DE19949612A1 - Kapazitiv messender Sensor und Anordnung - Google Patents
Kapazitiv messender Sensor und AnordnungInfo
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Abstract
Elektroden (2) zur kapazitiven Messung sind als zweidimensionale flächige Anordnung auf einem Halbleiterchip (1) ausgebildet. Durch separate elektrische Anschlüsse ist es möglich, die Kapazitäten oder Kapazitätsänderungen aufgrund der Änderung des Aggregatzustandes eines umgebenden Mediums jeweils zwischen einer oder mehreren dieser Elektroden und einer oder mehreren Gegenelektroden zu bestimmen. Damit ist ein Vereisungssensor mit integrierter Auswerteelektronik z. B. für Kühlschränke realisierbar.
Description
In der US 5,103,368 ist ein kapazitiv messender Füllstands
sensor beschrieben. Bei diesem Füllstandssensor wird eine
Säule aus koaxialen elektrisch leitenden Zylindern, die in
voneinander isolierte und getrennt angeschlossene Abschnitte
aufgeteilt ist, verwendet. Wenn eine Flüssigkeit zwischen den
Zylindern aufsteigt, ändert sich die Dielektrizitätszahl zwi
schen den Zylinderabschnitten, und aus der daraus resultie
renden Kapazitätsänderung läßt sich der Füllstand bestimmen.
In der US 5,207,098 ist eine Vorrichtung zur Füllstandsmes
sung beschrieben, bei der ein Sensor mit einer Kondensator
platte an der Außenseite eines Gefäßes angebracht ist und
sich eine weitere Kondensatorplatte im Abstand dazu im Inne
ren des Gefäßes befindet.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Vorrichtung
zur Füllstandsmessung anzugeben, mit der eine Ausdehnung ei
nes Mediums in zwei voneinander unabhängigen Richtungen und
insbesondere eine örtliche Veränderung des Aggregatzustandes
des Mediums auf einfache und elektronisch auswertbare Weise
bestimmt werden kann.
Diese Aufgabe wird mit den kapazitiv messenden Sensoren mit
den Merkmalen des Anspruches 1 oder mit der Anordnung mit den
Merkmalen des Anspruches 3 bzw. 4 gelöst. Ausgestaltungen er
geben sich aus den abhängigen Ansprüchen.
Bei dem erfindungsgemäßen Sensor sind die Elektroden zur ka
pazitiven Messung als zweidimensionale flächige Anordnung
elektrischer Leiter auf einem Halbleiterchip ausgebildet.
Durch separate elektrische Anschlüsse der einzelnen Leiter
flächen ist es möglich, die Kapazitäten oder Kapazitäts
änderungen jeweils zwischen einer oder mehreren dieser Elektroden
und einer oder mehreren außerhalb des Halbleiterchips
angeordneten Gegenelektroden, zwischen einer oder mehreren
Elektroden und einer oder mehreren dazu benachbart auf dem
Halbleiterchip angeordneten Elektroden oder zwischen einer
oder mehreren Elektroden und einem im Abstand davon vorhande
nen elektrisch leitenden Medium variabler Ausdehnung zu be
stimmen.
Die Gegenelektroden können beispielsweise an einem Gefäß an
gebracht sein, in dem der Sensor installiert ist, und mit da
für vorgesehenen Anschlüssen des Halbleiterchips verbunden
sein. Ein in der Nähe der Anordnung von Leiterflächen vorhan
denes Medium, das ggf. gegen die Leiter z. B. durch eine auf
dem Halbleiterchip aufgebrachte Passivierungsschicht elek
trisch isoliert ist, ändert die Kapazität zwischen den Lei
tern auf dem Chip. Die Kapazitäten oder Kapazitätsänderungen,
die durch die durch das Medium geänderte Dielektrizitätszahl
bestimmt sind, können vorzugsweise zwischen benachbart zuein
ander angeordneten Leitern auf dem Chip gemessen werden.
Statt dessen kann auch die Kapazität oder Kapazitätsänderung
der Leiterflächen gegenüber einem umgebenden, insbesondere
elektrisch leitenden, Medium gemessen werden, so daß dieses
Medium selbst als Gegenelektrode fungiert.
Die zweidimensionale flächige Anordnung der Elektroden ermög
licht es, die Ausdehnung eines Mediums in zwei verschiedenen
Richtungen festzustellen. Darüber hinaus kann der Aggregatzu
stand oder zumindest die Änderung des Aggregatzustandes des
Mediums in Abhängigkeit vom Ort festgestellt werden, da sich
mit dem Aggregatzustand auch die Dielektrizitätszahl ändert.
Ein erfindungsgemäßer Sensor, der in einem Gefäß oder Behäl
ter angebracht ist, kann daher z. B. als Vereisungssensor
verwendet werden. Die zweidimensionale Sensitivität einer er
findungsgemäßen Anordnung ist insbesondere geeignet, einen in
verschiedenen Richtungen unterschiedlich starken Vereisungs
grad zu detektieren, was z. B. bei Kühlschränken von Vorteil
ist, wenn das Gerät rechtzeitig abgetaut werden soll.
Eine besonders vorteilhafte Ausgestaltung des Sensors verfügt
über eine gleichzeitige Temperaturbestimmung mittels einer
Leiterbahn, deren elektrischer Widerstand, der sich mit der
Temperatur ändert, bestimmt wird. Wird die Temperatur mittels
verschiedener Leiterbahnen bestimmt, die entsprechend der
flächigen Anordnung der Elektroden angeordnet sind, kann die
jeweils örtlich vorherrschende Temperatur zusammen mit der
Ausdehnung eines Mediums und dessen Aggregatzustand bestimmt
werden.
Die beigefügten Figuren zeigen eine schematische Aufsicht ei
nes Ausführungsbeispieles des Sensors und ein Beispiel für
eine erfindungsgemäße Anordnung des Sensors.
In Fig. 1 ist ein Halbleiterchip 1 mit einer rasterförmigen
Anordnung von Elektroden 2 dargestellt. Das Raster kann statt
quadratisch wie in dem gezeigten Beispiel grundsätzlich be
liebig ausgestaltet sein. Das Gleiche gilt für die geometri
sche Form der die Elektroden bildenden Leiterflächen. Diese
Leiterflächen sind vorzugsweise Anteile einer strukturierten
Metallebene des Chips. Die Mittel 3 zur Ansteuerung der Elek
troden und Auswertung von Meßsignalen sind als Bauelemente
einer elektronischen Schaltung auf dem Chip integriert und
werden vorzugsweise entsprechend den Ansteuer- und Auswerte
schaltungen anderer kapazitiv messender Sensoren, die als mi
kromechanische Halbleiterbauelemente zur Messung von Druck
oder Beschleunigung eingesetzt werden, ausgebildet. Die flä
chige Anordnung der Elektroden muß nicht eben sein, sondern
kann in geeigneter Weise gewölbt oder verformt sein.
Fig. 2 zeigt ein einfaches Beispiel für eine erfindungsgemä
ße Anordnung, bei der eine Innenwand eines Kühlschrankes 4 in
der Nähe des Gefrierfaches zur Kontrolle des Vereisungsgrades
mit einem erfindungsgemäß ausgestalteten Sensor 5 versehen
ist.
Der Vorteil der Erfindung besteht darin, daß für das Sensor
prinzip keine weiteren Hilfsmaterialien und Hilfsschichten
benötigt werden. Der zu messende gasförmige, flüssige oder
feste Stoff beeinflußt direkt das Meßsignal, solange er in
direkter Nähe (typisch nicht weiter entfernt als 200 µm) der
Meßelektroden vorhanden ist. Durch zweidimensionale flächige
Anordnung, die aber nicht notwendig eben zu sein braucht, er
gibt sich auch die Möglichkeit, eine mehrdimensionale Infor
mation über das Fortschreiten z. B. der Vereisung in Kühl
schränken oder an Düsen zu erhalten. Die Ausgestaltung als
Halbleiterbauelement gestattet neben der einfachen Herstell
barkeit und zweckmäßigen Integration der erforderlichen Kom
ponenten außerdem eine Miniaturisierung, die eine sehr gute
örtliche Auflösung bei der Messung ermöglicht.
Claims (5)
1. Kapazitiv messender Sensor,
bei dem eine Anordnung aus einer Mehrzahl von Elektroden vor handen ist und
bei dem Mittel vorhanden sind, mit denen eine Kapazität oder Kapazitätsänderung jeweils gesondert zwischen einer oder meh reren Elektroden und einem oder mehreren anderen elektrischen Leitern gemessen werden kann,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Elektroden als zweidimensionale flächige Anordnung elek trischer Leiter (2) auf einem Halbleiterchip (1) ausgebildet sind und
Mittel (3) zum Messen der Kapazitäten oder Kapazitätsänderun gen jeweils zwischen einer oder mehreren Elektroden und einer oder mehreren außerhalb des Halbleiterchips angeordneten Ge genelektroden, zwischen einer oder mehreren Elektroden und einer oder mehreren dazu benachbart auf dem Halbleiterchip angeordneten Elektroden oder zwischen einer oder mehreren Elektroden und einem im Abstand davon vorhandenen elektrisch leitenden Medium variabler Ausdehnung auf dem Halbleiterchip integriert sind.
bei dem eine Anordnung aus einer Mehrzahl von Elektroden vor handen ist und
bei dem Mittel vorhanden sind, mit denen eine Kapazität oder Kapazitätsänderung jeweils gesondert zwischen einer oder meh reren Elektroden und einem oder mehreren anderen elektrischen Leitern gemessen werden kann,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Elektroden als zweidimensionale flächige Anordnung elek trischer Leiter (2) auf einem Halbleiterchip (1) ausgebildet sind und
Mittel (3) zum Messen der Kapazitäten oder Kapazitätsänderun gen jeweils zwischen einer oder mehreren Elektroden und einer oder mehreren außerhalb des Halbleiterchips angeordneten Ge genelektroden, zwischen einer oder mehreren Elektroden und einer oder mehreren dazu benachbart auf dem Halbleiterchip angeordneten Elektroden oder zwischen einer oder mehreren Elektroden und einem im Abstand davon vorhandenen elektrisch leitenden Medium variabler Ausdehnung auf dem Halbleiterchip integriert sind.
2. Sensor nach Anspruch 1,
bei dem auf dem Halbleiterchip Mittel vorhanden sind, mit de
nen eine Temperatur eines umgebenden Mediums durch Bestimmung
des elektrischen Widerstandes eines Leiters gemessen werden
kann.
3. Anordnung mit einem Sensor nach Anspruch 1 oder 2,
bei der eine Gegenelektrode durch ein elektrisch leitendes
Gefäß gebildet ist.
4. Anordnung mit einem Sensor nach Anspruch 1 oder 2,
in der der Sensor zur Überprüfung des örtlich veränderlichen
Aggregatzustandes eines umgebenden Mediums eingesetzt ist.
5. Anordnung nach Anspruch 4,
bei der der Sensor (5) in oder an einer Vorrichtung (4) ange
ordnet ist und zur Kontrolle eines Grades an Vereisung vorge
sehen ist.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
DE1999149612 DE19949612C2 (de) | 1999-10-14 | 1999-10-14 | Kapazitiv messender Sensor und Anordnung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19949612A1 true DE19949612A1 (de) | 2001-06-13 |
DE19949612C2 DE19949612C2 (de) | 2003-04-03 |
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ID=7925679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1999149612 Expired - Fee Related DE19949612C2 (de) | 1999-10-14 | 1999-10-14 | Kapazitiv messender Sensor und Anordnung |
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Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19949612C2 (de) |
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- 1999-10-14 DE DE1999149612 patent/DE19949612C2/de not_active Expired - Fee Related
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