DE2818166A1 - Vorrichtung zur abbildung der werkstueckoberflaeche bei der anwendung eines optischen interferometrischen verfahrens zur messung der oberflaechenauslenkung eines pruefstueckes unter ultraschalleinfluss - Google Patents

Vorrichtung zur abbildung der werkstueckoberflaeche bei der anwendung eines optischen interferometrischen verfahrens zur messung der oberflaechenauslenkung eines pruefstueckes unter ultraschalleinfluss

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Description

  • Vorrichtung zur Abbildung der Werkstückoberfläche bei der An-
  • wendung eines optischen interferometrischen Verfahrens zur Messung der Oberflächenauslenkuneines Prüfstückes unter Ultraschalleinfluß.
  • Die Erfindung betrifft eine Optikvorrichtung zur Abbildung der beleuchteten Fläche eines Werkstückes bei der Durchführung eines optischen interferometrischen Verfahrens zur Messung der Oberflächenauslenkung eines Prüfstückes, wobei die Auslenkbewegung der Oberfläche durch Einschallen einer Ultraschallwelle in das Prüfstück verursacht wird, insbesondere zum berühungslosen Ultraschallempfang von hocherhitztem und/oder schnell durchlaufendem Gut mit einen unterschiedlichen Brechungsindex aufweisenden optischen Bauteilen im Referenz- und Meßarm, nach Patentanmeldung P 24 57 253.0.
  • Gemäß der älteren Anmeldung P 24 57 253.0 wird die Prüfstückoberfläche mit einem monochromatischen kohärenten Laserlichtstrahl bestrahlt und das reflektierte Licht an einem Strahlteiler aufgespalten, der eine Strahlanteil als Meßstrahl im Lichtempfänger abgebildet und der andere Strahlteil als Referenzstrahl über eine Verzögerungsstrecke geleitet und erst danach im Lichtempfänger deckungsgleich zum llauptstrahl abgebildet. Bei diesem Verfahren kann allerdings nur der parallele Anteil des von der beleuchteten Werkstückoberfläche gestreuten Laserlichtes zur Abbildung verwendet werden. Das hat den llachteil, daß zur Abbildung nur ein geringer Anteil des zur Verfügung stehenden Lichts-tromes ausgenutzt wird, d.h. der erfaßte O Grad Üffnungswinkel des Lichtstromes beträgt nahezund der burchmesser des Lichtstromes ist gleich dem beleuchteten und erfaßten Anteil der Werkstückoberfläche. Will man am Ort des Fotodetektors eine höhere Lichtintensität haben, ist das nur möglich, wenn am Ort des Fotodetektors der beleuchtete und erfaßte Anteil der Werkstückoberfläche unter Ausnutzung eines größeren Offnungswinkels für den erfaßten Lichtstrom abgebildet wird. Dies bedeutet, daß man im Interferometer auch Lichtstrahlen, die einen Winkel größer als O Grad zur/optischen Achse bilden, zur Abbild-ang zuläßt.
  • Es ist Auf gabe der Erfindung, eine Vorrichtung fiir das in-terferometrische Verfahren anzugeben, durch die de Fotodetektor wesentlich stärkerer Lichtstrom zugeführt und somit die Empfindlichkeit des Verfahrens vergrößert werden kann, Das wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, daß im Referenzarm les Laufzeitinterferometers ein optischer Stoff mit einer Lichtausbreitungsgeschwindigkeit, die kleiner ist als diejenige des optischen Stoffes in Meßarm, im Strahlengang vorhanden, die Differenz der optischen Weglängen zwischen Meß- und Referenzarm gleich d (1 - 1/n) und die Verzögerungszeit gleich der Bedingung # t = d/C0 (n - 1/n) gemacht ist, und daß ein oder mehrere optische Abbildungssysteme vorhanden und der Laser zur Beleuchtung eines Teils der Werkstückoberfläche angeordnet und/oder ausgebildet ist bzw. sind, derart, daß der vom Laser beleuchtete Bereich des Werkstückes an einer bestimmten Stelle im Interferometer abgebildet und das Licht von dort, vorzugsweise über mindestens eine Zwischenoptik, aul den Fotodetektor geführt ist.
  • Eine Ausführungsform der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden näher erläutert. Es seigen: Fig. 1 eine dicke, planparallele Schicht im Querschnitt mit Darstellung eines Brechungsverlaufes Fig. 2 ein modifiziertes Laufzeit-Interferoneter, schematisch Fig. 3 eine optische Anordnung mit Teleobjektiv zwecks Abbildung Fig. 4 Laufzeit-Interferometer mit Zwischenabbildungen als schematische Optikanordnung Es wird ausgegangen von Bereichen mit unterschiedlichen Brechungsindizes in beiden Interferometerarmen, d.h. im Referenz-und meßarm, so daß diese geometrisch-optisch gleichwertig erscheinen, wodurch die Wellenfronten von Meß- und Referenzstrahl zusammenfallen, während die Laufzeiten des Lichtes in beiden Armen unterschiedlich sind. Ein Lichtstrahl 20 in Fig. 1, der im Stoff oder Medium 1 mit dem Brechungsindex n1 vom Punkt P ausgeht, wird an der Grenzfläche zum Stoff 2 mit dem Brechungsindex n2, der größer ist als n1, zum Lot der Fläche hin gebrochen, Strahl 21, der beim Austritt aus dem Stoff 2 wieder in Stoff 1 eintritt, derart vom Lot weggebrochen, daß dieser Strahl 22 dem Strahl 20 parallel ist, sofern die Begrenzungsflächen des Stoffes 2 parallel sind. Berücksichtigt man die Dicke d des Stoffes 2, damen scheint der Lichtstrahl 22 vom Punkte P' herzurühren. Für einen Punkt Q auf diesem Lichtstrahl 22, der innerhalb einer Empfängerfläche eines Fotodetektors 8 (Fig. 2) liegen kann, sind die Wellenfronten deckungsgleich mit den Wellenfronten eines Lichtstrahles, der nur durch den Stoff 1 mit dem Brechungsindex n1 vom Punkte P' ausgegangen ist.
  • Wegen des höheren Brechungsindexes n2 und der größeren Entfernung zwischen P und Q ist der Strahl, gebildet aus der Summe der Teilstrahlen 20, 21,22 aus P kommend gegenüber dem Strahl, gebildet aus der Summe der Teilstrahlen 22, 23 von P' ausgehend, zeitverzögert. Nimmt man in einem praxisnahen Beispiel an, der Stoff 1 sei Luft mit dem Brechungsindex n1 = 1, dann folgt aus einer elementaren Rechnung für die Verzögerungs-1 zeit # dt näherungsweise für kleine Winkelx die Formel # t = @/C0 (n - 1/n) (1) Auf eine Herleitung dieser Nä@@rungsformel soll hier versichtet werden. Für die Strecke P P' gilt P P' = d (1 - 1/n) (2) n Im Rahmen der benutzten Näherung ist die Verzögerungszeit # t unabhängig vom Winkel α , unter dem die. Strahlen gegen die optische Achse verlaufen. Paralleles Licht ist nicht mehr erforderlich für das Zusammenfallen der Wellenfronten.
  • Fig. 2 zeigt den Einbau der Vorrichtung, bestehend aus zwei Sammellinsen 3,4 und dem Bauteil 2 mit oder aus einem Verzögerungsstoff mit dem Brechungsindex n in dem Laufzeitinterferometer nach Hauptanmeldung P 24 57 253.0. Mit dem Licht aus dem Laser 9 wird die in allgemeinen rauhe Oberfläche des Prüfstückes 11 in dem Bereich (Gegenstand der Abbildung) 5 beleuchtet.
  • Das von einem Punkt des Gegenstandes 5 in den Öffnungswinkel 12 gestreute Licht wird von dem optischen System 3 (im einfachsten Fall eine Sammellinse) aufgenommen. Dieses Licht wird am Strahlenteiler 6 in zwei Strahlanteile aufgespalten. Das in den Meßarm 14 gespiegelte Licht bildet am Reflektor 7 ein Bild 5a des Gegenstandes 5 ab. Dieses Bild wird von dem Linsensystem 4 (im einfachsten Fall eine Sammellinse) auf dem Fotodetektor 10 als Bild 5c abgebildet. Der durch den Strahlenteiler 6 in den Referenzarm 13 eingetretene Lichtstrahl durchläuft ein Bauteil 2 mit oder aus einem Verzögerungsstoff und bildet auf dem Reflektor 8 das Zwischenbild 5b des Gegenstandes 5 ab. Dieses Bild 5b wird zwangsläufig von der Linse 4 deckungsgleich mit dem Bild 5c auf dem Fotodetektor 10 abgebildet. Die Wellenfronten der Bilder 5a und 5b werden deckungsgleich als gemeinsames Bild 5c auf dorn Fotodetektor 10 überlagert.
  • Die deckungsgleiche @berlagerung ist aber mir möglich, wenn die Differenz zwischen den Längen 14a des Meßarmes und 13a des Referenzarmos die Bedingung nach Gleichung (2) erfüllt. Um das zu erreichen muß die Dicke des Stoffes im Bauteil 2 entsprechend der Gleichung (1) gewählt werden, wobei # t die aus den Ultraschallgegebenheiten erforderliche Verzögerungszeit ist. Die erforderliche Länge des Meßarmes 14a ergibt sich dann aus der Gleichung (2).
  • Als Medium im Bauteil 2 kann jeder hinreichend transparente Stoff (gasförmig, flüssig oder fest) verwendet werden, sofern er einen von 1 nennenswert unterschiedlichen Brechungsindex aufweist. Ein optisches Bauteil mit einem solchen Medium ist also zusätzlich zur Linsenoptil. vorhanden.
  • Die helligkeit der Abbildung hängt von dem nutzbaren Öffnungswinkel 12 und damit auch vom Verhältnis des Durchmessers der Linse 3 zu ihrer Brennweite ab. Der Öffnungswinkel 12 kann noch weiter vergrößert werden, wenn die Zwischenbilder 5a und 5b näher an die Linse 3 herangerückt werden, was mehrere Zwischenabbildungen notwendig macht. Hierbei ist zu beachten, daß in 5c in jedem Falle deckungsgleiche Bilder entstehen müssen. Die zugehörigen Abstände der Zwischenbilder sind dementsprechend zu wählen.
  • Da die Durchmesser der Bauteile 6,7 und 8 wegen der erforderlichen Präzision gewissen Begrenzungen unterliegen, lassen sich die Eigenschaften eines Teleobjektivsystems in vorteilhafter Weise dazu verwenden, ein Lichtbündel größeren Querschnittes auf den Durchmesser des Strahlteilers 6 herabzutransformieren, indem anstelle des optischen Systems 3 ein Teleobjektivsystem mit Zerstrenungslinse 19 eingesetzt wird, wie in Fig. 3 dargestellt. Hieraus ist ersichtlich, daß durch den schlankeren Strahlengang 12a die Bauteile bzw. Spiegel 6, 7 und 8 kleiner gehalten werden können.
  • Beispiel Nach dem Hauptpatent P 24 57 253.0 wird angenommen, daß für die Ultraschallwelle eine Verzögerungszeit von 26 ns geeignet ist. Wählt man als Verzögerungsmedium im einfachen Falle Wasser mit dem Brechungsindex 1,3, so ergibt sich aus der Gleichung (1) mit der gewählten Verzögerungszeit von 26 ns die dicke des Verzögerungsmediums von 14,7 m, d.h. der Referenzarm 13 muß, da der Strahl das Medium zweimal durchdringt, eine Referenzarmlänge 13a von 14,7 m/2 haben, also 7,35 m lang sein. Aus Gleichung (2) ergibt sich die Strecke P P' = 3,5 m Da P P' die Differenzstrocke zwischen Referenz- und Meßarm ist, @uf die optische Weglänge 14a des Meßarmes 14 gleich 14,7 m minus 3,5 m gleich 11,2 m sein, d.h. die geometrische Länge des @eßarmes wird 5,6 m lang. Hat das Interferometer bzw. das optische System 3 von dem Werkstück eine Entfernung von ca.
  • 1() 11, dann ergibt sich als Brennweite für das optische System 3 ein Wert von ,G7 n. Bei einem Abstand Linse 4 zum Fotodetektor 5c von etwas mehr als 20 cm ergibt sich fir die Linse 4 eine Brennweite von 20 cm. Bei diesen Daten haben, wenn man z.B.
  • 1 cm Durchmesser der Werkstückoberfläche abbildet, die Zwischenbilder 5a und 5b einen Durchmesser von jeweils 5,8 mm. Auf dem Fotodetektor entsteht demzufolge ein Bild 5c in der Größenordnung von 0,2 mm. Diese Bildgröße liegt im Bereich der lichtempfindlichen Flächen handelsüblicher Fotodioden.
  • Eine Abwandlung der Erfindung sieht vor, statt der Linsensysteme in der Fig. 3, die Abbildungen durch Spiegelsysteme zu bewirken. Dies ändert an der prinzipiellen Wirkungsweise der Vorrichtung nichts.
  • Will man den Üffnungswinkel des von der Prüfstückoberfläche erfaßten Lichtes noch weiter vergrößern, kann man statt der Abbildung der Werkstückoberfläche auf den Fotodetektor Zwischen abbildungen, insbesondere auf der halben Länge des Meß- und Referenzarmes, wie schon anhand Fig. 2 dargestellt, auf den Spiegeln 7 und 8 erzeugen. Es sind zur weiteren Vergrößerung des Öffnungswinkels zusätzliche Zwischenabbildungen, vgl. Fig.
  • vorgesehen. Mit der Linse 3 wird ein jeweils erstes Zwischenbild 5a' und 5b' und mit den Linsen 3a und 3b jeweils ein zweites Zwischenbild 5a und 5b auf den Spiegeln 7 und 8 erzeugt.
  • Nach Reflexion an den Spiegeln entstehen Zwischenbilder, die sich mit den Zwischenbildern 5a' und 5b' decken, diese werden mit der Linse 4 auf dem Fotodetektor abgebildet.
  • Diese Vorrichtung zur Ergänzung des Laurzeitinterferometers nach Hauptanmeldung P 24 57 253.0 ermöglicht durch die Einfügung eines optisch wirksamen Stoffes in den Referenzarn des Laufzeitinterferometers, das vom Werkstück divergent gestreute Licht über einen größeren Winkelbereich unter Einschluß optischer Abbildungen auszunutzen, wodurch man wesentlich mehr Licht als nur durch ein achsenparalleles Lichtstrahlenbündel nach der Hauptanmeldung auf den Fotodetektor bringt.
  • L e e r s e i t e

Claims (5)

  1. TRAUTKRÄITER GL@@@ Eusats zur Patentanmeldung P 24 57 253.0 PATENTANSPRÜCHE 1. Optikvorrichtung zur Abbildung der beleuchteten Fläche eines Werkstückes bei der Durchfünrung eines optischen interferometrischen Verfahrens zur Messung der Oberflächenauslenkung eines Prüfstückes, wobei die Auslenkbewegung der Oberfläche durch Einschallen einer Ultraschallwelle in das Prü@stück verursacht wird, insbesondere zum berühungslosen Ultraschallempfang von hocherhitsten und/oder schnell durchlaufendem Gut mit einem unterschiedlichen Brechungsindex aufweisenden optischen Bauteilen in Reforenz- und Meßarm nach Patentanmeldung P 24 57 253.0, dadurch gekennzeichnet, daß in Referensarm des Laufzeitinterferometers ein optischer Stoff mit einer Lichtausbreitungsgeschwindigkeit, die kleiner ist als diejenige des optischen Stoffes im Meßarm, im Strahlengang vorhanden, die Differenz der optischen Weglängen zwiseren Meß- und Referenzarm gleich d (1 - 1/n) und die Vorzögerungszeit glelen der Bedingung @@@ = d/@@ (n - 1/n) @@ment ist, und daß ein @ter @@@@@@@ @. tiach@ Abbil@hungasystene vorhanden und der Laser sur Abgane eines Flächenha@ten Lieatbündels angeordnet und/oder ausgebildet ist bzw. sin@, derart, daß der von Laser beleuchtete Bereich des Werkstückes an eine@ bestimmten Stelle im Interferemeter abgebildet und das Lie@t von dort, vorzugsweise über mindestens eine Zwischenoptik, aus den Fotodetektor geführt ist.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß durch das optische Abbildungssysten (3) ein jeweils erstes Zwischenbild (5a, 5b) der Werkstückoberfläche (5) auf den halben Längen der Strahlenwege zwischen beiden Druchgängen durch den Strahlteiler (6) und somit auf den Endspiegeln (7) und (8) erzeugt wird.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß durch ein erstes optisches Abbildungssystem (3) ein jeweils erstes Zwischenbild (5a', 5b') auf je ein Viertel der Strahlenwege zwischen beiden Durchgängen durch den Strahlenteiler (6) erzeugt ist, und ein weiteres Abbildungssystem (3a, 3b) ein jeweils zweites Zwischenbild (5a, 5b) auf je einer Hälfte der Strahlenwege und somit auf den Endspiegeln (7, 8) und auf drei viertel der Längen der Strahlenwege erzeugt.
  4. 4. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 - 3 zur Verkleinerung der Flächen von Strahlteiler und den Endspiegeln, dadurch gekennzeichnet, daß das erste optische System aus mindestens einen sammelnlen optischen Glied mit mindestens einem, in St@@@ @@@ @@@@@ @@en@en @@@@@ @@@m@e@ @@ti@@ @ h @l@@ @@@ @@@@@ @.
  5. 5. Vo@@@cht@n nach den Ansp@üc@@n 1 - 4, dadurch @exemmeichn@@, @a eines oder nehrere des optiscuch Syateme aus optiscu asbbil@ehien Spieg@ln bestehen.
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