DE2603908A1 - Verfahren zur herstellung eines aus mehreren zonen unterschiedlicher dotierungskonzentration bestehenden halbleiterbauelementes und lawinenlaufzeitdiode hergestellt nach diesem verfahren - Google Patents

Verfahren zur herstellung eines aus mehreren zonen unterschiedlicher dotierungskonzentration bestehenden halbleiterbauelementes und lawinenlaufzeitdiode hergestellt nach diesem verfahren

Info

Publication number
DE2603908A1
DE2603908A1 DE2603908A DE2603908A DE2603908A1 DE 2603908 A1 DE2603908 A1 DE 2603908A1 DE 2603908 A DE2603908 A DE 2603908A DE 2603908 A DE2603908 A DE 2603908A DE 2603908 A1 DE2603908 A1 DE 2603908A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
zones
zone
diode
semiconductor
crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE2603908A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Andre Dr Jaecklin
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BBC BROWN BOVERI and CIE
BBC Brown Boveri AG Switzerland
Original Assignee
BBC BROWN BOVERI and CIE
BBC Brown Boveri AG Switzerland
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BBC BROWN BOVERI and CIE, BBC Brown Boveri AG Switzerland filed Critical BBC BROWN BOVERI and CIE
Publication of DE2603908A1 publication Critical patent/DE2603908A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D8/00Diodes
    • H10D8/40Transit-time diodes, e.g. IMPATT or TRAPATT diodes 
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/26Bombardment with radiation
    • H01L21/261Bombardment with radiation to produce a nuclear reaction transmuting chemical elements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Thyristors (AREA)
DE2603908A 1976-01-08 1976-02-02 Verfahren zur herstellung eines aus mehreren zonen unterschiedlicher dotierungskonzentration bestehenden halbleiterbauelementes und lawinenlaufzeitdiode hergestellt nach diesem verfahren Withdrawn DE2603908A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH15276A CH594287A5 (enrdf_load_stackoverflow) 1976-01-08 1976-01-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2603908A1 true DE2603908A1 (de) 1977-07-14

Family

ID=4180429

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2603908A Withdrawn DE2603908A1 (de) 1976-01-08 1976-02-02 Verfahren zur herstellung eines aus mehreren zonen unterschiedlicher dotierungskonzentration bestehenden halbleiterbauelementes und lawinenlaufzeitdiode hergestellt nach diesem verfahren

Country Status (2)

Country Link
CH (1) CH594287A5 (enrdf_load_stackoverflow)
DE (1) DE2603908A1 (enrdf_load_stackoverflow)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4806497A (en) * 1986-09-17 1989-02-21 Bbc Brown Boveri Ag Method for producing large-area power semiconductor components

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4806497A (en) * 1986-09-17 1989-02-21 Bbc Brown Boveri Ag Method for producing large-area power semiconductor components
CH670332A5 (enrdf_load_stackoverflow) * 1986-09-17 1989-05-31 Bbc Brown Boveri & Cie

Also Published As

Publication number Publication date
CH594287A5 (enrdf_load_stackoverflow) 1978-01-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2711562C3 (de) Halbleiterbauelement und Verfahren zu seiner Herstellung
DE2160427C3 (enrdf_load_stackoverflow)
DE102013216195B4 (de) Verfahren zur Nachdotierung einer Halbleiterscheibe
DE69319759T2 (de) Verfahren zum schnellen Plasma-Hydrogenieren für MOSFET aus Polysilizium
DE3842468C2 (enrdf_load_stackoverflow)
DE1246890B (de) Diffusionsverfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements
EP0343369A1 (de) Verfahren zum Herstellen eines Thyristors
DE3116268C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung
DE2262024A1 (de) Verfahren zur herstellung von halbleiterbauelementen bzw. halbleiterschaltungen
DE102019105812A1 (de) Grabenstruktur enthaltende halbleitervorrichtung und herstellungsverfahren
DE2500728A1 (de) Verfahren zur verbesserung der dotierung eines halbleitermaterials
WO2001024276A1 (de) Ladungskompensationshalbleiteranordnung
DE4310444A1 (de) Schnelle Leistungsdiode
DE1764757A1 (de) Halbleiterbauelement mit isolierter Steuerelektrode
DE102004039208B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines Leistungsbauelements mit einer vergrabenen n-dotierten Halbleiterzone und Leistungsbauelement
DE1564151C3 (de) Verfahren zum Herstellen einer Vielzahl von Feldeffekt-Transistoren
DE2727944C2 (enrdf_load_stackoverflow)
DE69719527T2 (de) VERFAHREN ZUM DOTIEREN EINES BEREICHES MIT BOR IN EINER SiC-SCHICHT
DE2533460A1 (de) Verfahren zur einstellung der schwellenspannung von feldeffekttransistoren
DE112016001599B4 (de) Halbleitervorrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung
DE1914745B2 (de) Verfahren zum herstellen eines halbleiterbauelements
DE2603908A1 (de) Verfahren zur herstellung eines aus mehreren zonen unterschiedlicher dotierungskonzentration bestehenden halbleiterbauelementes und lawinenlaufzeitdiode hergestellt nach diesem verfahren
DE1489052C2 (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen
DE1564406C3 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung und danach hergestellte Halbleiteranordnung
DE2012945C3 (de) Halbleiterbauelement

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee