DE2510247A1 - Verfahren zum aetzen von kupferbeschichteten leiterplatten nach dem durchlaufverfahren - Google Patents

Verfahren zum aetzen von kupferbeschichteten leiterplatten nach dem durchlaufverfahren

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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
    • H05K3/067Etchants
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
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Description

  • Bezeichnung: Verfahren zum Ätzen von kupferbeschichteten Leiterplatten nach dem Durchlaufverfahren Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ätzen von kupferbeschichteten Leiterplatten, vorzugsweise nach dem Durchlaufverfahren, wobei die Leiterplatten mit einer Ätzlösung in Berührung gebracht, vorzugsweise besprüht werden.
  • Das Ätzen von kupferbeschichteten Leiterplatten für die Elektronikindustrie wird mit Hilfe einer Kupfer(II)-chloridlösung durchgeführt, wobei sich infolge des Ätzvorganges Kupfer(I)-chlorid bildet, das nicht ätzend wirkt. Das bedeutet, daß bei einer vorgegebenen FUllmenge für das Ätzbad nach einer bestimmten Zeit, die im wesentlichen von der abzuätzenden Kupfermenge abhängt, die Ätzlösung weitgehend in Kupfer(I)-chlorid umgebildet ist. Die Ätzlösung kann durch die Zugabe von Wasserstoff-Peroxid und Salzsäure wieder regeneriert werden, da sich durch Oxydieren des Kupfer(I)-chlorides wieder Kupfer(II)-chlorid zurückbildet. Dieser Regenerationsvorgang kann solange wiederholt werden, bis die Kupferkonzentration in der Ätzlösung etwa 150 Gramm Kupfer Je Liter Lösung beträgt.
  • Ist dieser Grenzwert erreicht, so wirkt die Lösung nicht mehr ätzend. Aus dem Vorstehenden ergibt sich, daß bei einer vorgegebenen Badfüllung die ätzende Wirkung trotz Regeneration immer mehr absinkt, so daß die Verweilzeit für die Jeweils zu ätzenden Leiterplatten immer höher werden muß.
  • Will man nun ein vorgegebenes Ätzbad, das für einen kontinuierlichen, vorzugsweise im Durchlaufverfahren erfolgenden Ätzbetrieb verwendet werden soll, die Ätzlösung im vorbeschriebenen Sinne laufend regenerieren, um eine möglichst hohe Ätzgeschwindigkeit aufrecht erhalten zu können, dann ergibt sich die Schwierigkeit, daß die Konzentration an Kupfer(II)-chlorid, das allein ätzend wirkt, nicht meßbar ist. Eine weitere Schwierigkeit besteht darin, daß auch die Konzentration des Wasserstoff-Peroxid, das zur laufenden Reoxydation des Kupfer(I)-chlorids zu Kupfer(II)-chlorid erforderlich ist, unmittelbar nicht meßbar ist.
  • Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu vorzugsweise schaffen, mit dessen Hilfe ein kontinuierliches Ätzen von kupferbeschichteten Leiterplatten mit hoher Ätzgeschwindigkeit möglich ist. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß ausgehend von der abzuätzenden Fläche des Jeweiligen Leiterplat tentyps ein Zeitintervall vorgegeben wird, nach dessen Ablauf automatisch Jeweils eine vorbestimmte Menge Wasserstoff-Peroxid und Salzsäure in einem vorgegebenen Verhältnis zueinander zur Regeneration der Ätzlösung dem Bad zugegeben wird. Die Erfindung geht hierbei von der Tatsache aus, daß aufgrund der konstanten Schichtdicke bei derartigen Leiterplatten von beispielsweise 35/um sich eine bestimmte Ätzgeschwindigkeit, beispi#lsweise von 90 sec. ergibt, d. h. in dieser Zeit ist an der zu ätzenden Stelle die Beschichtung vollständig abgeätzt. Da weiterhin aufgrund der Druckvorlage für die Jeweilige Platine die abzuätzende Fläche in etwa bestimmt werden kann, läßt sich ferner die pro Zeit einheit abzuätzende Kupfermenge und damit auch in etwa die Zeit bestimmen, in der das in der Ätzlösung befindliche Kupfer(II)-chlorid in Kupfer(I)-chlorid umgebildet ist. Dementsprechend wird die Zeit für die Zugabe der Reoxydationsmittel (Wasserstoff-Peroxid und Salzsäure) entsprechend fest gelegt ~so daß eine durchschnittliche Ätzgeschwindigkeit gewährleistet ist. Die Gesamtmenge der Jeweils einzuspeisenden Reoxydationsmittel richtet sich im wesentlichen nach der Badgröße,während das Verhältnis von Salzsäure und Wasserstoff-Peroxid, das fest vorgegeben ist, Je nach Anwendungsfall zwischen s und 7 liegen kann.
  • Um nun den Verbrauch an Reoxydationsmittel möglichst gering zu halten, ist gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung vorgesehen, daß die Zugabe von Wasserstoff-Peroxid und Salzsäure zusätzlich in Abhängigkeit einer vorgegebenen Dichte des Ätzbades erfolgt. Hierdurch ist gewährleistet, daß nach Ablauf des vorgegebenen Zeitintervalles die Zugabe der Reoxydationsmittel erst dann erfolgt, wenn eine bestimmte Dichte des Ätzbades Uberschritten wird. Das bedeutet, daß bei einem zu kurz bemessenen Zeitintervall für die Zufuhr an Reoxydationsmitteln die Zufuhr durch die Kontrolle über die Dichte solange gestoppt wird, bis die vorgegebene Höchstdichte, bei der noch eine Ätzwirkung mit Sicherheit gegeben ist, erreicht wird. Andererseits kann bei entsprechender regeltechnischer Ausgestaltung bei einem zu lang eingestellten Zeitintervall bei vorzeitigem Erreichen der vorgegebenen Höchstdichte das Reoxydationsmittel wieder zugeführt werden.
  • In einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß bei Erreichen einer Niveauobergrenze für das Bad ein Teil der Badfüllung in einen Pufferbehälter abgepumpt wird, aus dem vorzugsweise kontinuierlich ein geringer Teilstrom in das Bad zurückgeführt wird. Durch eine derartige Anordnung gelingt es, selbst für große Ätzleistungen, mit einem relativ geringen Ätzbadvolumen zu arbeiten, eine hohe Ätzgeschwindigkeit einzuhalten und schließlich gleichzeitig in dem nachgeschalteten Pufferbehälter eine bis zur Sättigungsgrenze mit Kupfer angereicherte Lösungsmenge zu sammeln. Dies wird dadurch erreicht, daß aus dem Pufferbehälter Jeweils ein geringer Teilstrom im Kreislauf in das Ätzbad zurückgeführt wird.
  • In einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist ferner vorgesehen, daß im Pufferbehälter die Dichte gemessen und daß nach Erreichen einer vorgegebenen Dichte, die über der höchstzulässigen Dichte der im Bad befindlichen Ätzlösung liegt, die FUllung des Pufferbehälters in einen Sammelbehälter abgepumpt wird. Der das Abpumpen auslösende Dichtewert wird in etwa auf die Dichte eingestellt, die einer mit Kupfer gesättigten Ätzlösung entspricht. Das hat den Vorteil, daß die höchstmögliche Anreicherung im Pufferbehälter erzielt wird und die so gewonnene angereicherte Lösung zur Rückgewinnung des Kupfergehaltes nutzbringend weiterverwendet werden kann.
  • In weiterer Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist vorgesehen, daß der Ätzgrad nach Duchlauf einer ersten Ätzstrecke gemessen und die Durchlaufgeschwindigkeit der Leiterplatten durch die erste Ätzstrecke in Abhängigkeit vom Ätzgrad geregelt wird. Diese Verfahrensweise hat den Vorteil, daß automatisch die Jeweils gegen Ende des Zeitintervalls vor der Zugabe an Reoxydationsmitteln geringer werdende Ätzwirkung automatisch durch eine längere Verweilzeit der zu ätzenden Leiterplatten im Ätzbad ausgeglichen wird. Der Ätzgrad, d. h. die im Verhältnis zur Gesamtfläche der Jeweiligen Leiterplatte abzuätzend« Fläche, kann hierbei optisch, fotoelektrisch oder auch induktiv gemessen werden.
  • In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß in Abhängigkeit von dem gemessenen Ätzgrad bei unzureichender Ätzung die Leiterplatten in wenigstens einer Nachätzstrecke erneut mit Ätzlösung in Berührung gebracht werden. Hierdurch ist gewährleistet, daß nur unzureichend geätzte Platten nachbehandelt werden und eine Unterätzung bereits fertiggeätzter Platten vermieden wird, wie dies sonst bei einer zu langen Ätzzeit der Fall sein wUrde.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren wird nachstehend anhand eines schematischen Fließ- und Regeldiagrammes näher erläutert.
  • Die Ätzvorrichtung weist eine Transportvorrichtung 1 beispielsweise ein Transportband, ein mit angetriebenen Rollen versehenen Rollengang oder ähnliche Transporteinrichtungen auf.
  • Die auf das Aufgabenende A der Transporteinrichtung aufgelegten. zu ätzenden Leiterplatten durchlaufen hierbei zunächst die durch die Düseneinrichtung 2 begrenzte Ätzstrecke B, eine weiter unten näher erläuterte Kontrollstrecke C sowie eine Nachätzstrecke D, die durch eine weitere Düseneinrichtung 3 begrenzt ist. Danach folgt eine nicht näher erläuterte Spülzone E.
  • Unterhalb der Transporteinrichtung ist eine Wanne 4 angeordnet, in der eine vorgegebene Menge an Ätzlösung enthalten ist und aus der die Sprüheinrichtungen 2 und 3 mittels einer Pumpe 5 versorgt werden.
  • Um nun eine weitgehend optimale Ätzgeschwindigkeit und damit eine optimale Leistung der Ätzvorrichtung zu erzielen, ist die Ätzvorrichtung mit einer Grundregeleinrichtung versehen, die aus einem Zeitgeber 6 besteht, mit dem frei wählbare Zeitintervalle eingestellt werden, nach deren Ablauf ein entsprechendes Signal abgegeben wird. Ferner wird über eine Meßeinrichtung 7, die an einen Meßwertumformer 8 angeschlossen ist, die Dichte der Ätzlösung gemessen. Der Ausgang des Zeitgebers 6 einerseits und des Meßwertumformers 8 andererseits sind in einem Sollwertgeber 9 für die Dichte der Ätzlösung in der Weise zusammengeführt, daß bei Uberschreiten einer vorgegebenen Maximaldichte und/oder des vorgegebenen Zeitintervalls die Pumpen 10, 11 für die Zufuhr von Salzsäure bzw. Wasserstoff-Peroxid aus den Vorratsbehältern 12 bzw. 13 eingeschaltet werden. Bei diesen Pumpen handelt es sich um Dosierpumpen, die über eine entsprechende mechanisch wirkende Verstelleinrichtung 14 bezüglich des Mengenverhältnisses der beiden einzufördernden Flüssigkeitsmengen einstellbar sind. Diese Regelstrecke bewirkt, daß in vorgegebenen Zeitintervallen und in Abhängigkeit von einer vorgegebenen Solldichte für die Ätzlösung zur Regeneration der Ätzlösung, d. h. jeweils zur Rückbildung des ätzenden Kupfer(II)-chlorids, Salzsäure und Wasserstoff-Peroxid in einer vorgegebenen Menge, die von der Größe des Badvolumens abhängt, und in einem vorgegebenen Mengenverhältnis, das etwa 1 bis 1 Je nach Anwendungsfall beträgt, in das Ätzbad eingepumpt wird.
  • Uber einen Niveauregler 15 ist sichergestellt, daß bei Erreichen einer Maximalhöhe im Bad über eine Pumpe 16 soviel von der Badfüllung abgepumpt wird, bis ein vorgegebenes Mindestniveau 17 erreicht ist. Die abgepumpten Mengen werden in einen Pufferbehälter 18 eingepumpt, der über eine Pumpe 19 ein Dreiwegeventil 20 und eine Rückleitung 21 mit dem Ätzbad in Verbindung steht.
  • Durch eine entsprechende Einstellung der F8rdermenge der Pumpe 19 kann kontinuierlich ein geringer Teilstrom der im Pufferbehälter 18 befindlichen Lösung in das Ätzbad zurückgepumpt werden. Uber einen Niveauregler 22, der mit der Pumpe 19 in Verbindung steht, wird sichergestellt, daß der Pufferbehälter nicht überlaufen kann, sondern daß entsprechend der in die Badlösung zurückgeführte Teilstrom vergrößert wird.
  • Der Pufferbehälter weist ferner einen Dichtemesser 23 auf, der mit dem die Pumpe 19 ansteuernden Niveauregler in der Weise in Verbindung steht, daß bei Erreichen einer vorgegebenen Höchstdichte daß Dreiwegeventil 20 umgestellt wird und die Pumpe die gesamte im Pufferbehälter 18 befindliche Flüssigkeitsmenge in einen Sammelbehälter 24 einpumpt. Der Dichtemesser 23 ist hierbei so eingestellt, daß er dann anspricht, wenn die im Pufferbehälter 18 befindliche Lösungsmenge in etwa der Sättigungsgrenze der Ätzlösung, bezogen auf Kupfer, entspricht. Anstelle der dargestellten Anordnung von nur einer Pumpe 19 und dem umschaltbaren Dreiwegeventil 20, kann an die Stelle des Dreiwegeventils 20 eine zweite durch den Regler 22 ansteuerbare Pumpe gesetzt werden, und zwar in der Weise, daß die Pumpe 19 ausschließlich über die Leitung 21 mit dem Ätzbadbehälter 4 in Verbindung steht, während die an die Stelle des Dreiwegeventils 20 tretende Pumpe ausschließlich mit dem Sammelbehälter 24 in Verbindung steht. Bei dieser Anordnung würde die Pumpe 19 kontinuierlich einen fest vorgegebenen, geringen Teilstrom im Kreislauf fördern, während bei Niveauüberschreitungen Jeweils die an die Stelle des Dreiwegeventils 22 tretende Pumpe einen Teil der im Pufferbehälter befindlichen Flüssigkeit in den Sammelbehälter fördert und bei Erreichen der vorgegebenen Höchstdichte den gesamtm Inhalt des Pufferbehälters 18 in den Sammelbehälter 24 abpumpt.
  • Da nun die Reoxydation des Ätzbades im Hinblick auf einen möglichst geringen Verbrauch an Reoxydationsmitteln (Salzsäure und Wasserstoff-Peroxid) nicht kontinuierlich, sondern in Zeitintervallen erfolgt, nimmt dementsprechend die Ätzgeschwindigkeit Jeweils in einem Zeitintervall kontinuierlich ab. Um trotzdem eine konstante Leiterplattenqualität sicher zu stellen, ist vorgesehen, daß über eine Meßeinrichtung 25 am Ende der Ätzstrecke B der Ätzgrad gemessen wird und danach einmal durch Öffnen eines Ventils 26 in der Zuleitung zur Düseneinrichtung 3 nicht ausreichend durchgeätzte Platten durch die Nachätzstrecke D nachbehandelt werden.
  • Weiterhin ist es möglich, durch die Meßeinrichtung für die Messung des Ätzgrades einen weiteren Regelschritt auszulösen und zwar in der Weise, daß entsprechend dem Absinken des Ätzgrades innerhalb des vorgegebenen Zeitintervalls die Durchlaufgeschwindigkeit der Transportvorrichtung 1 über eine auf den Antriebsmotor 27 der Transporteinrichtung wirkende Regeleinrichtung 28 zu verringern. Die Regeleinrichtung 28 kann in der Weise ausgestaltet sein, daß bei Unterschreiten einer Mindesttransportgeschwindigkeit über die Regeleinrichtung 9 für eine entsprechende Zufuhr der Reoxydationsmittel gesorgt wird. Hierdurch ist sichergestellt, daß bei einem falsch eingestellten Zeitintervall und/oder einem falsch eingestellten Sollwert für die Höchstdichte des Ätzbades bzw. einem Ausfall des Dichtemessers für eine ausreichende Durchätzung der Leiterplatten Sorge getragen ist. Dieser Regelkreis dient Jedoch nur als Hilfsregelkreis, da er im Hinblick auf die relativ lange Durchlaufzeit der Platten zwischen dem Aufgabenende A einerseits und der Kontrollzone C andererseits eine lange Ansprechzeit besitzt.
  • Die Messung des Ätzgrades ist auf verschiedenen Wegen möglich.
  • Sie kann beispielsweise durch eine quer über die gesamte Breite der Transporteinrichtung verlaufende Kette von Fotozellen bewerkstelligt werden, wobei bei der Einstellung einmal die Belegungsbreite der Transporteinrichtung berücksichtigt werden muß und zum anderen mit Hilfe von geätzten Musterplatten oder aber mit Hilfe der Druckvorlage für die Leiterplatten der Ätzgrad durch einen Vergleich zwischen dem Lichtdurchtritt durch die Druckvorlagen einerseits und die geätzten Platten andererseits festgestellt werden kann. Dies kann Jeweils durch linienförmiges Abtasten von Muster und produzierter Platte einerseits oder aber durch intervallartiges Ausleuchten der gesamten Platte, sobald sie voll im Meßbereich C liegt, erfolgen.
  • Anstelle einer fotoelektrischen Messung kann der Ätzgrad induktiv oder über die Anordnung sogenannter Metalldedektoren erfolgen.
  • Im Bereich E des Transportbandes sind Spül- und sonstige Nachbehandlungseinrichtungen für die Leiterplatten vorgesehen.
  • AnsprUche

Claims (7)

  1. Anspruche: Verfahren zum Ätzen von kupferbeschichteten Leiterplatten nach dem Durchlaufverfahren,wobei die Leiterplatten während des Durchlaufs miteinerÄtzlösung in Berührung gebracht, vorzugsweise besprüht werden, dadurch g e k e n n z e i c h n e t, daß ausgehend von der abzuätzenden Fläche des Jeweiligen Leiterplattentyps ein Zeitintervall vorgegeben wird, nach dessen Ablauf automatisch Jeweils eine vorbestimmte Menge an Wasserstoff-Peroxid und Salzsäure in vorgegebenem Verhältnis zueinander zur Regeneration der Ätzlösung dem Bad zugegeben wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch g e k e n n z e i c h -n e t, daß die Zugabe von Wasserstoff-Peroxid und Salzsäure zusätzlich in Abhängigkeit eines vorgegebenen Dichtewertes für die Ätzlösung erfolgt.
  3. -3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t, daß bei Erreichen einer Niveauobergrenze für das Bad ein Teil der Badfüllung in einen Pufferbehälter abgepumpt wird, aus dem vorzugsweise kontinuierlich ein geringer Teilstrom in das Bad zurückgeführt wird.
  4. 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch g e k e n n z e i c h -n e t, daß im Pufferbehälter die Dichte gemessen wird, und daß nach Erreichen einer vorgegebenen Dichte, die über der höchstzulässigen Dichte der im Bad befindlichen Ätzlösung liegt, die Füllung des Pufferbehälters in einen Sammelbehälter abgepumpt wird.
  5. *) vorzugsweise Verfahren nach einen der Ansprüche 1 bis 4s dadurch g e k e n n z e i c h n e t, daß der Ätzgrad nach Durchlauf einer ersten Ätzstrecke gemessen und die Durchlaufgeschwindigkeit der Leiterplatten durch die erste Ätzstrecke in Abhängigkeit vom Atzgrad geregelt wird.
  6. 6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch g e k e-n n z e i c h n e t, daß bei Absinken der Durchlaufgeschwindigkeit auf einen Mindestwert Wasserstoff-Peroxid und Salzsäure zur Regeneration in das Bad eingeführt wird.
  7. 7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t, daß bei unzureichender Ätzung die Leiterplatten in wenigstens einer Nachätzstrecke erneut mit Ätzlösung in Berührung gebracht werden.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0072456A1 (de) * 1981-08-17 1983-02-23 Elget Ing.- Büro Für Grafische Und Elektronische Technik Stripperlösung
EP0079505A1 (de) * 1981-10-29 1983-05-25 LeaRonal, Inc. Verfahren zur Wiedergewinnung von Kupfer aus den verbrauchten Ätzlösungen
EP0222348A2 (de) * 1985-11-11 1987-05-20 HANS HÖLLMÜLLER MASCHINENBAU GMBH & CO. Anlage zum Ätzen von zumindest teilweise aus Metall, vorzugsweise Kupfer, bestehendem Ätzgut

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EP0222348A3 (de) * 1985-11-11 1989-01-25 HANS HÖLLMÜLLER MASCHINENBAU GMBH & CO. Anlage zum Ätzen von zumindest teilweise aus Metall, vorzugsweise Kupfer, bestehendem Ätzgut

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