DE2701106A1 - Verfahren und vorrichtung zum planparallelen ausrichten einer halbleiterscheibe zu einer fotoschablone - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum planparallelen ausrichten einer halbleiterscheibe zu einer fotoschabloneInfo
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Description
Verfahren und Vorrichtung zum planparallelen Ausrichten einer Halbleiterscheibe zu einer
Fotoschablone
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum planparallelen Ausrichten einer Halbleiterscheibe zu einer Fotoschablone
in einer Positionier- und Belichtungsvorrichtung, welche nach dem Kontakt- oder Abstandverfahren arbeitet.
Die Erfindung betrifft desweiteren eine Einrichtung zur DurohfUhrung des Verfahrens·
Es ist üblich, bei der Herstellung von integrierten Schaltkreisen durch Belichten mittels einer Schablone
bestimmte Muster im lichtempfindlichen Lack, der sich auf einer Halbleiterscheibe befindet, zu erzeugen·
Diese Lackschichten dienen dann als Ätzmaske für Oxidbeziehungsweise Metallschichten· Die Belichtung des
Lackes erfolgt vorwiegend durch die Kontaktkopie, daß heißt, die Schablone und die zu belichtende Halbleiterscheibe
werden während der Belichtung in engen Kontakt gebracht« Vor der Belichtung werden Fotoschablone und
Halbleiterscheibe zueinander positioniert, wobei sie in geringem, gleichmäßigen Abstand voneinander bewegt
werden müssen. Dazu muß die Halbleiterscheibe zur Fotoschablone ausgerichtet werden, um eine gleichzeitige
Scharfstellung von zwei Schablonen- und Scheibenpunkten durch das Justiermikroskop zu ermöglichen· Besonders
hoch sind die Anforderungen an das planparallele Aus-
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richten von Schablone und Halbleiterscheibe bei der neuerdings eingesetzten Abstandekopie, wobei auch
während der Belichtung ein geringer und sehr gleichmäßiger Abstand von Fotoschablone und Halbleiterscheibe
eingehalten werden muß· Das Ausrichten von Schablone und Scheibe erfolgt im allgemeinen dadurch,
daß die Scheibe in engen Kontakt zur Schablone gebracht wird,zum Beispiel durch mechanisches Andrücken oder
durch Vakuumdruck·
Nachteilig bei dieser Handhabung ist, daß es beim Ausrichten der Scheibe an der Schablone zu Verletzungen
der Lackschicht auf der Scheibe und Fotoemulsionsschicht kommt· Das führt zu einem hohen Verbrauch an
Schablonen und zu einem Ausbeuteabfall bei der Herstellung mikroelektronischer Bauelemente·
Es wurde auch schon vorgeschlagen, außerhalb der Scheibe einen Abstandsring anzuordnen, dessen Dicke größer
ist als die Scheibendicke· Dadurch kommt die Schablone nur mit diesem Abstandsring, nicht aber mit der Scheibe
in Berührung·
Nachteilig an diesem Verfahren ist, daß Scheibendickenschwankungen
und die Heiligkeit der Scheiben zuunterschiedlichen Abständen von Schablone und Scheibe führen,
so daß eine Positionierung oder eine Beschichtung mit einem bestimmten, gleichmäßigen Abstand bei den erfahrungsgemäß
schwankenden Scheibendicken praktisch undurchführbar ist·
Weiterhin wurde vorgeschlagen, den Basisvorsprung eines Normals gegen die Scheibe zu drücken, wobei sich ein
Abstand zwischen Schablone und Scheibe einstellt, der gleich der Dicke des Basisvorsprunges des Normals ist·
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27Ü11Ü6
Dieses Verfahren ist mit größeren technischen Aufwand verbunden und bedeutet gleichzeitig eine Verlängerung
der Taktzeit, da ein zusätzlicher Arbeitsgang für das Ein- und Ausschwenken des Normals erforderlich ist·
Zweck der Erfindung ist es, die Verletzungen von Fotoschablone und Halbleiterscheibe bei der Kontakt- und
Abstandskopie auf ein Mindestmaß zu beschränken, um eine Einsparung von Fotoschablonen und eine Ausbeutesteigerung
beziehungsweise eine Kosteneinsparung zu erzielen«
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu schaffen, welches ein planparalleles Ausrichten der
Halbleiterscheibe zurFotoschablone bei weitgehend reduzierter Berührungsfläche zwischen Halbleiterscheibe und
Fotoschablone gestattet·
Die Erfindung soll des weiteren eine Einrichtung zur Durchfiüirung des Verfahrens einschließen·
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß der Rand der Halbleiterscheibe konzentrisch verbogen,
danach an die Fotoschablone angedrückt und planparallel ausgerichtet wird·
Gegebenenfalls ist die Halbleiterscheibe in ihrer Lage unmittelbar nach dem Verbiegen noch zu arretieren·
Bezüglich der Einrichtung vdrd die Aufgabe, ausgehend
von einem absenkbaren Aufspanntisch, dessen plane Auflagefläche mittels einer Kugelkalottenlagerung schwenkbar
ist, dadurch gelöst, daß konzentrisch zum Aufspanntisch ein relativ zu diesen, längs der gemeinsamen
Symmetrieachse, verschiebbarer Außenring angeordnet ist·
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Dabei wird vorteilhafterweise die gemeinsame Berührungsfläche
zwischen Aufspanntisch und Außenring stufenförmig gesetzt und in ihrem kreisringförmigen Teil,über einen
Kanal mit Vakuum oder einem gasförmigen Medium beaufschlagt,
je nachdem, ob der Außenring gegenüber dem Aufspanntisch
angehoben oder abgesenkt werden soll. Zweckmäßig ist es auch, auf der Auflagefläche des Aus-Benringes
eine Dichtung konzentrisch anzuordnen· Weiterhin sei bemerkt, daß der Außenring in einer definierten
Lage mittels zweier Anschläge arretierbar ist.
Durch die Erfindung werden die zum Kontakt kommenden Berührungsflächen von Fotoschablone und Halbleiterscheibe
reduziert, die Verschmutzunge- und Beschädigungsgefahr
vermindert und die Ausbeute sowie die Qualität der Halbleiterstrukturen erhöht· Damit werden letztendlich auch die Kosten für die Herstellung von Halbleiterbauelementen
gesenkt.
Die Erfindung soll nachstehend an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden.
In den zugehörigen Zeichnungen zeigen:
Fig. 1: einen rotationssymmetrischen Schnitt der Einrichtung zum planparallelen Ausrichten
einer Halbleiterscheibe zu einer Fotoschablone
Fig. 2: einen rotationssymmetrischen Schnitt der Einrichtung zum planparallelen Ausrichten
einer Halbleiterscheibe zu einer Fotoschablone nach dem Ausrichten.
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Diese Einrichtung stellt eine Punktionsgruppe innerhalb einer Positionierungs- und Belichtungsvorrichtung dar·
Sie besteht grundsätzlich aus einem Aufspanntisch 1, auf dessen Aufspannfläche 2 eine Halbleiterscheibe 3 mittels
Vakuum ansaugbar ist· Der Aufspanntisch 1 ist mit Hilfe einer Kugelkalottenlagerung 6 in O-Richtung (Kugelkoordinaten)
schwenkbar· Die Kugelkalottenlagerung 6 innerhalb einer Tischaufnahme 9 besteht aus einer Halbkugel
7 und einer Kugelpfanne 8· Desweiteren befindet sich gegenüber der Aufspannfläche 2 eine Halterung 4 für
eine nahezu planparallelliegende Fotoschablone 5· Zusätzlich
zu diesen an sich bekannten Elementen ist erfindungsgemäß ein Außenring 10 konzentrisch zum Aufspanntisch
1 angeordnet· Dieser ist längs der gemeinsamen Symmetrieachse relativ zum Auflagetisch 1 verschiebbar
·( Die gemeinsame Berührungsfläche 12, die die
Funktion der Führung übernimmt, ist stufenförmig abgesetzt, so daß der Aufspanntisch 1 eine pilzförmige und
der Außenring 10 eine schalenförmige Gestalt annimmt· Der bei der Verschiebung sich bildende freie Raum 13 im
Bereich der Kreisringfläche 14 ist durch einen Kanal mit Vakuum oder Druckluft beaufschlagbar.
Die Wirkungsweise und die Verfahrensschritte werden nachfolgend beschrieben:
Beim Auflegen der Halbleiterscheibe 3 befindet sich die Auflagefläche 16 des Außenringes 10 unterhalb der Aufspannfläche
2· Beim Ausrichten wird die Auflagefläche 16 des Außenringes 10 mit Hilfe von Unterdruck, der
über den Kanal 15 im Raum 13 erzeugt wird, um einen bestimmten Betrag über die Aufspannfläche 2 angehoben·
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Dabei ist die Halbleiterscheibe 3 auf dem Aufspanntisch 1 auf der Aufspannfläche 2 über die Leitung 11
angesaugt und leicht konzentrisch am Rand verbogen· In dieser Lage wird durch Evakuierung des Raumes 20
über die Leitung 19 die Halbkugel 7 und somit der Aufspanntisch 1 in der Kugelpfanne 8 arretiert· Nach
erfolgtem Ausrichten der Halbleiterscheibe 2 an der Fotoschablone 5 wird die Auflagefläche 16 des Außenringes
10 durch Belüften des Raumes 13 wieder abgesenkt. Dadurch geht die Halbleiterscheibe 3 wieder in
ihre ebene Ausgangslage zurück und befindet sich im Positionierabstand von der Fotoschablone 5· Nach der
Positionierung kann durch Bewegung der gesamten Tiechaufnahme 9 der Abstand für die Belichtung eingestellt
werden· Durch Hochfahren der Tischaufnahme 9, Belüften des Raumes 13 durch die Leitung 15 und Evakuierung
des Raumes 17 zwischen Fotoschablone 5 und Halbleiterscheibe 3 kann auch die übliche Kontaktkopie
durchgeführt werden·
In einer weiteren Variante befindet sich auf der Auflagefläche 16 des Außenringes 10 eine Gummidichtung
18, die bei der Kontaktkopie gegen die Fotoschablone abdichtet· Für die Positionierung wird der Außenring
10 so weit abgesenkt, daß die Gummidichtung 18 die Fotoschablone 5 nicht berührt· Außerdem erleichtert
das weite Absenken des Außenringes 10 die Entnahme der Halbleiterscheibe 3 vom Aufspanntisch 1· Alle
Stellungen sind mittels einer Klemmeinrichtung arretierbar·
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Claims (5)
1. Verfahren zum planparallelen Ausrichten einer Halbleiterscheibe
zu einer Fotoschablone durch Kontanktieren in einer Positionier- und Belichtungsvorrichtung,
dadurch gekennzeichnet, daß der Rand der Halbleiterscheibe konzentrisch verbogen, danach die
Halbleiterscheibe an die Fotoschablone angedrückt und planparallel ausgerichtet wird·
2· Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Halbleiterscheibe in ihrer Lage unmittelbar nach dem Verbiegen arretiert wird·
3· Einrichtung zum planparallelen Ausrichten einer Halbleiterscheibe zu einer Fotoschablone in einer
Positionier- und Belichtungsvorrichtung, bestehend aus einem absenkbaren Aufspanntisch, dessen plane
Auflagefläche mittels einer Kugelkalottenlagerung schwenkbar ist sowie einer gegenüber der Auflagefläche
des Aufspanntisehes angeordneten Halterung
für die Fotoschablone, dadurch gekennzeichnet, daß konzentrisch zum Aufspanntisch (1) ein relativ zu
diesem, längs der gemeinsamen Symmetrieachse, verschiebbarer Außenring (10) angeordnet ist«
4· Einrichtung nach Anspruch 3» dadurch gekennzeichnet, daß die gemeinsame Berührungsfläche (12) des Aufspanntisches
(1) und des Außenringes (10) stufenförmig abgesetzt und in ihrem kreisringförmigen
Teil (14) über einen Kanal (15) mit Vakuum oder
einem gasförmigen Medium beaufschlagbar ist·
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ORIGINAL INSPECTED
5. Einrichtung nach Anspruch 3 und 4, dadurch gekennzeichnet,
daß auf der Auflagefläche (16) des Aussenringes (10) eine Dichtung (18) konzentrisch angeordnet
ist·
6· Einrichtung nach Anspruch 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Außenring (10) mittels zweier
Anschläge (21; 22) in definierter Lage arretierbar ist.
Anschläge (21; 22) in definierter Lage arretierbar ist.
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