DE19824154A1 - Verhindern von Bausteinbeschädigung bei (PCI-)ICs mit mehreren Versorgungsspannungen - Google Patents
Verhindern von Bausteinbeschädigung bei (PCI-)ICs mit mehreren VersorgungsspannungenInfo
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Abstract
Eine elektrische Schaltung, insbesondere ein eine integrierte Schaltung aufnehmender Baustein, die mit unterschiedlich hohen Versorgungsspannungen betriebsspannungsversorgt ist und in der zwischen den Versorgungsspannungen bei deren regulärer Höhe eine in Sperrichtung gepolte Diodenfunktion gegeben ist, weist zwischen ihren Anschlüssen für die Versorgungsspannung eine bei deren regulärer Höhe eine in Sperrichtung gepolte Schottkydiode auf zum Schutz der Schaltung, wenn die nominell niedrige Versorgungsspannung eine höhere Spannung als die nominell höhere Versorgungsspannung hat.
Description
Der Anmeldungsgegenstand betrifft eine Schaltungsanordnung
zum Schutz einer Schaltung, die einer hohen Versorgungsspan
nung und einer niedrigen Versorgungsspannung bedarf, gegen
Beschädigung wegen Nichteinhaltung der vorgesehenen Reihen
folge beim Anlegen der Versorgungsspannungen umfassend die
Merkmale des Oberbegriffs des Anspruchs 1.
Einige Integrierte Schaltungen IC (Integrated Circuit) äuf
nehmende Bausteine, wie z. B. zum Anschluß an den standardi
sierten PCI(Peripheral Components Interface)-Bus vorgesehene
Bausteine, benötigen eine 5 V (Volt) Versorgungsspannug für
den Baustein-Kern (Core) und eine 3.3 V Versorgungsspannug
für die IO(Input/Output)-Buffer, um die 3.3 V PCI-Pegel zu
erzeugen. Bausteininterne ESD(Electro Statical Discharge)-
Schutzdioden und parasitäre Dioden werden jedoch in leitender
Richtung gepolt, falls der Core mit einer kleineren Versor
gungsspannug gespeist wird als die IO-Buffer, wobei ein ex
zessiver Strom in den IO-Buffer Pin fließt, der zu einer Be
schädigung oder Zerstörung der IO-Buffers führen kann. Daraus
ergibt sich die Forderung nach einer in Fachkreisen auch als
Power-Sequencing bezeichneten Einhaltung einer Einschaltrei
henfolge, wonach zuerst die hohe Versorgungsspannug und dann
die niedrige Versorgungsspannug eingeschaltet wird (3.3 V
nach 5 V). In Datenverarbeitungseinrichtungen PCs (Personal
Computer) kann diese Einschaltreihenfolge garantiert werden,
da die 3.3 V Versorgungsspannug i.d.R. aus der 5 V Versor
gungsspannug erzeugt wird. In Systemen, wie sie in der Tele
kommunikationstechnik anzutreffen sind, mit separaten Versor
gungsspannungs-Modulen ist dies i. a. nicht der Fall. Deswei
teren ist das Redundanzkonzept so getroffen, daß die beiden
Versorgungsspannungs-Module unabhängige Ausfalleinheiten bil
den. Es besteht die Forderung, daß kein Baustein dauerhaft
beschädigt werden darf, falls eines der Versorgungsspannungs-
Module ausfällt.
In einem PC-System wird die niedrigere VS (3.3 V) aus der hö
heren Versorgungsspannung (5 V) durch einen Längs- oder
Schaltregler erzeugt. Somit kann der Fall nicht eintreten,
daß die höhere Versorgungsspannung ausfällt und die niedrige
re Versorgungsspannung bestehen bleibt.
Dem Anmeldungsgegenstand liegt das Problem zugrunde, die ein
gangs umrissene Schaltungsanordnung derart weiterzubilden,
daß auch bei voneinander unabhängigen Versorgungsspannungs-
Modulen für die hohe Versorgungsspannung und für die niedrige
Versorgungsspannung ohne Einhaltung einer Einschaltreihenfol
ge eine Beschädigung der Schaltung vermieden ist.
Das Problem wird bei einem durch die Merkmale des Oberbe
griffs umrissenen Gegenstand durch die Merkmale des kenn
zeichnenden Teils des Anspruchs 1 gelöst.
Der Anmeldungsgegenstand erspart den Aufwand für die Behebung
der bei Nicht-Einhaltung der Einschaltreihenfolge auftreten
den Schäden.
In weiterer Ausgestaltung des Anmeldungsgegenstandes ist die
Diode D durch eine Diode vom Typ Schottky gegeben. Diese Maß
nahme bringt in einem Betriebszustand, bei dem am Anschluß
für die hohe Versorgungsspannung VH eine höhere Spannung als
am Anschluß für die niedrige Versorgungsspannung VL anliegt,
eine im wesentlichen vollständige Entlastung der in der Inte
grierten Schaltung enthaltenen Dioden mit sich.
Der Anmeldungsgegenstand wird im folgenden als Ausführungs
beispiel in einem zum Verständnis erforderlichen Umfang an
hand einer Figur näher erläutert. Dabei zeigt:
Fig. 1 eine prinzipielle Darstellung einer den Anmeldungsge
genstand realisierenden Schaltungsanordnung.
Fig. 1 läßt mehrere Integrierte Schaltungen IC1 . . . IC3 erken
nen, deren Signale verarbeitender Baustein-Kern (Core) durch
eine hohe Versorgungsspannung VH (für: Voltage High) und de
ren Signale über Baustein-Anschlüsse weiterleitende Treiber,
die auch als I/O-Buffer bezeichnet werden, durch eine niedri
ge Versorgungsspannung VL (für: Voltage Low) betriebsspan
nungsversorgt werden.
Die hohe Versorgungsspannung VH wird von einem 5-V-Modul
und die niedrige Versorgungsspannung VL von einem 3, 3-V-
Modul bereitgestellt.
Im übrigen sind die Module und die Integrierten Schaltungen,
wie durch ein Masse-Zeichen dargestellt, mit dem Bezugspoten
tial verbunden.
Bei einer Integrierten Schaltung ist zwischen dem Anschluß
für die hohe Versorgungsspannung VH und dem Anschluß für die
niedrige Versorgungsspannung VL die Funktion einer Diode, die
mit ihrer Kathode mit dem Anschluß für die hohe Versorgungs
spannung VH und die mit ihrer Anode mit dem Anschluß für die
niedrige Versorgungsspannung VL verbunden ist, gegeben. Die
Diodenfunktion zwischen den Anschlüssen rührt her von Schutz
beschaltungen zum Schutz gegen Spannungen außerhalb des zu
lässigen Bereichs, die auch als sogenannte ESD(Electro Stati
cal Discharge)-Beschaltungen bezeichnet werden, oder auch von
parasitären Dioden, wie sie beispielsweise bei MOSFET(Metal
Oxid Silicium Field Effect Transistor)- Transistoren auftre
ten.
Die Integrierten Schaltungen mögen durch Bausteine, die zum
Anschluß an den standardisierten PCI(Peripheral Components
Interface)-Bus vorgesehen sind, gegeben sein.
Für den Anmeldungsgegenstand ist wesentlich, daß eine elek
trische Schaltung gegeben ist, die mit einer hohen Versor
gungsspannung VH und einer niedrigen Versorgungsspannung VL
betriebsspannungsversorgt ist.
Anmeldungsgemäß ist zwischen den Anschluß für die hohe Ver
sorgungsspannung VH und den Anschluß für die niedrige Versor
gungsspannung VL eine Diode D(für: Diode) eingefügt, wobei
die Kathode der Diode mit dem Anschluß für die hohe Versor
gungsspannung VH und die Anode der Diode mit dem Anschluß für
die niedrige Versorgungsspannung VL verbunden sind.
Tritt nun ein Betriebszustand auf, bei dem am Anschluß für
die niedrige Versorgungsspannung VL eine höhere Spannung als
am Anschluß für die hohe Versorgungsspannung VH anliegt,
fließt ein Strom von dem Anschluß für die niedrige Versor
gungsspannung VL über die Diode D zu dem Anschluß für die ho
he Versorgungsspannung VH, wobei die ESD-Dioden oder auch die
parasitären Dioden in einer Integrierten Schaltung entlastet
sind.
Eine Diode zwischen dem 3.3 V Versorgungsspannungs-Kreis und
5 V Versorgungsspannungs-Kreis (Kathode: 5 V Versorgungsspan
nungs-Kreis) verhindert, daß die Spannung im 5 V Versorgungs
spannungs-Kreis so niedrig wird, daß die bausteininternen
ESD-Schutzdioden und parasitären Dioden in leitender Richtung
gepolt werden, wodurch der IO-Buffer beschädigt werden könn
te.
In weiterer Ausgestaltung des Anmeldungsgegenstandes ist die
Diode D durch eine Diode vom Typ Schottky gegeben. Die Durch
flußspannung UVFSch = 0, 3 . . . 0, 4 V der Schottky-Diode ist gegen
über der Durchflußspannung UVF = 0,6 . . . 0,7 V der ESD-Dioden
oder der parasitären Dioden der Integrierten Schaltung nied
riger, wodurch in einem Betriebszustand, bei dem am Anschluß
für die hohe Versorgungsspannung VH eine niedrigere Spannung
als am Anschluß für die niedrige Versorgungsspannung VL an
liegt, die ESD-Dioden oder auch die parasitären Dioden in ei
ner Integrierten Schaltung vollständig entlastet sind.
Claims (2)
1. Schaltungsanordnung zum Schutz einer Schaltung, die einer
hohen Betriebsspannung und einer niedrigen Betriebsspannung
bedarf, gegen Beschädigung wegen Nichteinhaltung der vorgese
henen Reihenfolge beim Anlegen der Betriebsspannungen bei der
- 1. eine Schaltung einen Anschluß für die hohe Betriebsspan nung (HV) und einen Anschluß für die niedrige Betriebsspan nung (LV) aufweist,
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Diode durch eine Diode vom Typ Schottky gegeben ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19824154A DE19824154C2 (de) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | Schaltungsanordnung zum Schutz einer integrierten Schaltung |
US09/322,383 US6236549B1 (en) | 1998-05-29 | 1999-05-28 | Circuit for preventing module damage in integrated circuits which require a plurality of supply voltages |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19824154A DE19824154C2 (de) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | Schaltungsanordnung zum Schutz einer integrierten Schaltung |
US09/322,383 US6236549B1 (en) | 1998-05-29 | 1999-05-28 | Circuit for preventing module damage in integrated circuits which require a plurality of supply voltages |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19824154A1 true DE19824154A1 (de) | 1999-12-09 |
DE19824154C2 DE19824154C2 (de) | 2003-07-17 |
Family
ID=26046520
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19824154A Expired - Fee Related DE19824154C2 (de) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | Schaltungsanordnung zum Schutz einer integrierten Schaltung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6236549B1 (de) |
DE (1) | DE19824154C2 (de) |
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Publication number | Publication date |
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