DE2918384C2 - Verfahren zum optischen Empfang von Ultraschallwellen - Google Patents
Verfahren zum optischen Empfang von UltraschallwellenInfo
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/24—Probes
- G01N29/2418—Probes using optoacoustic interaction with the material, e.g. laser radiation, photoacoustics
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H9/00—Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by using radiation-sensitive means, e.g. optical means
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum optischen Empfang von Ultraschallwellen in de. zerstörungsfreien
Werkstoffprüfung, wobei die Prüfstückoberfläche mit Laserlicht beleuchtet wird, die durch die Ultraschallwelle
bedingte Oberflächenauslenkung am Prüfstück im beleuchteten Teil das gestreute Laserlicht moduliert und
diese Streustrahlung mit optischen Interferometeranordnungen empfangen und danach in elektrische
Signale umgewandelt wird und diese elektrischen Signale zur Beurteilung des Prüfstückes benutzt werden.
Beim berührungslosen Empfang von Ultraschallwellen in der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung mittels
interferometrischer Methoden, z. B. mit einem Laufzeitinterferometer nach OS 24 57 253 wird die Prüfstückoberfläche
mit monochromatischem Laserlicht bestrahlt. Die durch die Ultraschallwelle bedingte
Oberflächenauslenkung im Takt der Ultraschallfrequenz bewirkt eine Phasenmodulation des Streulichtes
und das Laufzeitinterferometer setzt diese Phasenmodulation in ein elektrisches Signal um, dessen Höhe z. B.
der Wegamplitude der ausgelenkten Prüfstückoberfläche proportional ist. Bei diesen interferometrischen
Verfahren ist es nachteilig, daß mechanische Längenänderungen bzw. Verschiebungen im Interferometer eine
Verschiebung des Arbeitspunktes für die Umwandlung der Phasenmodulation in eine elektrische Signalgröße
bewirken, wodurch eine zeitliche Veränderung der Empfindlichkeit der optischen Empfangsvorrichtung für
die Ultraschallwelle eintritt. Längenänderungen oder Verschiebungen von optisch maßgeblichen Teilen im
Interferometer können durch thermische Ausdehnungen oder Vibrationen z. B. Körperschall aus der
Umgebung entstehen.
Für medizinische Anwendungen ist eine Schallsichtkamera
bekannt, bei der ein Interferometerspiegel als
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Ultraschallempfänger ausgebildet ist und bei der die willkürliche Drift, thermische Expansionen, Luftströmungen
und andere unkontrollierbare Einflüsse durch eine aufwendige Wobbeieinrichtung vermieden werden
sollen (DE-PS 25 17 628). Derartige Wobbeieinrichtungen
erfordern einen hohen elektrischen Aufwand und sind für Laufzeitinterferometer, die ultraschallmoduliertes
Laserlicht empfangen, nicht geeignet. Ein weiterer Nachteil der interferometrischen Verfahren ist es, daß
bei rauher Oberfläche, wie sie in der Prüfpraxis vorhanden ist, durch Beugungseffekte eine statistische
Helligkeitsverteilung im Streulicht zwangsläufig auftritt. Dieser Effekt ist als Granulation bekannt Diese
Granulation verursacht eine der statistischen Rauhigk-:itsverteilung
entsprechende ungleichmäßige Ausleuchtung des Gesichtsfeldes. Bei Relativbewegungen
des Prüfstückes zu der interferometrischen Empfangsanordnung, wie sie bei in der Praxis benutzten
Prüfeinrichtungen auftreten, bewegt sich auch das Granulationsmuster mit dem beleuchteten Teil der
Prüfstückcberiiäche. Hierdurch entsteht eine zusätzliche
störende Amplitudenmodulation, die dem elektrischen Nutzsignal überlagert ist und damit die Nachweisempfindlichkeit
für die Ultraschallwelle herabsetzt
Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren anzugeben, das eine nicht vermeidbare Arbeitspunktverschiebung
und -Jie Störmodulation infolge der Granulation so weit herabgesetzt, daß dadurch das
Nutzsignal nicht störend beeinflußt wird.
Die Aufgabe der Erfindung wird durch den kennzeichnenden Teil des Anspruches gelöst.
Das Verfahren ist anhand der einzigen Figur erläutert Der Argonlaser 1 beleuchtet ein Teil 2 der
Oberfläche des Prüfstückes 3 mit, z. B. 6 diskreten Wellenlängen. Ein Anteil des Streulichtes dieses
Oberflächenanteils durchläuft ein Empfangsinterferometer 4 (z. B. nach OS 24 57 253) und wird anschließend
vorteilhafterweise spektral (z. B. durch ein Prisma 5) in 6 Wellenlängen, jede unter einem tTderen Brechungswinkel,
zerlegt. Das in 6 Strahlen verschiedener Richtung gefächerte Licht fällt aiii 6 Fotodetektoren
6a—6/! Jeder dieser Detektoren empfängt nur eine
Wellenlänge. Den Detektoren nachgeschaltet sind 6 Zweiweggleichrichter 7a—7f. Die 6 in den Zweiweggleichrichtern
gleichgerichteten Signale werden für die notwendige Mittelwertbildung additiv gemischt und es
steht damit ein Summensignal am Punkt 8 zur Verfügung, das, gegebenenfalls über eine Pufferstufe 9,
abgegriffen und als Nutzsignal, also als Information über die Ultraschallschwingung des optisch abgetasteten
Oberflächenanteils 2, benutzt werden kann. Dieses Signal ist in seiner Amplitude — je nach der
Arbeitsweise des verwendeten Interferometers — proportional oder in einer anderen mathematischen
Form abhängig von der Amplitude der Auslenkung des vom Laser beleuchteten Teils der Prüfstückoberfläche
durch die Ultraschallwelle.
Die Erfindung geht von dem Gedanken aus, daß bei Verwendung mehrerer monochromatischer Wellenlängen
im Laserlicht mit der Auftrennung in entsprechend viele Empfangskanäle der Arbeitspunkt in der optischen
Empfangsanordnung, z. B. einem Interferometer, und daß eine auftretende Granulation immer von der
Wellenlänge des Lichtes abhängen. Dadurch ergeben sich für jede diskrete Wellenlänge andere Arbeitspunkte
und auch andere Empfangsverhältnisse, die zeitlichen Veränderungen oder Schwankungen unterworfen sein
können. So kann /.. B. durch Wegverlagerungen optisch
wirksamer Teile im Interferometer infolge thermischer oder anderer Einflüsse und/oder Helligkeitsschwankungen
durch die Granulation für eine diskrete Wellenlänge am Ausgang des Interferometers ein Zustand eintreten,
bei dem sich die beiden Ir.terferenzstrahlen — also
Referenzstrahl und Meßstrahl — auslöschen oder stark schwächen, wodurch das ultraschallabhängige Ausgangssignal
zusammenbricht Bei einer anderen diskreten Wellenlänge wird dieser ungünstige Zustand nicht
gleichzeitig auftreten. Verwendet man also mehrere diskrete Wellenlängen im Laserlicht, die vorteilhafterweise
ständig äquidistant bleiben, wird die Wahrscheinlichkeit, daß ein gut nutzbares Ausgangssignal vorhanden
ist, bedeutend größer, da sämtliche Signale nach einer elektrischen Gleichrichtung addiert werden. In der
Praxis ergeben bereits wenige diskrete Wellenlängen im Laserlicht, wie in unserem Beispiel 6 Wellenlängen, eine
sehr gute Sicherheit für den ungestörten optischen Schallempfang.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
1
Patentanspruch:
Patentanspruch:
Verfahren zum optischen Empfang von Ultraschallwellen in der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung,
wobei die Prflfstückoberfläche mit Laserlicht beleuchtet wird, die durch die Ultraschallwelle
bedingte Oberflächenauslenkung zum Prüfstück im beleuchteten Teil das gestreute Laserlicht moduliert
und diese Streustrahlung mit optischen Interferometeranordnungen empfangen und danach in
elektrische Signale umgewandelt wird und diese elektrischen Signale zur Beurteilung des Prüfstückes
benutzt werden, dadurch gekennzeichnet, daß
das die Prüfstückoberfläche beleuchtende Laserlicht gleichzeitig zwei oder mehr diskrete Wellenlängen
enthält;
nach Passieren der Empfangsanordnung die Streustrahlung spektral in ihre ursprünglichen Wellenlängen
zerlegt «ird;
jede·!! dieser monochromatischen Lichtstrahlen
separate Fotodetektoren (6a—Sf) zugeordnet sind,
die elektrischen Signale der Fotodetektoren in separaten Gleichrichtern (7a—7f) gleichgerichtet werden, und
die elektrischen Signale der Fotodetektoren in separaten Gleichrichtern (7a—7f) gleichgerichtet werden, und
die gleichgerichteten Signale additiv zu einem Summensignal gemischt werden, welches die Information
über den Schwingungszustand der Prüfstückoberfläche enthält.
Priority Applications (4)
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- 1980-05-06 FR FR8010101A patent/FR2456321A1/fr active Granted
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