DE2721031A1 - Strukturpruefer - Google Patents
StrukturprueferInfo
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- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/904—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents with two or more sensors
Description
Die vorliegende Erfinäun^ bezieht sich auf Prüfgeräte
zur zerstörungsfreien Prüfung, bei welcher Wirbelströme auu
Nachweis von in der Oberfläche und unter der Oberfläche liegenden Strukturinhomogenitäten oder verschiedenen Fehlern
in ausgedehnten abzutastenden, elektrisch leitenden Objekten verwendet v/erden, insbesondere betrifft sie hoch- und
niederfrequenten Wirbelströme verwendende Wirbelstrom-Prüfgeräte mit automatischer Erkennung und unabhängiger Registrierung
von in der Oberfläche und unter der Oberfläche Hegenden Strukturinhomogenitäten oder Fehlern. Die Erfindung
ist auf die Überwindung von bei derartigen Geräten entstehenden verschiedenen technologischen Schwierigkeiten
gerichtet»
Es ist gut bekannt, daß die abzutastenden Objekte auf in der Oberfläche oder unter der Oberfläche liegende
Strukturinhomogenitäten oder Fehler sowie auch zugleich
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auf "beide Typen der Strukturstörungen hin unter Verwendung
einer "bekannten Frequenz des !Erregerfeldes geprüft werden«
Diese bestehenden Verfahren und Einrichtungen zur V.'irbelstromprüfung
von ausgedehnten abzutastenden,elektrisch leitenden Objekten eignen sich jedoch nicht für die unabhängige
Erkennung in der Oberfläche und unter der Oberfläche
liegender Strukturinhomogenitäten und Fehler.
iiS wurden auch hochfrequente und niederfrequente
Wirbelströme als Mittel zur irennung der in der Oberfläche und der unter der Oberfläche liegenden Dafekte bei der zerstörungsfreien
Prüfung des Objekts vorgeschlagen.
Ein bekanntes Prüfgerät (s. USA-Patent Nr. 2240466, Kl.
324-40) umfaßt einen Hoch- und einen Niederfrequensgenerator,
Vvirbelstromwandler, ein Stroh system mit Synchronisator,
einen Hochfrequenz- und einen ßiederfrequenz-Meßkanal
und eine Registriereinrichtung. Bei diesem Gerät beruht die unabhängige Erkennung der in der Oberfläche und der unter
der Oberfläche liegenden Defekte auf der Steuerung des Hochfrequenz- und des NiederfrequeriZ-Meßkanals gemäß dem Programm
des Synchronisators, der die Zeit der Arbeit der Erregergeneratoren
vorgibt. Die Folge ist, daß bei in der Oberfläche liegenden Defekten einer bestimmten Ausdehnung beide
Meßkanäle ansprechen und gleichsam das gleichzeitige Erscheinen eines in der Oberfläche wie eines unter der Oberfläche
liegenden Defekts signalisieren. Dabei werden die
nicht
einzelnen Abschnitte des abzutastenden Prüfobjekts/gleich-
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zeitig auf dio in der Oberfläche und die unter der Oberfläche liegenden JJefckte hin geprüft. Die Genauigkeit
des unabhängigen Nachweises der in der Oberfläche und der unter der Oberfläche liegenden Defekte bei dem bekannten
Gerät ist unzureichende
Zweck der vorliegenden Erfindung ist die Behebung der
aufgeführten Nachteile und Schaffung eines Prüfgeräts ei·**
höhter Genauigkeit mit unabhängiger Erkennung in der
Oberfläche und unter der Oberfläche liegender Inhomogenitäten
oder Fehlci' in ausgedehnten abzutastenden Objekten.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Art, in der die ivießsignale verarbeitet werden,
dahingehend zu verändern, daß sie unabhängig davon, ob in der oder unter der Oberfläche des zu prüfenden Materials
die sie verursachende Defekte liegen, sehr schnell, und zwar getrennt erkannt werden,.
Zur Lösung der angegebenen Aufgabe und Erreichung des
angegebenen und anderer Ziele wird mit der vorliegenden Erfindung ein Strukturprüfer zur zerstörungsfreien Prüfung
der inneren und Oberflächenstruktur von sich kontinuierlich bewegenden elektrisch leitenden Objekten unter Verwendung
von '.Virbelströmen vorgeschlagen, der einen Genera-
ein ein
tor für/hoch- und einen für/niederfrequentes Signal, eines
für Betrieb mit vorzugsweise Oberflächen-, das andere für
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solchen mit vorzugsweise verdeckten Defekten des zu prüfenden Objekts, Wirbelstromwandler zur Umwandlung
der aufgeführten, ^eneratorsignale in Wirbelatröme, die mit
den von ihnen induzierten. Feldern in den Defekten des Materials
verkettet sind, und Meßkanäle in den Ausgängen der aufgeführten Wirbelstromv/andler zur Signalisierung des lürscheinens
von Defekten der Materialstruktur an sekundäre Registriergeräte umfaßt und sich dadurch kennzeichnet, daß
die Wirbelstromwandler in der Bev/egungslinie der zu prüfenden
Objekte in einoin Abr-:t·· :id voneinander angeordnet sir..!,
vbtei dar larbelstroimvandTer, der mit hochfrequenten Signsien
arbeitet und die Objekte auf die Oberflächendefekte hin prüft, vor dem niederfrequenten V.irbelstromwandler nach
der Bewegungsrichtung der Objekte hin angeordnet ist, und zwischen den Meßkanälen der . Wirbelstromwandler
eine Selektionseinheit mit einem Strobgenerator eingeschaltet ist, derart, daß der Strobimpuls den Ideßkanal
des niederfrequenten WirbelsOromwandlers bei Erscheinen
eines Defektsignals aus dem hochfrequenten Wirbels trumwandler sperrt.
Eine solche technische Lösung gestattet es vor allem, die Oberflächen- und verdeckten Defekte beim Nachweis mit
mehr Sicherheit zu trennen, dadurch, daß die den Strobimpulserzeugende
Selekt,<Lonseinheit mit den von den Wirbelstromwandlern
gelieferten Defektsignalen selbst gesteuert, d. h, in Abhängigkeit von der Zeit des Erscheinens der De-
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fekte im zu prüfenden Werkstück umgeschaltet wird. Außerdem verhindert die Selektionseinheit bei beliebiger
■Ausdehnung und Tiefenlage der Defekte ein Fehl ansprechen der
Kegistriergeräte für die Oberflächen- und verdeckten Defekte,
was bei der Schnellkontrolle von ausgedehnten Objekten besonders nichtig ist.
Gemäß anderen Ausführungsformen der vorliegenden
Erfindung wird ein Strukturprüfer vorgeschlagen, der dadurch gekennzeichnet ist, daß die Selektionseinheit Schwelleneleiaente
einschließt, jeweils eingeschaltet zwischen dem Meßkanal des hoch- bzw. niederfrequenten Wirbelstromwandlers
und dem erwähnten Strobgenerator, dessen Ausgang auf einen dem Ausgang des Meßkanals des niederfrequenten Yiirbelstromwandlers
nachgeschalteten str^bimpulsgesteuerten Verstärker (Strobverstärker) arbeitet.
Diese Ausführung der Selektionseinheit eignet sich speziell dafür, die Funktionen des hoch- und des niederfrequenten
Kanals optimal aufeinander abzustimmen, so daß falsche Signalgaben bestimmter Zustände der zu prüfenden
Materialien unterbleiben.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform " der vorliegenden
Erfindung wird ein Strukturprüfer vorgeschlagen, der dadurch gekennzeichnet ist, daß auf den Eingang des
Strobgenerators ein aus einem Geschwindigkeitsgeber und Gleichstromverstärker bestehender Spannungswandler zur iär-
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zeugung einer der Bewegungsgeschv/indigkeit der zu prüfenden
Objekte proportionalen Spannung arbeitet.
Diese schaltungotechnische Lösung ist aus der Sicht der Sicherung der störungsfreien Arbeit des Strukturprüfers
besonders dann nützlich, wenn der vom hochfrequenten uirbelstromwandler
erfaßte Defekt des katerials den niederfrequenten Wirbelstromwandler nicht zum Ansprechen bringt. In diesem
Fall erhält man durch den Geachwindigkeitsgeber und Gleichstromverstärker ein Signal, das die Sperrung des
Kanals des niederfrequenten Wirbelstromwandlers aufhebt.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung wird schließlich ein Strukturprüfer vorgeschlagen, der
dadurch gekennzeichnet ist, daß jedes Schwellenelerneni;
einen Schmidt-Trigger einschließt, der im Eingang einer dem Strobgenerator vorgeschalteten Differenzierkette liegt.
Diese technische lösung stellt eine der wirksamsten Schaltungen . der Selektionseinheit dar,
wie sie im erfindungsgemäßen Apparat eingesetzt wird.
Im folgenden wird die vorliegende Erfindung anhand des in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels
näher erläutert.
Andere Ziele und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden später aus der Betrachtung der Beschreibung und
Zeichnung klar·
In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 die Funktionsschaltung eines Strukturprüfers,
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- ίο -
Fig. 2 ßpannungsdiagramrae für die einzelnen Schaltteile
gemäß Fig. 1 zur Veranschaulichung der Funktion des
ßtrukturprüfers im Fall des Wachweises eines Oberflächendefekts größerer Ausdehnung;
Fig. 3 desgleichen im Fall des Nachweises eines Oberflächendefekts
mit einer Ausdehnung, bei welcher er nur vom hochfrequenten Wirbelstromwandler erfaßt wird;
Fig. 4 desgleichen im Fall des Nachweises eines unber
der Oberfläche liegenden Defekts.
Die unabhängige Erkennung in dor Oberfläche und
unter der Oberfläche liegender Strukturinhomogenitäten und Fehler in ausgedehnten abzutastenden elektrisch leitenden
Objekten geht vor sich mit Hilfe von unabhängigen Wirbelstromwandlern, die aus entsprechenden Generatoren für
ungedämpfte kontinuierliche Schwingungen hoher bzw. niedriger Frequenz gespeist werden und die in der Längsrichtung
des Prüfobjekts konstruktiv so verteilt sind, daß im Sinn der Bewegung des abzutastenden Objekts der
hochfrequente Wirbelstromwandler als erster, der niederfrequente als zweiter kommt. Mit den von den erkannten Defekten
herrührenden Ausgangssignalen des Meßkanals für hohe und des für niedrige Frequenzen wird automatisch, in Abhän·»·
gigkeit von der Geschwindigkeit der Abtastung, ein speziell les Strobsystem umgeschaltet, das einen Stroblmpuls zur
Sperrung des Ausgangs des niederfrequenten Meßkanals für die
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Dauer des Durchlaufs der in der Überfläche des Prüfobjekts
liegenden Strukturinhoiaogenitäten oder Fehler durch die Arbeitszone
des niederfrequenten Wirbelstromwandlers erzeugt·
Die in Fig. 1 dargestellte ochaltung des Prüfgeräts
Generator
enthält einen Generator 1a für hohe und einen/ib für niedrige
Frequenzen. An die Generatoren sind entsprechende Erregerspulen zweier Durchlauf-WirbeIstromwandler 2a und
2b für hohe und niedrige Frequenzen angeschlossen, die längs
der Längsachse des zu prüfenden Objekts 3» d.h. in Richtung
der Abtastung, in einem Abstand hintereinander angeordnet
sind. Die. Meßspulen der Viirbelatroinwandler 2a, 2b sind
.. O1 n an die Eingänge des Meßkanals 4a für hohe bzv/.des
Meßkanals ^3
,4b für niedrige Frequenzen angeschlossen. Ausgangsseitig
sind die Meßkanäle an eint? Selektionseinheit 5 angeschlossen,
in deren Eingängen Schwellenelemente 6a und 6b liegen. Die Ausgänge dieser letzteren sind mit Differenzierketten
7a und 7b verbunden, die an einen Strobgenerator 8 angeschlossen
sind. Der Ausgang des Generators arbeitet auf den einen Eingang eines Strobverstärkers 9>
an dessen anderem Eingang der Ausgang des Meßkanals 4b für niedrige Frequenzen
liegt. Die Ausgänge des Meßkanals 4a für hohe Frequenzen und des Strobverstärkers 9 sind entsprechend an Registriergeräte
10a und 10b zur unabhängigen Registrierung der in der Oberfläche und der unter der Oberfläche liegenden
Strukturinhomogenitäten oder Fehler angeschlossen. Ein Abtastgeschwindigkeitsgeber
11 ist über einen Gleichstromverstärker 13 mit dem Strobgenerator 8 gekoppelt.
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Die Einrichtung arbeitet wie folgt.
Die den Generatoren 1a und 1b für kontinuierliche unge· dämpfte Schwingungen (die 'Xxägerfrequenzen werden je nach
Durchmesser und ivlaterialbeticiiaffenheit des Prüfobjekts gewählt)
entnommenen Spannungen hoher und niedriger Frequenz werden den Erregerspulen der entsprechenden wirbelstromwandler
2a und 2b zugeleitet 9 Bei .erscheinen eines Oberflächenfehlers
oder einer Strukturinhomogenität größerer Ausdehnung im zu prüfenden Objekt J>
(s# Fig· 2) spricht dar1 i:i
Richtung der Abtastung des Prüfobjekts J> zuerst liegende
hochfrequente .Virbclstronr.vandler 2a an, so daß ein Signal
iu Zeitpunkt t^ im Meßkanal 4a für hohe Frequenzen erscheint.
Das Signal wird dabei auch am Eingang des Registriergeräts 10a und an dem einen Eingang der Selektionseinheit 5» d.h. im Kreis des Ansteuerungsimpulses für den
Strobgenerator 8 wirksam. Ein rechteckiger Impuls entsteht für die Zeit t-j-^ am Ausgang des Schwellenelements 6a. In
der Differenzierkette 7a wird aus der Vorderflanke des vom
Schwellenelement 6a gelieferten Impulses ein Änsteuerungsimpuls für den Strobgenerator 8 gewonnen, der nach dem Ansprechen
den Sfcrobverstärker 9 Qit der vorderen negativen
Flanke seines Impulses sperrt« Nach Ablauf der Zeit t = »»
mit d als Abstand zwischen Anfang der Arbeitszone des Wirbelstromwandlers 2a und Anfang der Arbeitszone des Wirbelstromwandlers 2b und V als Geschwindigkeit der Abtastung
spricht der in der Abtastrichtung hin als zweiter kommen-
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de niederfrequente wirbelstromv/andler 2b an, so daß ein Signal
im Zeitpunkt t-, im Meßkanal 4b für niedrige Frequenzen
erscheint. Das Signal wird dabei auch an dem anderen Eingang der Selektionseinheit 5» d.h. im Kreis des Rückstellimpulses für den Strobgenerator 8, und am für das Signal des
Defekts bestimmten Eingang des Strobverstärkers 9 v/irksam. Der letztere ist zu dom Zeitpunkt t± immer noch durch den
Strobimpuls aus dem Generator 8 gesperrt und bleibt in die-. eem Zustand, bis die in der Oberfläche liegende Struktur—
Inhomogenität oder der Oberflächujfehler die Λΐ-beitszone
des niederfrequenten VJirbelstromwandlerü 2b durchlaufen
hat.
Ein rechteckiger Impuls entsteht für die Zeit t^t^, am
Ausgang des im Kreis des Hucksteilimpulses liegenden Schwellenelements
6b, In der Differenzierkette 7b wird aus der Hinterflanke des vom Schwellenolement 6b gelieferten Impulses
im Zeitpunkt t^, zu dem die in der Oberfläche liegende
Strukturinhomogenität oder der Oberflächenfehler die Arbeitszone des niederfrequenten .»irbelstr-omwandlers 2b gerade
passiert, ein Ruckste11impuls gewonnen, mit dem die
Sperrung des Strobverstärkers 9 aufgehoben wird»
Über den Strobverstärker 9 gelangt das Signal aus dem Meßkanal 4b für niedrige Frequenzen 4b zum Registriergerät
10b.
Die Maximaldauer des Strobimpulses wird für beliebige Abtastgeschwindigkeit mit der über den Gleichstromverstärker
13 am Strobgenerator 8 anliegenden Spannung des Ab-
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tastgeüchwindigkeitcyebers 12 vorgegeben. Sie ist stets etvwas
größer als t,, =^, mit D als Abstand zwischen Anfang der
Arbeitszone des einen und I&ide der Arbeitszone des anderen
der beiden Wirbelstroinv/aridler 1a und 1b.
Bei Durchlauf oiner Inhomogenität der Oberflächenstruktur
oder eine3 Fehlers mit einer Ausdehnung, bei der nur der hochfrequente .»'irbelstromwandler 2a (Fig. J) anspricht,
erscheint im Zeitpunkt t^ ein Signal im Meßkanal
4a für hohe !'"requenzcn» Das Signal wird dabei auch am Eingang
(Us Registriergeräts 10a und am Schwellenelement 6a wirksam. Am Ausgang des letzteren entsteht für die Zeit t^
to ein rechteckiger Impuls, mit dessen in der Differenzierkette
7a verarbeiteter Vorderflanke im Zeitpunkt t* der
ßtrobimpulSoenera.tor 8 angestoßen wird. Hierdurch wird der
Strobverstärker 9 für die Dauer des Durchlaufs der in der
Oberfläche liegenden Strukturinhomogenität oder des Oberflächenfehlers
durch die Arbeitszone des niederfrequenten Wirbelstromwandlers 2b gesperrt.
Beim Ausbleiben des Rückstellimpulses kippt der
Strobimpulsgenerator 8 von selbst in den Anfangszustand
zurück, weil mit der über den Gleichstromverstärker am Strobgenerator 8 anliegenden Spannung des Abtastgeschwindigkeit
sgebers 11 eine bestimmte Maximaldauer des Strobim-
eine
pulses (etwas größer als t^ = -^ ) für/beliebige Abtastgeschwindigkeit
vorgegeben wirde
Bei Durchlauf einer unter der Oberfläche liegenden.
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Strukturinhomogenität oder eines verdeckten Fehlers (s. Fig. 4·) spricht nur der niederfrequente WirbeIstromwandler
2b an. Dabei erscheint am ausgang des Meßkanals 4b für niedrige itequenzen ein Signal, das über den nicht gesperrten
Strobverstärker 9 zum Registriergerät 10b gelangt, l'er im
Kreis des Schwellenelements 6b und der Differenzierkette 7b
gewonnene Rückstellimpuls bleibt dabei ohne Wirkung auf den Strob.yerstärker 8.
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Claims (4)
1.) Strukturpriifer zur zerstörungsfreien Prüfung der inneren
und Oberflächenstruktur von sich kontinuierlich bewegenden elektrisch leitenden Objekten unter Verwendung von Virbelströmen,
der einen Generator für hoch- und einen für niederfrequentes Signal, für den Betrieb mit vorzugsweise verdeckten Defekten
des zu prüfenden Objekts, Wirbelstromwendler zur Umwandlung der Generatorsignale in Wirbelströme, die mit den von ihnen
induzierten Feldern in den Defekten des Materials verkettet sind, und Meßkanäle in den Ausgängen der aufgeführten Wirbelstromwandler
zur Signalisierung des Erscheinens von Defekten der Materialstruktur an sekundäre Registriergeräte umfaßt,
dadurch gekennzeichnet, daß die Wirbelstromwandler (2a, 2b) in der Bewegungslinie der zu prüfenden
Objekte in einem Abstand angeordnet sind, wobei der V/irbel-
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stromwandler (2a), der mit hochfrequenten Signalen arbeitet
und die Objekte (3) auf die Oberfllichendefekte hin prüft, in
Bewegungsrichtung der Objekte (3) vor dom niederfrequenten Wirbelstroniwcndler angeordnet ice, und zwischen den Meßkanälen
(Aa, Ab) der Wirbel st ronv/andler eine Selektionseinheit (5) mit
Strobgenerator (8) eingeschaltet ist, derart, daß der Strobimpuls den Heßknnal (Ab) des niederfrenuenten V/irbelstroinwrndlers
(2b) bei Erscheinen eines Signals des Defekts r.us dem
hochfrequenten Y/irbelstromwandler (2a) sperrt.
2. Strukturprüfer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet
, daß die aui/reii'hrte ,c-elektionr.einbr;it (*■)
Schvcllenelemr-v-te (6a, 6b) einschließt, die jeweils zwischen dem
Meßksnal (Aa bzw. Ab) des hoch- b:iv/. niederfrequenten V/irbelstromwandlers
(2a bzw. 2b) und dem Strobgenerator (8) eingeschaltet sind, dessen Ausgang auf einen dein Ausgang des Meßkrnals
(Ab) des niederfrequenten V/irbelstrorawandlers (2b) nachgeschalteten
Strobverstärker (9) arbeitet.
3. Strukturprüfer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet
, daß auf den Eingang des erwähnten Strobimpulsgenerators (8) ein aus einem Geschwindigkeitsgeber (12) und
Gleichstromverstärker (13) bestehender Umformer (11) zur Erzeugung einer der Bewegungsgeschwindigkeit der zu prüfenden Objekte
(3) proportionalen Spannung arbeitet.
4. Strukturprüfer nach Anspruch 2 oder 3,dadurch gekennzeichnet
, daß jedes Schwellenelement (6a, 6b)
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einen Schmidt-Triffier enth=», der i. Eine·»« einer den Stromgenerator
(β) vorbehaltet™ Difronmzierkette (7« b». 7b)
liegt.
8Π»;: '■■■■' η?7 ζ.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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- 1977-05-10 DE DE2721031A patent/DE2721031C3/de not_active Expired
Also Published As
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