DE2031416A1 - Verfahren und Vorrichtung zur holo grafischen Untersuchung großer Flachen - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur holo grafischen Untersuchung großer Flachen

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DE2031416A1
DE2031416A1 DE19702031416 DE2031416A DE2031416A1 DE 2031416 A1 DE2031416 A1 DE 2031416A1 DE 19702031416 DE19702031416 DE 19702031416 DE 2031416 A DE2031416 A DE 2031416A DE 2031416 A1 DE2031416 A1 DE 2031416A1
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DE
Germany
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workpiece
hologram
forming
facilities
bearing plate
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Pending
Application number
DE19702031416
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German (de)
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Inventor
Gary Lee Grant Robert Henry Ann Arbor Mich Cosens (V St A) P
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Gc Optronics Inc
Original Assignee
Gc Optronics Inc
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • G03H1/04—Processes or apparatus for producing holograms
    • G03H1/08—Synthesising holograms, i.e. holograms synthesized from objects or objects from holograms
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02—Interferometers
    • G01B9/021—Interferometers using holographic techniques

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3726937A1 (de) * 1987-08-13 1989-02-23 Thyssen Industrie Verfahren zum zerstoerungsfreien und flaechendeckenden erkennen von fertigungsunregelmaessigkeiten und eigenspannungsveraenderungen

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3726937A1 (de) * 1987-08-13 1989-02-23 Thyssen Industrie Verfahren zum zerstoerungsfreien und flaechendeckenden erkennen von fertigungsunregelmaessigkeiten und eigenspannungsveraenderungen

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FR2058204A1 (enExample) 1971-05-28
NL7007924A (enExample) 1971-02-15

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