DE20306122U1 - Kompaktes Laser-Scanning-Mikroskop - Google Patents
Kompaktes Laser-Scanning-MikroskopInfo
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- DE
- Germany
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- module
- shutter
- detector
- scanner
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- 238000001161 time-correlated single photon counting Methods 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
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- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
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- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
Der Beschreibungstext wurde nicht elektronisch erfaßt
Claims (7)
1. Konventionelles Fluoreszenzmikroskop (6)
2. Scanmodul, bestehend aus
- - Scanoptik (1)
- - externem Beamscanner (2)
- - Shutter (3)
- - Strahlabschwächer (z. B. Filterrad mit bezüglich der optischen Dichte gestuften Graufiltern) (4)
3. Laserquelle (7), z. B. ps-Diodenlaser hoher Folgefrequenz im MHz-Bereich,
Output für Triggersignal und Umlenkspiegeln (8)
4. Detektormodul (9), z. B. PMT und CCD-Kamera, die jeweils an einem Port des
Mikroskops gekoppelt werden
5. Steuergerät für die Ansteuerung von Scannermodul und Sicherheitsshutter
6. PC (10) mit Hardware-Verarbeitungseinheit für die Detektorsignale, z. B. Modul
für zeitkorrelierte Einzelphotonenzählung oder Framegrabber für CCD-Kamera
7. Monitor, Keyboard (11), Mouse (12)
Software für die Ansteuerung des Scannermoduls, des Detektors und des
Shutters sowie für die Bildbearbeitung
Scannermodul und Laserquelle sind auf geeignete Grundplatten (14) montiert, die an das Mikroskop angeflanscht sind.
Scannermodul und Laserquelle sind auf geeignete Grundplatten (14) montiert, die an das Mikroskop angeflanscht sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE20306122U DE20306122U1 (de) | 2003-04-13 | 2003-04-13 | Kompaktes Laser-Scanning-Mikroskop |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE20306122U DE20306122U1 (de) | 2003-04-13 | 2003-04-13 | Kompaktes Laser-Scanning-Mikroskop |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE20306122U1 true DE20306122U1 (de) | 2003-10-02 |
Family
ID=28799146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE20306122U Expired - Lifetime DE20306122U1 (de) | 2003-04-13 | 2003-04-13 | Kompaktes Laser-Scanning-Mikroskop |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE20306122U1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE202010009249U1 (de) | 2010-06-17 | 2010-09-16 | Jenlab Gmbh | Flexibles Scansystem für die Diagnostik humaner Haut |
EP2579085A1 (de) | 2011-10-08 | 2013-04-10 | JenLab GmbH | Flexibles nichtlineares Laserscanning Mikroskop zur nicht-invasiven dreidimensionalen Detektion |
EP3542710A1 (de) | 2018-03-23 | 2019-09-25 | JenLab GmbH | Multimodales bildgebungssystem und verfahren zur nicht-invasiven untersuchung eines untersuchungsobjekts |
-
2003
- 2003-04-13 DE DE20306122U patent/DE20306122U1/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE202010009249U1 (de) | 2010-06-17 | 2010-09-16 | Jenlab Gmbh | Flexibles Scansystem für die Diagnostik humaner Haut |
EP2579085A1 (de) | 2011-10-08 | 2013-04-10 | JenLab GmbH | Flexibles nichtlineares Laserscanning Mikroskop zur nicht-invasiven dreidimensionalen Detektion |
DE102011115944A1 (de) | 2011-10-08 | 2013-04-11 | Jenlab Gmbh | Flexibles nichtlineares Laserscanning Mikroskop zur nicht-invasiven dreidimensionalen Detektion |
US9176309B2 (en) | 2011-10-08 | 2015-11-03 | Jenlab Gmbh | Flexible nonlinear laser scanning microscope for noninvasive three-dimensional detection |
EP3542710A1 (de) | 2018-03-23 | 2019-09-25 | JenLab GmbH | Multimodales bildgebungssystem und verfahren zur nicht-invasiven untersuchung eines untersuchungsobjekts |
WO2019180187A1 (de) | 2018-03-23 | 2019-09-26 | Jenlab Gmbh | Multimodales bildgebungssystem und verfahren zur nicht-invasiven untersuchung eines untersuchungsobjekts |
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R207 | Utility model specification |
Effective date: 20031106 |
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R156 | Lapse of ip right after 3 years |
Effective date: 20061101 |