DE2121293A1 - Device for calibrating devices that are used to determine the purity of the air in air-conditioned rooms - Google Patents
Device for calibrating devices that are used to determine the purity of the air in air-conditioned roomsInfo
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Description
Vorrichtung äum Eichen von Geräten, die i1 Bestimmung der Reinheit der Luft in klimatisierten Häumen dienen«,Apparatus äum calibration of devices that serve i 1 Determination of the purity of the air in air-conditioned Häumen "
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Eichen von Geräten.j die sur Bestismiutig der Reinheit der Luft in klimatisierten Räumen dienen und in einem lichtdichten Gehäuse mit innen aicht reflektierender Oberfläche eine exponierbare und aus dein Gehäuse ausschiebbare Staubsanaae Ip latte« sowie eine Lichtquelle und ein optisches System enthalten, mit welchem das von der Lichtquelle kommende Licht im wesentlichen parallel sur Platte auf die Staubablagerungen der in das Gehäuse eingezogenen Platte gelenkt wird, um mit einer neben der Platte angeordneten hochempfindlichen Lichtmeßvorricfetmig das von eier Lichtquelle kommende und von den Staubpartikeln abgelenkte Licht ku empfangen und mit einem eichbaren Meßgerät zu messen«,The invention relates to a device for calibrating devices, which serve to ensure the purity of the air in air-conditioned rooms and, in a light-tight housing with a non-reflective surface on the inside, an exposable Staubsanaae Ip latte, which can be pushed out of the housing, as well as a light source and an optical system with which the light coming from the light source is directed essentially parallel to the plate onto the dust deposits of the plate drawn into the housing, in order to receive the light coming from a light source and deflected by the dust particles with a highly sensitive light measuring device arranged next to the plate to measure with a calibratable measuring device «,
Solcbe Geräte mid Verfahren zur Bestimmung der Luftreinheit in klimatisierten Räumen sind "beispielsweise in den britischen Patentschriften 1 145 657 und 1190 490 beschrieben. Wie die brit. Patentschrift 1 145 657 lehrt, werden die auf der Platte gesammelten Staubpartikel mit einem Lichtstrahl beleuchtet, der dank eines SpannungsstaMlisators und eines Rückkopplungskreises unabhängig von Schwankungen der die Lichtquelle speisenden Spannungsquelle eine konstante Größe hat* Diese Patentschrift zeigt auch einen zwischen Lichtmeßvorrichtung und Meßinstrument eingeschalteten Verstärker, der die von der Lichtmeßvorrichtung ausgesendeten Signale des Lichtstrahls verstärkt,Such devices and methods for determining air purity in air-conditioned rooms are "for example in British Patents 1,145,657 and 1,190,490 described. As British Patent 1,145,657 teaches, the dust particles collected on the plate with illuminated by a beam of light that, thanks to a voltage regulator and a feedback circuit independent of fluctuations in the voltage source feeding the light source has a constant size * This patent also shows an intermediate between the light measuring device and the measuring instrument switched on amplifier, which transmits the signals of the light beam emitted by the light measuring device reinforced,
Um die Keßergebnisse verschiedener Geräte vergleichbar su sachet», werden alle neu gefertigten Geräte so geeicht, daS ihre Meßausschläge mit eimern als !formale gewähltem Meßpegel übereinstimmen* Diese Eichung erfolgt mit einer Primär-Wormalen in Form einer staubunempfinciXichen lichtablenkenden Platte, die eine bekannte feste Beziehung zu ©leer entsprechenden Staubpartikelablagerung hatc, in «las Gehäuse des Gerätes eingebracht vmä dort bezüge lies des reflektierten Lichtes gemessen «iro, Z^e 2s£g@r-ausscblag am Meßiastrument wird mit Hilfe von Sichv;ider~ im Verstärker auf einen festen, in Skalen teil® naIn order to make the chewing results of different devices comparable, all newly manufactured devices are calibrated in such a way that their measuring deflections correspond to buckets as the formal selected measuring level to © empty corresponding dust particles depositing has c, introduced in "las housing of the device vmä there remuneration read the reflected light" measured iro, Z ^ e 2s £ g @ r-ausscblag on Meßiastrument is using SichV; ider ~ in the amplifier to a fixed, in scales part® na
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der Instrumentenskala angegebenen Wert oC der Primär-Nonaslen eingestellt«the value indicated on the instrument scale oC of the primary Nonaslen set «
Sie praktische Arbeit bein Hessen der abgelagerten Staubpartikel «it Hilfe des Verfahrens und der Vorrichtung nach den genannten Patenten hat gezeigt, daß ein Bedarf für eine Sichvorrichtung mit einer Sekundär-Normalen besteht» die in jedes Gerät mit eingebaut wird und die die Möglichkeit gibt, ständig, beispielsweise bei jeder Messung von abgelagerten Staubpartikeln, ssu kontrollieren, ob das Gerät noch dem Eich-MeßpegelOC entspricht.They do practical work on the deposited dust particles with the aid of the method and the device according to the cited patents has shown that there is a need for a viewing device with a secondary normal which is built into every device and which the There is the possibility of constantly checking, for example with each measurement of deposited dust particles, whether the device still corresponds to the calibration measurement level OC.
Sie Erfindung befaßt sich im wesentlichen mit einer solchen Sekundär-Eichnormalen für das Heßinstrument, die in des lichtdichten und nicht reflektierenden Gehäuse in eine Lage gebracht werden kann, die der Lage der Staubsammelplatte während der Messung entspricht, wobei die Eichnormale eine staubdichte Hülse ist, deren Bit unveränderlichem Ablenkbelag versehene Bodenfläche in der Eicheteilung in der Ebene liegt, in der sich die Oberfläche der Staubsamaelplatte bei der Messung befindet, und in der Hülse im Bereich der Bodenfläche EinlaßschiitBe für die Lichtstrahlen der Lichtquelle vorgesehen sind und die Hülse ferner eine transparente Ab-You invention is essentially concerned with one such secondary calibration standards for the measuring instrument, which are in the light-tight and non-reflective housing can be brought into a position which corresponds to the position of the dust collecting plate during the measurement, the Calibration standards is a dust-proof sleeve, the bit of which has an unchangeable deflection coating in the bottom surface The oak graduation lies in the plane in which the surface of the dust samel plate is located during the measurement, and inlet slits for the light rays from the light source are provided in the sleeve in the area of the bottom surface, and the sleeve also has a transparent cover.
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deckung enthält3 durch die eine suvor festgelegte Licht~ menge vom Ablenkbelag z\rr Lichtmefivorrlchtung weitergegeben wird»cover contains 3 through which a predetermined amount of light is passed on from the deflecting coating to the light measuring device »
Weitere Einzelheiten un<3 Merkmale der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden ausführlichen Beschreibung und den beigefügten Zeichnungen.,, in denen bevorzugte ^ Ausführungsforinen der Erfindung beispielsweise veranschaulicht sind.Further details and 3 features of the invention result from the following detailed description and the accompanying drawings. ,, in which preferred ^ Illustrates embodiments of the invention, for example are.
In den Zeichnungan zeigen;In the drawings show;
Figo 1 eine perspektivische aufgebrochene Vorderansicht eraes Staubmeßgerätes der einleitend genannten Art-, mit erfinctungsgemäßer Sekundär-EichQormalen,, 1 is a perspective, broken-away front view of a dust measuring device of the type mentioned in the introduction, with secondary calibration standards according to the invention .
Figc. 2 eine Seitenansicht einer Platte mit abgelagerten Staubpartikeln:t Figc. 2 shows a side view of a plate with deposited dust particles : t
Fig., 5 einen Schnitt durch eine Hülse der erfindungs* gemäßen Eiohnormalen, 5 shows a section through a sleeve of the egg normal according to the invention,
Figc, 4 einen Schnitt durch die in der Hülse vorgesehene Abdeckung in abgewandelter Ausführungefomn undFigc, 4 shows a section through the one provided in the sleeve Cover in a modified version and
Fig„ 5 einen Schnitt durch die Meßkammer des Meßgerätes mit Eichnormalenhülse in Arbeite-5 shows a section through the measuring chamber of the measuring device with calibration standard sleeve in progress
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Stellung und sinews Recht© ckdiagrasna der Schaltung von Siebvorrichtung, Lichtabsorber und Liehtme ßvorriohtung-.Position and sinews right © ckdiagrasna the circuit of the sieve device, light absorber and Liehtme ßvoriohtung-.
Pas in EIg. 1 dargestellte Gerät 1 aur Bestimmung der Staubkonzentration hat ein lichtdichtes und im Inneren nicht reflektierendes Gehäuse 1af. in dem eine Megkammer und ein Schieber 3 vorgesehen sinäs 'fit dessen Hilfe eine Staubsasmielp'Latte 4d in die Mej31rsK-aier so eingeschoben werden kBnn, daß -die cIök Staub at/ßgesetzte Platten-Oberfläche in einer Hori:3ontalebene 5 liegto Sine im Sehäuße 1a angeordnate Lio-rfccmells 6 ersseugt einen Lichtstrahl ? konstanter CrOBe1, dar ait eitsem Spiegelsystem 8 in f.wei Lichtstrahlen 9ß und 9b auf^sspaltsn v;irdu Diese Lichtstrahlen gelangen durch Öffnungen 10 and 11 in öle HfeßksmBier und beleuchten die rSt^ubablegerivßg 12 auf der in c;ie MeßkaEmier siiigeschobensn Platte von zwei Richtungen, die miteineuder einan Winksl von 90° 'bilden und sich parallel zur Ebene !5 erstreckeno Streulicht 13d< welches von den Staubpartikeln 12 auf der Platte nach oben abgelenkt v;irdy wird von einem Spiegel 14- oberhalb der Platte gegen eine Liehtmoßvorricntung 15 reflektiert, die eich über der Plette in der V/snad der Meßkiimmer befindet»Pas in EIg. The device 1 shown in FIG. 1 for determining the dust concentration has a light-tight and internally non-reflective housing 1a f . which provides for a Megkammer and a slider 3 sinä s' fit means of which a Staubsasmielp'Latte 4d in the Mej31rsK-Aier be inserted so kBnn that -the cIök dust at / ßgesetzte plate surface in a Hori: is 3ontalebene 5 o Sine Lio-rfccmells 6 arranged in the building 1a creates a ray of light? constant CrOBe 1 , which has a mirror system 8 in two light rays 9 and 9 b on ^ sspaltsn v; ird u These light rays pass through openings 10 and 11 in oils HfeßksmBier and illuminate the rSt ^ ubablegerivßg 12 on the in c; the measuring chamber siiigeschobensn form plate from two directions which miteineuder Einan Winksl of 90 ° 'and 5 extend parallel to the plane o scattered light 13d <which v deflected by the dust particles 12 on the plate upward;! ird y is reflected by a mirror 14 above the plate reflected against a Liehtmoßvorrintung 15, which is calibrated above the plate in the V / snad of the measuring skis »
Bite Llchtmaßvf rrioh-tuag 15 ist über eiaea Verstärker 17Bite Llcht Maßvf rrioh-tuag 15 is via eiaea amplifier 17
BAD ORIGINALBATH ORIGINAL
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an ein Meßgerät 16 mit unterteilter Skala angeschlossen«, Ein Potentiometer 185 daa an den Verstärker 17 angeschlossen istj ermöglicht durch Drehung des Verstellknopfes 19 an der Wand des Gehäuses 1a den Zeigerausschlag des Meßinstrumentes 16 zu and em o connected to a measuring device 16 with a subdivided scale. A potentiometer 18 5 that is connected to the amplifier 17 enables the pointer deflection of the measuring instrument 16 to and em o by turning the adjusting knob 19 on the wall of the housing 1a
In der Meßkammer befindet sich eine Sekundär-Eichnormale, ) welche schwenkbar gelagert ist und aus einer geschlossenen zylindrischen Prüfhülse 20 besteht, die auf einer flachen Bodenfläche 21 einen lichtablenkenden Belag 22 aufweist» Am Boden der Hülse eind zwei Lichteinlaßechlitze 23, 24· vorgesehen, die aich-durch die Hülsenwand hindurch erstrecken und miteinander einen Winkel von 9o° bilden» Die Hülse 20 hat an ihrem oberen Ende eine Ringschulter 259 welche eine Abdeckung 26 trägt, die aus einer Anzahl von transparenten Biffusorscheiben 26a besteht, die von einem Federring 27 gehalten werden» Bei einer anderen Ausführungsform gemäß Fig. 4 besteht die Abdeckung 26 der Hülse 20 aus einer transparenten Diffusorscheibe 26a, die auf eine nichttransparente Scheibe 26c aufgelegt ist, in der sich öffnungen 26b befinden» Eine lichtdurchlässige Folie 28 deckt an der Außenseite der Hülse die Schlitze 23 und 24 ab, so daß eine geschlossene staubdichte Kammer 29 Innerhalb der Hülse 20 entsteht ο Die Hülse 20 hat an ihrem oberen RandIn the measuring chamber there is a secondary calibration standard,) which is pivotably mounted and consists of a closed cylindrical test sleeve 20, which has a light-deflecting coating 22 on a flat bottom surface 21 Aich-by extending the sleeve wall, and with each other an angle of 9o ° form "the sleeve 20 has carries at its upper end an annular shoulder 25 9 comprising a cover 26, which consists of a number of transparent Biffusorscheiben 26a held by a spring washer 27 In another embodiment according to FIG. 4, the cover 26 of the sleeve 20 consists of a transparent diffuser disk 26a, which is placed on a non-transparent disk 26c in which there are openings 26b. A transparent film 28 covers the outside of the sleeve Slits 23 and 24 so that a closed, dust-tight chamber 29 is created inside the sleeve 20 o The sleeve 20 has on its upper edge
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einen Ringflansch 3O9 mit dem sie an einem Bügel 31 mit zwei Schenkeln 32 befestigt ist, daß sie mit einer Aohse 33 verschwenkt werden kann,. Die Achse 33 trägt außerhalb der Wand des Gehäuses 1e, einen Betätigungaknopf 34. Mit Hilfe des Knfpfes 34 lässt sich die Htilee 20 f wie in Pig» 5 gezeigt« aus einer Prüfstellung, in der die Bodenfläche 21 der Hülse 20 mit der Ebene 5 übereinstimmt, in die in Fig* 5 in strichpunktierten Linien angegebene Lage verschwenken, In dieser zurttckgeschwenkten Lege befindet eich die Hülse 20 während der Messung der Staubablagerung auf den Platten 4d in einer Ruhestellung«,an annular flange 3O 9 with which it is attached to a bracket 31 with two legs 32 so that it can be pivoted with an Aohse 33 ,. The axis 33 carries outside the wall of the housing 1e, a Betätigungaknopf 34. With the aid of Knfpfes 34 can be the Htilee 20 f as shown in Pig "5" from a test position in which the bottom surface 21 of the sleeve 20 coincides with the plane 5 Pivot into the position indicated in dash-dotted lines in FIG.
Die Arbeitsweise der- mit Sekunöärnormale versehenen EichvorrichtUiig gemäß der Erfindung wird nun ausführlicher erläutert in Verbindung mit der Eichung der Sekundärnormalen bezüglich einer festen Besiehung gegenüber der Primär-Normalen.. Dies geschieht bei der Ereteichung eines neugefertigten Gerätes mit einer lichtablenkenden Platte 4pf die gegen Staub unempfindlich ist. Diese Platte 4p wird auf dem Schieber 3 in die Kammer 2 eingeschoben* Bei dieser primären Eichung des Gerätes wird der Ausschlag dee Meßgerätezeigers so eingestellt, daß er auf den vorerwähnten WertoC- zeigto Die richtige Beziehung der Sekundär-Eichnormale gemäß der ErfindungThe operation of DER with Sekunöärnormale EichvorrichtUiig provided according to the invention will now be explained in more detail in connection with the calibration of the secondary standards with respect to a fixed Besiehung respect to the primary normal .. This is a newly fabricated device with a light-deflecting plate at the Ereteichung 4p f the dust is insensitive. This plate 4p is pushed into the chamber 2 on the slide 3 * In this primary calibration of the device, the deflection of the meter pointer is set so that it points to the aforementioned value oC- o The correct relationship of the secondary calibration standards according to the invention
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- B- B.
zu dem vorerwähnten Wert wird nun wie folgt hergestellt:to the aforementioned value is now produced as follows:
Die Prüfhülse 20 wird in die in Fig. 1 und 5 dargestellte Eichstellung gebracht und mit den Lichtstrahlen 9s und 9b der Lichtquelle 6 beleuchtet, so daß diese Lichtstrahlen den unteren Teil der Hülse beaufschlagen und dort über die Lichteißlsßßehlit&e 23 und 24 eintreten* Das vom Ablenkbelag 22 abgelenkte Licht wird vom Boden 21 aus nach oben durch die Abdeckung 26 als Lichtstrahl 13s weitergegebenο Diese Lichtstrahlung wird mit dem Meßgerät 16 gemessen, um danach die Lichtdurchlässigkeit der Abdeckung 26 zu justieren., Bei der einen Ausführungsform der Abdeckung geschieht dies durch Einlegen oder Fortnehmen von Diffusorscheiben und bei der anderen Ausführungsform durch Justieren der Größe der öffnung 26bf bis das durch die Abdeckung hindurchtretende Licht einem zuvor festgelegten Ausschlage?^ des Zeigers entspricht, der im wesentlichen in der Mitte der Instrumentenskala liegt. Dieser in Skalenteilen gemessene Ausschlag (X - des Zeigers wird notiert und auf der Sekundär-Eichnonnalen als der Sekundär-Eiehvjert festgehalten auf den des Meßinstrument nun routinemäßig , beispiels- . weise vor jeder Messung von Staubpartikeleblagerungen« eingestellt wird, indem man das Potentiometer mit dem Betätigungsknopf 19 verstellt. Diese routinemäßigeThe test sleeve 20 is brought into the calibration position shown in Fig. 1 and 5 and illuminated with the light beams 9s and 9b of the light source 6, so that these light beams impinge on the lower part of the sleeve and enter there via the Lichteißlsßßehlit & e 23 and 24 22 deflected light is from the bottom 21 upwards through the cover 26 as a light beam 13s weitergegebenο This light radiation is measured by the measuring device 16 to adjust thereafter, the light transmittance of the cover 26., in case of the one embodiment of the cover, this is done by inserting or taking away of diffuser disks and in the other embodiment by adjusting the size of the opening 26b f until the light passing through the cover corresponds to a predetermined deflection? ^ of the pointer, which is essentially in the center of the instrument scale. This deflection (X - of the pointer, measured in scale units, is noted and recorded on the secondary calibration standard as the secondary Eiehvjert to that of the measuring instrument now routinely, for example before each measurement of dust particle deposits ”, by turning the potentiometer with the Adjusted operating button 19. This routine
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~ ο — ~ ο -
Eichung korrigiert kontinuierlich im Laufe der -Zeit mögliche geringere änderungen» die sich durch die elektrischen Eigenschaften der lichtersseuggtiden und messenden Teile des Gerätes ergeben, so daß ein mit der Primär-Normalen übererristimiaeBdes MeSniveau stets bei den Messungen der Staubpartikel~A«Sammlungen beibehalten wird«, Zu gleicher 2eis ißt finch eine Überprüfung möglich, ob UEB Gerrit noch normal «.rbCalibration continuously corrects possible minor changes in the course of time "which result from the electrical properties of the light-sensitive and measuring parts of the device, so that a measurement level that exceeds the primary normal is always maintained in the measurements of the dust particles.""At the same time, it is possible to check whether UEB Gerrit is still normal."
Es hat sich gezeigt, da3 die Lichtdurchla3slgke.it Ser Prüfhülee 20 auSerordsntlich konstant iet* da die Hülse geschlossen ist und in ihr Inneres kein Stsufc eindringen kann,- um Änderungen dee von dem Ablenkbelag 22 der Hülse abgelenkten Liohtee au bewirken* Eine mögliche geringe Staubsnaaffijaiung suf der Oberseit® der Abdeckung hat keine meßbaren Itidtrmigen der Größe des abgelenkten Lichtstrahles ergeben, Da in übrigen die Prüfhülse in dieIt has been shown that the light transmittance with the test sleeve 20 is extremely constant, since the sleeve is closed and no step can penetrate into it, in order to cause changes in the liquid, which is deflected by the deflecting coating 22 of the sleeve suf the Oberseit® the cover no measurable Itidtrmigen the size of the deflected light beam has revealed Since in other respects the test sleeve in the
aasiter 2 eingebaut ist, ergibt sich ohnehin eine nur r- geringe Staub&fclagerung,aasiter 2 is installed, the result is only a small amount of dust and fclagerung,
Obwohl voratehend nur aine Ausführungsform der Erfindung dargestellt und beschrieben wurde, ist aie nicht auf diese ßpeaielle Ausfübrungsform beschränkts aondern umfasst auch noch v/eitere Abwandlungen iraä Modifikationen 3 die für den rachmana im Rah&en der nachfolgenden Patentsmaprüche iiahaließsn c Although only voratehend aine embodiment of the invention has been illustrated and described, it aie not limited to these ßpeaielle s Ausfübrungsform aondern includes still v / urther modifications iraä 3 modifications for the rachmana in Rah & s the following Patentsmaprüche iiahaließsn c
BAD ORIGINALBATH ORIGINAL
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Claims (1)
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