DE19934934C1 - Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, vorzugsweise transparenter Proben, sowie Reflektanz - Meßsonde zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, vorzugsweise transparenter Proben, sowie Reflektanz - Meßsonde zur Durchführung des VerfahrensInfo
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- DE19934934C1 DE19934934C1 DE1999134934 DE19934934A DE19934934C1 DE 19934934 C1 DE19934934 C1 DE 19934934C1 DE 1999134934 DE1999134934 DE 1999134934 DE 19934934 A DE19934934 A DE 19934934A DE 19934934 C1 DE19934934 C1 DE 19934934C1
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Reflektanz-Meßsonde für die synchrone Ermittlung der diffus und specular reflektierten Anteile sowie der Transmission insbesondere transparenter Proben. Dabei wird Strahlung definierter Wellenlänge über Lichtwellenleiter und eine Linse auf die Probe und über dieselbe Linse die diffus remittierten, specular reflektierten und transmittierten Anteile auf rückwärtig lokalisierte optoelektronische Empfänger geleitet. Synchron zu den optischen Größen können Druck, Temperatur und Fließgeschwindigkeit gemessen werden. Die Meßsonde ist multifunktional und für verschiedene Betriebsweisen geeignet: Auflage-Sonde für Festkörper, Durchflußkammer-Meßsonde für Flüssigkeiten, Tauchkammer-Meßsonde für Flüssigkeiten mit Eignung für den Prozeßbetrieb.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specula
rer Reflexion von Proben, vorzugsweise transparenter Proben, sowie eine Reflektanz-
Meßsonde zur Durchführung des Verfahrens.
Die Erfindung kann auf dem Gebiet der Analytik, Umwelt-, Qualitäts- und Prozeßüberwa
chung, Spektroskopie, Remissions- und Reflexionsmessung eingesetzt werden.
Die Reflektanz einer undurchsichtigen und nicht selbstleuchtenden Probenoberfläche setzt
sich aus der diffusen Remission und der specularen Reflexion zusammen. Eine Oberfläche ist
matt, wenn die diffuse Remission dominiert. Bei einer glänzenden Oberfläche hat die
speculare Reflexion einen wesentlichen Einfluß.
Die Remission R ist die diffuse Reflexion von Strahlung an Materie (Probe). Die Remission
wird durch die Streufähigkeit (Streukoeffizient S) und Absorptionsfähigkeit (Absorptions
koeffizient K) der Probe bestimmt. Zur mathematischen Beschreibung der Remission dient
die Theorie von Kubelka und Munk. Danach ist die Kubelka-Munk-Funktion F, die aus der
gemessenen diffusen Reflexion berechnet wird, dem Quotienten aus Absorptions- und
Streukoeffizient proportional,
F ~ K/S (1).
Remissionsmessungen werden beispielsweise eingesetzt zur
Feststellung des physiologischen Zustandes von Vegetation,
Ermittlung von Feuchte und Struktur von Böden,
Ermittlung der Farbe von Kunststoffen.
Bei der specularen Reflexionsspektroskopie wird die von einer Oberfläche oder Grenzfläche
direkt reflektierte Strahlung analysiert (Reflexionsgesetz), die Auskunft über das spektrale
Reflexionsvermögen liefert. Die speculare Reflexion RG ist u. a. von der Brechzahl n der
Probe abhängig. Da in vielen Fällen die Probe absorbiert, wird die für die Reflexion maßge
bliche Brechzahl neben der Brechkraft auch von dem Absorptionsvermögen der Probe be
stimmt. Die Brechzahl setzt sich aus einem Realteil und einem Imaginärteil zusammen
(komplexe Zahl):
RG = ((n - 1)/(n + 1))2 (2)
RG = ((n - 1)/(n + 1))2 (2)
mit n = nReal + nImaginär. Die Formel (2) ist eine vereinfachte Darstellung für die Grenzfläche
Luft/Probe bei senkrechter Einstrahlung. Die Brechzahl wird praktisch als Realteil goniome
trisch oder interferometrisch ermittelt.
Reflexionsmessungen werden beispielsweise eingesetzt zur
Ermittlung des Zuckergehaltes in Flüssigkeiten,
Kontrolle von Mischungsverhältnissen binärer Systeme,
Ermittlung des Glanzes von Lack, Papier und Kunststoffen.
Im Hauptpatent DE 199 20 184 wird ein Verfahren für die synchrone Messung von diffus
und specular reflektierten Anteilen undurchsichtiger Proben vorgeschlagen. Für die synchrone
Ermittlung diffus und specular reflektierter Anteile sowie der Transmission von vorzugsweise
transparenten Proben ist das Verfahren nicht geeignet. Darüberhinaus ist eine Eignung für den
Betrieb unter extremen Bedingungen (hohe Temperaturen und Drücke) nicht gegeben.
Weiterhin können Absorption, Fluoreszenz oder Brechung von der Temperatur und dem
Druck abhängen. Eine Korrektur ist dann notwendig. Das ist im Verfahren und in der
Vorrichtung nach dem Hauptpatent nicht möglich.
Aufgabe der Erfindung ist daher die Entwicklung eines einfachen Verfahrens und einer
einfachen Reflektanz-Meßsonde zur synchronen Ermittlung der diffus und specular reflektier
ten Anteile und der Transmission von vorzugsweise transparenten Proben unter Berücksichti
gung des Einsatzes unter extremen Meßbedingungen (hohe Temperaturen und Drucke). Die
Korrektur von temperatur- und druckabhängigen optischen Größen soll außerdem möglich
sein.
Die Lösung der Aufgabe erfolgt mit dem Verfahren nach Anspruch 1 und mit der Reflektanz
-Meßsonde zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 5.
Folgende Definitionen werden nachfolgend verwendet:
Empfängerebene: Ebene, in der die lichtempfindlichen Flächen von Empfängern oder die Endflächen von Lichtwellenleiter angeordnet sind.
Optikebene: Ebene, in der abbildende Elemente bzw. abbildende Flächen (7) angeordnet sind. Sie ist parallel zur Empfängerebene.
Empfängerebene: Ebene, in der die lichtempfindlichen Flächen von Empfängern oder die Endflächen von Lichtwellenleiter angeordnet sind.
Optikebene: Ebene, in der abbildende Elemente bzw. abbildende Flächen (7) angeordnet sind. Sie ist parallel zur Empfängerebene.
Gemäß dem Hauptpatent DE 199 20 184 C1 wird von einer Strahlungsquelle aus Strahlung
in den Raum zwischen einer, aus mindestens zwei optoelektronischen Empfängern bestehen
den Empfängerebene und einer, aus mindestens einem abbildenden Element bestehenden und
zur Empfängerebene parallelen Optikebene von der Empfängerebene aus eingekoppelt. Die
Strahlung wird dann über das abbildende Element in die Probe eingekoppelt. Das abbildende
Element kann eine Linse sein, die z. B. mit einer Flüssigkeit in Berührung ist. Gemäß An
spruch 1 des Zusatzpatents durchdringt diese Einkoppelstrahlung die Probe bis zu einem
Spiegel. Durch den Spiegel wird die Einkoppelstrahlung wieder in Richtung abbildendes
Element zurück reflektiert. Die Einkoppelstrahlung wird auf dem Weg durch die Probe
geschwächt. Der Grad der Schwächung ist ein Maß für die Absorption der Probe. Die
Intensität IT der bis zum abbildendem Element transmittierten Einkoppelstrahlung ist ein
umgekehrtes Maß für die Absorption der Probe. IT beaufschlagt nach Durchdringen des
abbildenden Elementes die Empfängerebene.
Die Empfängerebene wird weiter mit einer Intensität IS beaufschlagt. IS ist die von der Probe
specular reflektierte Strahlung. Bei einem Festkörper kann das dessen, dem abbildenden
Element zugewandte Planseite sein. Bei einer Flüssigkeit, die mit dem abbildenden Element
in Kontakt ist, ist IS die an der Grenzfläche abbildendes Element/Flüssigkeit specular reflek
tierte Strahlung, die ein Maß für die Brechkraft der Probe ist.
Außerdem wird die Empfängerebene mit der von der Probe diffus remittierten Strahlung ID
beaufschlagt. Diese Strahlung entsteht als Folge der Wechselwirkung der Einkoppelstrahlung
mit der Probe und besteht aus Streu- und Fluoreszenzphotonen.
In der Empfängerebene existieren mindesten drei verschiedene Orte A, B und C, an denen
optoelektronische Empfänger lokalisiert sind. Anstelle der Empfänger können auch die
Endflächen von Lichtwellenleiter zwecks Strahlungsaufnahme für IT, ID, IS und Weiterleitu
ng auf optoelektronische Empfänger angeordnet sein.
Die Beaufschlagung dieser Orte mit Strahlung erfolgt in der folgenden Weise: Eine der
Größen IT, ID, IS beaufschlagt alle Orte A, B, C. Das kann z. B. die von der Probe diffus
remittierte Strahlung ID sein, die die Empfängerebene nahezu vollständig ausleuchtet und
somit alle Empfänger bzw. Lichtwellenleiterendflächen trifft. Die beiden davon übriggeblie
benen Größen beaufschlagen jeweils einen, jedoch nicht denselben der Orte A, B, C. So
können z. B. IT den Empfänger am Ort A und IS den Empfänger am Ort B beaufschlagen. Im
diskutierten Beispiel ergibt sich so das folgende Bild: Der Empfänger am Ort A wird mit IT
+ ID, der Empfänger am Ort B wird mit IS + ID und der Empfänger am Ort C wird mit ID
beaufschlagt. Es ergibt sich ein Gleichungssystem bestehend aus drei Gleichungen, mit denen
IT, ID, IS separat ermittelt werden können. Daraus lassen sich dann die Parameter Ab
sorption, Streuung/Fluoreszenz und Brechkraft berechnen. Da die Beaufschlagung der Orte
gleichzeitig erfolgt, werden die Größen IT, ID, IS und somit auch die Parameter Absorption,
Streuung/Fluoreszenz und Brechkraft synchron, in einem einzigen Meßvorgang ermittelt.
Gemäß Anspruch 2 werden zwei Fälle unterschieden. In dem einen Fall ist der Raum
zwischen Empfänger- und Optikebene mit einem Medium ausgefüllt, das optisch transparent
ist und eine Brechzahl aufweist, die von derjenigen des abbildenden Elementes in der Optik
ebene verschieden ist. Das trifft z. B. zu, wenn das abbildende Element eine Glaslinse mit der
Brechzahl 1.5 und der Raum zwischen Linse und Empfängerebene mit Luft (Brechzahl 1)
ausgefüllt ist. In dem anderen Fall sind die betreffenden Brechzahlen identisch. Das trifft z. B.
zu, wenn zwischen Linse und Empfänger ein zylindrischer Glasstab angeordnet ist, der
diesselbe Brechzahl wie die Linse besitzt. Linse und Glasstab können auch als ein Element
(Stablinse) ausgebildet sein, wobei die abbildende Fläche in der Optikebene und die Plan
fläche direkt an der Empfängerebene lokalisiert sind.
Nach Anspruch 3 werden Druck- und Temperatursensoren verwendet, die sich in unmittel
barer Nähe der von der Einkoppelstrahlung beaufschlagten Probe, z. B. einer Flüssigkeit,
befinden. Mit diesen Sensoren werden Druck und Temperatur der Probe gemessen, die zur
Einschätzung des Druck-Temperatur-Status der Probe und/oder zur Korrektur von temperatur-
und druckabhängigen optischen Größen benutzt werden. Druck und Temperatur werden
synchron zu den optischen Größen IT, ID, IS ermittelt.
Es erfolgt im Falle opaker bzw. undurchsichtiger Proben keine Messung der transmittierten
Einkoppelstrahlung IT. Der im Anspruch 1 erwähnte Spiegel ist dann nicht notwendig und
wird nicht benutzt.
Bei fließenden Proben, z. B. einer Flüssigkeit, die durch darin befindliche Teilchen bzw. Dich
teschwankungen charakterisiert sind, wird die Fließgeschwindigkeit ermittelt (Anspruch 4).
Teilchen bzw. Dichteschwankungen verursachen Intensitätsschwankungen der Strahlung IT
oder ID. Hell-Dunkelphasen werden erzeugt. Es entsteht eine Intensitätsfrequenz. Ein
zusätzlicher Empfänger wird als Frequenzmesser betrieben. Die Frequenz ist Ausdruck der
Teilchengeschwindigkeit und somit ein Maß für die Fließgeschwindigkeit.
Im Anspruch 5 wird eine eine Vorrichtung (Abb. 1 und 2) beansprucht, mit der das
Verfahren durchgeführt werden kann. Die Vorrichtung besteht aus drei Hülsen (1, 2, 3), die
über die Gewinde (10) miteinander verschraubbar sind. Die Hülse (1) ist ein hohler Zylinder,
in dem mindestens 4 Lichtwellenleiter (4a) und mindestens 2 Elektrokabel (4b) geführt
werden. In dem einen Lichtwellenleiter erfolgt die Leitung der Einkoppelstrahlung bis zur
Empfängerebene (6), die über das abbildende Element (7) die Probe (12) beaufschlagt. Hierzu
ist dieser Lichtwellenleiter an eine Strahlungsquelle (nicht dargestellt) montiert, die in der
Hülse (1) oder davon außerhalb lokalisiert sein kann. Drei weitere Lichtwellenleiter trans
portieren gemäß Anspruch 1 die Strahlungsgrößen IT, ID, IS von der Empfängerebene (6) zu
optoelektronischen Empfängern (nicht dargestellt), die in der Hülse (1) oder davon außerhalb
lokalisiert sein können. Die Endflächen der Lichtwellenleiter sind entsprechend Anspruch 1
an den dort definierten Orten A, B, C angeordnet. Die Elektrokabel (4b) dienen der Stromlei
tung für Druck- und Temperatursensoren. Der Drucksensor (13) ist in der Wandung der Hülse
(1) angebracht. Der Temperatursensor (18) befindet sich in einem Block (5) der Hülse (2).
Der Temperatursensor kann auch an die Wandung der Hülse (1) in unmittelbarer Nähe des
Drucksensors gebracht werden. Die Hülse (2) ist ein hohler Zylinder, in dem die Lichtwellen
leiter und Elektrokabel weitergeführt und in einem Block (5) fixiert werden. Der Block (5)
enthält Öffnungen für Lichtwellenleiter und den Temperatursensor. In der dem abbildenden
Element (7) zugewandten Endfläche des Blockes (5) sind die Endflächen der Lichtwellenlei
ter (14-17) lokalisiert, die in der Empfängerebene (6) liegen bzw. diese bilden. Die Hülse (3)
ist ebenfalls ein hohler Zylinder, der für die Probe (12) (z. B. eine Flüssigkeit) eine Öffnung
im Zylindermantel aufweist. In der Hülse (3) ist das abbildende Element (7), z. B. eine
Plankonvexlinse, in der Optikebene angeordnet, die mit der planen Fläche mit der Flüssigkeit
in Kontakt ist. Der Spiegel (11) ist an der Zylinderendfläche befestigt. Zwischen Spiegel (11)
und abbildendem Element (7) befindet sich die Probe (12). Für einen ungehinderten Strah
lungsdurchgang für Einkoppelstrahlung und IT, ID, IS muß der Raum (9) zwischen Empfän
ger- (6) und Optikebene (7) optisch durchlässig sein. Die Lichtwellenleiterendflächen (14-17)
sind in der Weise zur optischen Achse (8) des abbildenden Elementes (7) angeordnet
(Abb. 2), daß die Auskopplung der Einkoppelstrahlung über die Lichtwellenleiterend
fläche (14), die Aufnahme der Strahlung IS + ID über die Lichtwellenleiterendfläche (15), die
Aufnahme der Strahlung IT + ID über die Lichtwellenleiterendfläche (16) und die Aufnahme
der Strahlung ID über die Lichtwellenleiterendfläche (17) erfolgen kann.
Gemäß Anspruch 6 ist im Raum zwischen Empfänger- (6) und Optikebene (7) eine plan
konvexe Stablinse (19) angeordnet (Abb. 3). Die Planseite dieser Linse liegt unmittelbar
und parallel an der Empfängerebene (6) und damit an den Endflächen (14-17) der Licht
wellenleiter an. Die konvexe Seite der Stablinse ist in der Optikebene (7) lokalisiert. Über
diese konvexe Seite wird die Strahlung definiert auf die Probe gegeben.
Ausgehend von Anspruch 6 behandelt Anspruch 7 zwei verschiedene Einsatzfälle. Im Falle
von Flüssigkeiten ist die Konvexseite der Stablinse mit der Flüssigkeit in Kontakt. Die an der
Empfängerebene anliegende Planseite der Stablinse liegt in der Ebene der doppelten Brenn
weite. Im Falle von Festkörpern, deren zu untersuchende Planfläche der Konvexseite der
Stablinse zugewandt ist, liegt die Planseite der Stablinse in der einfachen Brennweite.
Gemäß Anspruch 8 ist in Abhängigkeit vom Anwendungsfall der Spiegel (11) als Plan-,
Konkav- oder Konvexspiegel ausgebildet. Weiterhin ist der Spiegel (11) hinsichtlich seiner
Stellung zur optischen Achse (8) des abbildenden Elementes (7) oder (19) definiert ausgerich
tet.
Claims (8)
1. Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von
Proben, bei dem Strahlung in den Raum zwischen einer, aus mindestens zwei Empfänger
flächen von mindestens zwei optoelektronischen Empfängern gebildeten Empfängerebene und
einer, aus mindestens einem abbildenden Element bestehenden und zur Empfängerebene
parallelen Optikebene von der Empfängerebene aus von einem Ort außerhalb der optischen
Achse eingekoppelt wird, diese Einkoppelstrahlung das abbildende Element beaufschlagt und
durchdringt, die Einkoppelstrahlung durch das abbildende Element parallelisiert wird und auf
die Probe trifft, die von der Probe specular reflektierte Strahlung IS und die diffus remittierte
Strahlung ID das abbildende Element entgegen der Einfallsrichtung der Einkoppelstrahlung
durchdringen, die Strahlung IS durch das abbildende Element auf einen der in der Empfän
gerebene lokalisierten Empfänger trifft, die Strahlung ID auf beide Empfänger trifft, so daß
der eine Empfänger ausschließlich mit ID und der andere Empfänger mit ID und IS beauf
schlagt wird, und daß ID und IS über ein Gleichungssystem bestehend aus zwei Gleichungen
separat ermittelt werden, nach Anspruch 1 von Patent DE 199 20 184 C1,
gekennzeichnet dadurch,
daß die auf die, vorzugsweise transparente Probe gerichtete Einkoppelstrahlung diese bis zu einem Spiegel durchdringt, die Einkoppelstrahlung vom Spiegel reflektiert wird und dadurch die Probe nochmals durchdringt und die transmittierte Einkoppelstrahlung IT das abbildende Element in der Optikebene durchdringt und die Empfängerebene beaufschlagt,
daß die von der Probe oder die von der Grenzfläche zur Probe specular reflektierte Strahlung IS das abbildende Element durchdringt und die Empfängerebene beaufschlagt,
daß mindestens 3 verschiedene Orte A, B, C in der Empfängerebene existieren, wobei eine der Größen IT, ID, IS alle Orte A, B, C beaufschlagt und die beiden davon übriggebliebenen Größen jeweils einen, jedoch nicht denselben, der Orte A, B, C beaufschlagen,
daß an den Orten A, B, C optoelektronische Empfänger oder die Endflächen von Lichtwellen leitern angeordnet sind und diese gleichzeitig mit IT, ID, IS beaufschlagt werden,
und daß IT, ID, IS über ein Gleichungssystem bestehend aus drei Gleichungen separat ermittelt und daraus die Parameter Transmission, Absorption, Streuung/Fluoreszenz und Brechkraft berechnet werden.
daß die auf die, vorzugsweise transparente Probe gerichtete Einkoppelstrahlung diese bis zu einem Spiegel durchdringt, die Einkoppelstrahlung vom Spiegel reflektiert wird und dadurch die Probe nochmals durchdringt und die transmittierte Einkoppelstrahlung IT das abbildende Element in der Optikebene durchdringt und die Empfängerebene beaufschlagt,
daß die von der Probe oder die von der Grenzfläche zur Probe specular reflektierte Strahlung IS das abbildende Element durchdringt und die Empfängerebene beaufschlagt,
daß mindestens 3 verschiedene Orte A, B, C in der Empfängerebene existieren, wobei eine der Größen IT, ID, IS alle Orte A, B, C beaufschlagt und die beiden davon übriggebliebenen Größen jeweils einen, jedoch nicht denselben, der Orte A, B, C beaufschlagen,
daß an den Orten A, B, C optoelektronische Empfänger oder die Endflächen von Lichtwellen leitern angeordnet sind und diese gleichzeitig mit IT, ID, IS beaufschlagt werden,
und daß IT, ID, IS über ein Gleichungssystem bestehend aus drei Gleichungen separat ermittelt und daraus die Parameter Transmission, Absorption, Streuung/Fluoreszenz und Brechkraft berechnet werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
gekennzeichnet dadurch,
daß der Raum zwischen Empfängerebene und Optikebene entweder mit einem Medium der
Brechzahl ungleich der des abbildenden Elementes und oder mit einem Medium der Brech
zahl gleich der des abbildenden Elementes ausgefüllt ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
gekennzeichnet dadurch,
daß Druck- und Temperatursensoren in unmittelbarer Nähe der von der Einkoppelstrahlung
beaufschlagten Probe lokalisiert sind, und daß Temperatur und Druck zur Einschätzung des
Druck-Temperatur-Status der Probe und/oder zur Korrektur von temperatur- und druck
abhängigen optischen Größen benutzt werden.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
gekennzeichnet dadurch,
daß im Falle fließender Proben ein weiterer optoelektronischer Empfänger mit mindestens
eine der Größen IT, ID, IS beaufschlagt wird, der als Frequenzmesser ausgelegt ist und
einen der Fließgeschwindigkeit proportionalen Wert liefert.
5. Reflektanz-Meßsonde zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis
4,
gekennzeichnet dadurch,
daß eine erste Hülse (1) und eine dritte Hülse (3) an einer zweiten Hülse (2) mittels Gewinde
(10) anschraubbar sind, daß die erste Hülse (1) ein hohler Zylinder ist, in dem mindestens 4
Lichtwellenleiter (4a) und mindestens 2 Elektrokabel (4b) geführt werden sowie mindestens
ein Drucksensor (13) angeordnet sind, daß die zweite Hülse (2) ein hohler Zylinder ist, in
dem ein Block (5) mit Öffnungen für die Montage von Lichtwellenleiter (4a) und Tempera
tursensor (18) angeordnet ist, wobei die Lichtwellenleiter mit den Endflächen (14-17) in der
Empfängerebene (6) lokalisiert sind, daß die dritte Hülse (3) ein hohler Zylinder ist, der eine
Mantelöffnung für die Probe (12) aufweist und in dem das abbildende Element (7) in der
Optikebene angeordnet ist, daß eine Zylinderendfläche der dritten Hülse für die definierte
Montage eines Spiegels (11) ausgebildet ist, daß der Raum (9) zwischen Empfänger- (6) und
Optikebene (7) optisch durchlässig ist, daß die Lichtwellenleiterendflächen (14-17) so zur
optischen Achse (8) des abbildenden Elementes (7) angeordnet sind, daß die Abgabe der Ein
koppelstrahlung über eine erste Lichtwellenleiterendfläche (14), die Aufnahme der Strahlung
IS + ID über eine zweite Lichtwellenleiterendfläche (15), die Aufnahme der Strahlung IT + ID
über eine dritte Lichtwellenleiterendfläche (16) und die Aufnahme der Strahlung ID über eine
vierte Lichtwellenleiterendfläche (17) erfolgt.
6. Reflektanz-Meßsonde nach Anspruch 5,
gekennzeichnet dadurch,
daß im Raum zwischen Empfänger- (6) und Optikebene (7) eine plan-konvexe Stablinse (19)
angeordnete deren Planseite unmittelbar an der Empfängerebene (6) lokalisiert ist und
deren Konvexseite in der Optikebene (7) liegt.
8. Reflektanz-Meßsonde nach Anspruch 6,
gekennzeichnet dadurch,
daß im Falle von Flüssigkeiten, die mit der Konvexseite der Stablinse (19) in Kontakt sind,
die Planseite der Stablinse in der doppelten Brennweite und im Falle von planen Festkörpern
in der einfachen Brennweite lokalisiert ist.
8. Reflektanz-Meßsonde nach einem der Ansprüche 5 bis 7,
gekennzeichnet dadurch,
daß der Spiegel (11) als Plan-, Konkav- oder Konvexspiegel ausgebildet ist und definiert zur
optischen Achse (8) des abbildenden Elementes (7) justiert ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999134934 DE19934934C1 (de) | 1999-05-03 | 1999-07-26 | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, vorzugsweise transparenter Proben, sowie Reflektanz - Meßsonde zur Durchführung des Verfahrens |
Applications Claiming Priority (2)
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---|---|---|---|
DE19920184A DE19920184C2 (de) | 1999-05-03 | 1999-05-03 | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, insbesondere undurchsichtiger Proben, sowie Reflektanz-Meßsonde |
DE1999134934 DE19934934C1 (de) | 1999-05-03 | 1999-07-26 | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, vorzugsweise transparenter Proben, sowie Reflektanz - Meßsonde zur Durchführung des Verfahrens |
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Publication Number | Publication Date |
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DE1999134934 Expired - Fee Related DE19934934C1 (de) | 1999-05-03 | 1999-07-26 | Verfahren für die gleichzeitige Erfassung von diffuser und specularer Reflexion von Proben, vorzugsweise transparenter Proben, sowie Reflektanz - Meßsonde zur Durchführung des Verfahrens |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE19934934C1 (de) |
Cited By (4)
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- 1999-07-26 DE DE1999134934 patent/DE19934934C1/de not_active Expired - Fee Related
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