB (1) | GB2040317B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10215040A1 (de) * | 2002-04-05 | 2003-11-13 | Leybold Optics Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Be- und Entladen einer Vakuumkammer |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57149734A (en) * | 1981-03-12 | 1982-09-16 | Anelva Corp | Plasma applying working device |
US4362611A (en) * | 1981-07-27 | 1982-12-07 | International Business Machines Corporation | Quadrupole R.F. sputtering system having an anode/cathode shield and a floating target shield |
DE3248121A1 (de) * | 1982-12-24 | 1984-06-28 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Hochleistungs-katodenanordnung fuer die erzeugung von mehrfachschichten |
US4511593A (en) * | 1983-01-17 | 1985-04-16 | Multi-Arc Vacuum Systems Inc. | Vapor deposition apparatus and method |
DE3331707A1 (de) * | 1983-09-02 | 1985-03-21 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Verfahren und vorrichtung zum reaktiven aufstaeuben von verbindungen von metallen und halbleitern |
US4623441A (en) * | 1984-08-15 | 1986-11-18 | Advanced Plasma Systems Inc. | Paired electrodes for plasma chambers |
US5003178A (en) * | 1988-11-14 | 1991-03-26 | Electron Vision Corporation | Large-area uniform electron source |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3437734A (en) * | 1966-06-21 | 1969-04-08 | Isofilm Intern | Apparatus and method for effecting the restructuring of materials |
US3507248A (en) * | 1967-06-15 | 1970-04-21 | Ibm | Vacuum evaporation coating apparatus including means for precleaning substrates by ion bombardment |
US3900585A (en) * | 1972-02-12 | 1975-08-19 | Agency Ind Science Techn | Method for control of ionization electrostatic plating |
FR2265872B1 (de) * | 1974-03-27 | 1977-10-14 | Anvar | |
JPS5435920B2 (de) * | 1974-06-10 | 1979-11-06 | ||
US4038171A (en) * | 1976-03-31 | 1977-07-26 | Battelle Memorial Institute | Supported plasma sputtering apparatus for high deposition rate over large area |
-
1979
- 1979-02-01 CH CH118279A patent/CH636647A5/de not_active IP Right Cessation
-
1980
- 1980-01-08 DE DE19803000451 patent/DE3000451A1/de active Granted
- 1980-01-28 US US06/115,729 patent/US4279216A/en not_active Expired - Lifetime
- 1980-01-29 GB GB8002891A patent/GB2040317B/en not_active Expired
- 1980-01-30 FR FR8001972A patent/FR2448223B1/fr not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10215040A1 (de) * | 2002-04-05 | 2003-11-13 | Leybold Optics Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Be- und Entladen einer Vakuumkammer |
DE10215040B4 (de) * | 2002-04-05 | 2019-02-21 | Leybold Optics Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Be- und Entladen einer Vakuumkammer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2448223B1 (de) | 1983-11-25 |
CH636647A5 (de) | 1983-06-15 |
US4279216A (en) | 1981-07-21 |
GB2040317B (en) | 1982-11-17 |
DE3000451A1 (de) | 1980-08-14 |
FR2448223A1 (de) | 1980-08-29 |
GB2040317A (en) | 1980-08-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0275018B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Beschichten elektrisch leitender Gegenstände mittels Glimmentladung | |
EP0755461B1 (de) | Verfahren und einrichtung für die ionengestützte vakuumbeschichtung | |
DE3809734C1 (de) | ||
EP0782173B1 (de) | Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats mit Hilfe des Chemical-Vapor-Deposition-Verfahrens | |
EP0727508A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von Substratoberflächen | |
DE3402971A1 (de) | Vorrichtung zur beschichtung eines substrates mittels plasma-chemical vapour deposition oder hochfrequenz-kathodenzerstaeubung | |
EP0881865B1 (de) | Vorrichtung zur Erzeugung einer Vielzahl von Niedertemperatur-Plasmajets | |
DE3000451C2 (de) | ||
EP2932523B1 (de) | Plasmaquelle | |
EP1110234B1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur beschichtung von substraten im vakuum | |
WO1997034024A1 (de) | Einrichtung zum vakuumbeschichten von schüttgut | |
DE1956761A1 (de) | Vorrichtung zur Kathodenzerstaeubung | |
DE4228499C1 (de) | Verfahren und Einrichtung zur plasmagestützten Beschichtung von Substraten | |
DE102013107659B4 (de) | Plasmachemische Beschichtungsvorrichtung | |
DE102005049266B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Plasmabehandlung von Objekten | |
DE102012111186B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen einer Magnetron-Entladung | |
DE1521561B2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Auftragen dünner Schichten | |
DE2655942C2 (de) | ||
DE102007051444B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Trockenätzen von kontinuierlich bewegten Materialien | |
DE1440665C (de) | Kathodenzerstaubungsvorrichtung zur Herstellung metallischer Schichten | |
DE3830478A1 (de) | Kathodenzerstaeubungsvorrichtung | |
DE1765144B1 (de) | Anordnung und verfahren zur herstellung von schichten mittels kathodenzerstaeubung | |
DE10123583B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Beschichtung und/oder Oberflächenbehandlung von Substraten mittels Niederdruck-Plasma sowie Verwendung der Vorrichtung | |
DD292028A5 (de) | Einrichtung zum Behandeln von Substraten im Plasma | |
DE1765609C (de) | Hochfrequenz-Sprühvorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |