DE19839759A1 - Lichtwellenleiterschleifmaschine mit Prüfvorrichtung - Google Patents
Lichtwellenleiterschleifmaschine mit PrüfvorrichtungInfo
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- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B19/00—Single-purpose machines or devices for particular grinding operations not covered by any other main group
- B24B19/22—Single-purpose machines or devices for particular grinding operations not covered by any other main group characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground
- B24B19/226—Single-purpose machines or devices for particular grinding operations not covered by any other main group characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground of the ends of optical fibres
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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Abstract
Es wird ein Schleifgerät für Lichtwellenleiter beschrieben, welches bei unveränderter Einspannung des Lichtleiters die optische Prüfung des Lichtleiters gestattet. Dazu wird das zu bearbeitende Lichtleiterende aus der Schleifposition vor ein Mikroskop geschwenkt und dort optisch untersucht. Die Schleif- und Prüfvorrichtung ermöglicht eine beschleunigte Bearbeitung und Prüfung von Lichtleiterendflächen des bearbeiteten Lichtleiters.
Description
Lichtleiter werden u. a. in der Spektralanalyse in der Medizintechnik und in der
Datenübertragung eingesetzt. Um Verluste beim Ein- und Auskoppeln der Strahlung in bzw.
aus dem Lichtleiter zu minimieren, sollten die Enden des Lichtleiters weitgehend plan und
frei von Kratzern sein. Auch ist es erforderlich, Lichtleiter von Zeit zu Zeit nach einer
bestimmten Betriebszeit nachzupolieren, um ihre Transmission zu gewährleisten. Für die
letztere Aufgabe sind Geräte zur Bearbeitung der Lichtleiter mit geringen Abmessungen
erforderlich.
Gegenwärtig werden Lichtleiterschleifgeräte angeboten, wobei das Ergebnis des
Schleifvorganges separat, z. B. mit einem Mikroskop geprüft werden muß. Das bedeutet, daß
während des Schleifvorganges die zu bearbeitende Lichtleitfaser aus dem Gerät entnommen
und in das Mikroskop eingesetzt werden muß. Dieser Vorgang ist zeitaufwendig, da
zweimalige Justierungen für das Mikroskop bzw. für die Lichtleiterschleifvorrichtung
erforderlich sind. Somit besteht die Aufgabe ein möglichst kleines Lichtleiterschleifgerät zu
erstellen, welches ohne aufwendige Justierung eine optische Prüfung des Poliervorganges
ermöglicht.
Erfindungsgemäß wird die o. g. Aufgabe dadurch gelöst, daß an eine Schleifmaschine ein
Beobachtungsmikroskop direkt adaptiert wird. Um die Handhabung der Schleifvorrichtung
und die Beobachtung einfach zu gestalten, ist es zweckmäßig, daß ein Winkel von 90°
zwischen dem Beobachtungsobjektiv des Mikroskops und dem zugehörigen Okular mit Hilfe
eines Umlenkspiegels realisiert wird. Erfindungsgemäß befindet sich der zu bearbeitende
Lichtleiter in einem schwenkbaren Hebel, welcher zwei Stellungen, nämlich eine zum
Schleifen und eine zum Prüfen besitzt. Durch eine einfache Bewegung des Hebels zwischen
zwei Rastpunkten kann vom Schleifen zum Beobachten und zurück übergegangen werden.
Dabei drückt der Schleifarm mit definierte Kraft gegen die Schleifscheibe und bewegt sich
auf und ab in einer Pendelbewegung. Zum Prüfen wird der Schleifmotor abgeschaltet und
eine Beleuchtungseinrichtung vor dem Mikroskopobjektiv eingeschaltet. Nach Schwenken
des Armes in die Beobachtungsposition kann das Mikroskopobjektiv zur Scharfstellung
mechanisch verschoben werden. Zur Vereinfachung der Beobachtung ist der das
Mikroskopokular tragende Tubus schwenkbar um die optische Achse des Objektivs
angeordnet.
Die Erfindung soll nachfolgend an einem praktischen Beispiel erläutert werden.
In Fig. 1 ist die erfindungsgemäße Vorrichtung in der Schleifstellung, d. h. der Schleifarm
(7) ist über die Schleifscheibe (8) geschwenkt und führt eine pendelnde Bewegung um den
Drehpunkt (14) des Schleifarms (7) aus. Der zu bearbeitende Lichtleiter ist in einer Halterung
(6) befestigt. Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist in Fig. 2 als Ansicht und in Fig. 3 als
schematische Ansicht für den Fall der Lichtleiterprüfung dargestellt. Dabei wird der
Verstellhebel (11) in die untere Stellung gebracht, wodurch die Schleifscheibe abgeschaltet,
die Beleuchtungseinrichtung (9) des Mikroskops eingeschaltet und der Schleifarm (7) in die
obere Stellung gebracht wird. Damit befindet sich der Schleifarm (7) mit dem Lichtleiter (5) in
der oberen Position direkt vor dem Mikroskopobjektiv (4), sodaß die Achse des Objektivs (4)
mit der Lichtleiterachse übereinstimmt. Über einen Umlenkspiegel (3) kann mit Hilfe des
Okulars der Lichtleiter (5) betrachtet werden. Der Tubus (2) ist schwenkbar angeordnet, um
eine bequemere Beobachtung zu ermöglichen. Die Einspannvorrichtung (6) für den
Lichtleiter wird für die Stellung des Prüfens und des Schleifens nicht verändert. Dadurch
kann bei nicht ausreichender Schliffqualität der Lichtleiteroberfläche der Schleifvorgang ohne
Justierung fortgesetzt werden.
Ein Versuchsmuster der erfindungsgemäßen Vorrichtung wurde entsprechend dem oben
skizzierten Beispiel realisiert. Die Maße des Gerätes sind Breite: 140 mm, Höhe 90 mm und
Tiefe 170 mm. Die erfindungsgemäße Vorrichtung erfüllt somit bzgl. Größe und
Leistungsumfang die unter 1. definierte Zielstellung.
1
Okular
2
Tubus (ist ca. 120° drehbar)
3
Spiegel (45°)
4
Objektiv
5
Lichtwellenleiter
6
Einspannvorichtung für Lichtwellenleiter mit einem Durchmesser von 0.8mm bis 1.2 mm.
7
Schleifarm (Der Schleifarm bewegt sich exzentergetrieben, pendelnd kurz hinter dem Drehpunkt der
Schleifscheibe auf und ab. Dadurch erhält man eine sich ständig ändernde Schleifrichtung).
8
Schleifscheibe (rotiert mit 200 U/min)
9
Beleuchtung (wird eingeschaltet bei Verstellhebelstellung Prüfen).
10
Verstellhebel in Stellung Schleifen (Schleifscheibe rotiert, Beleuchtung ist aus, der Schleifarm mit
eingespanntem Lichtwellenleiter bewegt sich mit Federkraft in Richtung Schleifscheibe).
11
Verstellhebel in Stellung Prüfen (Schleifscheibe rotiert nicht, Beleuchtung ist eingeschaltet, der Schleifarm mit
eingespanntem Lichtwellenleiter hat Abstand zur Schleifscheibe und kann von Hand zur Prüfung vor das
Prüfgerät eingerastet werden).
12
Gehäuse
13
Ausrückhebel (rückt über die Welle den Schleifarm mit eingespanntem Lichtwellenleiter auf einen definierten
Abstand zur Schleifscheibe).
14
Drehpunkt Schleifarm
15
Blickrichtung
16
Federkraft
Claims (3)
1. Lichtwellenleiterschleifmaschine mit Prüfvorrichtung bestehend aus einer ebenen
Schleifscheibe, einem den zu bearbeitenden Lichtleiter haltenden Schwenkarm und
einem optischen Mikroskop, dadurch gekennzeichnet, daß die Schleifeinrichtung mit dem
Lichtleiter und das Mikroskop eine mechanische Einheit bilden und das
Mikroskopobjektiv derart angeordnet ist, daß die Schwenkvorrichtung den Lichtleiter auf
die Objektivachse aus der Schleifposition bewegt.
2. Lichtwellenleiterschleifmaschine mit Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß sich zwischen Objektiv und Okular des Mikroskops ein
Umlenkspiegel befindet, die Schleifvorrichtung aus einer Kreisscheibe mit
Schleifbeschichtung besteht und der den Lichtleiter haltende, federnd gelagerte Hebel
eine Schwenkbewegung während der Rotation der Schleifscheibe ausführt, wobei die
Drehachse der Schleifscheibe und die optische Achse des Mikroskopobjektivs parallel
verlaufen.
3. Lichtwellenleiterschleifmaschine mit Prüfvorrichtung nach Ansprüchen 1 und 2, dadurch
gekennzeichnet, daß der Beobachtungstubus mit dem Okular um die Objektivachse
drehbar gelagert ist und um einen Winkel von +/- 60° gegen die Senkrechte schwenkbar
ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998139759 DE19839759A1 (de) | 1998-09-01 | 1998-09-01 | Lichtwellenleiterschleifmaschine mit Prüfvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998139759 DE19839759A1 (de) | 1998-09-01 | 1998-09-01 | Lichtwellenleiterschleifmaschine mit Prüfvorrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19839759A1 true DE19839759A1 (de) | 2000-03-02 |
Family
ID=7879408
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1998139759 Withdrawn DE19839759A1 (de) | 1998-09-01 | 1998-09-01 | Lichtwellenleiterschleifmaschine mit Prüfvorrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19839759A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004011980A1 (de) * | 2004-03-10 | 2005-09-29 | Marian Buczek | Lichtleiterpoliereinheit für Lichtleiter, insbesondere solche für hohe Leistungen |
CN107350961A (zh) * | 2016-12-20 | 2017-11-17 | 北京航空航天大学 | 一种角度可调保偏光纤尾纤块研磨夹具 |
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DE3429235C2 (de) * | 1983-11-28 | 1987-05-27 | Buehler Ltd., Lake Bluff, Ill., Us | |
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JPH02205467A (ja) * | 1989-02-03 | 1990-08-15 | Fujikura Ltd | 光ファイバ研磨装置 |
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-
1998
- 1998-09-01 DE DE1998139759 patent/DE19839759A1/de not_active Withdrawn
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