DE19824154A1 - Verhindern von Bausteinbeschädigung bei (PCI-)ICs mit mehreren Versorgungsspannungen - Google Patents

Verhindern von Bausteinbeschädigung bei (PCI-)ICs mit mehreren Versorgungsspannungen

Info

Publication number
DE19824154A1
DE19824154A1 DE19824154A DE19824154A DE19824154A1 DE 19824154 A1 DE19824154 A1 DE 19824154A1 DE 19824154 A DE19824154 A DE 19824154A DE 19824154 A DE19824154 A DE 19824154A DE 19824154 A1 DE19824154 A1 DE 19824154A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
supply voltage
connection
diode
circuit
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19824154A
Other languages
English (en)
Other versions
DE19824154C2 (de
Inventor
Pavel Peleska
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nokia Solutions and Networks GmbH and Co KG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19824154A priority Critical patent/DE19824154C2/de
Priority to US09/322,383 priority patent/US6236549B1/en
Publication of DE19824154A1 publication Critical patent/DE19824154A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19824154C2 publication Critical patent/DE19824154C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection

Abstract

Eine elektrische Schaltung, insbesondere ein eine integrierte Schaltung aufnehmender Baustein, die mit unterschiedlich hohen Versorgungsspannungen betriebsspannungsversorgt ist und in der zwischen den Versorgungsspannungen bei deren regulärer Höhe eine in Sperrichtung gepolte Diodenfunktion gegeben ist, weist zwischen ihren Anschlüssen für die Versorgungsspannung eine bei deren regulärer Höhe eine in Sperrichtung gepolte Schottkydiode auf zum Schutz der Schaltung, wenn die nominell niedrige Versorgungsspannung eine höhere Spannung als die nominell höhere Versorgungsspannung hat.

Description

Der Anmeldungsgegenstand betrifft eine Schaltungsanordnung zum Schutz einer Schaltung, die einer hohen Versorgungsspan­ nung und einer niedrigen Versorgungsspannung bedarf, gegen Beschädigung wegen Nichteinhaltung der vorgesehenen Reihen­ folge beim Anlegen der Versorgungsspannungen umfassend die Merkmale des Oberbegriffs des Anspruchs 1.
Einige Integrierte Schaltungen IC (Integrated Circuit) äuf­ nehmende Bausteine, wie z. B. zum Anschluß an den standardi­ sierten PCI(Peripheral Components Interface)-Bus vorgesehene Bausteine, benötigen eine 5 V (Volt) Versorgungsspannug für den Baustein-Kern (Core) und eine 3.3 V Versorgungsspannug für die IO(Input/Output)-Buffer, um die 3.3 V PCI-Pegel zu erzeugen. Bausteininterne ESD(Electro Statical Discharge)- Schutzdioden und parasitäre Dioden werden jedoch in leitender Richtung gepolt, falls der Core mit einer kleineren Versor­ gungsspannug gespeist wird als die IO-Buffer, wobei ein ex­ zessiver Strom in den IO-Buffer Pin fließt, der zu einer Be­ schädigung oder Zerstörung der IO-Buffers führen kann. Daraus ergibt sich die Forderung nach einer in Fachkreisen auch als Power-Sequencing bezeichneten Einhaltung einer Einschaltrei­ henfolge, wonach zuerst die hohe Versorgungsspannug und dann die niedrige Versorgungsspannug eingeschaltet wird (3.3 V nach 5 V). In Datenverarbeitungseinrichtungen PCs (Personal Computer) kann diese Einschaltreihenfolge garantiert werden, da die 3.3 V Versorgungsspannug i.d.R. aus der 5 V Versor­ gungsspannug erzeugt wird. In Systemen, wie sie in der Tele­ kommunikationstechnik anzutreffen sind, mit separaten Versor­ gungsspannungs-Modulen ist dies i. a. nicht der Fall. Deswei­ teren ist das Redundanzkonzept so getroffen, daß die beiden Versorgungsspannungs-Module unabhängige Ausfalleinheiten bil­ den. Es besteht die Forderung, daß kein Baustein dauerhaft beschädigt werden darf, falls eines der Versorgungsspannungs- Module ausfällt.
In einem PC-System wird die niedrigere VS (3.3 V) aus der hö­ heren Versorgungsspannung (5 V) durch einen Längs- oder Schaltregler erzeugt. Somit kann der Fall nicht eintreten, daß die höhere Versorgungsspannung ausfällt und die niedrige­ re Versorgungsspannung bestehen bleibt.
Dem Anmeldungsgegenstand liegt das Problem zugrunde, die ein­ gangs umrissene Schaltungsanordnung derart weiterzubilden, daß auch bei voneinander unabhängigen Versorgungsspannungs- Modulen für die hohe Versorgungsspannung und für die niedrige Versorgungsspannung ohne Einhaltung einer Einschaltreihenfol­ ge eine Beschädigung der Schaltung vermieden ist.
Das Problem wird bei einem durch die Merkmale des Oberbe­ griffs umrissenen Gegenstand durch die Merkmale des kenn­ zeichnenden Teils des Anspruchs 1 gelöst.
Der Anmeldungsgegenstand erspart den Aufwand für die Behebung der bei Nicht-Einhaltung der Einschaltreihenfolge auftreten­ den Schäden.
In weiterer Ausgestaltung des Anmeldungsgegenstandes ist die Diode D durch eine Diode vom Typ Schottky gegeben. Diese Maß­ nahme bringt in einem Betriebszustand, bei dem am Anschluß für die hohe Versorgungsspannung VH eine höhere Spannung als am Anschluß für die niedrige Versorgungsspannung VL anliegt, eine im wesentlichen vollständige Entlastung der in der Inte­ grierten Schaltung enthaltenen Dioden mit sich.
Der Anmeldungsgegenstand wird im folgenden als Ausführungs­ beispiel in einem zum Verständnis erforderlichen Umfang an­ hand einer Figur näher erläutert. Dabei zeigt:
Fig. 1 eine prinzipielle Darstellung einer den Anmeldungsge­ genstand realisierenden Schaltungsanordnung.
Fig. 1 läßt mehrere Integrierte Schaltungen IC1 . . . IC3 erken­ nen, deren Signale verarbeitender Baustein-Kern (Core) durch eine hohe Versorgungsspannung VH (für: Voltage High) und de­ ren Signale über Baustein-Anschlüsse weiterleitende Treiber, die auch als I/O-Buffer bezeichnet werden, durch eine niedri­ ge Versorgungsspannung VL (für: Voltage Low) betriebsspan­ nungsversorgt werden.
Die hohe Versorgungsspannung VH wird von einem 5-V-Modul und die niedrige Versorgungsspannung VL von einem 3, 3-V- Modul bereitgestellt.
Im übrigen sind die Module und die Integrierten Schaltungen, wie durch ein Masse-Zeichen dargestellt, mit dem Bezugspoten­ tial verbunden.
Bei einer Integrierten Schaltung ist zwischen dem Anschluß für die hohe Versorgungsspannung VH und dem Anschluß für die niedrige Versorgungsspannung VL die Funktion einer Diode, die mit ihrer Kathode mit dem Anschluß für die hohe Versorgungs­ spannung VH und die mit ihrer Anode mit dem Anschluß für die niedrige Versorgungsspannung VL verbunden ist, gegeben. Die Diodenfunktion zwischen den Anschlüssen rührt her von Schutz­ beschaltungen zum Schutz gegen Spannungen außerhalb des zu­ lässigen Bereichs, die auch als sogenannte ESD(Electro Stati­ cal Discharge)-Beschaltungen bezeichnet werden, oder auch von parasitären Dioden, wie sie beispielsweise bei MOSFET(Metal Oxid Silicium Field Effect Transistor)- Transistoren auftre­ ten.
Die Integrierten Schaltungen mögen durch Bausteine, die zum Anschluß an den standardisierten PCI(Peripheral Components Interface)-Bus vorgesehen sind, gegeben sein.
Für den Anmeldungsgegenstand ist wesentlich, daß eine elek­ trische Schaltung gegeben ist, die mit einer hohen Versor­ gungsspannung VH und einer niedrigen Versorgungsspannung VL betriebsspannungsversorgt ist.
Anmeldungsgemäß ist zwischen den Anschluß für die hohe Ver­ sorgungsspannung VH und den Anschluß für die niedrige Versor­ gungsspannung VL eine Diode D(für: Diode) eingefügt, wobei die Kathode der Diode mit dem Anschluß für die hohe Versor­ gungsspannung VH und die Anode der Diode mit dem Anschluß für die niedrige Versorgungsspannung VL verbunden sind.
Tritt nun ein Betriebszustand auf, bei dem am Anschluß für die niedrige Versorgungsspannung VL eine höhere Spannung als am Anschluß für die hohe Versorgungsspannung VH anliegt, fließt ein Strom von dem Anschluß für die niedrige Versor­ gungsspannung VL über die Diode D zu dem Anschluß für die ho­ he Versorgungsspannung VH, wobei die ESD-Dioden oder auch die parasitären Dioden in einer Integrierten Schaltung entlastet sind.
Eine Diode zwischen dem 3.3 V Versorgungsspannungs-Kreis und 5 V Versorgungsspannungs-Kreis (Kathode: 5 V Versorgungsspan­ nungs-Kreis) verhindert, daß die Spannung im 5 V Versorgungs­ spannungs-Kreis so niedrig wird, daß die bausteininternen ESD-Schutzdioden und parasitären Dioden in leitender Richtung gepolt werden, wodurch der IO-Buffer beschädigt werden könn­ te.
In weiterer Ausgestaltung des Anmeldungsgegenstandes ist die Diode D durch eine Diode vom Typ Schottky gegeben. Die Durch­ flußspannung UVFSch = 0, 3 . . . 0, 4 V der Schottky-Diode ist gegen­ über der Durchflußspannung UVF = 0,6 . . . 0,7 V der ESD-Dioden oder der parasitären Dioden der Integrierten Schaltung nied­ riger, wodurch in einem Betriebszustand, bei dem am Anschluß für die hohe Versorgungsspannung VH eine niedrigere Spannung als am Anschluß für die niedrige Versorgungsspannung VL an­ liegt, die ESD-Dioden oder auch die parasitären Dioden in ei­ ner Integrierten Schaltung vollständig entlastet sind.

Claims (2)

1. Schaltungsanordnung zum Schutz einer Schaltung, die einer hohen Betriebsspannung und einer niedrigen Betriebsspannung bedarf, gegen Beschädigung wegen Nichteinhaltung der vorgese­ henen Reihenfolge beim Anlegen der Betriebsspannungen bei der
  • 1. eine Schaltung einen Anschluß für die hohe Betriebsspan­ nung (HV) und einen Anschluß für die niedrige Betriebsspan­ nung (LV) aufweist,
dadurch gekennzeichnet, daß eine Diode mit ihrer Kathode mit dem Anschluß für die hohe Betriebsspannung und mit ihrer Anode mit dem Anschluß für die niedrige Betriebsspannung verbunden ist.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Diode durch eine Diode vom Typ Schottky gegeben ist.
DE19824154A 1998-05-29 1998-05-29 Schaltungsanordnung zum Schutz einer integrierten Schaltung Expired - Fee Related DE19824154C2 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19824154A DE19824154C2 (de) 1998-05-29 1998-05-29 Schaltungsanordnung zum Schutz einer integrierten Schaltung
US09/322,383 US6236549B1 (en) 1998-05-29 1999-05-28 Circuit for preventing module damage in integrated circuits which require a plurality of supply voltages

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19824154A DE19824154C2 (de) 1998-05-29 1998-05-29 Schaltungsanordnung zum Schutz einer integrierten Schaltung
US09/322,383 US6236549B1 (en) 1998-05-29 1999-05-28 Circuit for preventing module damage in integrated circuits which require a plurality of supply voltages

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19824154A1 true DE19824154A1 (de) 1999-12-09
DE19824154C2 DE19824154C2 (de) 2003-07-17

Family

ID=26046520

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19824154A Expired - Fee Related DE19824154C2 (de) 1998-05-29 1998-05-29 Schaltungsanordnung zum Schutz einer integrierten Schaltung

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6236549B1 (de)
DE (1) DE19824154C2 (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6979908B1 (en) * 2000-01-11 2005-12-27 Texas Instruments Incorporated Input/output architecture for integrated circuits with efficient positioning of integrated circuit elements
JP4619511B2 (ja) * 2000-09-29 2011-01-26 Okiセミコンダクタ株式会社 電源電圧供給システムを備えた半導体装置及び電源電圧供給システムを備えた半導体装置に電源電圧を供給する電源電圧供給方法
US7518844B1 (en) * 2006-02-10 2009-04-14 Integrated Device Technology, Inc. Over-voltage tolerant ESD protection circuit
US7362555B2 (en) * 2006-08-26 2008-04-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. ESD protection circuit for a mixed-voltage semiconductor device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5528447A (en) * 1994-09-30 1996-06-18 At&T Global Information Solutions Company 5-volt tolerant bi-directional i/o pad for 3-volt-optimized integrated circuits
DE19501985A1 (de) * 1995-01-24 1996-07-25 Teves Gmbh Alfred Verpolschutz
US5610791A (en) * 1994-09-26 1997-03-11 International Business Machines Corporation Power sequence independent electrostatic discharge protection circuits

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4110775A (en) * 1976-08-23 1978-08-29 Festa Thomas A Schottky diode with voltage limiting guard band
GB8722679D0 (en) * 1987-09-26 1987-11-04 Measurement Tech Ltd Electrical safety barriers
US4878145A (en) * 1988-11-21 1989-10-31 Oneac Corporation Surge/transient protector for a plurality of data lines
FR2664760B1 (fr) * 1990-07-13 1996-09-27 Sgs Thomson Microelectronics Dispositif de protection contre des surtensions et sa realisation monolithique.
US5539334A (en) * 1992-12-16 1996-07-23 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for high voltage level shifting
EP0621692B1 (de) * 1993-04-19 1998-09-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. Überspannungsschutzschaltung
US5530612A (en) * 1994-03-28 1996-06-25 Intel Corporation Electrostatic discharge protection circuits using biased and terminated PNP transistor chains
US6002568A (en) * 1998-06-29 1999-12-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. ESD protection scheme for mixed-voltage CMOS integrated circuits

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5610791A (en) * 1994-09-26 1997-03-11 International Business Machines Corporation Power sequence independent electrostatic discharge protection circuits
US5528447A (en) * 1994-09-30 1996-06-18 At&T Global Information Solutions Company 5-volt tolerant bi-directional i/o pad for 3-volt-optimized integrated circuits
DE19501985A1 (de) * 1995-01-24 1996-07-25 Teves Gmbh Alfred Verpolschutz

Also Published As

Publication number Publication date
DE19824154C2 (de) 2003-07-17
US6236549B1 (en) 2001-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19533958C2 (de) Schutzschaltung gegen elektrostatische Entladungen enthaltend eine Kondensatorschaltung
CN102017144B (zh) 多电压静电放电保护
US5384492A (en) Protective system for insertion/extraction of PC boards in a powered-up environment
DE10214068A1 (de) ESD-Schutzschaltung für Radiofrequenz- Ein/Ausgangsanschlüsse in einer integrierten Schaltung
EP1703559A1 (de) ESD Schutzschaltung für niedrige Spannungen
EP0736904A1 (de) Integrierte Halbleiterschaltung mit einem Schutzmittel
EP1212797B1 (de) Esd-schutzanordnung für signaleingänge und -ausgänge bei halbleitervorrichtungen mit substrattrennung
EP3021444A1 (de) Schaltung zum schutz vor überspannungen
CN101228629B (zh) 采用分布式低电压钳位器件的通路共用的高电压esd保护
DE102019112271A1 (de) Schaltung zum identifizieren der quelle eines leistungsfehlers in einem elektrischen system mit zwei leistungsquellen
WO2015117691A1 (de) Gleichrichterschaltung mit selbstklemmendem transistor
DE19824154C2 (de) Schaltungsanordnung zum Schutz einer integrierten Schaltung
DE10060651C1 (de) Spannungsreglerschaltung für Chipkarten-ICs
DE19983293B4 (de) Eine Belastungsnachführungs-Schaltungskonfiguration
DE10255130B4 (de) Schaltungsanordnung zum Schutz integrierter Schaltungen vor elektrostatischen Entladungen mit parallelem Strompfad
DE102005000801A1 (de) Vorrichtung, Anordnung und System zum ESD-Schutz
DE202006014573U1 (de) Schnittstellenschaltung für eine Funktionseinheit eines Multichip-Systems
DE4426307A1 (de) Integrierte Schaltung mit einem Gate Oxid
DE2644401C2 (de) Elektronischer Schalter
DE10102354C1 (de) Halbleiter-Bauelement mit ESD-Schutz
DE102006017260A1 (de) Verfahren zur Schaltkreisüberprüfung
DE19629056C1 (de) Schaltungsanordnung zum Schutz eines Leistungs-MOSFET
DE102012108105A1 (de) Schutzschaltung und Verfahren zum Schutz einer Schaltung
EP0572872A2 (de) Schaltungsanordnung zur Reduzierung von Stromverbrauch eines Telekommunikationsendegerätes
DE212020000607U1 (de) Steuermodul und Halbleiterbauteil

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8304 Grant after examination procedure
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: NOKIA SIEMENS NETWORKS GMBH & CO.KG, 81541 MUE, DE

8339 Ceased/non-payment of the annual fee