DE2634210A1 - Interferometer - Google Patents

Interferometer

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DE2634210A1 DE19762634210 DE2634210A DE2634210A1 DE 2634210 A1 DE2634210 A1 DE 2634210A1 DE 19762634210 DE19762634210 DE 19762634210 DE 2634210 A DE2634210 A DE 2634210A DE 2634210 A1 DE2634210 A1 DE 2634210A1
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    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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    • G01B9/02Interferometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01HMEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
    • G01H9/00Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves by using radiation-sensitive means, e.g. optical means

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Description

  • Interferometer
  • Die Erfindung bezieht sich auf Interferometer, deren Wirkung darauf beruht, daß das von einer Lichtquelle einfallende Licht in zwei oder mehr kohärente Lichtstrahlen aufgeteilt wird, die anschließend wieder vereinigt werden, nachdem sie verschiedene optische Strecken durchlaufen haben. Der Begriff Licht umfaßt eine elektromagnetische Strahlung von Bereichen des Spektrums, die außerhalb des optischen Bereiches liegen.
  • Interferometer können zur Anzeige und Messung von Schwingungen in Objekten oder Strukturen unter Anwendung von Licht verwendet werden, das von dem Objekt oder der Struktur reflektiert oder gestreut wird und einen Zweig bildet, der als Meßzweig des Interferometers bekannt ist.
  • Eine Schwierigkeit, die bei der Messung kleiner Ultraschallschwingungen auftritt, besteht darin, daß, wenn nicht sorgfältige Vorkehrungen getroffen werden, störende niederfrequente Schwingungen auftreten, die unregelmäßige Weglängen-Ladungen im Meßzweig des Interferometers erzeugen, die auf -die Messung der hochfrequenten Schwingungen mit kleiner Amplitude einwirken.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Interferometer zu schaffen, mit dem eine fehlerfreie Messung kleiner Ultraschallschwingungen moglich ist.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch ein Interferometer gelöst, das einen Bezugszweig und einen Meßzweig aufweist sowie einen Regelkreis mit Einrichtungen zur Anzeige von Änderungen in der optischen Weglänge des Meßzweiges und Einrichtungen zur Erzeugung eines Zwischensignals, das Änderungen in der optischen Weglänge des Meßzweiges darstellt, der eine vorbestimmte Frequenzcharakteristik besitzt Einrichtungen zur Ableitung von Steuersignalen von dem Zwischensignal sowie eine elektrooptische Einrichtung, die auf die Steuersignale anspricht, um die Lichtphase im Bezugszweig relativ zu der Phase des Lichts im Meßzweig zu andern, um auf diese Weise die genannten Änderungen in der ;.optischen Streckenlänge des Maßzweiges zu kompensieren.
  • Die elektrooptische Einrichtung zur Änderung der Phase des Lichtes in dem Bezugszweig relativ zu der Lichtphase im Meßzweig kann eine Mehrzahl von elektrooptischen Einheiten umfassen, die aufeinanderfolgens mit jeweils in einem Winkel von 45° zueinander verlaufenden Achsen angeordnet sind und durch Wechselspannungen erregt werden, die jeweils um 90° phasenverschoben sind im Vergleich zu den Spannungen, die an die jeweils benachbarten elektrooptischen Einheiten angelegt werden.
  • Der Begriff elektrooptische Einheit bedeutet eine Einheit, deren optische Aktivität durch Anlegen von elektrischen Feldern an die Einheit verändert werden kann-Eine bevorzugte Ausführungsform der elektrooptischen Einrichtung besteht aus zwei Kerr-Zellen, die in einer gemeinsamen Hülle enthalten sind Wahlweise kennen Pockel-Zellen verwendet werden.
  • Die Frequenz der Wechselspannungen wird durch Meßung der Geschwindigkeit bestimmt, mit welcher das Interferometer anfänglich zwischen dem stabilen und instabilen Zustand wechselt, bevor der Steuerkreis wirksam wird.
  • Weitere Einzelheiten der Erfindung sind der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen zu entnehmen. Es zeigen Fig. 1 eine schematische Darstellung einer ersten Ausführung des erfindungsgemäßen Interferometers, Fig. 2 eine schematische Darstellung eines optischen Systems einer zweiten Ausführungsform des neuen Interferometers, während Fig. 3 eine schematische Darstellung eines optischen Systems einer dritten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Interferometers veranschaulicht.
  • Das Interferometer nach Fig. 1 zur Beobachtung von Schwingungen auf einer Oberfläche 1,die Teil einer Struktur 2 bildet, besteht aus einer Laser-Lichtquelle 3; die einen linear polarisierten Lichtstrahl 4 liefert. Der Lichtstrahl 4 fällt auf ein Viertelwellenplättchen 5, welches das linear polarisierte Licht in zirkular polarisiertes Licht umwandelt. Der nunmehr zirkular polarisierte Lichtstrahl fällt anschließend auf eine elektrooptische Baueinheit 6, die nachstehend beschrieben wird. Die elektrooptische Einheit 6 erzeugt zwei überlagerte Lichtstrahlen 4"4'' mit jeweils zirkular in entgegengesetztem Sinne polarisiertem Licht. Einer der durch die elektrooptische Baueinheit 6 erzeugten Lichtstrahlen, das heißt 4', hat die gleiche Phase und den gleichen Polarisationssinn wie der Lichtstrahl 4, der auf die elektrooptische Einheit 6 auftrifft. Der andere Lichtstrahl 4'' wird in entgegensetztem Sinne zum Lichtstrahl 4, der auf die elektrooptische Einheit 6 auftrifft, polarisiert und hat auserdem eine leicht unterschiedliche Frequenz. Die Änderung in der Frequenz die als eine sich kontinuierlich volziehende Phasenänderung betrachtet werden kann, wird durch Steuersignale S1, S2 erzielt, die durch einen Steuerkreis C erzeugt und an die elektrooptische Baueinheit 6 angelegt werden. Die Lichtstrahlen 4', 4'' gehen durch ein weiteres Viertelwellenplättchen 7 hindurch, das die Strahlen linear in linear polarisiertes Licht umwandelt, wbbei der Lichtstrahl 4' in der gleichen Ebene polarisiert wird wie der ursprüngliche Lichtstrahl 4, und der Lichtstrahl 4'> wird rechtwinklig zum Lichtstrahl 4' polarisiert. Die Lichtstrahlen 4', 4'' werden anschließend räumlich durch ein Wollaston-Prisma 8 getrennt. Wahlweise kann ein Rochon-Prisma oder ein anderer polarisierender Strahlenteiler verwendet werden. Der Lichtstrahl 4' dient zur Bildung des Meßzweiges des Interferometers und wird auf die Oberfläche 1 gerichtet, deren Schwingung gemessen werden soll. Der Lichtstrahl 4'' dient zur Bildung des Bezugszweiges des Interferometers. Der Lichtstrahl 4' wird durch die Oberfläche 1 gestreut oder reflektiert entsprechend der Beschaffenheit derselben und kehrt entlang einer Strecke parallel aber leicht unterhalb seiner ursprünglichen Lichtstrecke zurück. Wenn die Oberfläche 1 derart beschaffen ist, daß der Lichtstrahl 4' eher gestreut als reflektiert wird, wird eine Linse 9 verwendet, um wieder einen parallelen Lichtstrahl zu erzeugen. Der zurückkehrende Lichtstrahl 4' geht durch das Wollaston-Prisma 8 hindurch und fällt auf einen Planspiegel 10. Inzwischen wird der Lichtstrahl 4'' auf einen Kubus 11 oder ein Prisma gerichtet, welcher bzw. welches den Lichtstrahl entlang einer parallelen aber verschobenen Strecke umlenkt, wobei der Lichtstrahl 4'' wiederum durch das Wollaston-Prisma 8 hindurchgeht. Ein drehbarer Polarisator kann entweder in den austretenden oder zurückkehrenden Strahlengang des Lichtstrahls 4' gebracht werden, um seine Intensität derjenigen des zurückkehrenden Lichtstrahles anzupassen. Die Anordnung ist derart getroffen, daß der zurückkehrende Lichtstrahl 4'' außerdem auf den Spiegel 10 fällt, und die Lichtstrahlen 4', 4'' werden überlagert und bilden einen einzigen Lichtstrahl 12, der zwei Komponenten aufweist, die rechtwinklig zueinander polarisiert sind. Ferner sind die optischen Streckenlängen der Lichtstrahlen 4', 4'' derart bemessen, daß nominell Bedingungen gegeben sind, bei denen Interferenz zwischen den Lichtstrahlen 4',4'' auftreten könnte, nachdem diese durch das Wollaston-Prisma 8 vereinigt worden sind. Da die beiden Komponenten des Lichtstrahles 12 rechtwinklig zueinander polarisiert sind, interferieren sie jedoch nicht, um so Intensitätsänderungen zu erzeugen. Der Lichtstrahl 12 fällt dann auf einen polarisierenden Strahlenteiler 13. dessen Polarisationsebene unter einem Winkel von 450 zu den Polarisationsebenen der Komponenten des Lichtstrahles 12 verläuft. Jede Komponente des Lichtstrahles 12 wird in zwei weitere Komponenten zerlegt, die rechtwinklig zueinander polarisiert sind. Diese weiteren Komponenten werden in zwei Paare von in einer Ebene liegenden Lichtstrahlen aufgeteilt, und diese Lichtstrahlen wiederum können sich vereinigen und interferieren und somit zwei endgültige Lichtstrahlen 12' und 12'' erzeugen.
  • Jeder der beiden Lichtstrahlen 12',12'' besteht aus Komponenten, die sowohl von dem Meßzweig und dem Bezugszweig 4', 4'' des Interferometers hergeleitet sind, und die in der üblichen Weise interferieren können, um Änderungen in der optischen Streckenlänge der Zweige des Interferometers anzuzeigen. Die Phasenverhältnisse sind derart, daß die Komponenten des Strahles 12' in Phase zueinander sind, wenn die Komponenten des Strahles 12' phasenverschoben sind, und umgekehrt. Wenn der Lichtstrahl 12' seine maximale Breite erreicht, fallen die Lichtstrahlen 12', 12" auf zwei Fotovervielfacher 14,15, die jeweils Teil des Steuerkreises C bilden. Die Fotodetektoren 14,15 sind mit einem Differentialverstärker 16 verbunden, der wiederum mit einem weiteren Verstärker 17 verbunden ist, der an einen spannungsgeregelten Oszillator 18 angeschlossen ist, der zwei phasengleiche Ausgangssignale erzeugt mit einer Frequenz, die direkt auf die Ausgangsspannung des Verstärkers 17 bezogen ist. Ein Oszillator 19 erzeugt zwei Ausgangssignale, die eine Phasenverschiebung von o-t/2 aufweisen. Diese Signale werden mit den Signalen von dem spannungsgeregelten Oszillator 18 in zwei Mischern 20,21 gemischt, und die resultierenden Signale werden jeweils in Verstärkern 22, 23 verstärkt, die Steuersignale S1J S2 für die elektrooptische Baueinheit 6 erzeugten.
  • Die elektroopotische Baueinheit 6 besteht aus zwei Kerr-Zellen 24, 25 in einer gemeinsamen Hülle 26. Die Elektroden der Kerr- Zelle 24 sind in einem Winkel von 450 zu den Elektroden der Kerr-Zelle 25 angeordnet. Das Steuersignal S1 von dem Verstärker 22 wird an die Kerr-Zelle 24 angelegt, und das Steuersignal S2 von dem Verstärker 23 wird an die Kerr-Zelle 25 angelegt. Die elektrooptische Baueinheit 6 bewirkt eine effektive Phasenverschiebung in dem Lichtstrahl 4' , der durch sie hindurchgeht, wobei die Phasenverschiebung in Bezug zu der Amplitude der Signale steht, die an die elektrooptische Baueinheit 6 angelegt werden.
  • Das Interferometer arbeitet in einem symmetrischen bzw.
  • Gleichgewichtszustand, bei welchem die Ausgänge der Fotovervielfacher 14,15 die gleiche Amplitude aufweisen. Eine kleine Bewegung der Oberfläche 1 bewirkt eine Unsymmetrie in den Ausgängen der Fotovervielfacher und erzeugt dadurch ein Signal durch die Verstärker 22, 23, welche die Phasenverschiebung steuern, die dem Lichtstrahl 4' 1 mitgeteilt wird, der den Bezugszweig des Interferometers in der vorbeschriebenen Weise bildet, so daß der symmetrische Zustand des Interferometers wieder hergestellt wird. Die Charakteristiken des Steuerkreises sind derart, daß dieser mehr auf die relativ niedrigfrequente Komponente mit großer Amplitude der Bewegungen der Oberfläche 1 anspricht. Auf diese Weise schaltet sich der Steuerkreis auf diese Komponenete auf und hält das Interferometer automatisch in einem symmetrischen Zustand.
  • Der Differentialverstärker 16 erzeugt ein Signal, welches die Amplitude der hochfrequenten Komponente der Schwingung auf der Oberflächetanzeigt. Die Proportionalitätskonstante zwischen den hochfrequenten Verschiebungen der Oberfläche 1 und dem Signal von dem Differentialverstärker 16 kann in Termen der Wellenlänge des verwendeten Lichtes ermittelt werden, indem das Interferometer entriegelt wird und man die Spitze-Spitze Auslenkungen bei dem Signal von dem Differentialverstärker 16 beobachtet. Ein Signal, das die Geschwindigkeit der niederfrequenten Schwingungskomponente der Oberfläche 1 anzeigt, ist außerdem vorhanden und kann bei Bedarf verwendet werden. Ferner kann die niederfrequente Verschiebung der Oberfläche 1 in der am nächsten befindlichen Viertelwellenlänge des in dem Interferometer verwendeten Lichtes durch Zählen der Takte des einen oder anderen Signals S1,S2 2 ermittelt werden, die an die elektrooptische Baueinheit 6 übermittelt werden.
  • Fig. 2 zeigt ein anderes optisches System einer zweiten Ausführungsform der Erfindung. Ein Steuerkreis, der mit dem vorstehend beschriebenen Steuerkreis übereinstimmt, findet ebenfalls bei dieser Ausführungsform Verwendung. Linear polarisiertes Licht von einer Laserquelle 31 wird in zwei Strahlen 31' 31'' durch einen Glasplatten-Strahlenteiler 32 aufgeteilt. Der Lichtstrahl 31' bildet den Bezugszweig des Interferometers, und der Lichtstrahl 31'' wird als Meßzweig des Interferometers verwendet.
  • Der Lichtstrahl 31' fällt durch ein Nichol-Prisma 36 und gelangt anschließend durch ein Viertelwellenplättchen 33, welches den Lichtstrahl in zirkular polarisiertes Licht umwandelt, und pflanzt sich dann durch eine elektrooptische Einheit 34 fort, die mit der entsprechenden Einheit der ersten Ausführungsform des Interferometers identisch ist. Das Licht, das aus der elektrooptischen Einheit 34 heraustritt, wird durch diese Einheit mittels eines Spiegels35 zurückreflektiert. Das Ziel des doppelten Durchgangs des Lichtstrahls 31> durch die elektrooptische Einheit 34 besteht darin, zwei überlagerte Lichtstrahlen 35',35'' zu erzeugten, von denen einer die gleiche Drehrichtung und Frequenz wie der zirkular polarisierte Teil des Lichtstrahles 3i' aufweist und wobei der andere eine unterschiedliche Drehrichtung und Frequenz besitzt. Die Lichtstrahlen 35',35'' gehen anschließend zurück durch das Viertelwellenplätchen 33, welches sie in linear polarisiertes Licht unterschiedlicher Ausrichtungen umwandelt. Die beiden Lichtstrahlen 35',35'' verlaufen anschlieBend durch das Nichol-Prisma 36, das den Lichtstrahl eliminiert, der die gleiche Frequenz wie der ursprüngliche Lichtstrahl hat. Der übrigbleibende Lichtstrahl 35'' wird durch den Strahlenteiler 32 auf einen Spiegel 37 reflektiert und von dort auf einen polarisierenden StrahlenflA a a A n 1 A teiler 38. Inzwischen tritt der Lichtstrahl 31'' aus dem Strahlenteiler 32 aus, geht durch einen Polarisator 39 und wird durch eine Linse 40 zu einem Brennpunkt auf der vibrierenden Oberfläche 1 gebündelt. Das von der Oberfläche 1 reflektierte oder gestreute Licht wird durch die Linse 40 in einen parallelen Strahl 41 umgewandelt, läuft zurück durch den Polarisator 39 und anschließend durch eine Halbwellenplatte 42, die derart angeordnet ist, daß die Polarisationsebene des Lichtstrahls 41 senkrecht zu derjenigen des Lichtstrahls 35'' verläuft. Der Lichtstrahl 41 fällt dann auf Strahlenteiler 32, der derart angeordnet ist, daß die Lichtstrahlen 35'' und 41 vereinigt werden, bevor sie durch den Spiegel 37 auf den polarisierenden Strahlenteiler 38 reflektiert werden. Wie vorstehend beschrieben interferieren die beiden Strahlen 35'' und 41 nicht miteinander, aber sie können durch den polarisierenden Strahlenteiler 38 in zwei interferierende phasenverschobene Kanäle aufgeteilt werden.
  • Bei der dritten Ausführungsform des Interferometers gemäß Fig. 3 findet ein anderes optisches System Verwendung, bei welchem der Glasplatten-Lichtstråhlenteiler 32 durch einen geteilten Kubus-Strahlenteiler 50 ersetzt wird. Ferner werden der Polarisator 39 und die Halbwellenplatte 42 durch ein neutrales Dichtefilter 43 und eine Viertelwellenplatte 44 ersetzt. Der Lichtstrahl 31', der in dem Meßzweig des Interferometers verwendet wird, wird in zwei Duzhgängen durch die Viertelwellenplatte 44 geleitet, so daß diese in der gleichen Weise wie eine Halbwellenplatte wirkt.
  • Der übrige Teil der Ausführungsform des Interferometers gemäß Fig. 3 ist der gleiche, wie er bereits im Zusammenhang mit der Ausführung gemäß Fig. 2 beschrieben wurde, und die einzelnen Teile sind durch die gleichen Bezugszeichen wie bei der Ausführung nach Fig. 2 gekennzeichnet.
  • L e e r s e i t e

Claims (19)

  1. Patentansprüche X Interferometer mit einem Bezugszweig und einem Meßzweig, dadurch gekennzeichnet, daß dieses einen Steuerkreis (C) aufweist mit Einrichtungen (14,15) zur Anzeige von Änderungen in der optischen Streckenlänge des Meßzweiges und Einrichtungen (14,15,16,17,18) zur Erzeugung eines elektrischen Zwischensignals, das Änderungen in der optischen Streckenlänge des Meßzweiges darstellt, der eine vorbestimmte F requenzcharakteristik besitzt, ferner Einrichtungen (19,20,21,22,23) zur Ableitung von Steuersignalen von dem Zwischensignal sowie eine elektrooptische Einrichtung (6), die auf die Steuersignale anspricht, um die Lichtphase im Bezugszweig relativ zu der Phase des Lichtes im Meßzweig zu ändern, um auf diese Weise die genannten Änderungen in der optischen Streckenlänge des Meßzweiges zu kompensieren.
  2. 2. Interferometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Änderungen in der optischen Streckenlänge des Meßarmes des Interferometers zyklische Änderungen sind.
  3. 3. Interferometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrooptische Einheit (6) aus einem Eingangslichtstrahl (4) zwei Ausgangslichtstrahlen (4' (4',4'') erzeugen, wobei der eine Lichtstrahl f4') die gleiche Frequenz und Phase wie der Eingangslichtstrahl aufweist und der andere Lichtstrahl (4'') ) eine unterschiedliche Frequenz besitzt und wobei die Differenz der Frequenz zwischen den beiden Ausgangslichtstrahlen durch die Steuersignale (S1,S2) gesteuert wird.
  4. 4. Interferometer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrooptische Einrichtung (6) zwei elektrooptische Baueinheiten (24,25) aufweist, die nacheinander auf den Eingangslichtstrahl mit ihren wirksamen unter einem Winkel von 450 zueinander geneigten Hauptachsen wirken, wenn die Steuersignale1 die eine Phasendifferenz A/2aufweisen, an die elektrooptischen Einheiten angelegt werden, und daß eine Einrichtung (5) vorgesehen ist, die den Eingangslichtstrahl zirkular polarisiert, sowie eine Einrichtung (7) zur Umwandlung der resultierenden zirkular polarisierten Ausgangslichtstrahlen in zwei linear polarisierte Lichtstrahlen, wobei die Polarisationsebenen orbogonal zueinander verlaufen.
  5. 5. Interferometer nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrooptischen Einheiten (24,25) Kerr-Zellen sind.
  6. 6. Interferometer nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrooptischen Einheiten (24,25) Pockel-Zellen sind.
  7. 7. Interferometer nach einem oder mehreren der Ansprüche 3 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrooptische Einheit (6) derart angeordnet ist, daß das Licht diese durchquert, bevor es geteilt wird, um den ßezugszweig und den Meßzweig des Interferometers zu bilden.
  8. 8. Interferometer nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß dieses eine Einrichtung (8) aufweist, die die linear polarisierten Ausgangslichtstrahlen von der elektrooptischen Einrichtung (6) räumlich trennt, um den Bezugszweig und den Meßzweig des Interferometers zu bilden, sowie Einrichtungen (8,10) zur Überlagerung der Lichtstrahlen1 nachdem diese ihre jeweiligen Strecken durchlaufen haben.
  9. 9. Interferometer nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur räumlichen Trennung des Bezugslichtstrahls und des Meßlichtstrahis (4',4'') einen polarisierenden Strahlenteiler (8) aufweist.
  10. 10. Interferometer nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der polarisierende Strahlenteiler (8) dazu verwendet wird, die beiden Lichtstrahlen zu überlagern, nachdem diese ihre jeweiligen Strecken durchlaufen haben.
  11. 11. Interferometer nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß der polarisierende Strahlenteiler ein Wollaston-Prisma aufweist.
  12. 12. Interferometer nach einem der Ansprüche 3 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß dieses eine Einrichtung (32) zur Erzeugung zweier linear polarisierter kohärenter Lichtstrahlen aufweist, wobei der eine Lichtstrahl (31) den Bezugszweig des Interferometers und der andere Lichtstrahl (31') ) den Meßzweig des Interferometers bildet, und daß die elektrooptische Einrichtung (34) im Bezugszweig des Interferometers angeordnet ist.
  13. 13. Interferometer nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß dieses eine Einrichtung (36) zur Eliminierung des Ausgangslichtstrahls von der elektrooptischen Einrichtung (34) aufweist, welcher die gleiche Frequenz und Polarisationsrichtung wie der Lichtstrahl (31'') besitzt, der den Meßzweig des Interferometers bildet, sowie eine Einrichtung (32) zur Überlagerung des anderen Lichtstrahls mit dem Lichtstrahl, der den Meßzweig des Interferometers bildet, nachdem diese Lichtstrahlen ihre jeweiligen Lichtstrecken durchlaufen haben.
  14. 14. Interferometer nach Anspruch 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, daß das Licht, das den Bezugszweig des Interferometers bildet, zweimal die elektrooptische Einrichtung (34) durchquert und daß die Einrichtung (33)die die den Eingangs lichtstrahl zu der elektrooptischen Einrichtung zirkular polarisiert, ferner dazu dient, die Ausgangslichtstrahlen nach ihrem doppelten Durch gang durch die elektrooptische Einheit in zwei orthogonal linear polarisierte Lichtstrahlen umzuwandeln.
  15. 15. Interferometer nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung (36) zur Eliminierung des Ausgangslichtstrahls (35'') von der elektrooptischen Einheit t34), der die gleiche Frequenz und Ebene aufweist wie das Licht, das den MeB-zweig des Interferometers bildet, ein Nichol-Frisma umfaßt
  16. 16. Interferometer nach einem der Ansprüche 8 bis 15, gekennzeichnet durch einen polarisierenden Strahlenteiler (38), der aus den überlagerten Lichtstrahlen zwei endgültige Ausgangslichtstrahlen erzeugt, von denen jeder Komponenten einschließt, die sowohl von dem Bezugszweig als auch dem Meßzweig des Interferometers abgeleitet sind,wobei die Phasenbeziehungen derart sind, daß ein Ausgangs lichtstrahl eine maximale Intensitat aufweist, wenn der andere Ausgangslichtstrahl eine minimale Intensitat besitzt, und umgekehrt
  17. 17. Interferometer nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet.
    daß die Einrichtung zur Erzeugung der Zwischensignale einen ersten und einen zweiten Fotodetektor t14,15) aufweist, die jeweils auf den ersten und zweiten endgültigen Ausgangslichtstrahl (12',12'') ansprechen, ferner einen Differentialverstärker (16), der ein Signal erzeugen, das die Differenz in der Intensität zwischen dem ersten und zweiten Endlichtstrahl (12',12'') darstellt, sowie einen spannungsgesteuerten Oszillator (18), der zwei gleiche elektrische Signale erzeugt, deren Frequenz im Bezug steht zur Amplitude des Signal von dem Differentialverstärker (18).
  18. 18. Interferometer nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Ableitung von Steuersignalen von dem Zwischensignal einen Oszillator (19) umfaßt, der zwei elektrische Signale erzeugt, die eine Phasendifferenz iz/2 aufweisen, eine Einrichtung (20,21) zur getrennten Vereinigung der Signale von dem Oszillator (1) mit den Signalen von dem spannungsgesteuerten Oszillator (183 sowie eine Einrichtung (22,23) zur getrennten Verstärkung der resultierenden Signale zur Bildung der Steuersignale (S1,S2).
  19. 19. Interferometer nach Anspruch 17 oder 18, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zum Zählen der Zyklen des einen oder anderen der Steuersignale (S1,S2). die erforderlich sind, um die beiden endgültigen Ausgangsstrahlen bei einem Zustand gleicher Lichtintensität wieder herzustellen, um dadurch eine Messung der Änderungen in der optischen Streckenlänge des Meßzweiges des Interferometers durchzuführen.
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