DE2355185C2 - Anordnung zur Dickenmessung von Gegenständen unter Verwendung von Laserstrahlen - Google Patents
Anordnung zur Dickenmessung von Gegenständen unter Verwendung von LaserstrahlenInfo
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Description
einer Auswerieeinrichiuns; einee-
8UfnS
8 ne Erfindung benutzt die Eigenschaften einer
rvff rentialfolodiode, die aus zwei eng benachbarten
£ ,!dioden mit gemeinsamer Kathode aufgebaut
• Die beiden Einzeldioden sind durch einen im £ «min der Diffcrentialfotodiode angeordneten
TreTseo voneinander getrennt. Das Dilierenzfmo-•
1V"abhän»ig von der Abweichung de·» Licht-Slgnu
'vom Trennsteg *
Slrn .rfindunosgcmäßc Mcßanordnunn bcnöiiet
i'r Mne inwendige Frequenz- und Amplituden-Ä«.
für die Ablenkung des Laserstrahls, noch
die Abmessung von Vergleichsslrecken und -zeiten.
'1RPi der erfindunnsgemäßen Meßanordnung kön-
L Umlenkspiegel auch so angeordnet sein, daß He"reneSrt" Laserstrahl auf eine Dilfereniialfoto-Ide
ί iff Es steht dann eine größere Lichtstärke
α !«mine /ur Verfugung
ΐϊZlΦ^£ Erfindung und zweckmaß"
e Λuseestaltungcn sind im folgenden an Hand
Tr Rßuren näher beschrieben. Es zeigt
der Ff? 1 1 schematische Darstellung einer erfinicmäßen
Anordnung zur Dickenmessung eines er Bezugsebene unmittelbar aufhegenden
' eine «nematische Darstellung einer crrin-Anordnung
zur Dickenmessung eines
umtideel und der Laserstrahl 3 auf das MeßobjeKt 1
gericht«. Die Abbildung des Streulichtflecks,fällt nun
zunächst nicht mehr ins Zentrum der Diöerentialfotodiode
6, so daß deren Differenzfotosignal über den Regler«) und das Stellglied 11 den Umlenkspieael
5 so kornciert. daß die Abbildung des Streulichtfleck*
wiedei in das Zentrum der Differentiai-Iniodiode
6 rückt. Der Regler 9 gibt hierzu eine andere Ausaanasspannung Uv aus, deren Zahlenden
- in den Meßwerispeicher 15 eingegeben wird Ein
DilTcrenzbildner 16 stellt die Differenz zwischen dem
lnhi.li des Bezugswertspeichers 14 und dem Meu-
^speicher 15 fest und gibt diesem eine Auswerteeinrichtung
17. die hieraus die D.cke d des MeU
Objekts 1 ermittelt. . ,·
Mil Hilfe der Anordnung der Fig. 2 kann me
Dicke eines Meßobjekts 20 gemessen werden, das
nicht auf einer Bezugsebene aufliegt, sondern fna
beweglich ist. Hierzu werden die Laserstrahlen 21 a
,o und 21 ft über die Umlenkspiegel23α,und r>b au
die beiden Seitenflächen des Mcßobjekts .0 pro
jiziert. Die Diffircntiaüotodioden 2a «und 25 b über
wache, mit Hilfe der Optiken 24 α und 24 b die Lage
der Abbildungen der Sl™^Sf SS
25 5 «euern die beiden Regler 27 α und 21'b mit
Integralan.eil aus. deren Ausgaygannungen^ber
des Au.aus , ■ ,; ; , · m Differenzverstärker 29 zugeführt,
=I 5 »mäch« auf Jic Bczugscbcnc 2 und danach
1 »crichltl. Die DifteronlialfModicVagc
de, S,,cu,,ch,„.cK de,
Hon de, Spannung U, und "·
j?Sf
naiverhalten so, daß die Abbildung des Streuhcht- ah StcUgl.ede ^
flecks ins Zentrum der Differentia fotodiode 6 ruckt. 23 β 23 h sehr seijne.i g ^6J15105. Es Das Stellglied 11 besteht bdsp.clswe.se aus c.ner fi hrung der Lascrs ^hlc P des Meßobjekts Magnetspule und einem m.t dem Umlenkspiegel5 5. WuI tauch be une fe ^ ^ ^^ verbundenen Eisenkern. D.cse elektromagnetische gch^wmkl g zur then ^ w.^ ^. def Anordnung arbeitet gegen d.c Federkraft von Druck- D ckt χ J ujjar· ß h beispielsweise Papierfedern 18. Die Ausgangsspannung des Reglers 9 w.rd D.ck^messung der Meßanord„Ung
flecks ins Zentrum der Differentia fotodiode 6 ruckt. 23 β 23 h sehr seijne.i g ^6J15105. Es Das Stellglied 11 besteht bdsp.clswe.se aus c.ner fi hrung der Lascrs ^hlc P des Meßobjekts Magnetspule und einem m.t dem Umlenkspiegel5 5. WuI tauch be une fe ^ ^ ^^ verbundenen Eisenkern. D.cse elektromagnetische gch^wmkl g zur then ^ w.^ ^. def Anordnung arbeitet gegen d.c Federkraft von Druck- D ckt χ J ujjar· ß h beispielsweise Papierfedern 18. Die Ausgangsspannung des Reglers 9 w.rd D.ck^messung der Meßanord„Ung
sicnal der Differen.ialfo.odiode 6 stellt den Um enkspieeel
5 über den Regler 9 und das Stellgl.ed 11 so
ein/daß die Abbildung des Strcuhchtflecks ms Zentrum
der Differentialfotodiode 6 ruckt H.crzu.st
eine Ausgangsspannung Vn des Reg.c^rs er^>rderpb.
hncn.
33 "^nd
33 "^nd
n j
ber b?w unter der aus-In
jedem Meßwagen ist odSe 35« mit vorgeschalteter ^ mit den festen
1 lm ortSfesten
^7S
wird. Di. beiden Laserstrahlen
werden über einstellbare Umlenkspiegel 43 α und 43 h in
die Meßwagen 33 a und 33 h geschickt und dort durch
die Spiegel 37 und 38 auf beide Seiten der Papierbahn 34 projiziert. Die einstellbaren Umlenkspiegel sind
auf piezoelektrischen Kristallen 44« und 44/) befestigt. Die Wirkungsweise dieser Anordnung entspricht
der zu Fig. 2 beschriebenen Meßanordnung. Bei der Meßanordnung gemäß F i g. 3 ist von
besonderem Vorteil, daß eine Abstandsänderung der beiden Meßwagen 33 λ und 33 b keinen F.influß auf to
da*. MclWrgebiiis ausübt. Fine eventuelle Durchbiegung
dei Schienen, die bei Papiermaschinen eine Länge von mehreren Meiern aufweisen können, ist
daher unschädlich. Beim F.inbau des L.asers 40 und der einstellbaren Spiegel 43a und 43 h im ortsfesten
Seitenteil 39 beinhalten die beiden Meßwagen 33 a und Π f>
nur noch fest montierte Spiegel, Optiken und Difierentialfotodiodcn. Die gesamte F.lcktronik
kann im Seitenteil 39 installiert werden und ist hier leicht zugänglich.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Anordnung zur Dickenmessung eines auf
einer Bezuesebene unmittelbar aufliegenden 5 , .,<■·,,
MeBobjekts unter Verwendung eines Laserstrahls. Die Erfindung bezieh! s.ch auf eine Anordnung
gekennzeichnet durc^h einen einstell- zur Dickenmessung eines auf einer Bezugsebene
baren Umlenkspiegel (5), der einen Laserstrahl unmittelbar aufliegenden Meßobjekis oder eines frei
(3) nacheinander senkrecht auf die Bezugsebene bewegliehen Meßobjekts unter Verwendung von
(2) und dann auf das Meßobjekt (1) projiziert, io Laserstrahlen.
und durch eine Differentialfotodiode (6) zur Bei einem unter der Bezeichnung » I nangulations-Lageüberwachung
des Streulichtflecks, deren verfahren« bekannten beruhrungslosen Dickenmeß-Differenifotosianal
einen Regler (9) mit Integral- verfahren wird ein Laserstrahl von einem piezoelekanteil
ansteuert, der die Stellung des Umlenk- irischen Ablenker periodisch um einen kleinen Winspiegels
(5) über ein Stellglied (11) mit Proportio- 15 kel abgelenkt und der Laserstreulichtfleck auf der
naiverhalten so beeinflußt", daß die Abbildung des Bezugsebene bzw. auf dem Meßobjekt über eine
Streulichtflecks ins Zentrum der Differentialfoto- Optik auf eine Fotodiode abgebildet (»messen +
diode (6) rückt, wobei ein Differenzbildncr (16) prüfen« [1972|, Seite 778 bis 782). Die Dickenmesdie
Differenz zwischen dem gespeicherten Wert sung wird also auf eine Zeitmessung zurückgeführt.
(17/)) der Reglerausganßsspannung beim Auftref- 20 Dieses bekannte Dickenmeßverfahren stellt äußerst
fen des Laserstrahls"auf der Bezugsebene (2) und hohe Anforderungen an die Genauigkeit des mechadem
gespeicherten Werl(i/„) der Regleraus- nischen Aufbaus und an die elektronische Steuergangsspannung
beim Auftreffen des Laserstrahls und Auswerteeinrichtung, wenn die theoretisch mögauf
dem Meßobjekt (1) bildet und einer Aus- liehe Meßgenauigkeit auch tatsachlich erreicht werwerteeinriehtung
(17) als Maß für die Meßobjekt- 25 den soll,
dicke zuführt. Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde,
dicke zuführt. Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde,
2. Anordnung nach Anspruch L gekennzeich- eine wesentlich einfacher aufgebaute und gegenüber
net durch einen von der Reglerausgangsspannung Störeinflüssen unempfindlichere Anordnung zur
angesteuerten Spannungsfrequenzumsetzer (12). Dickenmessung von Gegenständen mit Hilfe von
dessen Impulse über einen Umschalter (13) beim 30 Laserstrahlen zu schaffen. Die erfindungsgemäße
Auftreffen des Laserstrahls auf der Bezugsebene Meßanordnung soll insbesondere zur Dickenmessung
(2) in einen Bczugswertspeicher (14) und beim von schnell beweglichen Papierbahnen geeignet sein.
Auftreffen des Laserstrahls auf dem Meßobjekt Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einer
(1) in einen Meßwertspeicher (15) einzählbar Anordnung zur Dickenmessung eines auf einer Besind.
35 zugsebene unmittelbar aufliegenden Meßobjekts ge-
3. Anordnung zur Dickenmessung eines frei- löst durch einen einstellbaren Umlenkspiegel, der
beweglichen Meßobjekts unter Verwendung von einen Laserstrahl nacheinander senkrecht auf die
zwei Laserstrahlen, gekennzeichnet durch beider- Bezugsebene und dann auf das Meßobjekt projiziert,
seits des Meßobjekts (20) angeordnete einstell- sowie durch eine Dilfcrentialfotodiode zur Lagebare Umlenkspiegel (23n, lib) zur Projektion 4° überwachung des Streulichtfkcks, deren Differenzvon
je einem Laserstrahl (21 «, 21 b) auf beide fotosignal einen Regler mit Integralanteil ansteuert,
Seiten des Meßobjekts und durch beiderseits des der die Stellung des Umlenkspiegel über ein Stell-Meßobjekts
angeordnete Differentialfotodioden glied mit Proportionalverhalten so beeinflußt, daß
(25 a, 2Sb) zur Lageüberwachung der Streulicht- die Abbildung des Streulichtflecks ins Zentrum der
flecke, deren Differenzfotosignale je einen Regler 45 Differentialfotodiode rückt, wobei ein Differenz-(27
a, 27 b) mit Integralanteil ansteuern, welche bildner die Differenz zwischen dem gespeicherten
die Stellung des ihnen jeweils zugeordneten Um- Wert der Reglcrausgangsspannung beim Auftreffen
lenkspiegels (23 fl, 23 b) über Stellglieder (22 a, des Laserstrahls auf der Bezugsebene und dem ge-22
b) mit Proportionalverhalten so beeinflussen, speicherten Wert der Reglcrausgangsspannung beim
daß die Abbildungen der Streulichtlleeke jeweils 5« Auftreffen des Laserstrahls auf dem Meßobjekt bildet
ins Zentrum der zugehörigen Differcntialfoto- und einer Auswerteeinrichtung als Maß für die Meßdiode
rücken, wobei die Ausgangsspannungen objektdicke zuführt.
der beiden Regler (27 α, 27 b) einem Differenz- Eine andere erfindungsgemäße Anordnung zur
verstärker (29) zugeführt werden, dessen Aus- Dickenmessung eines frei beweglichen Meßobjekts
gangsspannung einer Auswerteeinrichtung (31) 55 sieht zur Lösung der gestellten Aufgabe beiderseits
eingegeben wird. des Meßobjekts angeordnete einstellbare Umlenk-
4. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch ge- spiegel zur Projektion von je einem Laserstrahl auf
kennzeichnet, daß beide Laserstrahlen (2t a. 21 b) beide Seiten des Meßobjekts vor, sowie beiderseits
von einem einzigen Laser erzeugt sind. des Meßobjekts angeordnete Differenlialfotodioden
5. Anordnung nach einem der vorstehenden 6o zur Lageüberwachung der Streulichtflecke, deren
Ansprüche, gekennzeichnet durch ein piezoelck- Dilfcrenzfotosignale je einen Regler mit Integralanteil
trisches Kristall als Stellglied (11, 22«, 22 b), ansteuern, welche die Stellung des ihnen jeweils
dessen Steuerspannung aus der Ausgangsspannung zugeordneten Umlenkspiegels über Stellglieder mit
des ihm zugeordneten Reglers (9, 27 a. 27 b) ab- Proportionalverhalten so beeinflussen, daß die Abgeleitet
ist. 65 bildungen der Streulichtflecke jeweils ins Zentrum
6. Anordnung nach einem der vorstehenden der zugehörigen Differentialfotodiode rücken, wobei
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß an die Ausgangsspannungen der beiden Regler einem
Stelle des Streulichtflecks der reflektierte Laser- Differenzverstärker zugeführt werden, dessen Aus-
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732355185 DE2355185C2 (de) | 1973-11-05 | 1973-11-05 | Anordnung zur Dickenmessung von Gegenständen unter Verwendung von Laserstrahlen |
JP12744874A JPS5428090B2 (de) | 1973-11-05 | 1974-11-05 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732355185 DE2355185C2 (de) | 1973-11-05 | 1973-11-05 | Anordnung zur Dickenmessung von Gegenständen unter Verwendung von Laserstrahlen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2355185B1 DE2355185B1 (de) | 1974-10-10 |
DE2355185C2 true DE2355185C2 (de) | 1975-05-22 |
Family
ID=5897224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19732355185 Expired DE2355185C2 (de) | 1973-11-05 | 1973-11-05 | Anordnung zur Dickenmessung von Gegenständen unter Verwendung von Laserstrahlen |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5428090B2 (de) |
DE (1) | DE2355185C2 (de) |
Families Citing this family (6)
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---|---|---|---|---|
JPS5647701A (en) * | 1979-09-27 | 1981-04-30 | Canon Inc | Detector for incident location of light flux |
DE3204086A1 (de) * | 1982-02-06 | 1983-08-11 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Vorrichtung zur automatischen optischen beschaffenheitspruefung |
JPS626106A (ja) * | 1985-07-03 | 1987-01-13 | Kazuo Shimada | 厚さ測定方法および測定装置 |
EP0248479B1 (de) * | 1986-06-04 | 1991-11-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optische Messanordnung des Abstands zwischen einer Oberfläche und einer Bezugsebene |
DE3728704A1 (de) * | 1987-08-28 | 1989-03-09 | Agfa Gevaert Ag | Vorrichtung zur bestimmung der dicke von schichttraegern |
DE3728705A1 (de) * | 1987-08-28 | 1989-03-09 | Agfa Gevaert Ag | Vorrichtung zur ueberpruefung von beschichteten und unbeschichteten folien |
-
1973
- 1973-11-05 DE DE19732355185 patent/DE2355185C2/de not_active Expired
-
1974
- 1974-11-05 JP JP12744874A patent/JPS5428090B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5428090B2 (de) | 1979-09-13 |
JPS5080155A (de) | 1975-06-30 |
DE2355185B1 (de) | 1974-10-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |