DE19819873A1 - Kombinierte Absorptions- und Reflektanzspektroskopie zur synchronen Ermittlung der Absorption, Fluoreszenz, Streuung und Brechung von Flüssigkeiten, Gasen und Festkörpern - Google Patents
Kombinierte Absorptions- und Reflektanzspektroskopie zur synchronen Ermittlung der Absorption, Fluoreszenz, Streuung und Brechung von Flüssigkeiten, Gasen und FestkörpernInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft die synchrone Ermittlung der Absorption, Fluoreszenz, Streuung und Brechung von Flüssigkeiten, Gasen und Festkörpern (Meßvolumen) mit hoher Empfindlichkeit. Dabei wird Strahlung definierter Wellenlänge in eine Mehrfachreflexionsvorrichtung eingekoppelt. Es werden mit einem unmittelbar hinter einem Spiegel, der teildurchlässig ist, lokalisierten Empfänger die transmittierte Einkoppelstrahlung und mit einem auf das Meßvolumen gerichteten und am Einkoppelspiegel lokalisierten Empfänger die entgegen der Einfallsrichtung gerichtete Remission sowie die an der Grenzfläche zum Meßvolmen specular reflektierte Strahlung gemessen. Die Absorptionsfähigkeit wird aus dem Kehrwert der transmittierten Einkoppelstrahlung und die Streu- und Fluoreszenzfähigkeit indirekt aus der Kombination aus Remission und transmittierter Strahlung sowie die Brechung aus der Kombination aus specular reflektierter Strahlung und transmittierter Strahlung ermittelt. Die Erfindung beschreibt eine einfache und robuste, sowie modular aufgebaute Vorrichtung. Einsatzgebiete sind die Analyse, Qualitätskontrolle und Überwachung in Industrie, Umwelt und Medizin.
Description
Analytik, Umwelt-, Qualitäts- und Prozeßüberwachung, Spektroskopie, Absorption, Remission,
Streuung, Fluoreszenz, Brechung .
Konventionelle Absorptionsmethoden werden zum Nachweis absorbierender Substanzen in
Flüssigkeiten, Gasen und Festkörpern (Meßvolumen) verwendet. Dabei wird Strahlung
definierter Wellenlänge in das Meßvolumen eingekoppelt. Auf ihrem Weg durch das Meßvolu
men wird die eingekoppelte Strahlung durch absorbierende Substanzen geschwächt. Nach einer
definierten Wegstrecke wird die Einkoppelstrahlung wieder ausgekoppelt und auf einen
optoelektronischen Empfänger gerichtet, der die geschwächte Intensität I registriert. Der
Quotient aus geschwächter und ungeschwächter Intensität I0 ist die Transmission T:
T = I/I0 = exp (-αTx) (1)
Dieses Gesetz von Bouguer-Beer-Lambert beschreibt den Zusammenhang zwischen Trans
mission und dem totalen Absorptionskoeffizienten aT (der Einfachheit halber ist hier die
Streuung vernachlässigt worden). Der Term x ist der Weg, den die Einkoppelstrahlung im
Meßvolumen zurücklegt [1], [2].
Eine spezielle Absorptionsmethode beruht auf dem Prinzip der evaneszenten Wellenfelder bzw.
der attenuated total reflection (ATR). Hierbei wird Strahlung in einen lichtleitenden Festkörper,
z. B. ATR-Kristall oder Lichtwellenleiter, eingekoppelt und nach Durchlaufen einer definier
ten Wegstrecke wieder ausgekoppelt. Der Lichtwellenleiter steht mit dem zu untersuchenden
Meßvolumen in Kontakt. Im Lichtwellenleiter wird die Einkoppelstrahlung an der Grenzfläche
zum Meßvolumen total reflektiert, wobei ein geringer Teil der Strahlung in das Meßvolumen
eindringt (evaneszente Welle) und mit diesem wechselwirkt. Dadurch wird die Einkoppel
strahlung geschwächt. Diese Abschwächung wird gemessen. Es gilt der klassische Zusammen
hang in Formel (1) [1].
Bei Meßvolumina mit sehr geringen optischen Dichten (z. B. Gase) wird die Wegstrecke der
eingekoppelten Strahlung im Meßvolumen erhöht, um auswertbare Signale zu erhalten. Lange
Wege können beispielsweise mit Hilfe von reflektierenden Elementen realisiert werden [3]. In
[4] wird eine innen verspiegelte Kugelküvette vorgestellt, in welcher die eingekoppelte
Strahlung mehrfach hin und her reflektiert und dann wieder ausgekoppelt und auf einen
Empfänger gerichtet wird. In [5] wird eine Gasabsorptionszelle beschrieben.
In [6] bis [8] wird eine Methode zur Ermittlung der totalen Absorption vorgeschlagen, bei der
nicht die nach Durchlaufen einer definierten Wegstrecke geschwächte Einkoppelstrahlung
gemessen wird, sondern die durch die Einkoppelstrahlung erzeugte Wechselwirkungsstrahlung
(Fluoreszenz und Streuung). Das besondere Merkmal dabei ist, daß die eingekoppelte Strah
lung infolge langer Wege vom Meßvolumen nahezu vollständig absorbiert wird.
Die Reflektanz setzt sich aus der diffusen Remission und der specularen bzw. gerichteten
Reflexion zusammen.
Die Remission R ist die diffuse Reflexion von Strahlung an Materie (Meßvolumen). Sie ist ein
Maß für die Intensität der entgegen der Einfallsrichtung reflektierten Photonen. Das sind im
klassischen Sinne gestreute Photonen. Die Remission wird durch die Streufähigkeit (Streukoef
fizient β) und Absorptionsfähigkeit (totaler Absorptionskoeffizient αT,) des Meßvolumens
bestimmt. Der Einfachheit halber soll im folgenden die Absorption dominieren. Zur ma
thematischen Beschreibung der Remission dient die Theorie von Kubelka und Munk. Bei
einem unendlich ausgedehnten Meßvolumen (z. B. ein tiefes Gewässer) ist die Remission
proportional dem Quotienten aus Streukoeffizient und Absorptionskoeffizient,
RS ~ β/αT (2).
Wird durch die in das Meßvolumen einfallende Strahlung auch Fluoreszenz erzeugt, dann wird
die Remission im weiteren Sinne nicht nur durch die Streuung sondern auch durch die
Fluoreszenzfähigkeit bestimmt, die durch das Produkt aus Fluoreszenzquantenausbeute QF und
Absorptionskoeffizient der Fluorophore αF des Meßvolumens (QFαF) charakterisiert wird. Der
Fluoreszenzbeitrag zur Remission ausgedehnter Meßvolumina wird dabei maßgeblich durch
den Quotienten
RF ~ QFαF(λE)/[αT(λE)+(αT(λF] (3)
gesteuert, wobei λE und λF die Wellenlängen der einfallenden Strahlung und der Fluoreszenz
sind. In vielen Fällen transmittierender Meßvolumina ist die Absorption bei der Wellenlänge
der einfallenden Strahlung größer als die Absorption bei der Fluoreszenzwellenlänge (z. B. bei
eutrophierten Oberflächengewässern). Dann geht (3) in (4) über:
RF ~ QFαF(λE)/αT(λE) (4)
Die Formeln (2) und (4) sind durch dieselbe mathematische Struktur gekennzeichnet. Die
Remission ist in beiden Fällen einmal proportional zur Streu- bzw. Fluoreszenzfähigkeit und
zum anderen umgekehrt proportional zur totalen Absorption.
Die Remissionsspektroskopie ist z.B. grundlegend für die Fernerkundung und wird sowohl bei
optisch sehr dichten als auch bei transmittierenden Meßvolumina angewendet. Beispiele für
den ersten Fall sind Remissionsmessungen an Vegetation (Blätter oder Nadeln), um den
physiologischen Zustand festzustellen oder Messungen an Böden zur Ermittlung von beispiels
weise Feuchte und Struktur.
Zum zweiten Fall der transmittierenden Meßvolumina zählen Atmosphäre, Gewässer und
Ozeane. Vergleichsweise einfache Verhältnisse sind dann gegeben, wenn sich die einfallende
Strahlung (Globalstrahlung, Lidar) im Meßvolumen totlaufen kann, d. h. daß im Beispiel der
Gewässer die einfallende Strahlung nicht den Gewässerboden erreicht [9], [10].
Die Reflexionsspektroskopie wird vorzugsweise zur Untersuchung von festen Oberflächen
verwendet. Dabei wird die von einer Oberfläche direkt reflektierte bzw. gerichtete Strahlung
analysiert (Reflexionsgesetz), die Auskunft über das spektrale Reflexionsvermögen liefert.
Bei der Analyse der diffusen Remission R von transmittierenden festen, flüssigen und gasför
migen Meßvolumina (siehe (a)) ist die an der Grenzfläche zum Meßvolumen auftretende
speculare Reflexion i.d.R. eine Störgröße, die durch geeignete Meßanordnungen ausgeblendet
wird.
Die speculare oder gerichtete Reflexion RG ist u. a. von der Brechzahl n des Meßvolumens
abhängig. Da in vielen Fällen das Meßvolumen absorbiert, wird die für die Reflexion maßge
bliche Brechzahl neben der Brechkraft auch von dem Absorptionsvermögen des Meßvolumens
bestimmt. Die Brechzahl setzt sich aus einem Realteil und einem Imaginärteil zusammen
(komplexe Zahl):
RG = ((n-1)/(n+1))2 (5)
mit n = nReal + nImaginär. Die Formel (5) ist eine vereinfachte Darstellung für die Grenzfläche
Luft/Meßvolumen bei senkrechter Einstrahlung. Die Brechzahl wird praktisch als Realteil
goniometrisch oder interferometrisch ermittelt [1], [2].
In der Anmeldung [11] wird ein Verfahren vorgeschlagen, das die Absorption und Remission
auf der Basis der vollständigen Absorption der Einkoppelstrahlung im Meßvolumen kom
biniert. Dabei wird Strahlung definierter Wellenlänge in das zu untersuchende Meßvolumen,
das vorzugsweise transmittierend ist, eingekoppelt. Das Meßvolumen befindet sich dabei
zwischen zwei sich gegenüberstehenden Spiegeln. Die Spiegel sind derart ausgelegt, daß durch
eine ausreichend hohe Anzahl an Reflexionen der Weg der über den Einkoppelspiegel
eingekoppelten Strahlung so lang ist, so daß diese im Meßvolumen vollständig absorbiert
werden kann. Die vollständige Absorption ist Voraussetzung für das Entstehen einer Remission
gemäß den oben angegebenen Formeln (Bezeichnung hier: gesättigte Langweg-Remission). Die
gesättigte Langweg-Remission wird mit einem am Einkoppelspiegel angeordneten und auf das
Meßvolumen ausgerichteten photoelektronischen Empfänger in üblicher Remissionsmeßgeome
trie, also rückwärtig, gemessen. Das Meßsignal wird nach Formel (2) im Falle der Streuung
und im Falle der Fluoreszenz nach Formel (4) beschrieben.
Synchron dazu erfolgt ein zweiter wesentlicher Meßvorgang. Der Einkoppelspiegel (oder auch
der Gegenspiegel) ist teildurchlässig, z. B. 5% Transmission und 95% Reflektivität. Folglich
tritt nach jeder Reflexion bzw. nach jedem Umlauf ein Teil der vom Meßvolumen transmit
tierten Einkoppelstrahlung durch den Einkoppelspiegel und gelangt auf einen zweiten unmittel
bar hinter dem Einkoppelspiegel angeordneten Empfänger. Bei Vernachlässigung der durch den
teildurchlässigen Spiegel hindurchtretenden Fluoreszenz- und Streuphotonen wird die Intensität
ITr der transmittierten Strahlung durch folgende Formel in Näherung beschrieben:
ITr ~ m/αT (6)
Der Term m ist eine für die Durchlässigkeit des Einkoppelspiegels charakteristische und
bekannte Konstante. Der totale Absorptionskoeffizient αT kann somit direkt aus (6) ermittelt
werden. Im Vergleich zur klassischen Absorptionsspektrometrie (Lambert-Beer Exponential-
Gesetz) ist (6) durch eine höhere Empfindlichkeit charakterisiert, was zu tieferen Nachweis
grenzen und höheren Genauigkeiten führt. Mit zunehmendem αT sinkt ITr. Das leuchtet ein, da
mit zunehmendem αT die mittlere Weglänge der eingekoppelten Strahlung bis zu ihrer nahezu
vollständigen Absorption im Meßvolumen abnimmt und somit die Anzahl der Reflexionen
bzw. Umläufe sinkt. Damit sinkt auch die Intensität ITr der durch den teildurchlässigen Spiegel
tretenden Einkoppelstrahlung. Darüberhinaus wird die Intensität ITr auch von der Spiegelkon
stanten m festgelegt. Je größer m, d. h. je kleiner die Reflektivität bzw. größer die Durch
lässigkeit des Einkoppelspiegels ist, umso höher ist ITr.
Durch Einsetzen von αT in die Formeln (2) bzw. (4) können somit auch die Streu- und Fluo
reszenzfähigkeit β und QFαF indirekt bestimmt werden. Die Mehrdeutigkeit der klassischen
Remissionsspektroskopie wird durch die Kombination mit der oben vorgestellten Absorptions
spektroskopie eliminiert.
Des weiteren wird eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens beschrieben. Diese
Vorrichtung weist grundsätzliche Merkmale auf.
Die vorgestellte Erfindung ist auf bestimmte Meßgeometrien und Anwendungen begrenzt. Für
die Erhöhung der Anwendungsbreite werden günstige Modifikationen vorgeschlagen.
Gemäß Anspruch 1 erfolgt eine Mehrfachreflexion der von einem im Meßkopf (6) befindli
chen Lichtwellenleiter (1) ausgehenden Einkoppelstrahlung zwischen teildurchlässigem Ein
koppelspiegel (2), dem System Meßvolumen/Träger (7) und dem justierbaren Gegenspiegel
(z. B. Hohlspiegel) (8) (siehe Abb. 1). Der Empfänger (4) registriert die durch den teildurch
lässigen Einkoppelspiegel (z. B. Planspiegel) (2) transmittierte Einkoppelstrahlung, deren
Intensität durch die von (7) specular reflektierte Intensität und durch die von (7) diffus
remittierte Intensität (Remission) bestimmt wird. Der konische Reflektor (3) dient dabei als
Querschnittswandler. Der Empfänger (5) registriert die Remission. Aus der Kombination von
transmittierter Einkoppelstrahlung und Remission können in einfacher Weise specular reflek
tierte und diffus remittierte Anteile separat und mit hoher Empfindlichkeit ermittelt werden.
Auf Abb. 1 erfolgt die Mehrfachreflexion in der Reihenfolge der reflektierenden Elemente (7)-
(8)-(7)-(2)-(7)-(8)-(2) usw., wobei grundsätzlich auch die Folgen (7)-(8)-(2)-(7) usw. oder (7)-
(2)-(8)-(2)-(7) usw. oder (8)-(7)-(2)-(8) usw. möglich sind.
Das System (7) kann ausschließlich das Meßvolumen sein, das durchsichtig oder undurch
sichtig ist (offene Flüssigkeiten, durchsichtige und undurchsichtige Festkörper, dünne Platten
etc.). Die Einkoppelstrahlung tritt direkt mit dem Meßvolumen in Wechselwirkung und wird
von diesem specular reflektiert und diffus remittiert. Das Meßvolumen nimmt direkt an der
Mehrfachreflexion teil. Wegen der Mehrfachreflexion ist die Wechselwirkung zwischen der
Einkoppelstrahlung und dem Meßvolumen intensiv, was große Signal-Rausch-Verhältnisse
liefert. Das Meßvolumen kann auch hinter einem Schutzfenster lokalisiert sein.
Das Meßvolumen kann auch auf einem Träger lokalisiert und als dünner Film ausgebildet sein.
Der dünne Film kann dabei auf der dem Meßkopf und dem Gegenspiegel zugewandten (Vor
derseite) oder/und auf der abgewandten Seite (Rückseite) aufgebracht sein.
Gemäß Anspruch 2 befindet sich ein dünner Film auf der Vorderseite des Trägers, der
rückseitig voll oder teildurchlässig verspiegelt ist. Im Fall einer teildurchlässigen Spiegel
schicht ist ein Empfänger zur Messung transmittierter Einkoppelstrahlung nachgeordnet.
Die Ansprüche 3-4 beschreiben vorteilhafte Ausbildungen bezüglich verschiedener Einstrahl
winkel:
Die Erläuterungen erfolgen anhand einer Konfiguration, bei der der Träger an seiner Rückseite mit dem zu untersuchenden Meßvolumen (dünner Film oder ausgedehnt) in Kontakt ist. Die Brechzahl des Meßvolumens soll kleiner als die Brechzahl des durchsichtigen Trägers sein. Anspruch 3 beschreibt drei verschiedene Situationen:
(a) Einstrahlwinkel ausreichend klein, so daß keine Totalreflexion an der Grenzfläche Träger/- Meßvolumen stattfindet, (b) Einstrahlwinkel ausreichend groß, so daß Totalreflexion an der Grenzfläche Träger/Meßvolumen stattfindet, und (c) Einstrahlwinkel liegt im Bereich des Grenzwinkels der Totalreflexion (kritischer Winkel). Im Fall (a) erfolgt beispielsweise bei Meßvolumina mit kleinen Reflektivitäten (dünne und durchsichtige Filme) eine Mehrfachrefle xion, wobei die Intensität der Einkoppelstrahlung schon nach einigen wenigen Umläufen sehr stark infolge der geringen Reflektivität des Meßvolumens abgesunken ist. Bei Meßvolumina mit hohen Reflektivitäten ist dagegen die Anzahl der Strahlungsumläufe und damit die Intensität der transmittierten Einkoppelstrahlung größer. Die mit dem Empfänger (4) gemesse ne Intensität der Einkoppelstrahlung ist ein Maß für die Brechzahl des Meßvolumens. Im Fall (b) findet eine Totalreflexion an der Grenzfläche Träger/Meßvolumen statt. Die Reflektivität dieser Grenzfläche ist hoch und damit auch die Anzahl der Umläufe bzw. die Intensität der transmittierten Einkoppelstrahlung, die Auskunft über die Brechzahl des Meßvolumens gibt. Ein Spezialfall von (b) ist (Anspruch 4, siehe Abb. 2), wenn die Strahlung vom Meßkopf (6) direkt in die eine Stirnseite des als Lichtwellenleiter (11) ausgebildeten Träger eingekoppelt wird und die Mehrfachreflexion über den an der gegenüberliegenden Stirnseite des Trägers lokalisierten Spiegels (10) (z. B. Planspiegel) und dem teildurchlässigen Spiegel des Meßkopfes im Träger selbst erfolgt. Über den Effekt der evaneszenten Wellenfelder gibt die Intensität der transmittierten Einkoppelstrahlung Auskunft zur Absorption des am Träger anliegenden Meßvolumens (9). Zusätzlich dazu sind eine Strahlungsquelle (12) und ein Empfänger (13) derart angeordnet, das mittels einer abbildenden Optik (14) der Empfänger (13) die an der Grenzfläche Träger/Meßvolumen specular reflektierte Intensität registriert, die durch die Brech zahl des Meßvolumens bestimmt ist. Der Einkoppelwinkel liegt außerhalb des Winkelbereiches der Totalreflexion. Diese Anordnung ist somit für die synchrone Ermittlung von Absorption und Brechzahl geeignet. Der Fall (c) nutzt die Tatsache, daß Messung im Bereich des kriti schen Winkels durch eine hohe Empfindlichkeit charakterisiert ist.
Die Erläuterungen erfolgen anhand einer Konfiguration, bei der der Träger an seiner Rückseite mit dem zu untersuchenden Meßvolumen (dünner Film oder ausgedehnt) in Kontakt ist. Die Brechzahl des Meßvolumens soll kleiner als die Brechzahl des durchsichtigen Trägers sein. Anspruch 3 beschreibt drei verschiedene Situationen:
(a) Einstrahlwinkel ausreichend klein, so daß keine Totalreflexion an der Grenzfläche Träger/- Meßvolumen stattfindet, (b) Einstrahlwinkel ausreichend groß, so daß Totalreflexion an der Grenzfläche Träger/Meßvolumen stattfindet, und (c) Einstrahlwinkel liegt im Bereich des Grenzwinkels der Totalreflexion (kritischer Winkel). Im Fall (a) erfolgt beispielsweise bei Meßvolumina mit kleinen Reflektivitäten (dünne und durchsichtige Filme) eine Mehrfachrefle xion, wobei die Intensität der Einkoppelstrahlung schon nach einigen wenigen Umläufen sehr stark infolge der geringen Reflektivität des Meßvolumens abgesunken ist. Bei Meßvolumina mit hohen Reflektivitäten ist dagegen die Anzahl der Strahlungsumläufe und damit die Intensität der transmittierten Einkoppelstrahlung größer. Die mit dem Empfänger (4) gemesse ne Intensität der Einkoppelstrahlung ist ein Maß für die Brechzahl des Meßvolumens. Im Fall (b) findet eine Totalreflexion an der Grenzfläche Träger/Meßvolumen statt. Die Reflektivität dieser Grenzfläche ist hoch und damit auch die Anzahl der Umläufe bzw. die Intensität der transmittierten Einkoppelstrahlung, die Auskunft über die Brechzahl des Meßvolumens gibt. Ein Spezialfall von (b) ist (Anspruch 4, siehe Abb. 2), wenn die Strahlung vom Meßkopf (6) direkt in die eine Stirnseite des als Lichtwellenleiter (11) ausgebildeten Träger eingekoppelt wird und die Mehrfachreflexion über den an der gegenüberliegenden Stirnseite des Trägers lokalisierten Spiegels (10) (z. B. Planspiegel) und dem teildurchlässigen Spiegel des Meßkopfes im Träger selbst erfolgt. Über den Effekt der evaneszenten Wellenfelder gibt die Intensität der transmittierten Einkoppelstrahlung Auskunft zur Absorption des am Träger anliegenden Meßvolumens (9). Zusätzlich dazu sind eine Strahlungsquelle (12) und ein Empfänger (13) derart angeordnet, das mittels einer abbildenden Optik (14) der Empfänger (13) die an der Grenzfläche Träger/Meßvolumen specular reflektierte Intensität registriert, die durch die Brech zahl des Meßvolumens bestimmt ist. Der Einkoppelwinkel liegt außerhalb des Winkelbereiches der Totalreflexion. Diese Anordnung ist somit für die synchrone Ermittlung von Absorption und Brechzahl geeignet. Der Fall (c) nutzt die Tatsache, daß Messung im Bereich des kriti schen Winkels durch eine hohe Empfindlichkeit charakterisiert ist.
Die Ansprüche 5-6 beschreiben vorteilhafte Ausbildungen für die Realisierung einer genau
definierten Anzahl an Reflexionen:
Anspruch 5 wird auf der Abb. 3 illustriert. Der Meßkopf (6) ist in der Weise schräg zum Meßvolumen (9) oder zum System Meßvolumen/Träger angeordnet, so daß die vom Meßvolu men specular reflektierte Einkoppelstrahlung ausschließlich auf den im Meßkopf (6) befindli chen teildurchlässigen Einkoppelspiegel (2) fällt. Anstelle dieses teildurchlässigen Spiegels kann auch ein durchsichtiges Schutzfenster oder Filter angeordnet sein, so daß der Empfänger (4) die speculare Intensität ohne Mehrfachreflexion registriert. Mit dieser Anordnung wird genau eine einzige Reflexion am Meßvolumen realisiert. Der Empfänger (5) registriert die diffuse Remission.
Anspruch 5 wird auf der Abb. 3 illustriert. Der Meßkopf (6) ist in der Weise schräg zum Meßvolumen (9) oder zum System Meßvolumen/Träger angeordnet, so daß die vom Meßvolu men specular reflektierte Einkoppelstrahlung ausschließlich auf den im Meßkopf (6) befindli chen teildurchlässigen Einkoppelspiegel (2) fällt. Anstelle dieses teildurchlässigen Spiegels kann auch ein durchsichtiges Schutzfenster oder Filter angeordnet sein, so daß der Empfänger (4) die speculare Intensität ohne Mehrfachreflexion registriert. Mit dieser Anordnung wird genau eine einzige Reflexion am Meßvolumen realisiert. Der Empfänger (5) registriert die diffuse Remission.
Abb. 4 zeigt (Anspruch 6), wie nach Reflexion der Einkoppelstrahlung am Meßvolumen (9)
und am Gegenspiegel (8) die specular reflektierte Einkoppelstrahlung auf den im Meßkopf (6)
lokalisierten Empfänger (4) geleitet wird. Der teildurchlässige Spiegel (2) im Meßkopf kann
auch hier durch ein Fenster oder Filter ersetzt sein. Mit dieser Anordnung wird genau eine
einzige Reflexion am Meßvolumen realisiert. Der Empfänger (5) registriert die diffuse
Remission.
Die Ansprüche 7-10 beschreiben vorteilhafte Ausbildungen für die definierte Beeinflußung
des Strahlenganges durch brechende Flächen und Polarisationselementen:
Gemäß Anspruch 7 werden brechende Flächen in den Strahlengang gebracht. Das können Linsen oder/und Blöcke sein. Diese Flächen verändern die optischen Schnittweiten und dienen einer definierten Beeinflußung des Strahlenganges derart, daß damit beispielsweise die Größe der bestrahlten Fläche auf dem Meßvolumen in Abhängigkeit von der Applikation variiert werden kann. Das ist beispielsweise bei der Erkennung von Strukturen auf festen Oberflächen nützlich. Hierbei besteht eine günstige Ausbildung (Anspruch 8) darin, daß z. B. zwei Meß köpfe (6) gekoppelt werden und synchron messen, wobei der eine Meßkopf eine vergleichs weise große Fläche (Integral) auf dem Meßvolumen und der andere eine vergleichsweise kleine Fläche (Differential) analysiert. Des weiteren kann in der Ebene des Lichtwellenleiters (2) eine Reihe von Lichtwellenleitern (z. B. 5) als Zeile angeordnet sein, die das Meßvolumen mit Einkoppelstrahlung beaufschlagen. Durch geeignete brechende Flächen werden die strahlenden Lichtwellenleiterendflächen auf das zu untersuchende Meßvolumen z. B. wieder als Zeile abgebildet, so daß hiermit eine ortsaufgelöste Analyse ermöglicht wird (Anspruch 9).
Gemäß Anspruch 7 werden brechende Flächen in den Strahlengang gebracht. Das können Linsen oder/und Blöcke sein. Diese Flächen verändern die optischen Schnittweiten und dienen einer definierten Beeinflußung des Strahlenganges derart, daß damit beispielsweise die Größe der bestrahlten Fläche auf dem Meßvolumen in Abhängigkeit von der Applikation variiert werden kann. Das ist beispielsweise bei der Erkennung von Strukturen auf festen Oberflächen nützlich. Hierbei besteht eine günstige Ausbildung (Anspruch 8) darin, daß z. B. zwei Meß köpfe (6) gekoppelt werden und synchron messen, wobei der eine Meßkopf eine vergleichs weise große Fläche (Integral) auf dem Meßvolumen und der andere eine vergleichsweise kleine Fläche (Differential) analysiert. Des weiteren kann in der Ebene des Lichtwellenleiters (2) eine Reihe von Lichtwellenleitern (z. B. 5) als Zeile angeordnet sein, die das Meßvolumen mit Einkoppelstrahlung beaufschlagen. Durch geeignete brechende Flächen werden die strahlenden Lichtwellenleiterendflächen auf das zu untersuchende Meßvolumen z. B. wieder als Zeile abgebildet, so daß hiermit eine ortsaufgelöste Analyse ermöglicht wird (Anspruch 9).
Gemäß Anspruch 10 durchläuft die Einkoppelstrahlung einen Polarisator (z. B. Polarisations
folie), der diese polarisiert. Der Polarisator kann dabei unmittelbar vor dem Meßkopf (6)
angeordnet sein. Die polarisierte Einkoppelstrahlung gelangt auf das Meßvolumen, das in Ab
hängigkeit seiner optischen Eigenschaften die polarisierte Strahlung depolarisiert oder/und die
Schwingungsebene dreht. Der Polarisator dient gleichzeitig als Analysator. Der Empfänger (4)
registriert (neben einer diffus Remission) die Intensität der transmittierten Einkoppelstrahlung,
die ein Maß für die Drehung der Schwingungsebene ist. Der Empfänger (5) registriert die
diffuse Remission, die ein Maß für die Depolarisation des polarisierten Lichtes durch das
Meßvolumen ist. Der Polarisator/Analysator ist einmal vollständig vor dem Lichtwellenleiter
(1), dem Remissionsempfänger (5) und dem teildurchlässigen Spiegel (2) mit dem nachgeord
neten Empfänger (4) angeordnet. Zum anderen wird entweder der Remissionsempfänger oder
der teildurchlässige Spiegel mit nachgeschaltetem Empfänger freigelassen. Das ist dann
wichtig, wenn das Meßvolumen eine merkliche Absorption aufweist, die zu ermitteln ist und
als Korrektur für die Polarisationsmessung benutzt wird.
1
Lichtwellenleiter mit Strahlungsquelle zur Einkopplung von Strahlung
2
teildurchlässiger Einkoppelspiegel (z. B. Planspiegel)
3
konischer Reflektor
4
Empfänger für transmittierte Strahlung
5
Empfänger für Remission
6
Gehäuse Meßkopf
7
System Meßvolumen/Träger
8
justierbarer Gegenspiegel (z. B. Hohlspiegel)
9
Meßvolumen
10
Planspiegel
11
Träger als Lichtwellenleiter ausgebildet (z. B. ATR-Kristall)
12
Strahlungsquelle
13
Empfänger
14
abbildende Optik
6
Gehäuse Meßkopf
9
Meßvolumen
10
Planspiegel
11
Träger als Lichtwellenleiter ausgebildet (z. B. ATR-Kristall)
12
Strahlungsquelle
13
Empfänger
14
abbildende Optik
2
teildurchlässiger Einkoppelspiegel (z. B. Planspiegel)
4
Empfänger für transmittierte Strahlung
5
Empfänger für Remission
6
Gehäuse Meßkopf
9
Meßvolumen
2
teildurchlässiger Einkoppelspiegel (z. B. Planspiegel)
4
Empfänger für transmittierte Strahlung
5
Empfänger für Remission
6
Gehäuse Meßkopf
8
justierbarer Gegenspiegel (z. B. Hohlspiegel)
9
Meßvolumen
[1] BERGMANN und SCHAEFER: Lehrbuch der Experimentalphysik. Optik. Berlin-New
York, Walter de Gruyter, 1993.
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[9] KORTÜM, G.: Reflexionsspektroskopie. Berlin-Heidelberg-New York, Springer Verlag, 1969
[10] COLWELL, R. N.: Manual of remote sensing. Falls Church, The Sheridan Press, 1983.
[11] Patentanmeldung 196 47 222.9-52, 15.11.1996. Optosens GmbH.
[2] SCHMIDT, W.: Optische Spektroskopie. Weinheim-New York-Basel-Cambridge-Tokyo, VCH Verlagsgesellschaft, 1994.
[3] BAUMBACH, G.: Luftreinhaltung. Berlin-Heidelberg-New York, Springer Verlag, 1992.
[4] DE 41 04 316 A1
[5] DE 41 24 545 A1
[6] DD 301 863 A7
[7] MITTENZWEY, K.-H., J. RAUCHFUß, G. SINN, H.-D. KRONFELDT: A new fluo rescence technique to measure the total absorption coeflicient in fluids. Fres. J. Anal. Chem., 354 (1996) 159-162.
[8] DE 43 37 227 A1
[9] KORTÜM, G.: Reflexionsspektroskopie. Berlin-Heidelberg-New York, Springer Verlag, 1969
[10] COLWELL, R. N.: Manual of remote sensing. Falls Church, The Sheridan Press, 1983.
[11] Patentanmeldung 196 47 222.9-52, 15.11.1996. Optosens GmbH.
Claims (10)
1. Vorrichtung für die synchrone Ermittlung der Absorption, Streuung, Fluoreszenz und Bre
chung von Flüssigkeiten, Gasen und Festkörpern (Meßvolumen), indem Strahlung definierter
Wellenlänge in eine Mehrfachreflexionsvorrichtung mit Einkoppel- und Gegenspiegel über den
Einkoppelspiegel eingekoppelt wird, diese Einkoppelstrahlung infolge langer Wege im
Meßvolumen nahezu vollständig absorbiert wird, mit einem unmittelbar hinter einem der
beiden Spiegel, der teildurchlässig ist, lokalisierten Empfänger die transmittierte Einkoppel
strahlung und mit einem auf das Meßvolumen ausgerichteten und am Einkoppelspiegel
lokalisierten Empfänger die entgegen der Einfallsrichtung gerichtete Remission (gesättigte
Langweg-Remission) gemessen werden, wobei die Absorptionsfähigkeit aus dem Kehrwert der
transmittierten Einkoppelstrahlung und die Streu- und Fluoreszenzfähigkeit indirekt aus der
Kombination aus gesättigter Langweg-Remission und transmittierter Einkoppelstrahlung
ermittelt werden, gekennzeichnet dadurch,
daß der im Meßkopf lokalisierte teildurchlässige Einkoppelspiegel, der Gegenspiegel und das
Meßvolumen in der Weise zueinander angeordnet sind, daß die Mehrfachreflexion zwischen
Meßvolumen, Gegenspiegel und teildurchlässigem Spiegel erfolgt und das Meßvolumen direkt
als reflektierendes Element wirkt sowie mit oder ohne Träger angeordnet sein kann.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch,
daß das Meßvolumen auf der Vorderseite des Trägers angeordnet ist, der rückseitig voll oder
teildurchlässig verspiegelt ist und dem im Fall einer teildurchlässigen Spiegelschicht ein
Empfänger zur Messung transmittierter Einkoppelstrahlung nachgeordnet ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch,
daß der Meßkopf, der Gegenspiegel und das Meßvolumen mit Träger in der Weise angeordnet
sind, daß die Einkopplung von Strahlung unter einem solchen Winkel zur Normalen des
Meßvolumens erfolgt, der im Bereich der Totalreflexion der Einkoppelstrahlung an der Grenz
fläche Träger/Meßvolumen oder außerhalb des Bereiches der Totalreflexion oder im Grenzbe
reich der Totalreflexion liegt.
4. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 und 3, gekennzeichnet dadurch,
daß im Falle der Totalreflexion Meßkopf, Gegenspiegel und Träger in der Weise angeordnet
sind, daß der Meßkopf zum Zwecke der Einkopplung und Mehrfachreflexion an der einen
Endfläche des als Lichtwellenleiter ausgebildeten Trägers und der Gegenspiegel zum Zwecke
der Mehrfachreflexion an der gegenüberliegenden Endfläche angeordnet sind, wobei der
Kehrwert der Intensität der transmittierten Einkoppelstrahlung als Maß für die Absorption des
außen am Träger lokalisierten Meßvolumens benutzt wird sowie zum Zweck der Erfassung des
Anteiles der an der Grenzfläche Träger/Meßvolumen specular reflektierten Intensität eine
weitere Strahlungsquelle und Empfänger mit einer abbildenden Optik so angeordnet sind, daß
der Einkoppelwinkel außerhalb des Winkelbereiches der Totalreflexion liegt, wobei diese
speculare Intensität als Maß für die Brechzahl des Meßvolumens benutzt wird.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch,
daß der Meßkopf ohne Gegenspiegel in der Weise schräg zum Meßvolumen/Träger angeordnet
ist, so daß der teildurchlässige Einkoppelspiegel mit nachgeordnetem Empfänger mit vom
Meßvolumen specular reflektierter Einkoppelstrahlung plus diffus remittierter Strahlung und
der am Einkoppelspiegel lokalisierte Remissionsempfänger dagegen ausschließlich mit diffus
remittierter Strahlung beaufschlagt werden, wobei anstelle des teildurchlässigen Einkoppel
spiegels auch ein Schutzfenster oder Filter angeordnet sein kann.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch,
daß der Meßkopf, das Meßvolumen und der Gegenspiegel in der Weise angeordnet sind, daß
die vom Meßkopf ausgehende Einkoppelstrahlung auf das Meßvolumen trifft und der Gegen
spiegel zum Meßvolumen und Meßkopf so ausgerichtet ist, daß der teildurchlässige Einkoppel
spiegel mit nachgeordnetem Empfänger mit vom Meßvolumen specular reflektierter Einkoppel
strahlung zuzüglich diffus remittierter Strahlung und der am Einkoppelspiegel lokalisierte
Remissionsempfänger dagegen ausschließlich mit diffus remittierter Strahlung beaufschlagt
werden, wobei anstelle des teildurchlässigen Einkoppelspiegels auch ein Schutzfenster oder
Filter angeordnet sein kann.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch,
daß zur definierten Beeinflußung des Strahlenganges zwischen Meßkopf, Meßvolumen und
Gegenspiegel brechende Flächen angeordnet sind.
8. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 und 7, gekennzeichnet dadurch,
daß mindestens 2 Meßköpfe für eine synchrone Messung gekoppelt angeordnet sind, wobei der
eine Meßkopf mit Strahlung beaufschlagt wird, die von einer großen Fläche des Meßvolumens
stammt und der andere Meßkopf mit Strahlung beaufschlagt wird, die von einer kleinen Fläche
des Meßvolumens stammt.
9. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 und 7, gekennzeichnet dadurch,
daß für eine ortsaufgelöste Analyse von Strukturen zwischen als Zeile ausgerichteten Licht
wellenleiterendflächen, die im Meßkopf lokalisiert sind, und Meßvolumen brechende Flächen
angeordnet sind, die die Lichtwellenleiterendflächen auf das Meßvolumen abbilden.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch,
daß zwischen Meßkopf und Meßvolumen ein Polarisator lokalisiert ist, der einmal vollständig
vor dem Lichtwellenleiter, dem Remissionsempfänger und dem teildurchlässigen Einkoppel
spiegel mit dem nachgeordneten Empfänger angeordnet ist zum anderen entweder der Remis
sionsempfänger oder der teildurchlässige Spiegel mit nachgeschaltetem Empfänger vom
Polarisator freigelassen ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998119873 DE19819873A1 (de) | 1996-11-15 | 1998-04-27 | Kombinierte Absorptions- und Reflektanzspektroskopie zur synchronen Ermittlung der Absorption, Fluoreszenz, Streuung und Brechung von Flüssigkeiten, Gasen und Festkörpern |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1996147222 DE19647222C1 (de) | 1996-11-15 | 1996-11-15 | Verfahren und Vorrichtung zur kombinierten Absorptions- und Remissionsspektroskopie für die Ermittlung der Absorptions-, Streu- und Fluoreszenzfähigkeit transmittierender Flüssigkeiten, Gase und Festkörper |
DE1998119873 DE19819873A1 (de) | 1996-11-15 | 1998-04-27 | Kombinierte Absorptions- und Reflektanzspektroskopie zur synchronen Ermittlung der Absorption, Fluoreszenz, Streuung und Brechung von Flüssigkeiten, Gasen und Festkörpern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19819873A1 true DE19819873A1 (de) | 1999-10-28 |
Family
ID=26031309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1998119873 Ceased DE19819873A1 (de) | 1996-11-15 | 1998-04-27 | Kombinierte Absorptions- und Reflektanzspektroskopie zur synchronen Ermittlung der Absorption, Fluoreszenz, Streuung und Brechung von Flüssigkeiten, Gasen und Festkörpern |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19819873A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002029387A1 (en) * | 2000-10-03 | 2002-04-11 | Varian Australia Pty Ltd | Fluorescence probe and device for attachment thereto |
-
1998
- 1998-04-27 DE DE1998119873 patent/DE19819873A1/de not_active Ceased
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002029387A1 (en) * | 2000-10-03 | 2002-04-11 | Varian Australia Pty Ltd | Fluorescence probe and device for attachment thereto |
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