DE2623653C3 - Photometer - Google Patents
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
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Description
Die Erfindung betrifft ein Photometer nach dem
Oberbegriff des Patentanspruchs.
Für genaue Messungen ist es wesentlich, daß stets der gleiche Bereich der Empfängerfläche von dem Lichtbündel
ausgeleuchtet wird, da die verschiedenen Bereiche der Empfängerfläche im allgemeinen unterschiedliche
Empfindlichkeiten besitzen. Eine Verlagerung ein und desselben Lichtbündels auf der Empfängerfläche
kann daher zu einer Signaländerung führen. Eine Änderung des ausgeleuchteten Bereichs kann durch
eine Beeinflussung des Strahlenbündels durch die Probe selbst bewirkt werden, d. h. eine im Strahlengang
angeordnete und mit einer Probenflüssigkeit gefüllte Küvette. Eine solche Beeinflussung kann dadurch
entstehen, daß die beiden vom Strahlengang durchsetzten Fenster nicht genau planparallel oder nicht genau
parallel zueinander sind (Keilfehier). Ein solcher Keilfehler würde zu einer winkelmäßigen Ablenkung
des Lichtbündeis führen. Dieser Fehler kann jedoch durch entsprechend präzise Fertigung der Küvette
vermieden werden. Ein weiterer Fehler kann dadurch entstehen, daß die einzelnen Strahlen des Lichtbündels
parallelversetzt werden. Ein solcher Parallelversatz kann dadurch entstehen, daß die Küvette mit ihren
Fenstern nicht genau senkrecht zur Achse des Strahlenbündels angeordnet ist. Ein Parallelversatz
kann aber auch dadurch hervorgerufen werden, daß das Lichtbündel im Bereich der Küvette konvergierend
verläuft, so daß die einzelnen Strahlen unter einem von 90° verschiedenen Winkel auf die Fenster der Küvette
treffen und jeder für sich einen entsprechenden Parallelversatz erfährt. Auch diese Erscheinung beeinflußt
die Größe des von dem Lichtbündel getroffenen Bereichs der Empfängerfläche. Da der Paralleiversatz
der einzelnen konvergierenden Strahlen auch durch eine genaue Ausrichtung der Küvette nicht vermieden
werden kann und im übrigen von den variablen Brechungsindizes der Proben abhängt, ist dieser Fehler
besonders gravierend. Das gilt umso mehr, als die Brechungsindizes einer zu untersuchenden Probe und
einer anschließend oder vorher vermessenen Referenzprobe gerade im Bereich der Absorptionsbanden der
Probe stark voneinander abweichen können.
Es ist bekannt, die Küvette in einem parallelen Strahlengang des Lichtbündels anzuordnen (Kortüm
»Kolorimetrie, Photometrie und Spektrometrie«, 4. Auflage 1962, Seite 136, Abb. 69b). Bei dieser bekannten
Anordnung wird das parallele Lichtbündel dann als Lichtquellenbild auf einem Monochromatoreintrittsspalt
gesammelt. Dabei ist für einen vorgegebenen Lichtstrom des Lichtbündels ein relativ großer Querschnitt
des parallelen Strahlenganges ifnd ein entsprechend großer Querschnitt der Küvette erforderlich. Das
bedingt wiederum ein unerwünscht großes Probenvolumen. Wenn man den Monochromatoreingangsspalt der
bekannten Anordnung durch eine Empfängerfläche ersetzte, so würde diese Empfängerfiäche nicht
gleichmäßig und großflächig ausgeleuchtet, sondern es würde ein Lichtquellenbild auf der Empfängerfiäche
erzeugt. Eine solche Anordnung wäre extrem empfindlich gegen jeden Winkelversatz des parallelen Lichtbündels,
der zu einer Verlagerung des kleinen, aber entsprechend hellen Lichtquellenbildes auf der Empfängerfläche
und damit in einen Bereich anderer Empfindlichkeit führen würde.
Bei einem anderen bekannten Photometer (DE-OS 19 64 509) wird ein über eine längere Strecke im
wesentlichen konstanter Querschnitt des Strahlenbündels dadurch erreicht, daß die meridionale und die
sagittale Bildebene eines vor der Küvette sitzenden optischen Elements axial gegeneinander versetzt sind.
Zu diesem Zweck schließt die optische Achse dieses Elements mit der Bündelachse einen Winkel ein. Das so
erzeugte Bündel durchsetzt eine Küvette unter möglichst gleichmäßiger Ausleuchtung ihres Querschnitts.
Im Strahlengang hinter der Küvette ist ein ausgangsseitiges optisches System angeordnet, welches das Bündel
jo auf eine photoelektrischen Empfänger leitet. Dieses optische System ist so ausgebildet, z. B. mit seiner
optischen Achse unter einem Winkel zur Bündelachse angeordnet, daß das durch das eingangsseitige optische
Glied hervorgerufene Koma kompensiert wird. Es wird bei der bekannten Anordnung durch dort nicht näher
beschriebene Mittel ein ebenes und gleichmäßiges Auftreffen des ganzen Lichtes auf die ganze lichtempfindliche
Oberfläche des Empfängers angestrebt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine optische Anordnung nach dem Oberbegriff des
Patentanspruchs so auszubilden, daß die Größe und Lage des von dem Lichtbündel beaufschlagten großflächigen
Bereichs der Empfängerfläche von der Probe und der Küvette weitestgehend unbeeinflußt ist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch die im Kennzeichen des Patentanspruchs angegebenen Maßnahmen
gelöst.
Es wird also bei der erfindungsgemäDen Anordnung auf der Empfängerfläche kein Lichtquellenbild erzeugt.
Das Lichtbündel fällt vielmehr als raltiv großer Lichtfleck von weitgehend gleichmäßiger Ausleuchtung
auf die Empfängerfläche. Ein Parallelversatz eines Lichtstrahles vor dem abbildenden optischen System,
d. h. durch die Probe und Küvette, ändert dabei nicht die Lage des Punktes, in welchem der Lichtstrahl auf die
Empfängerfläche trifft. Durch solche Parallelversatzerscheinungen, wie sie vorstehend geschildert wurden,
wird somit die Lage und Größe des auf der Empfängerfläche erzeugten Lichtflecks nicht beeinflußt.
Damit werden die Anforderungen an die Genauigkeit der Ausrichtung der Küvette vermindert. Insbesondere
ist es aber ohne nachteilige Fehler möglich, die Küvetten in einem konvergenten Strahlgang, also in
einer Bündeleinschnürung anzuordnen. Es kann also der gesamte Lichtstrom des Lichtbündels auf eine relativ
kleine Küvette konzentriert werden.
Die Erfindung ist nachstehend an einem Ausführungsbeispiel unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher
erläutert, die schematisch den Strahlengang bei einem
Photometer zeigt.
In der Zeichnung ist mit 10 eine Küvette mit einer Probe bezeichnet. Die Küvette 10 ist im konvergenten
Strahlengang eines Lichtbündels 12 in der Ebene 14 eines Lichtquellenbildes, d. h. in einer Einschnürung des
l.ichlbündels 12 angeordnet. Hinter der Küvette 10 ist das Lichtbündel 12 wieder divergent.
Das Lichtbündel 12 tritt dann durch ein abbildenes optisches System in Gestalt einer Linse 16 mit einer
Brennweite f In der hinteren Brennebene 18 der Linse
16 ist eine Empfängerfläche 20 eines photoelektrischen Empfängers angeordnet. Das Lichtbündel 12 trifft auf
diese Empfängerfläche 20 in Form eines relativ großflächigen, weitgehend gleichmäßig ausgeleuchteten
l.ichtfiecks. Die Empfängerfläche 20 liegt außerhalb jeder Lichtquellen-Bildebene.
Wenn durch die Probe ein Parallelversatz eines Lichtstrahles stattfindet, wie durch den gestrichelt
gezeichneten Strahl 22 angedeutet ist, cjnn ändert dieser Parallelversatz nichls an dem Durchsloßpunkt 24
dieses Lichtstrahles durch die Brennebene 18 und damit die Empfängerfläche 20. Der auf der Empfängerfläche
20 ausgeleuchtete Lichtfleck ist somit nach Lage und Größe von einem solchen Parallelversatz unabhängig,
so daß stets die gleichen Bereiche der Empfängerfläche 20 von dem Lichtbündel beaufschlagt werden und sich
dadurch eine gleichbleibende Empfindlichkeit des pholoelektrischen Empfängers ergibt.
Bei der beschriebenen Anordnung wird auch eine weitgehende Unabhängigkeit von einem durch die
Küvette, z. B. infolge eines Keilfehlers, bewirkten Winkelversatz erreicht. Ein solcher bewirkt zwar eine
kleine Verlagerung des Lichtflecks auf der Empfängerfläche 20. Da aber die Abmessungen des im westlichen
gleichmäßig ausgeleuchteten Lichtflecks groß gegen diese Verlagerung sind, hat diese Verlagerung nur einen
geringen Einfluß auf das Gesamtsignal des photoelektrischen Empfängers.
Wenn im vorstehend von der Ebene eines »Lichtquellenbildes« gesprochen wird, so soll von diesem
Ausdruck alles erfaßt werden, was in dem betreffenden Teil des Strahlenganges die Funktion eines Lichlqiiellenbildes
erfüllt, also beispielsweise auch das Bild eines Monochromator-Austrittspaltes.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Photometer mit einer optischen Anordnung, durch welche ein eine Küvette durchsetzendes Lichtbündel auf einen großflächigen Bereich der Empfängerfläche eines photoelektrischen Empfängers geleitet wird und bei welcher die Küvette am Ort einer Bündeleinschnürung, z. B. in der Ebene eines Lichtquellenbildes, sitzt und welche ein zwischen dem Ort der Küvette und dem photoelektrischen Empfänger angeordnetes abbildendes optisches System aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß die Empfängerfläche (20) oder ein Bild derselben in der außerhalb der Lichtquellenbildebene liegenden Brennebene (18) des optischen Systems (16) angeordnet ist.
Priority Applications (3)
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US05/797,359 US4165181A (en) | 1976-05-26 | 1977-05-16 | Optical arrangement in spectrophotometers |
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DE762623653A DE2623653C3 (de) | 1976-05-26 | 1976-05-26 | Photometer |
Publications (3)
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DE2623653B2 DE2623653B2 (de) | 1978-07-13 |
DE2623653C3 true DE2623653C3 (de) | 1979-03-08 |
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Family Applications (1)
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US4006900A (en) * | 1975-02-05 | 1977-02-08 | Divito Joseph A | Magnetic baseball, bat and glove |
-
1976
- 1976-05-26 DE DE762623653A patent/DE2623653C3/de not_active Expired
-
1977
- 1977-05-04 GB GB18656/77A patent/GB1567512A/en not_active Expired
- 1977-05-16 US US05/797,359 patent/US4165181A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
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GB1567512A (en) | 1980-05-14 |
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