DE2444490C2 - Verfahren zum Herstellen einer Mikrowellendiode - Google Patents
Verfahren zum Herstellen einer MikrowellendiodeInfo
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 10
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 9
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 2
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
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- H01L29/861—Diodes
- H01L29/872—Schottky diodes
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- H01L29/40—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/41—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions
- H01L29/417—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions carrying the current to be rectified, amplified or switched
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- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer Mikrowellendiode gemäß dem Oberbegriff des
Patentanspruchs.
Ein derartiges Verfahren ist aus der DE-OS 20 29 236 bekannt. Bei diesem bekannten Verfahren wird auf ein
Substrat eine schwächer als dieses elektrisch leitende, eine Störstoff enthaltende epitaktische Schicht vom
gleichen Leitungstyp wie das Substrat abgeschieden. Anschließend wird auf diese epitaktische Schicht eine
sperrende Metallschicht zur Bildung des Schottky-Kontakts aufgedampft und in einem weiteren Schritt eine
dicke Metallschicht als Wärmesenke auf die sperrende Metallschicht aufgebracht. Die gegenüberliegende Seite
des Substrats wird mit eii^er dünnen Metallschicht versehen, die durch Ätzen in mehrere Kontaktflächen
unterteilt wird. Diese bilden die ohmschen Elektroden der nunmehr als Mesaberge aus dem Halbleiterkörper
vom Substrat bis zur metallischen Wärmesenke herausgeätzten Dioden. Die obere Grenzfrequenz der
mit diesen Dioden erzeugten Mikrowellen ist durch den Abstand zwischen der ohmschen und sperrenden
Elektrode begrenzt.
Bei Mikrowellendioden, die beispielsweise in Empfangsmischern für den Mikrowellenbereich Anwendung
finden, wird bekanntlich eine hohe Grenzfrequenz angestrebt. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde,
ein Verfahren anzugeben, welches die Herstellung von Mikrowellendioden für besonders hohe Frequenzen
ermöglicht.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren der eingangs erwähnten Art durch die im kennzeichnenden
Teil des Patentanspruchs angegebenen Merkmale gelöst.
Die Erfindung hit den Vorteil, daß durch das
erfindungsgemäße Verfahren eine Mikrowellendiode hergestellt wird, bei der der Abstand zwischen der
ohmschen Elektrode und dem Schottky-Kontakt mit relativ einfachen 'Mitteln besonders klein gemacht
werden kann. Diesen geringen Abstand erreicht man durch entsprechende Unterätzung der ohmschen
Elektrode sowie durch entsprechendes seitliches Abscheiden des Materials für den Schottky-Kontakt. Ein
geringer Abstand zwischen der ohmschen Elektrode und der sperrenden Elektrode ist bei Mikrowellendioden
eine wesentliche Voraussetzung für die Erzielung hoher Frequenzen.
Die Erfindung wird im folgenden an einem Ausfüh rungsbeispiel näher erläutert.
Zur Herstellung einer Mikrowellendiode nach der Erfindung geht man beispielsweise gemäß der Fig.
von einem Substrat 1 aus, welches aus semiisolierendem
ίο Galliumarsenid besteht Auf dieses Substrat 1 wird eine
fcpitaktische Halbleiterschicht 2 aufgebracht, die in dem an das Substrat angrenzenden Bereich hochohmiger is
als in dem an die Oberfläche grenzenden Bereich. Diese Bedingung kann durch epitaktisches Abscheiden erziel
werden. Auf einen begrenzten Bereich der epitaktischen Schicht wird eine ohmsche Elektrode 3 aufgebracht, die
mit der epitaktischen Schicht 2 legiert. Diese ohmsche Elektrode 3 dient, wie in der Fig.2 gezeigt, als
Ätzmaske bei der Mesaätzung. Wie die Fig.2 weiter
zeigt, wird die ohmsche Elektrode 3 bei der Mesaätzung unterätz*. Die Mesaätzung erfolgt so tief, daß sie sich
nicht nur riurch die epitaktische Schicht 2 hindurch, sondern auch in das Substrat 1 erstreckt
Gemäß der F i g. 3 wird nach dem Mesaätzen auf die gesamte eine Oberflächenseite eine Fotolackschicht 4
aufgebracht, die in demjenigen Bereich, in dem die Schottky-Diode vorgesehen ist, mit einer Öffnung 5
versehen wird. Anschließend wird ganzflächig ein Mets'lfilm aufgedampft, der aus dem Material des
Schottky-Kontaktes besteht. Als Material für den Schottky-Kontakt eignet sich beispielsweise Chrom-Gold.
Das Aufdampfen des Metallfilmes erfolgt unter einem solchen Winkel, daß gemäß der Fig.4 zwischen der
ohmschen Elektrode 3 und dem Schottky-Kontakt 6 ein bestimmter '\bstand gewahrt bleibt. Beim Aufdampfen
der Metallschicht unter einem geeigneten Winkel wird der bei der Mesaätzung infolge der Unterätzung
entstandene Überhang der ohmschen Elektrode ausge nutzt, um nur einen unteren Teil der Mesaflanke mit
dem Metall des Schottky-Kontaktes zu bedampfen. Der Abstand zwischen dem Schottky-Kontakt 6 und der
ohmschen Elektrode 3 soll zwar möglichst gering sein doch muß die Bedingung eingehalten werden, daß die
Sperrschicht des Schottky-Kontaktes die ohmsche Elektrode nicht berührt. Außerdem soll der Schottky-Kontakt
6 an ein Gebiet der epitaktischen Schicht 2 und damit der Mesaflanke grenzen, das relativ hochohmig
ist und im Vergleich zu demjenigen Gebiet der epitaktischen Schicht bzw. der Mesaflanke, an das die
ohmsche Elektrode 3 grenzt Aus der aufgedampften Metallschicht werden in einfacher Weise die geometrischen
Abmessungen des Schottky-Kontaktes 6 und| dessen Anschlußfleck 7 dadurch gewonnen, daß der au£|
der Photolackschicht befindliche Teil der Metallschicht!
zusammen mit dem Photolack durch die Abhebetechnik |
entfernt wird. I
Zur äußeren Kontaktierung der ohmschen Elektrode |
3 sowie des Schottky-Kontakt-Anschlußflecks 7 werderf
gemäß der F i g. 5 beispielsweise streifenförmige Zulei
tungen 8 und 9 aufgebracht. Diese streifenförmiger Zuleitungen erstrecken sich auf den waagerechten Tei
des Mesakörpers.
Die F i g. 6 zeigt schließlich noch ein Beispiel für der Einbau der Schottky-Diode in eine Streifenleitung. Das
Diodenchip 10 wird dabei ohne Gehäuse in eine spaltförmige Unterbrechung der Streifenleitung 11
kopfüber eingesetzt.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Verfahren zum Herstellen einer Mikrowellendiode, die einen Schottky-Kontakt als sperrende Elektrode und eine ohmsche Elektrode aufweist, bei dem die ohmsche Elektrode aus einer auf einer Breitseite eines Halbleiterkörpers aufgebrachten Metallschicht gebildet und die Diode mit Hilfe einer Ätzmaske auf dieser Breitseite als Mesaberg aus dem Halbleiterkörper herausgeätzt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die ohmsche Elektrode als Ätzmaske für die Ätzung des Mesaberges verwendet wird, daß bei dieser Mesaätzung die ohmsche Elektrode seitlich unterätzt wird und daß dann zur Herstellung des Schottky-Kontaktes auf der Mesaflanke durch seitliches Bedampfen oder Kathodenzerstäubung eine Metallabscheidung erfolgt, die unter einem solchen Winkel in bezug auf die Breitseite des Halbleiterkörpers durchgeführt wird, daß der Schottky-Kontakt von der ohmschen Elektrode einen möglichst kleinen Abstand erhält.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742444490 DE2444490C2 (de) | 1974-09-18 | 1974-09-18 | Verfahren zum Herstellen einer Mikrowellendiode |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742444490 DE2444490C2 (de) | 1974-09-18 | 1974-09-18 | Verfahren zum Herstellen einer Mikrowellendiode |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2444490A1 DE2444490A1 (de) | 1976-04-01 |
DE2444490C2 true DE2444490C2 (de) | 1982-08-26 |
Family
ID=5926029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19742444490 Expired DE2444490C2 (de) | 1974-09-18 | 1974-09-18 | Verfahren zum Herstellen einer Mikrowellendiode |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2444490C2 (de) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1290926A (de) * | 1969-06-20 | 1972-09-27 | ||
US3766372A (en) * | 1970-05-18 | 1973-10-16 | Agency Ind Science Techn | Method of controlling high electric field domain in bulk semiconductor |
-
1974
- 1974-09-18 DE DE19742444490 patent/DE2444490C2/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2444490A1 (de) | 1976-04-01 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
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