DE19819670A1 - Verfahren und Vorrichtung zur schnellen Messung hoher Gangunterschiede von doppelbrechenden Proben nach Senarmont - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur schnellen Messung hoher Gangunterschiede von doppelbrechenden Proben nach SenarmontInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur automatischen, berührungs
losen und schnellen Messung hoher Gangunterschiede R von doppelbrechenden und durch
sichtigen Proben nach Senarmont, insbesondere von Fasern, Filamenten, Folien und Flächen
gebilden, sowohl im Labor, im Mikroskop als auch on-line während des Herstellungs
prozesses, gleichzeitig für mehrere Wellenlängen.
Nach dem Verfahren und der Vorrichtung können alle durchsichtigen Fasern, Filamente,
Folien und Flächengebilde im noch schmelzeflüssigen Zustand bei der Herstellung oder im
festen und ruhenden Zustand untersucht werden. Diese Proben können auch dann noch
gemessen werden, wenn sie im weißen Licht Falschfarben zeigen.
Die Messung des Gangunterschiedes R der genannten Proben ist deshalb wichtig, weil sich
daraus mit Hilfe der Dicke D dieser Proben die Doppelbrechung
Δn=R/D (1)
ergibt, die in vielen Fällen die Orientierung der Makromoleküle in den Fasern und Folien
charakterisiert. Diese Orientierung bestimmt technisch und technologisch wichtige Größen,
wie die Reißspannung, die Reißdehnung und den E-Modul der genannten Proben. Ist Δnmax
die maximal mögliche Doppelbrechung, dann läßt sich ein mittlerer Orientierungswinkel α
angeben, der bei Fasern den Winkel zwischen der Zylinderachse und der mittleren Längs
richtung der Makromoleküle wie folgt bedeutet:
Die Doppelbrechung Δn ist dabei im Falle der Fasern immer die Differenz der Brechungs
indizes parallel und senkrecht zur Faserlängsachse, d. h.
Für den Gangunterschied R gilt dies analog. Im Falle der Fasern ist der Gangunterschied die
Differenz der optischen Lichtwege n ∥ * D und n┴.D, d. h.
Im ersten Fall (n ∥ * D) schwingt der elektrische Vektor des Lichtes senkrecht zur
Ausbreitungsrichtung, aber parallel zur Zylinderachse der Faser. Im zweiten Fall schwingt er
senkrecht dazu.
Die manchmal auch angeführte Phasendifferenz Δϕ steht in diesem Falle wie folgt mit dem
Gangunterschied R in Beziehung:
Ist der Gangunterschied R kleiner als die verwendete Vakuum-Lichtwellenlänge λ, dann nennt
man dieses Gebiet das Gebiet der 1. Ordnung. Liegt der Gangunterschied zwischen den
Wellenlängen λ und 2λ, dann ist dies das Gebiet der 2. Ordnung usw.
Zur automatischen und berührungslosen Bestimmung des Gangunterschiedes im Gebiet bis zu
einer Wellenlänge wird vielfach die Senaramont-Methode eingesetzt (Sz-PS-342768, DE-AS
10 97 167, DE 41 23 936 A1, DE 42 35 065 A1 und DE 195 29 899 A1), die mit monochroma
tischem Licht arbeitet.
Bei Gangunterschieden von größer als einer Lichtwellenlänge λ wird die Soleil-Babi
net-Methode angewendet (DE 41 23 935 A1 und DE 42 35 065 A1), die mit weißem Licht arbeitet.
Es gibt Polymere und andere Stoffe, die bei Anwendung der Soleil-Babinet-Methode eine
anormale Farbfolge der Interferenzstreifen zeigen. Der Kompensationsstreifen 0. Ordnung ist
dann nicht mehr neutral schwarz. In vielen Fällen ist es so, daß zwischen zwei benachbarten
Streifen nicht entschieden werden kann, welcher der Kompensationsstreifen ist. Oftmals ist es
dann keiner von beiden und eine exakte Angabe der Doppelbrechung bleibt aus.
Eine Möglichkeit zur Behebung dieser Schwierigkeit besteht in der Anfertigung eines Schräg
schnittes und dem Auszählen der Ordnungen im monochromatischen Licht. Ein solches
Verfahren ist natürlich nicht mehr mit einem automatischen, berührungslos und kurzzeitig
messenden Verfahren identisch.
Einen Ausweg bei der Bestimmung des Gangunterschiedes beim Vorliegen von Falschfarben
bietet hier die Senarmont-Methode, allerdings angewendet mit zwei Wellenlängen.
Für Gangunterschiede R<λ wird das Minimum der Differenz der Gangunterschiede der
beiden Strahlen unterschiedlicher Wellenlängen bestimmt (DE 43 06 050 A1). Der Nachteil
dieser Methode ist jedoch, daß sie nicht schnell genug ist, d. h. es sind keine hohen Abtast
frequenzen möglich.
Rohe Abtastfrequenzen sind aber notwendig, um beim Herstellungsprozeß die schnelle Ver
lagerung von besonderen Erscheinungen, z. B. die Schulter (neck point) beim Schnellspinnen
oder beim Verstreckprozeß zu erfassen.
Außerdem werden hohe Abtastfrequenzen in der Qualitätsprüfung verlangt, wenn z. B. ein
Monofilament von der Spule abgewickelt wird und die Orientierung längs des Fadens bei
hoher Abzugsgeschwindigkeit ermittelt werden soll.
Aufgabe der Erfindung ist die Weiterentwicklung des Senarmont-Verfahrens für die automa
tische, berührungslose und schnelle Messung hoher Gangunterschiede R von doppelbrechen
den und durchsichtigen Proben, insbesondere von Fasern, Filamenten, Folien und Flachenge
bilden, die im weißen Licht auch Falschfarben zeigen können.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, indem gleichzeitig die äquatorialen
Intensitätsverteilungen für mindestens zwei charakteristische Wellenlangen bestimmt
werden. In einem nächsten Schritt wird die absolute Differenz der Gangunterschiede zwischen
jeweils zwei benachbarten Wellenlängen über einen Bereich von mehreren Ordnungen
ermittelt. Mit einem Computer wird für jedes Wellenlängenpaar das absolute Minimum
dieser absoluten Differenz und damit die richtige Ordnung ermittelt. In einem letzten Schritt
werden die Gang unterschiede R für jede charakteristische Wellenlange angegeben.
Zur Durchführung des Prüfverfahrens wird eine Vorrichtung eingesetzt, bei der sich die
doppelbrechende Probe in Lichtrichtung gesehen zwischen einem Polarisator und einem λ/4-Plätt
chen befindet. Polarisator, Probe und λ/4-Plättchen werden von einer weißen Lichtquelle
bestrahlt. Beim nachgeordneten Zonenanalysator sind die Polarisationsrichtungen radial
eingestellt. Hinter dem Zonenanalysator sind mindestens zwei konzentrische Kreisringe
angeordnet, die jeweils nur Licht von mindestens zwei charakteristischen Wellenlangen
durchlassen. Für jeden konzentrischen Kreisring wird die äquatoriale Intensitätsverteilung
basierend auf den entsprechenden Sektoren mit einem Photoempfängersystem abgetastet, d. h.
entweder mit einzelnen Photoempfängern oder einer CCD-Matrix-Kamera. Mit dem
Computer werden daraus mindestens zwei Senarmontwinkel ε1 und ε2 für die
charakteristischen Wellenlängen λ1 und λ2 der 1. Ordnung entsprechend dem Inten
sitätsminimum ermittelt. Über einen Bereich von mehreren Ordnungen i wird das absolute
Minimum der absoluten Differenz der Gangunterschiede R für jede Wellenlänge ermittelt,
d. h.
usw.
gebildet.
Aus dem absoluten Minimum der jeweiligen Zahlenfolgen wird die richtige Ordnung k
bestimmt. Damit können die gesuchten Gangunterschiede R1(k) und R2(k) für die Wellen
längen λ1 und λ2 angegeben werden.
Der Vorteil des Verfahrens besteht darin, daß durch die gleichzeitige Messung der Senarmont
winkel für die mindestens zwei Wellenlängen die Gangunterschiede unmittelbar und schnell
zur Verfügung stehen, d. h. das Prüfverfahren kann z. B. für Untersuchungen des Herstellungs
prozesses von polymeren Fäden und Folien mit hoher Abtastfrequenz eingesetzt werden und
das unabhängig von der Ordnung und von Falschfarben.
Der Vorteil der Vorrichtung besteht darin, daß die gleichzeitige Messung der Senarmont-
Winkel durch die einfache Kombination des Zonenanalysators mit den mindestens zwei
konzentrischen Farbkreisringen für die Wellenlängen λ1 und λ2 garantiert wird, so daß die
Gangunterschiede R für diese Wellenlängen eben
- - unabhängig vom Auftreten von Falschfarben,
- - ohne Drehung von mechanischen Teilen,
- - ohne Mehrdeutigkeit der Ordnungen
- - automatisch, berührungslos und vor allen Dingen
- - unmittelbar und schnell, d. h. mit hoher Abtastfrequenz,
ermittelt werden können.
Zur Bestimmung des Gangunterschiedes einer Polyesterfaser mit einer Dicke von 26,6 µm
wird diese Probe (3) so zwischen Polarisator (2) in Fig. 1 und λ/4-Plättchen (4) angeordnet,
daß zwischen n, der Faser und der Polarisationsrichtung des Polarisators ein Winkel von 45°
resultiert. Weil die Faser den Lichtstrahl nicht voll ausfüllt, muß im abgewinkelten Strahlen
gang gearbeitet werden. Die mittels der Kombination von Zonenanalysator (5), den min
destens zwei Farbkreisringen (8, 9) und dem Photoempfängersystem (11) aufgezeichnete
Intensitätsverteilung ergibt beim jeweiligen Intensitätsminimum bei jeder der mindestens zwei
Verteilungen die zwei Senarmontwinkel
ε1 = 12,770 für λ1 = 0,589 µm
und
ε2 = 132,660 für λ2 = 0,656 µm.
und
ε2 = 132,660 für λ2 = 0,656 µm.
Für die Bestimmung der Seharmontwinkel kann eine weiße Lichtquelle (1) verwendet
werden, z. B. eine Glühlampe oder eine Halogenlampe. Bei der Verwendung von Hg-Mo
nochromatfiltern für die Farbkreisringe (8 und 9) ist eine Halogenlampe vorteilhaft. Es
können auch Metallinterferenzfilter benutzt werden. Durch eine Optik muß der Strahlengang
parallel gemacht werden. Das Wichtigste dabei ist die homogene Verteilung der Intensität
über dem Strahlquerschnitt. Der Polarisator (2) kann ein Flächenpolarisator sein. Der Aufbau
des Zonenanalysators (5) ist in Fig. 2 dargestellt. Es sind in diesem Ausführungsbeispiel 12
Sektoren (6) mit den entsprechenden Polarisationsrichtungen (7) angegeben. In Fig. 3 sind
die unmittelbar an den Analysator (5) nachgeschalteten Farbkreisringe sichtbar. Es sind drei
Kreisringe gezeichnet, wobei im Beispiel nur die Wellenlängen 0,589 µm und 0,656 µm
benötigt werden. Hinter den Farbkreisringen (8, 9) ist das Photoempfängersystem (11)
angeordnet, das z. B. aus einzelnen Photoempfängern oder einer CCD-Matrix-Kamera
aufgebaut sein kann. Die Zuordnung der gemessenen Intensitäten zu den Wellenlängen und
den Polarisationsrichtungen ist durch das ortsfeste System gegeben. Im Beispiel müssen
mindestens 2.12 = 24 einzelne Felder getrennt voneinander analysiert werden.
Aus den vom System ermittelten Senarmontwinkeln ε1 und ε2 werden für die verschiedenen
Ordnungen mittels des Computers (12) die angenommenen Gangunterschiede für die
Wellenlänge λ1 = 0,589 µm zu
R1 (1) = (12,77/180)0,589 = 0,04179 µm,
R1 (2) = (12,77/180+1)0,589 = 0,6308 µm,
R1 (3) = (12,77/180+2)0,589 = 1,2198 µm, desgl. analog
R1 (4) = 1,8088 und
R1 (5) = 2,3978
R1 (2) = (12,77/180+1)0,589 = 0,6308 µm,
R1 (3) = (12,77/180+2)0,589 = 1,2198 µm, desgl. analog
R1 (4) = 1,8088 und
R1 (5) = 2,3978
berechnet.
Für die Wellenlänge λ2 = 0,656 µm ergeben sich die angenommenen Gangunterschiede zu
R2 (1) = (132,66/180)0,656 = 0,4895 µm,
R2 (2) = (132,66/180+1)0,656 = 1,1395 µm,
R2 (3) = (132,66/180+2)0,656 = 1,7955 µm, desgl.
R2 (4) = 2,4515 und
R2 (5) = 3,1075.
R2 (2) = (132,66/180+1)0,656 = 1,1395 µm,
R2 (3) = (132,66/180+2)0,656 = 1,7955 µm, desgl.
R2 (4) = 2,4515 und
R2 (5) = 3,1075.
Das absolute Minimum der absoluten Differenz ergibt sich im vorliegenden Ausführungs
beispiel dann, wenn z. B. bei der Wellenlange ¦1 die Ordnung um eine Ziffer erhöht und dann
die Differenz mit den angenommenen Gangunterschieden für die Wellenlange λ2 gebildet
werden:
|ΔR1| = |R1 (1 + 1) - R2(1)| = 0,1473
|ΔR2| = |R1 (2 + 1) - R2 (2)| = 0,0803
|ΔR3| = |R1 (3 + 1) - R2 (3)| = 0,0133
|ΔR4| = |R1 (4 + 1) - R2 (4)| = 0,0537
|ΔR5| = |R1 (5 + 1) - R2 (5)| = 0,1207,
d. h. für
λ1 = 0,589 µm gilt R1 = R1 (3 + 1) = R1 (4) = 1,8088 µm
und für
λ2 = 0,656 µm gilt R2 = R2 (3) = 1,7955 µm.
|ΔR2| = |R1 (2 + 1) - R2 (2)| = 0,0803
|ΔR3| = |R1 (3 + 1) - R2 (3)| = 0,0133
|ΔR4| = |R1 (4 + 1) - R2 (4)| = 0,0537
|ΔR5| = |R1 (5 + 1) - R2 (5)| = 0,1207,
d. h. für
λ1 = 0,589 µm gilt R1 = R1 (3 + 1) = R1 (4) = 1,8088 µm
und für
λ2 = 0,656 µm gilt R2 = R2 (3) = 1,7955 µm.
Damit sind die Gangunterschiede R1 und R2 für die Wellenlängen 0,589 µm und 0,656 µm
bekannt. Mit dem Durchmesser der Faser von 26,6 µm ergeben sich daraus die beiden
Doppelbrechungswerte 0,068 und 0,0675.
Würde man ein auf Kompensationsstreifen basierendes Meßverfahren anwenden (z. B. einen
Berek-Kompensator), dann würde der Kompensationsstreifen 0. Ordnung so verschoben sein,
daß man statt 0,068 die falsche Doppelbrechung von 0,08 ermitteln würde.
1
Weiße Lichtquelle
2
Polarisator
3
Probe (Faser, Filament, Folie, Flächengebilde)
4
λ/4-Plättchen
5
Zonenanalysator
6
Sektor im Zonenanalysator
7
Polarisationsrichtung im Zonenanalysator
8
Konzentrischer Farb-Kreisring für die Wellenlänge λ1
9
Konzentrischer Farb-Kreisring für die Wellenlänge λ2
10
Konzentrischer Farb-Kreisring für die Wellenlänge λ3
11
Photoempfangersystem
12
Computer
13
Bildschirm
14
Drucker
Claims (6)
1. Verfahren und Vorrichtung zur automatischen, berührungslosen und schnellen Messung
hoher Gangunterschiede (R) von doppelbrechenden und durchsichtigen Proben nach
Senarmont, insbesondere von Fasern, Filamenten, Folien und Flächengebilden, die im
weißen Licht auch Falschfarben zeigen können, gekennzeichnet dadurch, daß die
äquatorialen Intensitätsverteilungen für mindestens zwei charakteristische Wellenlängen
gleichzeitig bestimmt und daraus die Senarmontwinkel und die Gangunterschiede für die
angenommene 1. Ordnung gleichzeitig angegeben werden, anschließend die absolute
Differenz der Gangunterschiede zwischen jeweils zwei benachbarten Wellenlängen über
einen Bereich von mehreren Ordnungen bestimmt, das absolute Minimum der absoluten
Differenz für jedes Wellenlängenpaar und damit die richtige Ordnung und danach der
Gangunterschied R für jede charakteristische Wellenlänge angegeben werden.
2. Verfahren und Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß vor der Probe
(3) ein Polarisator (2) und nach der Probe (3) ein λ/4-Plättchen (4) angeordnet sind, die
über eine weiße Lichtquelle (1) mit parallelem Licht bestrahlt werden, daß bei dem auf das
λ/4-Plättchen folgenden Zonenanalysator (5) die Polarisationsrichtungen (7) in den
Sektoren (6) radial verlaufen, wobei unmittelbar hinter dem Zonenanalysator (5)
mindestens zwei konzentrische Farb-Kreisringe (8, 9) angeordnet sind, die jeweils nur Licht
der charakteristischen Wellenlängen durchlassen, so daß die äquatorialen Intensitätsver
teilungen hinter den mindestens zwei konzentrischen Kreisringen (8, 9) gleichzeitig mit
einem Photoempfängersystem (11) abgetastet werden, aus denen der Computer (12) die
Senarmontwinkel ε1 und ε2 für die Wellenlängen λ1 und λ2 der 1. Ordnung entsprechend
dem Intensitätsminimum bestimmt und über einen Bereich von mehreren Ordnungen i das
absolute Minimum der absoluten Differenz der Gangunterschiede für jede Wellenlänge
ermittelt, die Zahlenfolgen
berechnet und aus dem absoluten Minimum der Zahlenfolge die richtige Ordnung k und damit die gesuchten Gangunterschiede unmittelbar R1 (k) und R2 (k) für die Wellenlängen λ1 und λ2 angegeben.
berechnet und aus dem absoluten Minimum der Zahlenfolge die richtige Ordnung k und damit die gesuchten Gangunterschiede unmittelbar R1 (k) und R2 (k) für die Wellenlängen λ1 und λ2 angegeben.
3. Verfahren und Vorrichtung nach Anspruch 1 und 2, gekennzeichnet dadurch, daß drei
Farbkreisringe (8, 9, 10) für die drei Wellenlängen 486, 589 und 656 nie verwendet werden
und so die Ehringhauszahl nach
bestimmt werden kann.
bestimmt werden kann.
4. Verfahren und Vorrichtung nach Anspruch 1, 2 und 3, gekennzeichnet
dadurch, daß für Fasern und Filamente der Strahlengang nach Fig. 1 zwischen der Probe (3)
und dem λ/4-Plättchen (4) abgewinkelt ist, vorzugsweise zwischen 10 und 30°.
5. Verfahren und Vorrichtung nach Anspruch 1, 2, 3 und 4, gekennzeichnet dadurch, daß
speziell für die off-line-Messung von Fasern und Filamenten eine Leuchtfeldblende
verwendet wird, die in der Objektebene höchstens nur halb so groß wie der Durchmesser
der Fasern oder Filamente erscheint, und daß zwischen Lichtquelle und Kondensor eine das
Licht homogenisierende Mattscheibe verwendet wird.
6. Verfahren und Vorrichtung nach Anspruch 1 und 2, gekennzeichnet dadurch, daß für
optisch aktive Substanzen ohne λ/4-Plättchen (4) gleichzeitig mindestens zwei und/oder
mehr Verdrehungswinkel ε1, ε2, . . . für die Wellenlängen λ1, λ2, . . . mit dem
Mehrfarben-Zonenanalysator (5, 6, 7; 8, 9, 10, 11) erfaßt werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998119670 DE19819670A1 (de) | 1998-05-02 | 1998-05-02 | Verfahren und Vorrichtung zur schnellen Messung hoher Gangunterschiede von doppelbrechenden Proben nach Senarmont |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998119670 DE19819670A1 (de) | 1998-05-02 | 1998-05-02 | Verfahren und Vorrichtung zur schnellen Messung hoher Gangunterschiede von doppelbrechenden Proben nach Senarmont |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19819670A1 true DE19819670A1 (de) | 1998-11-26 |
Family
ID=7866502
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1998119670 Withdrawn DE19819670A1 (de) | 1998-05-02 | 1998-05-02 | Verfahren und Vorrichtung zur schnellen Messung hoher Gangunterschiede von doppelbrechenden Proben nach Senarmont |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19819670A1 (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10310837A1 (de) * | 2002-10-25 | 2005-04-28 | Ilis Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Messung der Spannungsdoppelbrechung an transparenten Körpern |
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DE102004051247B3 (de) * | 2004-10-20 | 2006-04-06 | Thüringisches Institut für Textil- und Kunststoff-Forschung e.V. | Schnelle Messung hoher Gangunterschiede von doppelbrechenden Medien ohne und mit Falschfarben durch simultane Kombination des Mehrfarben-Senarmont-Verfahrens mit der diskreten Fourier-Analyse |
DE102006062157A1 (de) * | 2006-12-22 | 2008-06-26 | Thüringisches Institut für Textil- und Kunststoff-Forschung e.V. | Gleichzeitige Messung hoher Gangunterschiede und der Verdrehung der optischen Achse von doppelbrechenden Medien |
DE102008001291B3 (de) * | 2008-04-21 | 2009-07-09 | Schott Ag | Hochpräzises Messverfahren zur Bestimmung von Materialspannungen |
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-
1998
- 1998-05-02 DE DE1998119670 patent/DE19819670A1/de not_active Withdrawn
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WO2006042524A1 (de) * | 2004-10-20 | 2006-04-27 | Thüringisches Institut für Textil- und Kunststoff-Forschung e.V. | Schnelle messung hoher gangunterschiede von doppelbrechenden medien ohne und mit falschfarben |
DE102006062157A1 (de) * | 2006-12-22 | 2008-06-26 | Thüringisches Institut für Textil- und Kunststoff-Forschung e.V. | Gleichzeitige Messung hoher Gangunterschiede und der Verdrehung der optischen Achse von doppelbrechenden Medien |
DE102006062157B4 (de) * | 2006-12-22 | 2008-09-04 | Thüringisches Institut für Textil- und Kunststoff-Forschung e.V. | Gleichzeitige Messung hoher Gangunterschiede und der Verdrehung der optischen Achse von doppelbrechenden Medien |
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