DE2723571C2 - Oszillatoranordnung mit einem Quarzresonator - Google Patents
Oszillatoranordnung mit einem QuarzresonatorInfo
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- 239000010453 quartz Substances 0.000 title claims description 28
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 28
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 36
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 25
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 20
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 45
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 4
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 101100345589 Mus musculus Mical1 gene Proteins 0.000 description 1
- 241000282320 Panthera leo Species 0.000 description 1
- 241000212342 Sium Species 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 241001233037 catfish Species 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 235000019589 hardness Nutrition 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L1/00—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply
- H03L1/02—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only
- H03L1/022—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only by indirect stabilisation, i.e. by generating an electrical correction signal which is a function of the temperature
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- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
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Description
Die Erfindung betrifft eine Oszillaloranordnung mit einem Quarzresonator nach dem Oberbegriff des Anspruchs
1.
Die Resonanzfrequenz eines Quarzkristall ist abhängig
von den Elastizitätskoeffizienten,- der Dichte, der Dicke und den Oberschwingungen des Kristalls. Hinzu
kommt, daß alle diese Faktoren mit der Änderung der Umgebungstemperatur des Kristalls variieren, und daß
dadurch Abweichungen der Resonanzfrequenz auftreten.
Aus der GB-PS 625147 ist eine Schaltungsanordnung
für die Trägerfrequenz modulierter Schwingungen bekannt, mit der temperaturabhängige Frequenzänderun-.
gen der Trägerfrequenz möglichst gering gehalten werden sollen. Zu diesem Zwecke verwendet diese bekannte
Schaltungsanordnung einen Oszillator zur Erzeugung der Trägerfrequenz und einen HilfsOszillator, dessen Frequenz
weitgehend temperaturunabhängig Ist. Die von beiden Oszillatoren erzeugten Frequenzen werden einem
Mischer zugeführt, dessen Ausgangssignal über eine Regelschleife den die Trägerfrequenz erzeugenden Oszillator
nachregelt. Eine Temperaturkompensation der Ausgangsfrequenz kann bei dieser Schaltungsanordnung nur
erreicht werden, wenn die Frequenz des Hilfsoszillators bei sich ändernder Temperatur stabil ist.
resonator einen Temperaiurgradienten zu erzeugen, erzeugen
kurzzeitige Frequenzverschiebungen, die um Größenordnungen größer als die statische Stabilität der
Vorrichtung sind.
Zum Beispiel kann ein ΛΓ-geschnittener Resonator in
einer beheizten Kammer Kurzzeitstabilitäten haben, die im Bereich von 10"l0 liegen. Ein Temperaturgradient
von 1 °C über den Kristallresonator kann aber eine plötzliche Frequenzverschiebung von 36ppm (Teile pro MiI-
Konventionelle Methoden zur Minimierung der Temperalurabhängigkeit
eines Quarzresonators gehen drei verschiedene Wege. Der erste Weg besteht darin, eine
beheizte Kammer für den Quarzkristall vorzusehen, um so seine Umgebungstemperatur regeln zu können. Um
das Frequenz/Temperaturverhalten weiter zu verbessern,
wird der Kristall typischenveise in einer der thermisch
kompensierten Orientierungen geschnitten, bei denen der Resonator naturgemäß eine gute Frequenzstabilität über
einen schmale-i Temperaturbereich hat. Zwei u/eitgehend io lion) verursachen,
gebrauchte einfach gedrehte Orientierungen sind A 7*und Die dynamische
BT.
Auf diese Weise wevden im allgemeinen kristallresonatorgesteuerte
Oszillatoren erreicht, die die höchste derzeit erreichbare Frequenzstabilität aufweisen. Der genannte
Weg hat jedoch drei wesentliche Nachteile. Zum ersten ist in modernen kristaüresonalorgeregelten Anwendungen
die Heizung der vorherrschende Energieverbraucher. Zum zweiten wird eine thermische Stabilisierungszeit
von vielen Minuten benötigt, gerechnet vom Einschaltzeitpunkl der Heizung, auch wenn die verfügbare
Leistung nicht begrenzt ist. Ein großer Teil dieser Zeit ist nötig, um thermische Gradienten fia Resonator
ins Gleichgewicht zu bringen. Der Vorteil des sofortigen Aufwärmens von Transistorschallungen geht damit verloren.
Zum dritten ist eine optimale Temperaturregelung des Quarzresonaiors nicht möglich, solange die tatsächliche
Temperatur der Quarzplatte nicht bekannt ist. Da das Temperaturfühlerelement nicht in unmittelbaren
Kontakt mil den Resonator steht, verschlechtern Fehler bei der Umgebungstemperalursieuerung die Frequenzsiabililäl.
Beim zweiten und beim dritten Weg werden Temperaturkompensalionenohne
Heizkammer benutzt. Spannungsgesieuerle Krislalloszillaloren (VCXO) und temperatur- 35
gesteuerte Krislalloszillaloren (TCXO) sind für den zweiten Weg repräsentativ. Ein VXCO enthält typischerweise
eine Kombination aus einem Kristallresonator, einem Verstärker und einem spannungsvariablen Phasenschieber.
Die dem variablen Phasenschieber zugeführie 40 sium on Frequency Control 1975, U.S. Army Electronics
Spannung stellt ein Rückkopplungssignal dar, das von Command, Fon Monmouih, N.J.. 28-30 Mai 1975.
einer Art Temperatursensor abgeleitet wird, welcher üblicherweise ein Thermistor oder eine Thermislorbrücke
ist. obwohl auch komplizierlere Methoden möglich sind.
Der TCXO enthält in der Kristallresonator-Rück- 45 eine gute statische Kompensation erreicht -*'ird. Z'usätzkopplung
sorgfältig ausgesuchte reaktive Komponenten, lieh wird für den Kristallschniti SC in Anspruch genomdie
nidit spannungsvariabel sind, jedoch eine Temperaturcharakteristik
aufweisen, die das Temperaturverhaltendes Krislallresonalors genau kompensiere?, wodurch
eine Vorrichtung entsieht, die eine minimale Frequenz- so denmuster, Kristallresonaior-Befestigungen und extern
Temperalurabhängig'xeit zeigt. aufgebrachte Spannungen in der Ebene Krislallresona-
Beim drillen Weg werden neue Charakteristiken von" Kristailresonatoren benutzt, um eine Temperaturkompensation
ohne Benutzung einer Heizung zu erreichen. In der US-PS 3826931 isl ein Resonator beschrieben, der 5j lastungen gegenüber den AT- und βΓ-Orientierungen.
entweder einen Einzelquarz benutzt, welcher in zwei aus- Trotzdem ist der Betrieb in einer temperaturgrregelten
gewählten Schwingungsarten schwingt, oder zwei Quarzkristalle, von denen jeder in einer einzelnen ausgewählten
Schwingungsari schwingt, wobei eine Resonator-Ausgangsfrequenz entsteht, die die Summe oder Differenz 60 latoranordnunf der eingangs genannten Galtung derart
bei beiden Kristallfrequenzen darstellt und nur minimal weiterzubilden, daß eine sehr genaue Temperaturkomlemperaturabhängig
ist.
Alle drei Wege haben einen wesentlichen Nachteil. Die beschriebene Temperaturkompensation ist nämlich eine
statische Kompensation,d. h. dieTemperaturkompensition
wird nur'jnter Bedingungen erreicht, bei denen sich
die Umgebungstemperatur langsam ändert. Sich schr.ell ändernde Temperaturen, die ausreichen, um im Kristall-Kompensation
von Temperatur-Übergangsztiständen wurde von Richard Holland entdeckt.
Er sagte einen doppeltgedrehten Krislallresonator-Schniti (7S) voraus, der eine Orientierung von (y.xw!)
22,8734,3° (ANSI C83,3 - 1951 R 1972) hat, was von Natur aus eine gute Frequenzstabilität über einen schmalen
Temperaturbereich ergibt, so daß eine gute statische Kompensation bei Benutzung einer der beiden erstgenannten
Wege erhalten wird. Gleichzeitig ist eine dynamische Kompensation für Temperatur-Übergangszustände
vorhanden. Die TS-Orienlierung wurde von Richard
Holland in den folgenden Veröffentlichungen beschrieben.
»Nonuniformly Heated Anisotropie Plates: I. Mechar
nical Distortion and Relaxation«, IEEE Transactions on Sonics and Ultrasonics. Band SU-21, Juli 1974, Seiten
171-178, und
»Nonuniformly Heated Anisotropie Plates: II. Frequency
Transients in A T and BT Quartz Plates«, 1974 Ultrasonics Symposium Proceedings, IEEE Cai. 1974
CHO 869. 15 U. Seiten 593-598.
Gleichzeitig wurde ein anderer doppeltgedrehter Kristallschnitt (SC) von Earl E. Nisse mit (yxwl) 22,5°/34.3G
beschrieben, was im wesentlichen mit den von Richard Holland vorausgesagten übereinstimmt. Die SC-Orienlierung
wurde von Earl E. Nisse in der folgenden Veröffentlichung vorgestellt:
»Quartz Resonator Frequency Shifts Arising from Electrode Stress«, Proceeding of the 29th Annual Sympo-
Dieser Schnitt zeigt die notwendige Frequenz/Temperatur-Stabilität
über schmale Temperaturbereiche, so daß sowohl mit dem ersten als auch mit dem zweiten Weg
men, daß eine Frequenzunabhängigkeil von internen me-.
chanischen Spannungen im Krislallresonator besteht, welche entstehen können durch aufgebrachte Eleklro-
lor-Oberfläche. Jede der beiden genannten Kristallschnitte
(TS-SC) bietet Verbesserungen bezüglich der Empfindlichkeit gegen thermische und mechanische BeUmgebung
erforderlich, wenn man eine gute Frequenzstabililät erhallen will.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eme'Oszil-
pensation sowohl über einen weiten Temperal Ufbereich
als auch bei Vorhandensein von Tempefaturgradienten im Bereich des Oszillatorkristalls erreicht wird.
Die Lösung dieser Aufgabe erhall man mit den in Anspruch 1 angegebenen Merkmalen.
Der verwendete Quarz-Kristall-Resonator schwingt
gleichzeitig in zwei Dicken-Schwingungsarien, von de-
nen die eine eine weniger temperaturabhängige Frequenz und die andere eine stärker temperaturabhängige Frequenz erzeugen. Um genaue Temperatur- oder Frequenzmessungen zu ermöglichen oder um eine stabilere
R'eferenzfrequenz zur Verfügung zu stellen, wird ein analoges oder digitales Kompensations-Neizwerk verwendet, ohne daß eine beheizte Kammer oder Hilfs-Temperaturüberwachungsvorrichlung notwendig ist.
Die Frequenz-Temperaturcharakleristik einer der Dikken-Schwingungsarten zur Temperaturmessung benutzt,
während die Frequenz der anderen Schwingungsart als Referenzfrequenzsignal oder als frequcnzstabilisicrles
Ausgangssignal benutzt wird. In nllen dargestellten Ausführungsformen der Erfindung werden beide Signale einem speziellen Kompensationsnetzwerk zugeführt.
In der ersten Ausführungsform der Erfindung wird die
Frequenz des stärker lemperaturabhäncigen Signals oder eine lineare Kombination dieses Signals mit dem Referenzfrequenzsignal. d.h. das Verhältnis oder die Differenz dieser Signale, in bezug auf das Referenzsignal gemessen. Das diesem gemessenen Wert entsprechende Signal wird dann einem Prozessor zugeführt, der die Temperatur des Quarzkristall-Resonators mittels einer Kurvenanpassungs- oder Tabellensuch-lnterpolationsroutine feststellt. Diese Ausführungsform kann leicht derart
erweitert werden, daß die unbekannte Frequenz eines externen Signals in bezug auf die Referenzfrequenz gemessen wird. Ein diesem Meßwert entsprechendes Signal
wird dann zusammen mit dem Temperalursignal an den Prozessor gegeben. Der Prozessor benutzt das Temperatursignal um den Korrekturfaktor zu ermitteln, der dem
gemessenen Wert der unbekannten Frequenz hinzugefügt wird, was bei jeder lemperaturbedingten Verschiebung der Referenzfrequenz nötig ist. Der Korrekturfaktor wird dann dem Signal hinzugefügt, das dem gemessenen Wert der unbekannten Frequenz entspricht. In dieser
Anwendung wird zur Erzeugung des Korrekturfaktors entweder die Kurver.anpassung- oder die Tabeüensuch-Interpolationsroutine (siehe oben) benutzt.
Bei der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird eine ähnlich Methode zum Stabilisieren
einer der beiden Schwingungsarten gegen temperaturbedingte Frequenzänderungen benutzt. Wie in der ersten
Ausführungsform wird die Frequenz stark temperaturabhängige Frequenz (Temperatursignal) gemessen, weiche das Signal der entsprechenden Schwingungsart oder
eine Kombination der Signale beider Schwingungsarten ist. Sollte der Frequenzmesser eine Referenzfrequenz benötigen, kann diese Referenzfrequenz das Signal der
zweiten Schwingungsart sein, dessen Frequenz stabilisiert werden soll. Der gemessene Wert des Temperatursignals wird dann einem Prozessor zugeführt, welcher, wie
oben beschrieben, einen Korrekturfaktor für die zu stabilisierende Schwingungsart erzeugt. Dieser Korrekturfaktor und das zu stabilisierende Signal der zweiten Schwingungsart werden dann beide einem Frequenzmultiplizierer zugeführt, der ein resultierendes Ausgangssignal erzeugt, welches das frequenzstabilisierte Signal ist.
Bei der dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist der Quarzresonator in einer beheizten Kammer untergebracht, um die Frequenz des Referehzfrequenzsignals zu stabilisieren. Dies wird erreicht, indem
die stark temperaturabhängige Frequenz des Kristalls in der gleichen Weise wie in der zweiten Ausführungsform
zur Bestimmung eines Korrekturfaktors benutzt wird, der die Abweichung der Heizkammerternperaliir von einer vorgegebenen Temperatur oberhalb der Raumtemperatur darstellt. Dieses Korrektursignal wird zusammen
mit einem festen Signal, welches die vorgegebene Heizkammertemperatur darstellt, einem Differenzverstärker
zugeführt, dessen Ausgangssignal das Leistungs-Eingangssignal für die Heizkammer zur Aufrechterhaltung
von deren vorgegebenen Innentemperatur ist.
Vorteilhafte Weilerbildungen der Erfindung sind in
den übrigen Unteransprüchen gekennzeichnet.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen in Verbindung mit der zugehörigen
Fig. 1 eine grafische Darstellung der Frequenzabweichung in Abhängigkeit von der Temperatur für die Frequenzen der B- und C-Schwineungsarl eines Quarzkrislall-Resonaiors der Orientierung iy.xwl) 21,93°/33,93o;
Fig. 2a-d Blockschaltbilder verschiedener Oszillator-Aufbauten, bei denen der darin enthaltene Quarzresonator so erregt wird, daß er in zwei Dicken-Schwingungsarten gleichzeitig schwingt:
form, bei der der Quarzresonator mi! einem Kompensationsnetzwerk als Thermometer oder zur genauen Messung der Frequenz eines unbekannten Signals benutzt
wird;
rungsform. bei der der Quarzresonator mit einem Kompensationsnelzwerk als stabile Frequen7quelle benutzt
wird: und
Fig. 5 ein Blockschallbild einer dritten Ausführungsfi.TT.i, bei der ein Quarzresonator mit einem Rückkopp-
lungsneizwerk als stabile Frequenzquelle benutzt wird. Untersuchungen haben gezeigt, daß bei Benutzung eines Kristalls, welcher mit einem Winkelbereich von zwei
Grad (v.vnV) 21.93733.93° etientieri ist und in der langsamen Scher- oder C-Betriebsarl der Dicken-Schwingung
arbeitet, der Kristallresonator sowohl statisch als auch dynamisch thermisch im Bereich der Kris«all-l Jbergangstemperatur kompensiert ist. Dieser Kristall kann als thermisch übergangs-kompensierter Typ (TTC) bezeichnet
werden. Es ist allgemein bekannt, daß das Frequenz/
Temperatur-Verhalten jedes präzisionsgeschniltenen
Quarzresonators gut durch eine Potenzreihenentwicklung dargestellt werden kann. Ein Kristall der oben genannten Orientierung hat eine Frequenz/Temperatur- I
kurve, bei der der Beitrag der Glieder vierter und höherer
«5 Ordnung typischerweise kleiner als 10~8 über einem I
Temperaturbereich von 2000C ist. Die Form dieser/Jn
Kurve kam algebraisch folgenderEa3fn aufrückt werden: i|2 A
J=J0(]+aT+bT2 + cTi)
so Dabei ist/0 die Resonanzfrequenz bei einer ausgewählten Referenztemperatur, a. b und r sind die Temperaturkoeffizienten erster, zweiter und dritter Ordi. ong der Frequenz und Γ ist der Wert der tatsächlichen Kristalltemperalur abzüglich des Werts der ausgewählten Referenz-
temperatur.
Es sind Kristallorientierungen möglich, für die ein einzelner Kristall so angesteuert werden kann, daß er gleichzeitig in einer Vielzahl von Dicken-Schwingungsarten
schwingt. Die Drei-Dicken-Schwingungsärten können
zueinander senkrechte Bewegungsrichtungen haben und ^
gleichzeitig existieren, ohne daß es zu gegenseitigen Inter- * ferenzen kommt.
Fig. 1 zeigt die Frequenzabhängigkeit von der Temperatur der 8- (schnelle Scherung) und C- (langsase Sehe- _
rung) Schwingungsarten eines Quarzresonators der On- A
entiening {yxvl) 21,93733,93°. Diese Ternperatur/Fre- £
quenz-Kurven zeigen, daß die Frequenzänderung in der :-.
fi-Schwingungsart im dargestellten Temperaturbereich
überwiegend linear ist. während die Frequenzänderung der C-Schwingungsart überwiegend dritter Ordnung ist.
Diese Frequenzänderungen betragen ungefähr 1900 ppm (Teile pro Million) für die Frequenz der fi-Schwingung
und 25 ppm für die Frequenz der C-Schwingung.
In einem Kristallresonator dieses Typs können die Frequenzünderungen
der ß-Schwingung benutzt werden, um «ie Plattcntemperatur des Kristalls zu messen und
daduich ein Mittel bereitzustellen, mit dem von der Temperaturempnndlichkeit
der C-Schwingung verursachte Fehler korrigiert werden können, wenn d;e Frequenz der
C-Schw ingung als eine Frequenz- oder Zeilbasisreferenz oder als Frequenzquelle benutzt wird.
Jede dieser Anwendungen kann erreicht werden durch Benutzung einer Kurvenanpassungsroutine oder Tabellensuch-Routine
und Interpolation. In beiden Routinen besteht der Anfangsschritt darin, die Frequenzen der B-
und C-Schwingungsarten bei ausgewählten Temperaturen »b?r dem gewünschten Betriebsbereich zu messen.
Diese Werte können dann benutzt werden, um entweder die Koeffizienten des ausgewählten Kurvenanpassungsausdrucks
abzuleiten oder individuelle Eingangswerte für eine Tabelle bei jeder der ausgewählten Temperaturen
festzulegen.
Bei einer Kurvenanpassung kann das Frequenzsignal der C-Schwingungsari des Resonators als Zeilbasissignal
für die Messung des Frequenzwertes eines zweiten ausgewählten Frequenzsignals benutzt werden.
Da sich die Frequenz der C-Schwingungsart mit Temperaturschwankungen
ändert, ist die gemessene Freqr-nz fehlerhaft. Der relative Fehler des gemessenen
Signals kann folgendermaßen definiert werden:
des ausgewählten Frequenzsignals festzustellen oder die
Frequenz der C-Schwingungsart unter Benutzung folgender Gleichung zu stabilisieren:
Wenn man die passenden Koeffizienten und die normalisierte Temperatur T kennt, kann also der Korrekiurfaktor
berechnet werden, und es wird entweder Gleichung (3) benutzt, um die richtige gemessene Frequenz
abzuleiten, oder es wird Gleichung (4) benutzt, um die Ausgangsfrequenz des Systems zu korrigieren.
Die temperaturabhängige Frequenzänderung der B-Schwingungsarl
des TTC-Kristalls kann zur Tempera-
turbestimmung verwendet werden. Die B-Schwingungsart
hat überwiegend lineare Temperaturkoeffizienlen. wobei die Steigung groß genug ist. daß./,, -fc (die Differenz
der Frequenzen der beiden Schwingungsarten) immer positiv ist und einen eindeutigen Wert hat.
In der vorgeschlagenen Verwendung kann die wahre Frequenz der fi-Schwingung (/'„.,) unter Benutzung der
tatsächlichen Frequenz der C-Schwingung {Fc) als Zeitbasis
gemessen werden. Dies führt selbstverständlich zu einem Fehler in der gemessenen Frequenz)„. Der relative
Fehler ist wiederum identisch und gegeben durch
Jb-Jb
Jb,
J\l
(2) Nach Auswahl einer Referenzfrequenzyr„ kann man/,
und Jc als Funktion der Temperatur unier Benutzung
einer Präzisions-Zeilbasis messen und dann eine Tabelle für Jg gemessen miiyr als Zeilbasis unter Benutzung der
Gleichungen (4) und (R) aufstellen. Es ergibt sich:
Dabei sind j\ der gemessene Wert des ausgewählten
Frequenzsignals und Ju der wahre Wert desselben Signals.
Der wahre Wert dieses Signals kann folgendermaßen ausgedrückt werden:
Jc,
(9)
1 + δ]
(3) Man hat nun cmc Täbcilc der j „-Frequenzen in Abhängigkeil von einer normalisierten Temperatur 7~erhalten.
Es läßt sich daher ein Polynom aufstellen, welches die folgende Form hat:
T=A- + ByB+CJB 2 + D-JB s+ ... (10)
Mittels bekannter Frequenzzählmethoden (Hewlett- Dabei sind/1', B, C, D'... dieTemperaturkoeffizien-
Packard Application Note 172) ergibt sich, daß der rclati- 45 ten nullter, erster, zweiter, dritter Ordnung der Tem-
ve Fehler des Frequenzsignals der C-Schwingungsart peralur. Dieser Ausdruck kann in Gleichung (6) substity·
äquivalent d/isi und folgendermaßen ausgedrückt wer- iert werden, was zu folgendem Ausdruck führt:
den kann: ir_ A , Dr _,_ Γ41 _i_ n/ 3 _,_ jjjj
6f=J±j^ (4) so
Dabei sind/c die Frequenz der C-Schwingungsart bei
der Betriebstemperatur des TTC-Kristalls und /c„ die
ausgewählte Referenzfrequenz der C-Schwingungsart.
Die tatsächliche Frequenz der C-Schwingungsart-Zeitbasis
kann als Temperaturpolynom folgendermaßen dargestellt werden:
Dabei sind Ac, ßc, Cx die Temperet urkoeffizien- ω
ten erster, zweiter, dritter, ... Ordnung und T ist die
normalisierte Temperatur. Substituiert man in Gleichung (4) /c durch Gleichung (5) wird der Fehlerausdruck
Sf=
(6)
Der sich ergebende Wert aus Gleichung (6) kann in Gleichung (3) eingesetzt werden, um die wahre Frequenz
^f= A + Bffl+ CJB 2 + DJ8 3+...
Durch Messung der Frequenz der ß-Schwingungsart unter Benutzung der C-Schwingung als Frequenzbasis
läßt sich demnach ein Korrekt urfaktor-Polynom erzeugen, das über den gesamten Kalibrierungsbereich gültig
ist. Dieser Korrekt urfaktor kann dann in Verbindung mit einer der Gleichungen (3) und (4) benutzt werden, um den
gemessenen Wert dieser Frequenz zu korrigieren oder die Frequenz der C-Schwingungsart zu stabilisieren, indenv
dessen Frequenz soweit nötig verschoben wird.
Um die Kurveranpassungsmethode anzuwenden, werden die Koeffizienten der Gleichung (10) oder (11) anfänglich
für den individuellen Kristall oder für eine Produktionsklasse
von Kristallen festgelegt und im Gerät als Konstanten für den gesamten Beiriebstemperaturbereich
gespeichert. Beim Betrieb wird/e gebildet, was die Frequenz
der ß-Schwingungsart oder eine ausgewählte Funktion erster Ordnung sowohl der B- als auch der C-Schwingungsart,
z.B. Verhältnis oder Differenz sein kann./B wird gemessen und einem Prozessor zugeführt.
wobei Signale, die den Ausdrücken der Gleichung (10)
bzw. (11) entsprechen, gebildet werden und addiert werden,
so daß noch ein anderes Signal gebildet wird, das der
Krisialltemperatur oder dem gewünschten Korrekturfakior
entsprich!.
Bei der Tabellensuch-Technik wird der Wert des gewünschten Korrekturfaktors oder der Temperatur anfänglich
in der Suchlabelle gespeichert. wobeiyB als Hinweismarke
bei jeder ausgewählten Temperatur dient. Im Betrieb wird /„ gebildet und gemessen um eine Hinweis- to
marke zu der gewünschten Information in der Suchlabelle zu schaffen. Wenn der Wen von J11 der gleiche wie
eine der Hinweismarken in der Suchlabelle ist, wird die an diesem Platz gespeicherte Information zum Prozessor
übertragen. Der Wert von /„ kann zwischen zwei Hinweismarkenwerlen
in der Suchlabeh? liegen. Wenn dies der Fall ist. werden die diesen benachbarten Hinweismarken
zugeordnelen Werte der .Suchtabelle zum Prozessor üben ragen, wo eine passende Interpolation durchgeführt
wird, um den Wert des Temperatur- oder Korrekturfaktors
zu ermiueln. der dieser Zwischen-Hinweismarke zugeordnet ist.
In vielen Anwendungsfällen wird linear interpoliert. Das erfordert, daß die Anfangsmessungen der Kristallfrequenzen
bei ausgewählten Temperaturen erfolgen müssen, die nahe genug zusammenliegen, so daß die Korrekiurfaktor-
bzw. Temperalurkurven als Funktion von J11 zwischen diesen Temperaturwerirn im wesentlichen
linear sind. Wenn diese Kurven zwischen den gewählten Temperaturen nicht linear sind, ist es notwendig, in der
Suchtabelle für jede Hinweismarke Polynomkoeffizienten
einzufügen. Diese Koeffizienten können dann in einem üblichen Interpolationspolynom benutzt werden,
um den Korrekturfakior für eins Zvvischer.-Hin'.veismarke
zu ermiueln.
In den Fig. 2 bis 5 zeigen die Pfeile in Richtung des
Leistungs- oder Informationsflusses in den jeweiligen Anwendungen.
in Fig. 2a bis d isi eine Vielfalt von Aüsführungsformen
eines Oszillators 11 dargestellt, in welchem ein doppelt gedrehter TTC-Quarzkristallresonalor 10 gleichzeitig
in Zwei-Dicken-Schwingungsarten schwingt. In Fig. 2 a ist ein einzelner Quarzresonator 10 des oben beschriebenen
TTC-Typs dargestellt, welcher zwischen zwei Elektroden 12 angeordnet ist und durch ein an diese Elektrode
angelegtes Wechselspannungssignal von einem Verstärker 13 zur gleichzeitigen Schwingung in der B-
und C-Schwingungsarl angeregt wird. Der Verstärker 13 empfängt zwei Eingangssignale, die er intern kombiniert,
so daß beide Schwingungsarten im Resonator 10 bei verschiedenen Frequenzen angeregt werden können. Die
Frequenzen des Verstärkers 13 en!sprechen den Frequenzen der B- und C-Schwingungsart des Kristalls. Filter 18
und 20. die jeweils passende Polstellen und/oder Nullstellen bezüglich der genannten Frequenzen haben, trennen
die Energie der beiden Kristallschwingungen, die über ein einziges Elektrodenpaar 12 am Kristall abgenommen
werden. In dieser Konfiguration werden die Signale der C- und der ß-Schwingungsarl für weitere Schaltkreise an
den Ausgängen der Filter 18 und 20 bereitgestellt.
In Fig. 2 b ist der Oszillator 11 in der gleichen Konfiguration
wie in Fig. 2 a dargestellt, wobei jedoch der Verstärker 13 durch eine Schaltung 15 mit negativem Widerstand
ersetzt ist. Die Schaltung 15 regt wie der Verstärker 13 die beiden verschiedenen Schwingungsarten
des Resonators 10 an.
Fig. 2 c zeigt einen zweiten Aufbau eines Os2»liators
11 mit einer Schallung 15 mit negativem Widerstand.
Die Schaltung 15 '.st von der unteren Elektrode 12 abgetrennt
und statt dessen mil dem Verbindungspunkt zwischen den Fi'lern 18 und 20 und der oberen Elektrode 12
verbunden. Zusätzlich sind die unlere Elektroden, die
Schallung 15 mit negativem Widersland und die Filier 18
und 20 alle auf eine gemeinsame Rückleilung bezogen. Der Oszillator 11 in Figur 2 d zeigt eine Schallungskonfiguration
mil Verstärkern 14 und 16. die jeweils so aufgebaut sind, daß sie eine getrennte Schwingungsart
innerhalb des Resonators 10 (C- und B-Schwingungsart) anregen. In Fig. 2d sind weiterhin Elektroden 12 und
Filter 18 und 20 dargestellt, die die gleiche Aufgabe wie die entsprechenden Bauelemente in Fig. 2 α haben. In
dieser Konfiguralion werden die Frequenzen der C- und der B-Schwingungsari für nachfolgende Schallungen von
den Verstärkern 14 bzw. 16 bereilgeslelll.
In Fig. 3 isi eine erste Ausluhrungsform der Erfindung
dargestellt, die eine Temperaturkompensation mil offener Schleife verwendet. Diese Ausführungsform
kann als Theimometer oder zur Bereitstellung eines Korrekiurlaklors
benutzt werden, wobei die Frequenz der C-Schwingung die Zeitbasis-Referenz isi. Die Frequenz der
B- und der C-Schwingung werden vom Oszillator W einem Mischer22 zugeführt. Aus diesen Signalen erzeugt
der Mischer 22 ein Differenzfrequesizsignal. welches
dann einem Frequenzmesser 24 zugeführt wird. Das Frequenzsignal der C-Schwingung wird auch dem Frequenzmesser
24 zugeführt. Das Frequenzsignal der C-Schwingung wird auch dem Frequenzmesser 24 als Zeitbasis-Referenz
zugeführt. Wenn dieser Aufbau zum Messen der Frequenz eines drillen Signals benutzt werden soll,
wird dieses Signal ebenfalls dem Frequenzmesser 24 von einer externen Quelle 26 zugeführt, wie durch den gestrichelter.
Pfeil 25 dargesieü! ist. Wenn das Frequen/signal der C-Schwingung als Referenzsignal benutzt wird, werden
die Frequenzen des Differenzfrequenzsignals und des dritten Signals vom Uniersystem 24 gemessen.
Der Frequenzmesser 24 erzeugt den Frequenzmessungen entsprechende McBsignale. die dann zu einem Prozessor
28 entweder seriell oder parallel übertragen werden. Diese Übertragung der Meßsignale kann unter Steuerung
durch den Prozessor28 erfolgen, wie durch den
unterbrochenen Pfeil 29 angedeutet is...
Der Prozessor 28 kann so aufgebaut sein, daß er ent weder
die Kurvenanpassungstechnik oder die Suchlabellentechnik (wie oben beschrieben) im Zusammenhang mit
digitalen oder analogen Schallungen ausführt.
In jeder dieser Ausführungsformen benutztder'Prozes-'
sor28 die Meßsignale um ein Signal zu erzeugen, das
genau der Temperatur des Resonators 10 entspricht, oder
um ein korrigiertes Meßsignal zu erzeugen, das genau der tatsächlichen Frequenz des dritten Signals entspricht.
Dieses wird dann einem Anzeige-Untersystem 30 zugeführt, welches dem Benutzer und/oder zusätzlichen Sysiemkomponenten
die gewünschte Temperatur- oder Frequenzinformation mitteilt.
Fig. 4 zeigt eine andere Ausfuhrungsform der vorliegenden
Erfindung, bei welcher ebenfalls eine Temperaturkompensation mit offener Schleife verwendet wird.
Diese Ausführungsform erzeugt ein frequenzstabilisierles
Ausgangssignal, das aus dem Signal der C-Schwingung vom Oszillator 11 abgeleitet wird. Zusätzlich zum
Oszillator 11 und zum Mischer 12 enthält diese Ausfüh-. rungsform einen Frequenzmesser38. einen Subtrahieren"
40 und einen Frequenzmultiplizierer42. \;
Der Mischer22 empfängt die Signale der B- und C-'.:1
Schwingungen vom Oszillator!! und erzeugt daraus ein
DifTerenzfrequenzsignal. Das Differenzfrequenzsignal
ind
,vie
,vie
1 In
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wird dem Frequenzmesser38 zugeführt. Dieser besteht
aus konventionellen digitalen Binärschaltkreiscn, einer analogen Frequenz/Spannungs-Wandlerschaltung oder
einer Kombination aus analogen und digitalen Tachometerschallungen. Dieser Frequenzmesser 38 kann eine Referenzfrequenz
erfordern, in welchem FaIIv; das Meßergebnis das Verhältnis zwischen der Referenzfrequenz
und der Meßfrequenz ist. Sollte ein Referenzfrequenzsignal
als Eingangssignal benutzt werden, könnte es das Frequenzsignal der C-Schwingung sein, wie durch die
gestrichelte Linie39 dargestellt ist. Der Frequenzmesser 38 erzeugt seinerseits ein erstes elektrisches Signal, das
der gemessenen Differenzfrequenz entspricht. Das erste elektrische Signal wird dann einem Subirahierer40 zugeführt,
wo es von einem zweiten Signal abgezogen wird., welches der Frequenzdifferenz der B- und der C-Schwingung
entspricht, wobei keine Korrektur der C-Schwingungs-Frequenz benötigt wird.
Das Ergebnis dieser Subtraktion ergibt ein drittes elekirisches
Signal, das einem Prozessor» hschnit ι des Subtrahieren
40 zugeführt wird, wodurch ein Korrekturfaktor-Signal , Jzeugl wird, das die notwendige Frequenzverschiebung
der C-Schwingung bewirkt. Dieser Prozessorabschnitt des Subtrahieren40 kann wieder Prozessor28
in Fig. 3 aufgebaut sein und betrieben werden. Der Frequenzmullip!izierer42 empfangt zwei Eingangssignale,
das Korrekturfaktorsignal an seinem Frequenzeingang und das C-Belriebsfrequenzsignal an seinem
Takteingang. Das sich ergebende Ausgangssignal des Frequenzmulliplizierers42 ist eine stabilisierte Frequenz,
die die um das Korrekturfaktorsignal verschobene Frequenz des Taklsignals (C-Schwingung) darstellt.
Fig. 5 zeigt den gleichen Zweifrequenz-Oszillator 11
und den Mischer 22. wie er in Fig. 3 und 4 dargestellt ist. Zusätzlich ist gezeigt, daß sich Resonator 10 und Elektroden
12 des Oszillators 11 innerhalb einer HeizkammerSO
befinden, die außerdem ein Heizelement 51 zum Regeln der Betriebstemperatur des Resonators 12 enthält. In
Fig. 5 ist außerdem ein Frequenzmesser38 wie in Fig.
4, ein Prozessor56, ein Differenzverstärker58 mit zwei
Eingängen und ein Referenzsignalgenerator 60 dargestellt.
Diese Ausführungsform unterscheidet sich erheblich von den anderen, wo die Temperatur des Resonators 10
der Umgebungstemperatur folgen darf. Bei dieser Ausführungsform
wird das Heizelement 51 dazu benutzt, die Temperatur des Resonators 10 über die Umgebungstemperatur
anzuheben und diese erhöhte Temperatur durch Veränderung der dem Heizelement 51 zugeführlen elektrischen
Leistung in Abhängigkeit von Änderungen der Wärmeverluste auf einen vorbestimmten Temperatur-
IO wert zu regeln. Änderungen der Heizverlusle können z. B.
durch wechselnde Außentemperaturen entstehen.
Um Temperaturverschiebungen innerhalb der HeizkammerSO
entgegenzuwirken, wird das temperaturabhängige Differenzfrequenzsignal am Ausgang des Mischers
22 benutzt, um eine geschlossene Rückkopplungsschleife
mit Nullsuche zu steuern, welche den Frequenzmesser 38, den Prozessor 56, den Differenzverstärker58
und das Heizelement 51 umfaßt. Das Differenzfrequenzsignal vom Mischer 22 wird dem Frequenzmessungs-' 'ntersystem38
zugeführt, wo die Frequenz dieses Signals gemessen wird, um ein entsprechendes elektrisches
Signal zu erzeugen, welches dann an den Prozessor56 übertragen wird. Der Prozessor56 benutzt dieses Signal
zum Erzeugen eines Temperatur-Korrekturfaklors in ähnlicher Weise, wie Prozessor28 in Fig. 3 ein Korrekturfaktorsignal
für eine gemessene Frequenz eriergi. Da
jedoch die Temperatur der Heizkammer 50 sehr nahe am Sollwert gehalten wird, k:nn die Polynom- oder Kurvenanpassungsmelhodt.
falls sie benutzt wird, viel einfacher sein und mit einem oder zwei Gliedern auskommen.
Der Referenzsignalgenerator 60 erzeugt einen Signalpegel. I
der mit dem Temperalur-Korrekturfaklor vom Prozessor
56 verglichen wird. Um diesen Vergleich durchzuführen, werden das vom ReferenzsignalgeneratoroO erzeugte
Signal und das vom Prozessor56 erzeugte Temperatur-Korrekturfaktorsignal
einzeln den beiden Eingängen des Differenzverstärker58 zugeführt. Der Differenzverslärker58
erzeugt ein verstärktes Differenzsignal aus seinen beiden Eingangssignalen. Dieses Ausgangs-Difierenzsignal
wird vom Differenzverstärker58 dem Heizelemenl5l zun kontinuierlichen Ändern der Heizleistung
zugeführt. Diese Änderungen in der dem Heizelement 51 zugeführten Leistung bewirken, daß die Temperatur in
der Heizkammer50 innerhalb einer vorbestimmten Toleranz bezüglich der vorgewählten Temperatur bleibt,
so daß Temperaturverschiebungen korrigiert werden, die Änderungen der Frequenzen der B- und C-Schwingungen
des Resonators 10 hervorrufen wurden.
In jedem der oben beschriebenen Oszillatorschallungen
kann die Belriebsfrequenz mittels mechanischer
und/oder elektrisch variabler Komponenten von außen eingestellt und/oder gesteuert werden. Zur Steuerung der
Belriebsfrequenz können beispielsweise VCXO-Steuerungen zur Anwendung kommen. Eine ew.erne Steuerung
oder Justierung der Betriebsfrequenz kann auch Jn j der Kom'pensalionsschleife erfolgen. Beispielswelse kann
durch einen Varactor eine Änderung der Phasenverschiebung in einem Resonanzfrequenzpfad erfolgen, um die
Frequenz innerhalb vorgegebener Toleranzgrenzen zu halten.
Claims (10)
1. Oszillatoranordnung mit einem Quarzresonator, der gleichzeitig in zwei verschiedenen Schwingungsarten
schwingt, deren Frequenzen in unterschiedlicher Weise temperaturabhängig sind, mit einer
Erregerschaltung für die getrennte Anregung der beiden Schwingungsarten, sowie mit einer Auswerteschaltung,
die die Frequenzen der beiden Schwingungsarten derart kombiniert, daß eine im wesentlichen
temperaturstabile Ausgangsfrequenz entsteht, dadurch gekennzeichnet,- daß die kristallographische
Orientierung des Quarzresonators (10) im wesentlichen {yxwl) 21 ,93733,93° beträgt und daß
eine Regeleinrichtung (22, 24, 28) für die weniger temperaturabhängige Frequenz vorgesehen ist, der
die stärker temperaturabhängige Frequenz als ein die Temperatur des Quarzresonators darstellendes Regelsignal
zugeführt wird.
2. Os'illatoranordnung nach Anspruch 1, dadurch
<g?kennzeichnet, daß die die Temperatur des
Quarzresonators(lO) darstellende Frequenz diejenige der 5-Schwingungsart ist, die über einen vorgegebenen
Temperaturbereich eine im wesentlichen lineare Frequenz/Temperalur-Charakteristik aufweist,
während die andere Frequenz diejenige del C-Schwingungsarl ist, die im wesentlichen eine Frequenz/Temperatur-Charakterislik
dritter Ordnung in dem vorgegebenen Temperaturbereich hat.
3. Oszillaloranordnung nach Anspruch 2. dadurch gekennzeichnet, daß die Regeleinrichtung (22,
24,28,30 uzw. 32,38,50,51,56,58,60 bzw. 22,38,40,
42) folgende Bauewiheilei·· jufweist: einen Frequenzmischer
(22), der mit der Erregerschaltung verbunden ist und die Frequenzsignale ί τ B- und der C-Schwingungsart
empfängt und ein drittes Signal erzeugt, dessen Frequenz der Temperatur des Quarzresonators
(10) entspricht, einen Frequenzmesser (24 bzw. 38), der die Frequenz des dritten Signals mißt und ein
viertes Signal erzeugt, welches eine codierte Information über die Frequenz des dritten Signals darstellt
sowie einen Prozessor (28 bzw. 56 bzw. 40), der aus dem vierten Signal ein fünftes Signal erzeugt, das eine
Funktion der Temperatur des Quarzresonators ist. *5
4. Oszillaloranordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Prozessor(28) das
fünfte Signal nach der Kurvenanpassungsmethode erzeugt.
5. Oszillatoranordnung nach Anspruch 3. dadurch gekennzeichnet, daß der Prozessor (28) das
fünfte Signal nach einer Tabellensuch- und Inlerpolationsmethode erzeugt.
6. Oszillatoranordnung nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch eine Anzeigeeinrichtung (30) für den
Wert des fünften Signals.
7. Oszillatoranordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein Frequenzmesser(24)
für den Empfang eines Signals unbekannter Frequenz von einer externen Signalquelle(26) vorgesehen ist ω
und ein sechstes Signal erzeugt, welches der Frequenz dieses unbekannten Signals entspricht, daß das Frequenzsignal
der C-Schwingungsart ebenfalls dem als Zähler ausgebildeten Frequenzmesser zugeführt wird
und ein Zeitbasis-Referenzsignal für die Messung der Frequenz sowohl des dritten als auch des Signals
unbekannter Frequenz darstellt, und daß der Prozessor einen Korrekturfaktor für den gemessenen Wert
der Frequenz des Signals unbekannter Frequenz erzeugt, und mit diesem das sechste Signal bezüglich
der Temperatur korrigiert.
8. Oszillatoranordnung nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch eine Anzeigeeinrichtung (30) für das
sechste Signal.
9. Oszillatoranordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Regeleinrichtung weiterhin
folgende Bauteile enthält: eine Heizkammer (50,51), die den Quarzresonator (10) umgibt und ihn
auf einer vorbestimmten Temperatur hält, einen Differenzverstärker (58), der mit der Heizkammer
verbunden ist und ihr eine Versorgimgsspannung derart
zuführt, daß ihre Innentemperatur innerhalb eiiies vorgegebenen Genauigkeitsbereichs gehalten wird
sowie einen Referenzsignalgenerator (6Oj, dessen voreingestellter Signalpegel als Sollwert für die Heizkammertemperatur
zusammen mit dem fünften Signal dem Differenzverstärker zugeführt wird.
10. Oszillatoranordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Prozessor (28 bzw. 56
bzw. 40) eine Subtraktionseinrichtung (40) enthält, welche vom Wert des vierten Signals einen Wert abzieht,
welcher dem Wert des vierten Signals entspricht, wenn die Frequenz der C-Schwingungsart
sich innerhalt eines vorbestimmten Genauigkeitsbereichs der Ausgangsfrequenz befindet, und der Prozessor
aus de.m Subtraktionsergebnis das fünfte' Signal
erzeugt, und daß die Regeleinrichtung einen Frequenzmultiplizierer(42) mit einem Takt- und einem
Frequenzeingang aufweist, welchem das Signal der C-Schwingiingsart und das fünfte Signal zugeführt
werden, und welcher ein Ausgangssignal erzeugt, dessen Frequenz innerhalb eines vorgegebenen Genauigkeitsbereichs
liegt.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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OD | Request for examination | ||
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: SCHULTE, K., DIPL.-ING., PAT.-ASS., 7030 BOEBLINGE |
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D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8380 | Miscellaneous part iii |
Free format text: SP. 1, Z. 62 LAUTET RICHTIG: DAS FREQUENZSIGNAL SP. 6, Z. 47 RICHTIG: KURVE KANN ALGEBRAISCH SP. 6,Z. 64 RICHTIG: TEMPERATUR DER B- SP. 8, GLEICHUNG (7): PLUS/MINUS AENDERN IN "GLEICH" |
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |