Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Beobachtung
der Position der Markierung eines Objektes gemäß
dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Eine derartige Vorrichtung zur Beobachtung der Position der
Markierung eines Objekts, das sowohl ebene Oberflächenabschnitte,
die als ebener Spiegel wirken, als auch schräg
verlaufende Oberflächenabschnitte aufweist, beispielsweise
die Einstellmarke eines Mikroplättchens oder eines Wafers
zum Drucken des Schaltschemas eines integrieten Schaltkreises,
ist in dem älteren Patent gemäß DE-PS 26 15 084
beschrieben. Dabei wird ein Bild einer Lichtquelle zur Beleuchtung
der Oberfläche eines Objektes, das hinsichtlich
seiner Größe kleiner als die Austrittspupille einer telezentrischen
Kollimatorlinse ist, in der Pupillenebene der
Kollimatorlinse abgebildet. Der Gesamtbereich des zu überwachenden
Objektes wird beleuchtet und das von den ebenen
Oberflächenabschnitten innerhalb des überwachten Bereichs
in sich selbst reflektierte Licht wird von einer Lichtabschirmplatte,
deren Größe im wesentlichen dem in der Pupillenebene
der telezentrischen Kollimatorlinse abgebildeten
Bild der Lichtquelle entspricht, abgefangen. Das von den
schrägen Oberflächenabschnitten innerhalb des zu überwachenden
Bereichs unregelmäßig bzw. diffus reflektierte
Licht durchläuft die Lichtabschirmplatte und dient der Erfassung
bzw. Abtastung des Objektes.
Somit wird zwar der gesamte Bereich des zu überwachenden
Objektes beleuchtet, zur Erfassung des Objektes kann allerdings
nur ein sehr geringer Anteil der zur Beleuchtung des
Objektes verwendete Lichtmenge verwendet werden. Der Wirkungsgrad
des zur Beleuchtung dienenden Lichts ist daher
sehr niedrig und es kann nur eine sehr geringe Lichtmenge
erfaßt werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung
zur Beobachtung der Position der Markierung eines Objektes
zu schaffen, mittels der das zur Beleuchtung verwendete
Licht in hohem Maße und sehr effektiv zur Erfassung des Objektes
ausnutzbar ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale im
kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 gelöst.
Erfindungsgemäß beleuchtet das Beleuchtungsstrahlenbündel
nur einen Teil des Objektes und wird nach Art eines Abtastvorgangs
über die Oberfläche bewegt. Der Hauptstrahl des
Beleuchtungsstrahlenbündels trifft senkrecht auf die Oberfläche
auf, wodurch Markierungsstellen des Objektes, die
abweichend von der sonstigen Oberflächen desselben uneben
sind und diffus reflektieren, kenntlich gemacht werden und
wodurch von sonstigen Stellen der Objektoberfläche reflektiertes
Licht zuverlässig vom Detektor abgehalten werden
kann. Damit die Filtereinrichtung, die von den als ebener
Spiegel wirkenden Objektstellen in sich selbst reflektierte
Teilbündel ausfiltert und die von den anderen Stellen diffus
reflektierten Teilbündel zu einer Auswerteeinrichtung
weiterleitet, ortsfest ausgebildet sein kann, treffen alle
in sich reflektierten Teilbündel immer auf ein und denselben
Punkt auf, in dem oder einem dazu konjugierten Punkt
die Filtereinrichtung angeordnet wird. Dazu ist es notwendig,
daß auch das bewegende Beleuchtungsstrahlenbündel
stets durch dieselbe Stelle der Pupillenebene hindurchgeht.
Wenn das Beleuchtungsstrahlenbündel in erfindungsgemäßer
Weise mit konstanter Geschwindigkeit über das Objekt bewegt
wird, können mittels der Auswerteeinrichtung in relativ
einfacher Weise die relativen Positionen der Markierungen
ermittelt werden und die Genauigkeit der Positionsermittlung
für verschiedene Abschnitte des Objektes ist vergleichmäßigt.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Vorrichtung zur Beobachtung
der Position der Markierung eines Objektes gemäß Anspruch
1 sind Gegenstand der Unteransprüche.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung
dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben.
Es zeigt
Fig. 1 und 2 jeweils schematische Darstellungen einer
Vorrichtung zur Beobachtung der Position der Markierung eines
Objekt gemäß der DE-OS 26 15 084,
Fig. 3 eine schematische Darstellung
einer ersten Ausführungsform der
erfindungsgemäßen Vorrichtung,
Fig. 4 eine schematische Darstellung eines Hauptabschnittes
der Vorrichtung gemäß Fig. 3,
Fig. 5 eine schematische Darstellung
einer zweiten Ausführungsform der
erfindungsgemäßen Vorrichtung,
Fig. 6 eine mikroskopische Ansicht in Zusammenhang
mit der zweiten Ausführungsform
gemäß Fig. 5,
Fig. 7 eine schematische Darstellung
einer dritten Ausführungsform der
erfindungsgemäßen Vorrichtung und
Fig. 8 eine schematische Darstellung
einer vierten Ausführungsform der
erfindungsgemäßen Vorrichtung.
Fig. 9 eine schematische Darstellung einer
fünften Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Vorrichtung.
Gemäß Fig. 1, die die optische Anordnung der Vorrichtung zur
Beobachtung der Position der Markierung eines Objekts gemäß der DE-OS 26 15 084
zeigt, weist ein
abzutastendes Objekt 1
eine ebene Oberfläche 2 und eine relativ zu dieser ebenen
Oberfläche 2 eine Neigung oder Abschrägung aufweisende schräge
Oberfläche 3 auf. In der Pupillenebene bzw. der Austrittspupille 5 einer telezentrisch ausgebildeten
Kollimatorlinse 4 ist eine Blende angeordnet.
Ein optisches Beleuchtungssystem
6 bildet über einen halbdurchlässigen Spiegel 7 das Bild einer Lichtquelle
mit einer unter dem Pupillendurchmesser der Kollimatorlinse 4
liegenden Größe in ihrer Pupillenebene 5 ab.
Desweiteren sind eine Relaislinse
8, eine Abtasteinheit 9,
die einen offenen Schlitz aufweist und über die Kollimatorlinse 4 und die
Relaislinse 8 bezüglich des Objektes 1 konjugiert ist, eine
Abbildungslinse 10 und eine Filtereinrichtung 11 in Form
einer Lichtabschirmplatte mit einer ringförmigen Öffnung
vorgesehen, die in einer Bildebene der
Austrittspupille 5 der Kollimatorlinse 4 angeordnet
ist. Der Lichtabschirmteil der Filtereinrichtung 11 entspricht der Größe des
Bildes der Lichtquelle, das auf der Austrittspupille
5 der Kollimatorlinse 4 abgebildet ist. Desweiteren sind
eine Sammellinse 12
eine Lichterfassungseinrichtung 13 vorgesehen. Da die
Kollimatorlinse 4 die Eigenschaft
aufweist, daß der Hauptlichtstrahl eines Lichtstrahlenbündels
parallel zu ihrer optischen Achse verläuft bzw.
ausgerichtet wird, wenn die Lichtquelle an der Schnittstelle
der optischen Achse mit der Pupillenebene 5 der Kollimatorlinse 4 angeordnet
ist, wird das von der ebenen Oberfläche 2 reflektierte
Licht A (siehe Fig. 2) wieder in der Position des Bildes der
Lichtquelle gebündelt, wenn die ebene Oberfläche 2 senkrecht
zu der optischen Achse verläuft. Da jedoch bei dem auf die
schräge Oberfläche 3 projizierten Licht eine Ablenkung hinsichtlich
der Ausbreitungsrichtung erfolgt, kehrt es nicht
zu der Position des Bildes der Lichtquelle zurück. Das durch
die Lichtabschirmplatte 11 hindurchtretende Licht besteht
daher allein aus dem von der schrägen Oberfläche 3 reflektierten
Licht B, so daß das von der Lichterfassungseinrichtung
13 erfaßte Licht allein das von der schrägen Oberfläche 3
des Objektes 1 ausgehende Licht ist.
Bei einer derartigen Vorrichtung
wird somit ein Bild des Objektes 1 durch
Beleuchtung der gesamten Oberfläche des Objektes 1 gebildet
und das Licht eines Teiles dieses Bildes sequentiell von der
Abtasteinheit 9 herausgenommen und der Lichterfassungsvorrichtung 13 zugeführt.
Aufgrund dieser Tatsache ist die Lichtausbeute bzw.
der Wirkungsgrad bei der Erfassung des Beleuchtungslichtes
extrem niedrig, so daß ein Problem hinsichtlich der erfaßten
bzw. erfaßbaren Lichtmenge besteht.
Erfindungsgemäß wird anstelle des Abtastens des Bildes
über die Bildfläche bzw. des Bildes in der Bildebene eine
Vorrichtung geschaffen, bei der ein Objekt mit dem von einem
Beleuchtungssystem abgegebenen Licht abgetastet wird, indem
das Licht in Form eines Punktes oder Schlitzes bzw. Streifens
auf die Ojektoberfläche gerichtet wird. Dementsprechend
kann bei dieser Vorrichtung aufgrund der Tatsache, daß
das Licht, das vorher zur Bestrahlung bzw. Beleuchtung der
gesamten Oberfläche des Objektes diente, nunmehr auf diejenige
Position konzentriert werden kann, bei der ein Signal
erhalten werden soll, eine bemerkenswerte Steigerung der erfaßten
Lichtmenge erzielt werden. Eine Verringerung der
Punktgröße läßt sich erreichen, indem eine Kollimatorlinse
mit großer Brennweite an der Beleuchtungslichtquelle zum
Bündeln des Lichtes angebracht wird. Ferner kann ein Lichtpunkt
geringer Größe leicht durch Verwendung eines Laserstrahls
erhalten werden. Zur Beleuchtung der Objektoberfläche
mit einem sich bewegenden Lichtstrahl oder Lichtstrahlenbündel
ist es erforderlich, daß der Abtaststrahl
auf die telezentrische Kollimatorlinse projiziert wird.
In diesem Falle bewegt sich der Abtaststrahl geradlinig
bzw. gleichmäßig über die Pupille dieser Objektivlinse.
Da hierbei die Position des abzuschirmenden reflektierten
Lichtes A die Tendenz zeigt, sich entsprechend dem auf der
Objektoberfläche stattfindenden Abtastvorgang gleichermaßen
auf der Lichtabschirmplatte 11 zu bewegen, die
die konjugierte Position der Pupille bzw. Austrittspupille
darstellt, wird die Trennung des reflektierten Lichtes B
vom reflektierten Licht A zum Zwecke der Erfassung schwierig.
Erfindungsgemäß wird das Auftreten dieses durch das Abtasten auf der Objektoberfläche
verursachten Nachteils
vermieden, wobei angestrebt wird, daß der ursprüngliche
Ablenkungspunkt des Abtaststrahls an der Schnittstelle
der Pupillenebene und der optischen Achse der Kollimatorlinse
liegt, wodurch erreicht wird, daß die Position des
Strahles auf der Pupillenebene im wesentlichen unbeweglich
ist, und zwar unabhängig davon, wie der Abtaststrahl die
Objektoberfläche abtastet. Dieser ursprüngliche Ablenkungspunkt
steht in enger Beziehung zu dem Ablenksystem.
Als Ablenkeinrichtung ist ein transparenter Block bzw. eine planparallele Drehscheibe
bzw. Drehplatte bekannt. Beispiele hierfür sind ein Polygonal-Drehspiegel
des Transmissionstyps und eine planparallele
Vibrations- oder Schwingscheibe eines lichtelektrischen
Mikroskops. Bei dieser Ablenkeinrichtung dient
die planparallele Platte zum Lichtdurchlaß,
wobei durch Neigung oder Schrägstellung dieser planparallelen
Platte zu der optischen Achse der Lichtstrahl seitwärts verschoben
wird. In diesem Falle werden die Eigenschaften der
planparallelen Platte dahingehend ausgenutzt, daß die
Parallelität aufrechterhalten wird, und zwar auch dann
wenn das einfallende Licht und das reflektierte Licht seitwärts
verschoben worden sind. Es ist daher ersichtlich, daß
der Lichtstrahl nach seinem Hindurchtreten durch die planparallele
Platte im wesentlichen seitwärts in Richtung der
optischen Achse verschoben wird, wobei der Winkel im wesentlichen
unverändert bleibt. In diesem Falle ist die aufgrund
der Neigung oder Schrägstellung auftretende Aberration angesichts
der Tatsache, daß die Lichtstärke bzw. F-Zahl normalerweise
groß und der Bildwinkel klein sind, im wesentlichen vernachlässigbar.
Damit der Positionsunterschied des Abtaststrahles
auf der Austrittspupille der telezentrischen Kollimatorlinse
während des Abtastvorganges im wesentlichen null wird, d. h.,
damit der Ablenkungsursprungspunkt auf der Austrittspupille der telezentrischen
Kollimatorlinse positioniert wird, kann es ausreichend sein,
eine Relaislinse zwischen der planparallelen
Platte für die Abtastung und der telezentrischen Kollimatorlinse
anzuordnen, wobei die Brennebene der Relaislinse mit der
Pupillenebene der telezentrischen Kollimatorlinse zusammenfällt.
Wenn der Weg des Hauptlichtstrahles des abtastenden
Strahlenbündels, d. h. die Mitte des Strahlenbündels, als
optische Achse angesehen wird, d. h., wenn der Hauptlichtstrahl
senkrecht auf die planparallele Platte projiziert wird,
bleibt der Hauptlichtstrahl des Strahlenbündels bei der
Seitwärtsverschiebung relativ zu der optischen Achse parallel
ausgerichtet,
und zwar auch dann, wenn die planparallele Platte
zur Durchführung des Abtastvorganges geneigt bzw. schräggestellt
wird. Dieses während des Abtastvorganges auftretende
parallele Hauptlichtstrahlenbündel passiert nach Hindurchtreten
durch die Relaislinse deren Brennpunkt
ohne Störung bzw. Ablenkung, d. h. der
Strahl bewegt sich nicht auf der Pupillenebene, und zwar
auch dann nicht, wenn der Abtastvorgang erfolgt.
Als Ablenkeinrichtung ist außerdem auch ein Reflexions-Drehspiegel
bekannt. Beispiele für eine solche Ablenkeinrichtung
sind ein Galvanospiegel, ein Polygonalspiegel des
Reflexionstyps u. dgl. In einem solchen Fall ist der Winkel
des Hauptlichtstrahles des Strahlenbündels nach dem Austreten
aus der Ablenkeinrichtung nicht parallel wie im
Falle der Verwendung einer Einrichtung des Durchlaß- oder
Transmissionstyps, so daß ein anderes Verfahren
zur Verhinderung einer Ablenkung des Strahles auf der
Pupillenebene Verwendung finden sollte. Hierzu kann das
Prinzip angewendet werden, daß der auf die Ablenkeinrichtung
projizierte Lichtstrahl nicht seinen Reflexionspunkt
auf der Ablenkeinrichtung ändert. Das heißt, daß der
Reflexionspunkt auf der Ablenkeinrichtung und der Mittelpunkt
der Pupillenfläche der telezentrischen Linse über ein Abbildungssystem
in eine zueinander konjugierte Beziehung gebracht
werden können. Hierzu sollten die Relaislinse und
eine Feldlinse in zweckmäßiger Weise zwischen der Ablenkeinrichtung
und der Objektivlinse angeordnet werden. Der Reflexionspunkt
des Lichtstrahles auf dem Polygonalspiegel
kann sich aufgrund der Drehung des
betreffenden Spiegels mehr oder weniger bewegen, wobei jedoch
die Ablenkung derart gering ist, daß sie keine betrieblichen
Probleme oder Nachteile verursacht. Dementsprechend kann die
Position des Strahles auf der Pupillenebene während des
Abtastvorganges als annähernd unbeweglich angenommen werden.
Nachstehend wird zunächst die optische Anordnung einer
ersten Ausführungsform der Erfindung unter Bezugnahme auf
Fig. 3 beschrieben.
Gemäß Fig. 3 ist eine Blendenöffnung 20 in
Form eines Schlitzes bzw. Spaltes oder Punktes, die in dem
Weg des von der Lichtquelle ausgehenden Lichtstrahlenbündels
angeordnet ist und zu einem Objekt 1 in konjugierter Beziehung
steht, und eine Ablenkeinrichtung 21 vorgesehen,
die bewirkt, daß das Licht aus der Ablenkvorrichtung 21
parallel austritt, beispielsweise eine Ablenkeinrichtung des
Transmissionstyps, das aus einem drehbaren
Glasblock oder eines planparallelen Platte besteht.
Ein optisches Teilsystem in Form einer Relaislinse 22 ist derart angeordnet, daß
ihr hintere Brennebene bzw. Bildebene mit der Pupillenebene 5 zusammenfällt,
die sowohl die vordere Brennebene als auch die
Austrittspupille der telezentrischen
Kollimatorlinse 4 bildet. In Fig. 4 ist die Funktion der
Relaislinse 22 veranschaulicht. Bei dieser Darstellung fällt aus
Gründen der Vereinfachung und deutlicheren Darstellung die
Öffnung 20 mit der vorderen Brennebene der Relaislinse 22
zusammen. Die Strahlenbündel 23 werden nach ihrem Hindurchtreten
durch die planparallele Platte 21 im wesentlichen seitwärts
zueinander verschoben, und zwar nach dem auf der Eigenschaft
paralleler Ebenen beruhenden Prinzip, daß der Einfallswinkel
gleich dem Ausfallwinkel ist.
Dementsprechend verhält sich jedes Strahlenbündel derart
als würde es aus der Brennebene der Relaislinse 22 austreten
und wird nach Hindurchtreten durch die Relaislinse 22 zu
einem parallelen Strahlenbündel. Da der die Mitte eines
jeden Strahlenbündels bildende Hauptlichtstrahl nach seinem
Austreten aus planparallelen Platte 21 parallel zu der optischen
Achse verläuft, durchläuft er nach seinem Hindurchtreten
durch die Relaislinse 22 die Mitte der Pupillenebene 5, die
die hintere Brennebene der Relaislinse 22 sowie die vordere
Brennebene der Kollimatorlinse 4 darstellt. Der Winkel
des Lichtdurchtritts hängt von der Seitwärtsverschiebung
der Hauptlichtstrahles ab.
Damit in diesem Falle die
Möglichkeit besteht, den in Verbindung mit Fig. 1 bereits
erläuterten Filtervorgang mittels des aus den Bauelementen
10, 11, 12 und 13 gemäß Fig. 1 bestehenden Linsensystems
durchzuführen, ist es wünschenswert, daß die
F-Zahl des Lichtstrahlenbündels 23 größer als die F-Zahl
der Relaislinse ist. Dann wird der Durchmesser des
effektiven Lichtbündels in dem einfallenden Licht, das aufgrund
der Relaislinse in Form paralleler Lichtstrahlen
auf die Pupillenebene auftritt, kleiner als der
Durchmesser der Pupillenebene, wie dies in Fig. 4 veranschaulicht
ist. Aufgrund der Eigenschaften der telezentrischen
Kollimatorlinse 4 erfolgt nach der
Reflexion des Lichtes an dem ebenen Teil der Oberfläche des
Objektes 1 erneut eine Bündelung mit gleicher Vergrößerung
in der Pupillenebene 5. Dementsprechend tritt das an
dem ebenen Teil der Objektoberfläche reflektierte Lichtbündel
erneut durch die Pupillenebene 5 hindurch, und
zwar mit einem effektiven Durchmesser, der kleiner als der
Pupillendurchmesser ist. Daß der Hauptlichtstrahl des hindurchtretenden
Strahlenbündels trotz des Abtastvorganges auf
der Oberfläche des Objektes 1 unverändert die Mitte der Pupillenebene
5 durchläuft, ist aus der Tatsache ersichtlich, daß
der Hauptlichtstrahl durch die telezentrische Kollimatorlinse 4
senkrecht auf das Objekt 1 projiziert wird und entlang seines
ursprünglichen Weges wieder reflektiert wird. Das mittels eines halbdurchlässigen
Spiegels bzw. eines Halbspiegels 7 auf ein Erfassungssystem
gerichtete Licht bildet die Pupillenebene 5 mittels der Abbildungslinse 10
auf der Lichtabschirmplatte 11 ab. Die Art und
Weise, in der lediglich die auf der Lichtabschirmplatte
11 abgebildet, von dem ebenen Teil des Objektes
1 stammende reflektierte Lichtkomponente mittels einer
Abschirmung oder Blende unterdrückt wird, so daß lediglich
das Licht von der Flanke oder Kante des Musters erhalten
wird, ist genau die gleiche wie im Falle der Vorrichtung gemäß
Fig. 1. Das das einfallende Lichtbündel einen hellen Punkt
oder Spalt auf der Pupillenebene 5 bildet, ist der Filtervorgang
an der zu der Pupillenebene 5 konjugierten Lichtabschirmplatte
11 einfach. Wenn z. B. der Abtaststrahl die
Form eines Punktes aufweist, hat der zu filternde Lichtstrahl
ebenfalls Punktform. An der Position der Lichtabschirmplatte
11 kann daher ein Filter zum Abfangen dieses
punktförmigen Lichtstrahles angeordnet sein, wie z. B. dasjenige,
das einen Durchlaßteil in Ringform aufweist. Wenn
der Abtaststrahl Streifenform aufweist, nimmt der Querschnitt
des Strahlenbündels auf der Pupillenebene eine
Streifenform an. In diesem Falle kann an
der Lichtabschirmplatte 11 ein Filter mit einem
streifenförmigen Lichtabschirmteil angeordnet werden.
Auf ähnliche Weise kann die Form der Abschirmung bzw. des
Filters 11 wahlweise in Abhängigkeit von dem jeweiligen
Fall geändert werden.
In Fig. 5 ist die optische Anordnung einer weiteren
Ausführungsform der Erfindung veranschaulicht, die in Verbindung
mit einer automatischen Ausrichtungsvorrichtung
für integrierte Schaltkreise (IC) Verwendung findet. Zur
zweidimensionalen Ausrichtung einer Maske und eines Mikroplättchens
oder Wafers unter Verwendung dieser automatischen
Ausrichtungsvorrichtung sollten zumindest zwei Positionen
oder Punkte überwacht werden. In der Figur ist jedoch nur
eine dieser Positionen bzw. Punkte dargestellt. Obwohl somit
ein weiteres optisches Überwachungs- und Erfassungssystem
auf der linken Seite der dargestellten Anordnung vorgesehen
werden müßte, ist dies in der Zeichnung nicht dargestellt
worden, da es genau den gleichen Aufbau aufweist, wie der
auf der rechten Seite der Anordnung dargestellte Teil. Es
sei erwähnt, daß die Ablenkeinrichtung derart aufgebaut
ist, daß sie gemeinsam benutzt werden kann. Es ist jedoch
ersichtlich, daß die Anzahl der Ablenkeinrichtungen in Abhängigkeit
von der Anzahl der zu überwachenden Punkte erhöht
werden kann.
Bei der Anordnung gemäß Fig. 5 bezeichnet die Bezugszahl
31 eine Lichtquelle. Unter Berücksichtigung der vorstehend
erwähnten Richtungsbündelung und Helligkeit des
Strahles ist die Verwendung eines Lasers zweckmäßig, so daß
bezüglich der Anordnung gemäß Fig. 5 davon ausgegangen wird,
daß die Lichtquelle 31 ein Laser ist. Da sich das Ausgangslicht
des Lasers 31 mit hohem Wirkungsgrad in ein lichtelektrisches
Signal umsetzen läßt, ist ein Laser von 1 mW und weniger
ausreichend. Die Bezugszahl
32 bezeichnet einen Strahlaufweiter, der zur Aufweitung des
Laserstrahles dient. Der Strahlaufweiter 32 kann entfallen,
wenn eine Aufweitung des Strahlendurchmessers nicht erforderlich
ist. Ein Spiegel 33 und eine Linse 34 dienen zur
Bündelung des Laserstrahles auf eine Schlitz-, Spalt-
oder Punktblende 35. Wenn die Blende 35
Spaltform aufweist, sollte die Linse 34 vorzugsweise eine
Zylinderlinse sein, während bei Punktform der Blende
35 eine übliche sphärische Linse ausreicht. Auch ist die
Lichtstärke bzw. F-Zahl der Linse dahingehend festzulegen,
daß eine Beziehung zu der F-Zahl der Relaislinse
eingehalten wird, wie dies bereits vorstehend in Verbindung
mit der Anordnung gemäß Fig. 4 erläutert wurde. Die
Bezugszahl 36 bezeichnet eine Ablenkeinrichtung des
Transmissionstyps, die aus einem Glasblock hergestellt
ist. Die Drehachse dieser Ablenkeinrichtung 36 ist in einem Schnittpunkt
der in der Figur dargestellten drei optischen Achsen
angeordnet und verläuft senkrecht zur Zeichenebene, so daß
mittels dieses Blockes drei Signalkanäle erhalten werden
können. Dementsprechend ist auch die Spalt- oder Punktblende 35
dreifach, d. h. für jede der optischen
Achsen vorgesehen.
Für jeden Kanal ist ein optisches System vorgesehen,
das aus den Bauelementen 31 bis 34 vor der Spalt- oder Punktblende
35 besteht. Bei der in Fig. 5 dargestellten Ausführungsform
der Erfindung ist jedoch lediglich das optische System des
Kanals X gezeigt, während die anderen optischen Systeme nicht
dargestellt sind, da sie den gleichen Aufbau aufweisen. Es
ist natürlich auch möglich, daß das von der Lichtquelle 31
ausgehende Licht mittels eines Strahlenteilers geteilt wird,
so daß eine einzige Lichtquelle 21 Verwendung finden
kann.
Das von der Ablenkeinrichtung 36 abgelenkte Licht durchläuft
eine Bilddrehungseinrichtung 37, bevor es eine Relaislinse
39 erreicht, die der Relaislinse 22 gemäß Fig. 3 entspricht.
Es sei nun beispielsweise angenommen, daß die Normale der
die Bilddrehungseinrichtung 37 für den Kanal X bildenden drei Spiegelflächen
in der Zeichenebene liegt. Die von gestrichelten
Linien umschlossene Bilddrehungeinrichtung 37 ist in
einer um 45° gedrehten Position angeordnet, wobei die Drehachse
von einer Achse PP′ gebildet wird. Das durch den
Kanal X hindurchgetretene Licht tastet in der Zeichenebene an den
Punkten 41 und 42 auf der Oberfläche des Objektes ab,
wobei sich die Bezugszahl 41 auf eine Maske und die Bezugszahl
42 auf ein Mikroplättchen oder Wafer beziehen. Das
durch den Kanal Y hindurchgetretene Licht tastet dagegen in der
senkrecht zur Zeichenebene verlaufenden Richtung ab, d. h.,
daß entsprechend der Darstellung gemäß Fig. 6 das
aus dem Kanal X stammende Licht und aus dem Kanal Y stammende
Licht einander innerhalb des Sichtfeldes des Mikroskopes in
der dargestellten Weise bewegen, was dazu führt, daß der zweidimensionale
Unterschied zwischen den Objekten 41 und 42 festgestellt
werden kann. Wenn die Blende 35 eine Schlitz- oder
Spaltform aufweist, sollte die Richtung des Spaltes vorzugsweise
derart vorgegeben sein, daß er senkrecht zur Abtastrichtung
verläuft. Im übrigen ist bei der Anordnung gemäß
Fig. 5 die Bilddrehungseinrichtung 37 des Kanals X zum Zwecke einer
Korrektur der Lichtweglänge vorgesehen. Bei der Anordnung
gemäß Fig. 5 bezeichnen eine Bezugszahl 38 einen Strahlenteiler
in Form eines halbdurchlässigen Spiegels und eine Bezugszahl 39 eine Relaislinse,
wobei der Aufbau der beiden Bauelemente dem in Fig. 3
dargestellten Aufbau entspricht. Die Bezugszahl 40 bezeichnet
die telezentrische Kollimator- bzw. Objektivlinse.
Das fotoelektrische bzw.
lichtelektrische Erfassungssystem besteht aus
einer Abbildungslinse
43 der Pupille, einer Filtereinrichtung oder Lichtabschirmungsplatte 44,
einer Sammellinse 45 und einer
Lichterfassungseinrichtung 46, beispielsweise einem Fotodetektor. Der gesamte Aufbau
in der Nähe dieses fotoelektrischen Erfassungssystems
entspricht dem bereits in Verbindung mit Fig. 3 beschriebenen
Aufbau, so daß auf weitere Erläuterung hier verzichtet wird.
Im übrigen kann der Strahlenteiler 38 so in den Weg des Kanals X
eingefügt sein, daß der
linke Teil der Anordnung ebenfalls abgetastet werden kann, wie
dies in Fig. 5 durch eine gestrichelte Linie dargestellt ist.
In Fig. 7 ist eine weitere Anordnung des gleichen optischen
Systems wie das in Fig. 5 dargestellte System veranschaulicht.
Bei dieser Ausführungsform verläuft die optische
Achse der Objektivlinse 40 senkrecht zur Zeichenebene, so daß
die Maske 41 und das Mikroplättchen oder Wafer 42 überwacht
werden können, die in einer zu der Zeichenebene senkrechten
Ebene angeordnet sind. Bei diesem optischen System können
zwei Bilddrehungseinrichtungen 37 Verwendung finden. Eine einzige
Bilddrehungseinrichtung 37 genügt zwar im wesentlichen für den
beabsichtigten Zweck, jedoch werden zur Korrektur der Lichtweglängen
bei dieser Ausführungsform zwei Bilddrehungseinrichtungen 37
verwendet. Die Funktion des optischen Systems entspricht der
der Anordnung gemäß Fig. 5, so daß hier auf
eine weitere Beschreibung verzichtet wird.
Bei den Anordnungen gemäß den Fig. 5 und 7 sind das
optische System zur Beobachtung mit den Augen
sowie die gegebenenfalls für die Beobachtung
vorzusehende Lichtquelle nicht dargestellt. Da sie sich leicht
entweder durch Einfügen des Strahlenteilers in einen Teil des
Lichtweges oder durch Ersatz eines Spiegels durch einen Strahlenteiler
realisieren lassen, wurde auf eine nähere Darstellung
in diesen Figuren verzichtet. Außerdem ist bei den Anordnungen
gemäß den Fig. 5 und 7 das Vorhandensein der Bilddrehungseinrichtung
wesentlich. Durch Verbesserung der Einstell- oder Ausrichtungsmarke
auf der Maske 41 und dem Mikroplättchen bzw.
Wafer 42 lassen sich jedoch die
Unterschiede sowohl in X-Richtung als auch in Y-Richtung
gleichzeitig durch eine in einer Richtung erfolgende Abtastung
erfassen. Da in einem solchen Falle der Abtastvorgang
in einer einzigen Richtung durchgeführt werden kann, besteht
nicht das Erfordernis, die Bilddrehungseinrichtung vorzusehen oder
das Strahlenbündel für eine einzige Beobachtung
in zwei Kanäle zu leiten.
In Fig. 8 ist eine unterschiedliche Ausführungsform des
optischen Systems dargestellt, wobei
der Abtaststrahl von der optischen Ablenkeinrichtung derart abgelenkt
wird, daß ein Punkt den Mittelpunkt der Ablenkung bildet,
was z. B. bei einer optischen Anordnung der Fall ist, bei der
eine Ablenkeinrichtung wie etwa ein Polygonal-Drehspiegel und ein
Galvanospiegel Verwendung finden. Die Bezugszahl 50 bezeichnet
einen Laserstrahl, in dessen Strahlengang ein Strahlaufweiter
oder eine Sammellinse oder Zerstreuungslinse eingefügt
werden kann, wenn dies erforderlich ist. Zur Vereinfachung
der Darstellung ist ein solches Bauteil nicht in der
Figur enthalten. Eine Sammellinse 51
dient zur Bündelung des Laserstrahls 50 und die Bezugszahl 52 bezeichnet eine
Fläche eines Kollektors in Form eines Polygonal-Drehspiegels.
Eine Feldlinse 53 ist in der Nähe eines sich aufgrund
der Sammellinse 51 ergebenden Bündelungspunktes X des Strahlenbündels
angeordnet ist. Der Punkt X bewegt sich senkrecht in
Bezug auf die optische Achse des Polygonal-Drehspiegels 32, was
durch dessen Drehbewegung hervorgerufen wird. Außerdem wird
die Größe des Lichtpunktes an dem Punkt X von der F-Zahl des
von der Sammellinse 51 festzulegenden Lichtbündels bestimmt. Desweiteren sind
eine Relaislinse 54,
eine telezentrische Kollimator- bzw. Objektivlinse
4 und eine Austrittspupille
5 vorgesehen, deren Pupillenposition dem Objekt 1 entspricht.
Im übrigen entspricht das aus verschiedenen Bauelementen von dem
Strahlenteiler 7 bis zur Lichterfassungseinrichtung
13 bestehende System dem in
Fig. 3 dargestellten System, so daß auf eine erneute Beschreibung
dieser Bauelemente hier verzichtet wird. Das charakteristische
Merkmal dieses Systems besteht darin, daß bei der Projektion
des Hauptlichtstrahles des Abtaststrahlenbündels auf die Relaislinse
54 der Hauptlichtstrahl nicht länger
parallel zur optischen Achse der Relaislinse 54 verläuft. Dementsprechend wird das Problem nicht wie
im Falle der Anordnungen gemäß den Fig. 3 bis 7 dadurch
gelöst, daß im wesentlichen die Pupille der telezentrischen
Objektivlinse im Brennpunkt der Relaislinse angeordnet wird,
sondern es ist eine unterschiedliche Anordnung erforderlich.
Damit sich das Strahlenbündel im wesentlichen nicht auf der
Pupillenebene bewegt, während die Abtastung auf der Objektoberfläche
erfolgt, wird die Aufmerksamkeit auf die Strahlreflexionsposition
gerichtet, die ein unbeweglicher Punkt auf
dem Polygonal-Drehspiegel ist. Das heißt, daß aufgrund der
Tatsache, daß die Reflexionsposition des auf den Polygonal-Drehspiegel
projizierten Lichtes in einem derart geringen
Ausmaß schwankt, daß sie als ein im wesentlichen unbeweglicher
Punkt angesehen werden kann, dieser Punkt durch Verwendung
der Feldlinse 53 und der Relaislinse 54 in der Pupillenebene
5 der Objektivlinse 4 scharf abgebildet bzw. gebündelt
wird. Auf diese Weise kann die Objektoberfläche abgetastet
werden, während die Position des Strahles auf der Pupillenebene
unbeweglich festgehalten wird. Andererseits liegt
die vom durch die Sammellinse 51 erzeugten Fokussierpunkt X des Strahlenbündels durchlaufene
Fläche konjugiert zu der
Objektoberfläche 1. Dementsprechend kann die Leistung der Sammellinse
51 hauptsächlich aus der Größe des für die Abtastung
der Objektoberfläche 1 verwendeten Abtastpunktes, d. h., welchen
Durchmesser der der Abtastpunkt auf der Objektoberfläche 1 haben
soll, und aus dem Durchmesser des auftreffenden
Laserstrahls bestimmt werden. Da allgemein der
Durchmesser des Abtastpunktes deutlich größer als der
Beugungsgrenzwert der Objektivlinse 4 ist, der effektive
Durchmesser des auf die Pupillenebene auftreffenden Laserstrahls
kleiner als der Durchmesser der Pupillenebene, so
daß die in den Fig. 3 bis 8 veranschaulichte Abschirmung
bzw. Ausfilterung durchführbar wird.
Die Fig. 9 zeigt ein Ausführungsbeispiel, bei dem ein
dem System nach Fig. 8 ähnliches System auf eine andere Weise
verwendet wird, nämlich so, daß das auf den Polygonaldrehspiegel
52 einfallende Licht divergent ist. Dieses System entspricht
demjenigen nach Fig. 8 mit der Ausnahme, daß eine
Sammellinse 51 den Laserstrahl vor dem Polygonaldrehspiegel 52 bündelt
und der Laserstrahl über ein Linsensystem 61, 53 einmal
fokussiert wird, und daß das optische Erfassungssystem bis
hin zu dem fotoelektrischen Wandler bzw. der Lichterfassungseinrichtung
13 zwischen einer Relaislinse 54 und einer Feldlinse
53 angebracht ist. Mit 62 ist ein Halbspiegel für ein
nichtgezeigtes optisches Suchersystem bezeichnet.
Ein Fokussier-Linsensystem
61 verleiht dem System als ganzes eine f-R-Charakteristik
d. h. es führt eine Kompensation dahingehend aus, daß sich
zwischen der Drehzahl des Polygonalspiegels 52 und der Abtastgeschwindigkeit
über die Abtastfläche ein lineares Proportionalitätsverhältnis
ergibt. Dies ist im Hinblick darauf sehr wichtig,
die Linearität bzw. die Gleichförmigkeit des Abtastvorgangs
sicherzustellen. Dies gilt auch für den Aufbau mit Durchlaß-Ablenkung
in der Weise, daß bei der Durchlaß-Ablenkung durch
Verzerrungseigenschaften der Relaislinse 22 eine Korrektur der
Linearität möglich ist.
Die nachstehende Tabelle zeigt Daten des optischen Systems
bei dem in Fig. 9 gezeigten Ausführungsbeispiel:
Obgleich die vorstehenden Daten auf dem Ausführungsbeispiel
gemäß der Darstellung in Fig. 9 beruhen, sind sie insofern
ausführlicher, als das f-R-Linsensystem 61 aus drei
Linsen gemäß den Daten für die Flächen Nr. 2 bis 7 besteht,
die Relaislinse 54 ein Linsensystem mit zwei Linsen gemäß
den Daten für die Flächen Nr. 12 bis 14 umfaßt (der Abstand
zwischen den benachbarten Flächen der beiden Linsen = 0),
und die Kollimatorlinse 4 aus einem Linsensystem mit fünf Linsen
gemäß den Daten für die Flächen Nr. 15 bis 23 besteht
(der Abstand zwischen benachbarten Flächen der dritten und
der vierten Linse in der Zählung von der Relaislinse her ist
0).
Die beschriebene Abtastung
der Objektoberfläche mit einem Lichtstrahlenbündel
und Erfassung bzw. Auswertung des Lichtstrahlenbündels nach
der Abtastung ist üblichen
Verfahren in sämtlichen Punkten wie etwa Lichtausbeute, Verbesserung
des Störabstandes bzw. des Verhältnisses von Nutz-
zu Störsignalen, der Polarität des Signals und anderen Problemen
deutlich überlegen, so daß die Erfindung einen weiten
Anwendungsbereich aufweist, der sich nicht nur auf die automatische
Ausrichtungsvorrichtung für integrierte Schaltkreise
bezieht, sondern sich auch auf andere Bereiche wie etwa
Größenmessung, Kurvenverfolgung bzw. Kurvenbahnsteuerung usw.
erstreckt.