DE2123667A1 - Interferometer - Google Patents
InterferometerInfo
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/02056—Passive reduction of errors
- G01B9/02061—Reduction or prevention of effects of tilts or misalignment
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- G01B9/02075—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration of particular errors
- G01B9/02078—Caused by ambiguity
- G01B9/02079—Quadrature detection, i.e. detecting relatively phase-shifted signals
- G01B9/02081—Quadrature detection, i.e. detecting relatively phase-shifted signals simultaneous quadrature detection, e.g. by spatial phase shifting
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Description
Interferometer
Die Erfindung "betrifft Interferometer, insbesondere
zur Längenmessung, mit einer einen scharfgebiindelten,
monochromatischen Lichtstrahl aussendenden Lichtquelle, einem gegenüber der Lichtquelle auf linearem Pfad bewögbareaPrismenreflektor
und halbdurchlässigen, planparallelen OJrennplatten, an denen der Eingangalicht«?
strahl in einen Meß- und einen Bezugsstrahl aufgeteilt r)2w. rücklauf ende Komponenten von Meß- und Besugs™
strahl zur Erzeugung von Interferenzbild-Ausgangssig«
nalen vereinigt werden.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Längenmeß-Interferometer
zu schaffen, das nur aus drei optischen Bauelementen»
9 nämlich zwei konventionellen Trennplatten und einem einzigen. Prisraea-Reflekfcor besteht und daher ganz
erheblich weniger kostet als übliche Interferometerp
welche für Meßstrshl und Beaugaatrahl je einen Reflektor
haben ■
BAD
209808/0230
Ferner bezweckt die Erfindung., ein Interferometer so
auszubildenο daß man Fehler der optischen Bauelemente^
insbesondere Fehler am Priamenreflektürs, beim Zusammenbau kompensieren kamic so daß trotz der u3vemneLd~~
liehefi Fahler uiid Ü7ivollk©mmeaheitew der optische« Bauelemetite
ein optimales InterferenB'blld und ein gleich=·
förmig beleuchte tee optisches Feld erreichbar sindο
Zur Lösung dieser Aufgabe ist das Interferometer der einleitend genannten Art erfisiduagagemäß dadurch gekennzeichnet,
daß auf einem gemeinsamen SockelP der
such die Lichtquelle trägt9 zwei physikalisch nn
ander unabhängige Trennplatte» mit „hren verspiegelten
Oberflächen einander mater einem V/iukej. zugev/aadt angeordnet sind a wobei dieser Winkel uo gewählt istg daß
trotz optischer Fehler des Prismenreflektors und/oder gestörter Parallelität der Trennplatten„ der an der ver
spiegelten Oberfläche der ersten Trennplatte unter Abtrennung des abgelenkten Bezugsstrahls aus dem dort auf=
treffenden Eingangsstrahl der lichtquelle gewonnene Meßstrahl nach der Reflexion an dem Priiimenreflektr-r und
dem Durchqueren der zv/eiten Trennplatte den gleichen
Punkt auf dessen verspLegeiter Oberfläche ei.reicht, wie
der an der verspiegelten Oberfläche der ^rsteii Trennplatte abgetresm 5a fie^i
BAD ORIGINAL 209808/0280
Gemäß einem weitere« Merkmal der Erfindung ist dabei
die Anordmmg so getroffenf daß die ers^e Trennplatte
entsprechend dem Durchgang der halbem Lichtstrahlenergie
mit dielektrischen Stoffen besahishtet fatP
während die Beschichtung der zweiten Trennplatte aus Metalls inaheat.,iderc; aus Aluminium besteht. Auf diese
Weise ergibt sl'.:h ein extrem geringer Verlust an Licht«
energie uml es ergibt si«h gleichzeitig eine 90e~
Phasenverschiebung; der Ausgangasignaler die für die
Auswertung sehr erwünseh? ist,
Wenn auch Iöterferemei?ei? mit nur einem Prismenreflektor
an sich nicht neu und beispielsweise in den 196Θ er^
teilten britischen Patent 1 108 214 offenbart sinä„
war die Schaffuisg eines Interferometers mit sllen anderen vorerwähnten Vorteilen bis zu dieser Erfindung
nicht möglichο
Weitere Einzelheiten und Merkmale äsr Erfindung ergebevi
sich aus der iischfölgenöen ausführlichen Beachreibung
uad den beigefügten Zeichnungenr iß dtnen eine bevorzugte
Ausführu?igaforin der Erfindung beispielsweise veranschaulicht ist-
In den Zeichnungen zeiger·: BAD ORIGINM.
209808/0280
1 eine Seitenansicht einer Werkzeugmaschine mit erfindungsgemäßem Interferometer zum
Messen des rom Werkstückhalter zurückgelegten Weges entlang einer Achse und
Figo 2 eine schematisehe, stark übertriebene Darstellung
zur Erläuterung der Kompensation von Fehlern am Prismenreflektor des er= findungsgemäßen Interferometerso
In dem in Fige 1 gezeigten Maschinenbett 5 einer Werkzeugmaschine
kann ein Werkstückhalter 6 mit nicht dargestellten Antrieben entlang 3er Führungen 7 auf einem
linearen Weg verschoben werdeno Die Größe und auch die
Richtung der Bewegung lässt sich mit einer Steuerung erfassen und steuern* zu der als wesentliches Bauelement ein Interferometer 8 gehört«
Wie bei solchen Meßgeräten üblich, gehören zum Interferometer
8 eine Lichtquelle, insbesondere ein Laser 99 der einen gebündelten monochromatischen Lichtstrahl 10 ■
erzeugt, eine prismatische Trennplatte 11, mit der der .Eingangsstrahl 10 in divergierende Bezugs-» bzw., Meßstrah*
len 12 und 13 aufgeteilt wird« Der Meßstrahl 13 trifft
auf einen Prismenreflektor 14, der den Strahl zurückwirft und eine rücklaufende Komponente 15 erzeugte Diese
BAD 209808/0280
rücklaufende Heßstrahlkomponente 15 und der Bezugsstrahl 12 vereinigen sich auf einer zweiten Trennplatte
16„ wo zwei Ausgangssignale 17 und 18 entstehen»
Damit das Interferometer die Bewegung des Werkstück»
halters entlang der Führung messen und die Bewegungsrichtung feststellen kann, ist der Prismenreflektor 14
starr am Werkstücktisch oder an einem festen Teil des» a
selben tafestigt, während der Laser 9 und die zwei Trenn-'
platten 11 und 16 am Maschinenbett 6 festgelegt sindB
was vorzugsweise dadurch geschieht,, daß man den gemein»
samen Sockel 19 der Trennplatten und des Lasers entsprechend verbindetο
Wie bei Interferometern üblich, handelt es sich bei den
Trennplatten um klare planparallele Glasplatten oder «streifen, die einseitig halbdurchlässig verspiegelt
sindο Die erste Trennplatte 11 weist mit der verspiegeln I
ten Seite 11c zum Laser 9 und bildet mit dem Eingangsstrahl 10 einen Winkel von 45°, so daß der Bezugsstrahl
12 rechtwinklig und der Meßstrahl 13 bei entsprechender Versetzung in Abhängigkeit von der Dicke und dem Brechungsexponenten der Trennplatte parallel zum Eintritte»
strahl 10 weiterläuft»
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Die zweite Trennplatte 169 ebenfalls eine klare Glasplatte ©der ein Glasstreifenp welche physikalisch von
der ersten Trennplatte unabhängig istfl bildet mit der
ersten Trennplatte nominell einen rechten Winkele Die verspiegelte Seite 16c der Trennplatte 16 ist eben=
falls dem Laser 9 zugewandtP liegt aber nicht im Bereich
des Eingangsstrahles 10-, Die Relativlage zwischen den zwei Trennplatten ist so gewählt, daß die rück»
laufende Komponente 15 des Meßstrahles 15 und der Bezugs= strahl 12 sich an der Verspiegelung 16c treffenc sich
vereinigen uad atfrei Paare von Interferenzbild-Ausgangs=
Signalen 17 und 18 bilden-,
Da es erwünscht ist9 die Interferenzlinien mit einem
in zwei Richtungen arbeitenden Zähler zu zählenp wird
eines der Ausgangssignalpaare gegenüber dem anderen um 90° phasenverzögertο Gemäß der Erfindung wird diese
90°-=Pha3enverSchiebung leicht und wirkungsvoll dadurch
erzieltβ daß man für die Verspiegelung 16c Metalls
speziell Aluminium verwendet» Wenn auch Aluminium den Nachteil hate daß es bis zu 40 36 der durchtretenden
Lichtenergie absorbiert, so hat es doch einen ganz her-=» vorragenden Strahlteilereffekt und erzeugt zusätzlich
die erwünschte !^»Phasenverschiebung der Ausgangssignaleo
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Da gemäß der Erfindung unterschiedliche Stoffe für die Überzüge der zwei Trennplatten verwendbar sind, kann
man die relativ hohe Energieabsorption eines Metallüberzuges an der zweiten Trennplatte dadurch kompensieren, daß man als überzug 11c der ersten Trennplatte
ein dielektrisches Material verwendet.
Bei dielektrischen Trennplatten besteht der Überzug aus mehreren einander abwechselnden Schichten zweier
dielektrischer Stoffe, beispielsweise Magnesiumfluorid und Kryolith^ wobei die einzelnen Schichten sehr dünn
sind und etwa in der Größenordnung einer viertel Wellenlänge des monochromatischen Interferometer-Liehtes
liegen. Mit einem solchen dielektrischen Überzug erreicht man nicht nur eine gleichmäßige Aufspaltung des Eingangslichtstrahles
sondern hält dabei auch die Yerluste minimal* Bei der Strahltrennung beträgt der Lichtenergieverlust
nicht mehr als 5/10 eines Prozentes (0,5 #) >
>
Die Ausnutzung erwünschter Merkmale dielektrischer und metallischer !rennplatten bildet nicht den einzigen
Vorteil der Erfindung.
Pur einen vorgegebenen Prismenreflektor kann man das
größte Interferenzbild und eine gleichförmige Verteilung
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der hellen und dunklen Teile im gesamten optischen Feld selbst darm erhalten f wenn das Prisma Fehler hat oder
die Parallelität der gegenüberliegenden Oberflächen der Trennplatte?: gestört ist«
Bei vollkommenem Prismenreflektor und vollkommenen Trennplatten verlaufen die vor= und rücklaufende« Komponenten des MeSstrahles 13 und 15 exakt parallel zu=
einander in einsm Abstand der gleich der Länge des
Bezugsstrahles 12 plus dem Doppelten der Brechungsver-Setzung
ais den Trennplatten ist» Bei dieser idealen
Situation treffsn Eezugsstrahl- und Meßstrahl im gleichen
Punkt der Vereinigungsfläche 16c zusammen 9 so daß die
diese Oberfläche verlassenden Signalstrahlen köinzident
sindc Das Ergebnis ist dann ein gleichförmig ausgeleuchtetes optisches PeId8. von äem 100 $ der beobachteten
optischen Energie (interferenzbilö) mit einem niohtdargest'ellten
Lichtdetektor in zwei gegeneinander 90°
phasen^erschobsriS elektrische SignaT.e umgewandelt v/erden
kann,
Prismenreflektoten sind jedoch selten vollkommen und
auch Trennplatte haben oft nicht exakt parallele Oberflächen» Die ideale Beziehung zwischen den verschiedenen
Lichtstrahlen kenn man somit nur sehr schwer und in
BAD ORIGINAL 209808/0280
einigen Fällen, beispielaweise bei der Anordnung gemäß
br it ο Patentschrift 1 108 214» überhaupt nicht erzielen,,
Gemäß der vorliegenden Erfindung kann man aber Fehler
und Unvollkommenheiten der optischen Komponenten dee Interferometers βο kompensieren, daß man ein nahezu
perfektes Znterferenzbild erhält«.
Fig. 2 erläutert übertrieben die zu beanstandenden
Folgen von Fehlern am Prismenreflektor und wie man ge» |
maß der Erfindung diese Fehler beseitigen kann., Wie
dargestellt» verlaufen die vorlaufenden und die rücklauf end en Komponenten des Meßstrahles wegen eines Prismenfehlers nicht exakt parallel» Wären in einem solchen
Falle die Trennplatten unter einem Winkel von 90° gegeneinander angeordnet, wie es entsprechend der strichpunktierten Darstellung der Srennplatte 16 für vollkommene Prismen nötig ist, würden sich der Bezugsstrahl
und die rücklaufende Komponente des Neßetrahls nicht
am gleichen Punkt der Vereinigungsfläohe 16c treffen.
So ergäbe sich auch keine Koinzidenz der Ausgangseignale an der Yereinigungs-Trennplatte; vielmehr ergäbe sich
eine Divergenz, so daß es unmöglich wäre, ein gleichförmig ausgeleuchtetes optisches Feld zu erhaltene Da
die Trennplatten aber physikalisch voneinander unab-
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hängige Bauelemente und nicht miteinander fest verbunden sind j kann man sie, wie in fig· 2 mit ausgezogenen
Linien dargestellts unter einem beliebigen Winkel gegen=
einander anordnen 9 um auf diese Weise wieder eine Koinzidenz der Ausgangssignale herzustellen-
Es ist nicht nur möglich 9 den Vfinkel zwischen den Trenaplatten
einzuregeln und so auszubilden9 daß sich die
richtige Beziehung bezüglich der Liehtwege des Prismenreflektors ergibtf sondern maa kann auch die beiden
Tresaplatten gemeinsam um die Aehsa des B©zugss$rahls
drehen» um die vom Eingsngslaserstirahl 10 und dam 3eaugsstrahl
12 definierte Ebene parallel zu einer Ebene zu stellen,, in der sich die beiden Komponenten des Meßstrahles
befindenο Es lassen sich also Parallelitätsfehler an den gegenüberliegenden Oberflächen der Erenn»
platten und auch Prismenfehler kompensieren„ so daß
man optimale I'iterferenzbilder erhält»
Die entsprechenden Einregelungen der Trennplatten werden vorgenommen, bevor man sie auf dem Sockel 19 befestigt9
der wie vorerwähnt$, fest mit dem Maschinenbett verbundeir
ist und damit aueh festliegt gegenüber dem linearen Bewegungspfad ρ auf oem sich der den Prismenreflektor
tragende Maschinenteil bewegt» Hach entsprechend, korrekter
BAD ORIGINAL
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Einstellung werfen die !Trennplatte« auf dem Sockel mit
einem geeigneten Kleber befestigt*
Aus der vorstehenden Beschreibung der Erfindung ergibt sich die außerordentliche Einfachheit des Aufbaues und
der Konstruktion des Interferometersο Durch den Fort"
fall des einen Erii3mfnreflektorss der sonst bei üblichen Interferometer^ vorhanden ist* ergibt sich eine erhebliche * Kostenvermindering*
fall des einen Erii3mfnreflektorss der sonst bei üblichen Interferometer^ vorhanden ist* ergibt sich eine erhebliche * Kostenvermindering*
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Claims (1)
1.] Interferometer,, insbesondere zur Längenmessung,, mit
einer einen scharfgebündelten monochromatischen Lichtstrahl aussendenden Lichtquelle, einem gegenüber
der Lichtquelle auf linearem Pfad bewegbaren Prismen~ reflelctor und halbdurchlässigen, planparallelen
Trennplatte p an denen der Eingangslichtstrahl in
einen Meß- und einen Bezugsstrahl aufgeteilt bzwo
rücklaufenae Komponenten von Meß- und Bezugsstrahl
zur Erzeugung von Interferenzbild- Ausgangssignalen
vereinigt worden, dadurch gekennzeichnet!, daß auf einem gemeinsamen Sockel (19)» der auch die Lichtquelle
(9) trägtj zwei physikalisch voneinander unabhängige Trennplatten (11,16) mit ihren verspiegelten
Oberflächen (11c,16c) einander unter einem Winkel zugewandt angeordnet sind, wobei dieser Winkel so gewählt ist, ßaß trotz optischer Fehler des Prismenreflefctors
(H) und/oder gestörter Parallelität der Trennplatter. (11„16)9 der an der verspiegelten Oberfläche (11c} der ersten Trennplatte (11) unter Abtrennung des abgelenkten Besugsstrahls (12) aus dem
dort euftreffenden Eingangsstrahl (10) der Lichtquelle
(9) gewonnene Meßstrahl (13) nach der Reflexion an dem Prismeni-eflelctor (H) und dem Durchqueren der
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~ 13 -
zweiten Trennplatte (16) den gleichen Punkt auf
dessen verspiegelter Oberfläche (16c) erreicht»
wie der an <3er verspiegelten Oberfläche (11c) der
ersten Trennplatte (11) abgetrennte Be2ugsstrahl
(12)o
2ο Interferometer nach Anspruch 1e dadurch gekenn»
!zeichnet 9 daß die erste Trennplatte (11) entsprechend
dem Durchgang der halben Lichtstrahlenergie mit
dielektrischen Stoffen beschichtet ist, während die t
Beschichtung (16c) der zweiten Trennplatte aus
Metall, insbesondere aus Aluminium besteht»
209808/0280
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US6247970A | 1970-08-10 | 1970-08-10 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2123667A1 true DE2123667A1 (de) | 1972-02-17 |
Family
ID=22042773
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19712123667 Pending DE2123667A1 (de) | 1970-08-10 | 1971-05-13 | Interferometer |
Country Status (4)
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---|---|
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DE (1) | DE2123667A1 (de) |
FR (1) | FR2117014A5 (de) |
NL (1) | NL7107593A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1993009394A1 (en) * | 1991-11-08 | 1993-05-13 | British Technology Group Ltd. | Measuring instruments |
-
1971
- 1971-04-05 BE BE765248A patent/BE765248A/xx unknown
- 1971-04-05 FR FR7111945A patent/FR2117014A5/fr not_active Expired
- 1971-05-13 DE DE19712123667 patent/DE2123667A1/de active Pending
- 1971-06-02 NL NL7107593A patent/NL7107593A/xx unknown
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1993009394A1 (en) * | 1991-11-08 | 1993-05-13 | British Technology Group Ltd. | Measuring instruments |
US5546184A (en) * | 1991-11-08 | 1996-08-13 | British Technology Group Ltd. | Single-frequency bidirectional fringe-counting interferometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL7107593A (de) | 1972-02-14 |
FR2117014A5 (de) | 1972-07-21 |
BE765248A (fr) | 1971-08-30 |
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