DE19817786A1 - Mikrokalorimeter - Google Patents
MikrokalorimeterInfo
- Publication number
- DE19817786A1 DE19817786A1 DE1998117786 DE19817786A DE19817786A1 DE 19817786 A1 DE19817786 A1 DE 19817786A1 DE 1998117786 DE1998117786 DE 1998117786 DE 19817786 A DE19817786 A DE 19817786A DE 19817786 A1 DE19817786 A1 DE 19817786A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- thermometer
- heating
- cooling device
- microcalorimeter
- absorber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 91
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 53
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims abstract description 52
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 17
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 35
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 29
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 24
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 16
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 claims description 16
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 11
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims description 9
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 9
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 9
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 241000238366 Cephalopoda Species 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 230000005347 demagnetization Effects 0.000 claims description 5
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 5
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 4
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 3
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- DGJPPCSCQOIWCP-UHFFFAOYSA-N cadmium mercury Chemical compound [Cd].[Hg] DGJPPCSCQOIWCP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 3
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 2
- VCEXCCILEWFFBG-UHFFFAOYSA-N mercury telluride Chemical compound [Hg]=[Te] VCEXCCILEWFFBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 abstract description 13
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 6
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000275 quality assurance Methods 0.000 abstract description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 18
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 18
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 18
- 230000008859 change Effects 0.000 description 9
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000021715 photosynthesis, light harvesting Effects 0.000 description 2
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 2
- 235000006481 Colocasia esculenta Nutrition 0.000 description 1
- 240000004270 Colocasia esculenta var. antiquorum Species 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000005034 decoration Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 210000003608 fece Anatomy 0.000 description 1
- 238000012921 fluorescence analysis Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000005433 particle physics related processes and functions Effects 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N telluride(2-) Chemical compound [Te-2] XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K17/00—Measuring quantity of heat
- G01K17/006—Microcalorimeters, e.g. using silicon microstructures
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25B—REFRIGERATION MACHINES, PLANTS OR SYSTEMS; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS
- F25B9/00—Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point
- F25B9/14—Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point characterised by the cycle used, e.g. Stirling cycle
- F25B9/145—Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point characterised by the cycle used, e.g. Stirling cycle pulse-tube cycle
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
- G01J5/061—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity by controlling the temperature of the apparatus or parts thereof, e.g. using cooling means or thermostats
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25B—REFRIGERATION MACHINES, PLANTS OR SYSTEMS; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS
- F25B2309/00—Gas cycle refrigeration machines
- F25B2309/14—Compression machines, plants or systems characterised by the cycle used
- F25B2309/1406—Pulse-tube cycles with pulse tube in co-axial or concentric geometrical arrangements
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25B—REFRIGERATION MACHINES, PLANTS OR SYSTEMS; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS
- F25B2309/00—Gas cycle refrigeration machines
- F25B2309/14—Compression machines, plants or systems characterised by the cycle used
- F25B2309/1408—Pulse-tube cycles with pulse tube having U-turn or L-turn type geometrical arrangements
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25B—REFRIGERATION MACHINES, PLANTS OR SYSTEMS; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS
- F25B2309/00—Gas cycle refrigeration machines
- F25B2309/14—Compression machines, plants or systems characterised by the cycle used
- F25B2309/1418—Pulse-tube cycles with valves in gas supply and return lines
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25B—REFRIGERATION MACHINES, PLANTS OR SYSTEMS; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS
- F25B2309/00—Gas cycle refrigeration machines
- F25B2309/14—Compression machines, plants or systems characterised by the cycle used
- F25B2309/1418—Pulse-tube cycles with valves in gas supply and return lines
- F25B2309/14181—Pulse-tube cycles with valves in gas supply and return lines the valves being of the rotary type
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25B—REFRIGERATION MACHINES, PLANTS OR SYSTEMS; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS
- F25B2309/00—Gas cycle refrigeration machines
- F25B2309/14—Compression machines, plants or systems characterised by the cycle used
- F25B2309/1424—Pulse tubes with basic schematic including an orifice and a reservoir
- F25B2309/14241—Pulse tubes with basic schematic including an orifice reservoir multiple inlet pulse tube
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25B—REFRIGERATION MACHINES, PLANTS OR SYSTEMS; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS
- F25B9/00—Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point
- F25B9/10—Compression machines, plants or systems, in which the refrigerant is air or other gas of low boiling point with several cooling stages
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F25—REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
- F25D—REFRIGERATORS; COLD ROOMS; ICE-BOXES; COOLING OR FREEZING APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- F25D19/00—Arrangement or mounting of refrigeration units with respect to devices or objects to be refrigerated, e.g. infrared detectors
- F25D19/006—Thermal coupling structure or interface
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Offenbart ist ein Mikrokalorimeter bzw. eine Gruppe von Mikrokalorimetern, die ein Sensorbauteil, bestehend aus einem Thermometer mit einem supraleitenden Material und aus einem an das Thermometer thermisch gekoppelten Absorber, eine Kühleinrichtung, eine Heizeinrichtung und eine Ausleseeinrichtung, aufweisen, wobei die Kühleinrichtung und die Heizeinrichtung getrennt voneinander an das Sensorbauteil thermisch gekoppelt sind und zumindest die Kühleinrichtung flächig mit dem Sensorbauteil thermisch gekoppelt ist. Durch diese Anordnung läßt sich ein großer dynamischer Bereich bei minimaler Heizleistung einstellen, es kann aber außerdem eine getrennte Optimierung der Kühleinrichtung und die Heizeinrichtung bewirkt werden, wodurch eine verbesserte Energieauflösung bzw. eine Signalbeschleunigung erreicht wird. Derartige Mikrokalorimeter werden beispielsweise bei der Materialanalyse bzw. Qualitätssicherung mittels Röntgenfluoreszenz-Analyse vorzugsweise in der Halbleiterindustrie eingesetzt, sie eignen sich aber auch zur Bestimmung von Molekülen in der Biotechnologie.
Description
Die Erfindung betrifft ein Mikrokalorimeter gemäß An
spruch 1, eine Gruppe von Mikrokalorimeter gemäß Anspruch
23 und eine Vorrichtung zum Messen von Teilchen und Strah
lung gemäß Anspruch 26.
Derartige Mikrokalorimeter haben einen breiten Anwen
dungsbereich. Sie werden beispielsweise bei der Material
analyse bzw. Qualitätssicherung mittels Röntgenfluoreszenz-
Analyse vorzugsweise in der Halbleiterindustrie eingesetzt,
sie eignen sich aber auch zur Bestimmung von Molekülen in
der Biotechnologie.
Motiviert durch die Erforschung neuer Detektoren zum
Erfassen von Teilchen und Strahlung für astrophysikalische
bzw. teilchenphysikalische Experimente sind in den letzten
Jahren Detektoren entwickelt worden, die auf supraleitenden
Effekten basieren.
Eine Art dieser Detektoren repräsentieren die sogenann
ten Mikrokalorimeter. Sie setzten sich, wie in Fig. 1 zu
sehen ist, im wesentlichen aus den Komponenten: Absorber 2,
Thermometer 1 und einer Kopplung 5 an eine Wärmesenke bzw.
ein Kältebad zusammen.
Das Thermometer 1 ist hierbei ein sogenanntes Phasen
übergangsthermometer mit einem supraleitenden Material, das
bei einer kritischen Temperatur, der Sprungtemperatur TC,
von der normal leitenden in die supraleitende Phase über
geht. Der Übergang vom normalleitenden in den supraleiten
den Bereich erfolgt dabei aufgrund von Materialinhomogeni
täten nicht abrupt, sondern über einen Bereich ΔTübergang ei
niger mK, wie in Fig. 2 gezeigt ist. In dem Übergangsbe
reich mit endlicher Breite ΔTübergang zeigt der elektrische
Widerstand R des supraleitenden Materials eine starke Tem
peraturabhängigkeit, wodurch es sich zu einer sehr empfind
lichen Temperaturmessung eignet. Als Arbeitspunkt bzw. Ar
beitstemperaturpunkt des supraleitenden Materials wird da
bei der Punkt größter Steigung bezüglich des Quotienten aus
Widerstandsänderung ΔR zu Temperaturänderung ΔT in dem
Übergangsbereich gewählt, um eine maximale Sensitivität für
Temperaturänderungen ΔT zu erreichen.
Das Funktionsprinzip des Mikrokalorimeters besteht dar
in, daß ein Teilchen oder Strahlung auf den Absorber 2
trifft und mit diesem wechselwirkt. Die somit lokal depo
nierte Energie ΔE breitet sich dann im Absorber aus, sie
thermalisiert, und gelangt schließlich in das mit der Wär
mesenke verbundene Thermometer 1. Dort bewirkt sie eine
Temperaturerhöhung ΔT und führt zu einer Widerstandsände
rung ΔR, die von einer Ausleseelektronik 40, wie sie in Fig.
3 gezeigt ist, erfaßt werden kann.
Die in Fig. 3 stark vereinfacht gezeigte Ausleseelek
tronik 40 weist dabei einen Auslesekreis 44 mit zwei paral
lel geschalteten Ästen auf, nämliche einen einen Shunt-
Widerstand RS aufweisenden Ast und einen eine magnetische
Auslesespule L und dazu in Reihe geschalteten Widerstand
RT, der von dem Thermometer gebildet wird, aufweisenden
Ast. Der Auslesekreis 44 wird von einem konstanten Strom IO
gespeist. Deponiert ein Teilchen oder Strahlung Energie im
Mikrokalorimeter, so führt dies zu einer Widerstandsände
rung im Thermometer RT, wodurch eine Änderung des Stroms IT
bewirkt wird. Diese Änderung des Stroms wiederum führt zu
einer Änderung des Magnetfelds in der Spule L, die schließ
lich von einem SQUID 42 ("Superconducting Quantum Interfe
rence Device", einer supraleitenden Quanten-Interferenz-
Vorrichtung) erfaßt wird. Das auf diese Weise erhaltene
Meßsignal ist direkt proportional zur einfallenden Energie
ΔE.
Aus dem amerikanischen Patent US-A-5.641.961 ist ein
Tieftemperaturdetektor bekannt, der ein Phasenübergang
sthermometer aufweist. Die elektrische Beschaltung der Aus
leseelektronik entspricht im wesentlichen der, wie sie in
Fig. 3 gezeigt ist. Die Signalentstehung bzw. die Be
schleunigung der Signale stellt jedoch eine Besonderheit
dar:
Wie in Fig. 4a gezeigt ist, wird die Temperatur der Wärmesenke TS unterhalb der Sprungtemperatur TC des Supra leiters bzw. des Thermometers gehalten. Durch eine geeigne te Meßspannung U am Thermometer wird im Thermometer die Leistung PH = Pjoule = U2/R dissipiert, die genau so gewählt ist, daß das Thermometer nun im Übergangsbereich zwischen normalleitendem und supraleitendem Zustand stabilisiert wird, wie es in Fig. 4b gezeigt ist.
Wie in Fig. 4a gezeigt ist, wird die Temperatur der Wärmesenke TS unterhalb der Sprungtemperatur TC des Supra leiters bzw. des Thermometers gehalten. Durch eine geeigne te Meßspannung U am Thermometer wird im Thermometer die Leistung PH = Pjoule = U2/R dissipiert, die genau so gewählt ist, daß das Thermometer nun im Übergangsbereich zwischen normalleitendem und supraleitendem Zustand stabilisiert wird, wie es in Fig. 4b gezeigt ist.
Wird, wie es in Fig. 4c zu sehen ist, aufgrund eines
einfallenden Teilchens oder einer einfallenden Strahlung
das Thermometer erwärmt, so hat dies eine Widerstandserhö
hung bzw. Temperaturerhöhung ΔT+ und damit eine instantane
Reduzierung ΔT₋ der Heizleistung entsprechend der Tempera
tur im Thermometer zur Folge, welche die Temperatur wieder
zurück auf den Arbeitspunkt bringt. Damit wird der Erwär
mung direkt entgegengewirkt, was zu einer Verkürzung der
Signallänge, d. h. einer Beschleunigung, führt.
Ein Nachteil des Detektors ergibt sich bei der Messung
höher energetischer Strahlung aufgrund des begrenzten dyna
mischen Bereichs. Wie in Fig. 4a gezeigt worden ist, liegt
die Temperatur der Wärmesenke TS unterhalb der Sprungtempe
ratur TC bzw. unterhalb des Arbeitstemperaturpunkts, so daß
durch einen durch das Thermometer fließenden Heizstrom das
Thermometer bis zu seinem Arbeitstemperaturpunkt erwärmt
werden muß. Je größer nun der Temperaturunterschied zwi
schen der Temperatur der Wärmesenke und des Arbeitstempera
turpunkts ist, um so größer muß die Heizleistung und der
damit verbundene Heizstrom sein. Dieser wiederum ist jedoch
begrenzt, da er die für das supraleitende Material des
Thermometers spezifische kritische Stromstärke nicht über
schreiten darf. Sollen jedoch Teilchen oder Strahlung ge
messen werden, die viel Energie deponieren, so muß zunächst
die Temperatur der Wärmesenke TS sehr niedrig eingestellt
werden, um eine große Differenz zum Arbeitstemperaturpunkt
und damit eine große Heizleistung zu gewährleisten. Je grö
ßer die Heizleistung ist, die zur Kompensation von Energie
depositionen zurückgefahren werden kann, desto größer kann
die Teilchen- bzw. Strahlungsenergie sein, die mit der ver
kürzten Signalzeit nachgewiesen werden kann. Da jedoch in
dem hier verwendeten Detektor das Thermometer gleichzeitig
auch als Heizeinrichtung dient, ist der Heizstrom durch die
kritische Stromstärke und deshalb der dynamische Bereich
eingeschränkt.
Soll jedoch ein möglichst großer dynamischer Bereich
eingestellt werden, so ist eine große Heizleistung bzw.
Energiedissipation im Thermometer erforderlich. Nach Umfor
mung der oben gezeigten Gleichung für die Heizleistung zu
Pjoule = I2.R ist zu erkennen, daß aufgrund der Begrenzung
des Heizstroms bis zur kritischen Stromstärke nur der elek
trische Widerstand R variiert werden kann, um die Heizlei
stung zu vergrößern. Dieser elektrische Widerstand R ist
jedoch von der Länge und Breite des Thermometerfilms abhän
gig, so daß für große Widerstandswerte beispielsweise große
Längen und kleine Breiten zu wählen sind. Dadurch ergibt
sich also eine Beschränkungen der Wahl der Geometrie des
Thermometers.
Aus der Veröffentlichung Inst. Phys. Conf. Ser. No 158,
Paper presented at Applied Superconductivity, The Nether
lands, 30 June-30 July 1997, 1997 IOP Publishing LTD, mit
dem Titel, "SQUID-Amplifier for Cryogenic Particle Detec
tors based on Superconducting Phase Transition Thermome
ters", von O. Meier und anderen ist ein Tieftemperaturkalo
rimeter bekannt, das ein Thermometer mit einer von diesem
getrennten Heizeinrichtung aufweist.
Fig. 5 zeigt ein Schema der elektrischen Beschaltung
eines derartigen Tieftemperaturkalorimeters. Hierbei ist
der schon in Fig. 3 erläuterte Auslesekreis 44 mit dem
Shunt-Widerstand RS in dem einen Ast und dem Thermometerwi
derstand RT und der Spule L in dem anderen Ast dargestellt.
Des weiteren ist ein Heizwiderstand RH, der an das Thermo
meter RT thermisch gekoppelt ist und über ein Regelglied 43
mit einem Wurzelzieher 43 und einem herkömmlichen SQUID-
System 42 an die Spule L zur Einstellung der Heizleistung
gekoppelt ist, gezeigt. Wird das Thermometer durch ein ein
fallendes Teilchen oder einfallende Strahlung erwärmt, so
wird durch die gerade erwähnte Rückkopplung die Heizlei
stung am Widerstand RH zurückgenommen, um das Thermometer
wieder zu dem Arbeitstemperaturpunkt zurückzuführen. Die
Signalbeschleunigung erfolgt hier also durch die Rückkopp
lung des Heizwiderstands RH an den Auslesekreis 44.
Durch die Trennung des Thermometers und der Heizein
richtung können die oben erwähnten Nachteile des Detektors
aus dem amerikanischen Patent US-A-5.641.961 überwunden
werden. Aufgrund der Tatsache jedoch, daß die Heizung und
Kühlung des Thermometers über einen Bonddraht erfolgt, der
sowohl an eine Wärmesenke gekoppelt als auch mit einer
Heizstromquelle verbunden ist, ergeben sich folgende Nach
teile.
Zum einen weist der als Heizeinrichtung verwendete
Bonddraht eine im Vergleich zum Thermometer hohe Wärmekapa
zität und durch die quasi punktförmige bzw. lokale Kopplung
eine geringe Wärmeleitfähigkeit auf. Dies führt zu einer
verlangsamten Rückführung des Thermometers auf den Arbeit
stemperaturpunkt und somit zu einer verschlechterten Si
gnalbeschleunigung (vergleiche hierzu Erläuterungen zu Fig.
4c). Zum anderen ist die Heizleistung verringert, da je
nach Kopplung ungefähr die Hälfte der Heizleistung an die
Wärmesenke abgegeben wird. Anders ausgedrückt, muß, um ei
nen bestimmten dynamischen Bereich zu erhalten, ungefähr
die doppelte Heizleistung aufgebracht werden. Die unbeab
sichtigte Heizung der Wärmesenke bzw. des Kältebads führt
jedoch zu einer Überbeanspruchung des Kältebads und somit
zu einer Verringerung der Standzeit.
Es ist nun Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Mi
krokalorimeter zu schaffen, bei dem ein großer dynamischer
Bereich bei minimaler Heizleistung einstellbar ist.
Diese Aufgabe wird hinsichtlich des Mikrokalorimeters
gemäß Anspruch 1, hinsichtlich der Gruppe von Mikrokalori
metern gemäß Anspruch 23 und hinsichtlich der Vorrichtung
zum Messen von Teilchen und Strahlung gemäß Anspruch 26 ge
löst.
Das Mikrokalorimeter gemäß der vorliegenden Erfindung
umfaßt ein Sensorbauteil bestehend aus einem Thermometer
mit einem supraleitenden Material und aus einem an das
Thermometer thermisch gekoppelten Absorber, eine Kühlein
richtung, eine Heizeinrichtung und eine Ausleseeinrichtung.
Dadurch, daß die Kühleinrichtung und die Heizeinrichtung
separate Einrichtungen sind, die getrennt voneinander an
das Sensorbauteil thermisch gekoppelt sind, läßt sich die
Heizeinrichtung derart anordnen, daß die von ihr abgegebene
Wärme über das Thermometer in die Kühleinrichtung fließt.
Dies führt zu einer Minimierung der Heizleistung bzw. zu
einer Minimierung der auf zubringenden Kühlleistung durch
die Kühleinrichtung, da Heizleistung nicht direkt und unge
nutzt an die Kühleinrichtung abgegeben wird. Dadurch, daß
zumindest die Kühleinrichtung flächig thermisch mit dem
Sensorbauteil gekoppelt ist, erfolgt die Abkühlung des Sen
sorbauteils durch die Kühleinrichtung gleichmäßig, was wie
derum zu einer Signalbeschleunigung führt. Dies wird zu
sätzlich noch durch eine flächige thermische Kopplung der
Heizeinrichtung an das Sensorbauteil gefördert. Flächige
thermische Kopplung heißt hierbei, daß die Kopplung über
eine ausgedehnte Kontaktfläche und nicht nur quasi
punktförmig wie bei Bonddrähten erfolgt. Ein weiterer Vor
teil der erfindungsgemäßen Anordnung besteht darin, daß die
Heizeinrichtung bzw. Kühleinrichtung bezüglich Wärmekapazi
tät, Wärmeleitfähigkeit oder Geometrie getrennt voneinander
optimiert werden können. Beispielsweise kann die flächige
Wärmekopplung zwischen dem Thermometer und der Heizeinrich
tung auf einen geeigneten Wert gebracht werden, um eine op
timale Signalamplitude zu erhalten. Dabei ist es vorteil
haft, eine im Vergleich zum Thermometer schlechtere Wärme
leitfähigkeit einzustellen, die eine im Vergleich zur Redu
zierung der Heizleistung langsamere Energieabfuhr in die
Wärmesenke und damit eine große Signalamplitude bzw. Puls
höhe bewirkt. Auf diese Weise wird eine gute Energieauflö
sung gewährleistet. Die flächige Kopplung bietet aber den
entscheidenden Vorteil einer gleichmäßigen Kühlung des
Thermometers, wodurch Temperaturgradienten innerhalb des
Thermometers vermieden werden und somit wiederum eine Be
schleunigung der Signale und eine Steigerung der Energie
auflösung erreicht wird.
Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung
weist die Heizeinrichtung dabei ein oder mehrere Heizele
mente auf, die an das Sensorbauteil gekoppelt sind. Hier
durch ist es möglich, entweder nur das Thermometer oder nur
den Absorber mittels eines Heizelements oder gleichzeitig
das Thermometer und den Absorber mit jeweils eines Heizele
ments zu beheizen. Des weiteren kann eine Vielzahl von Hei
zelementen an das Sensorbauteil gekoppelt werden, um eine
gleichmäßige Wärmezufuhr zu gewährleisten.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der
Erfindung wird die Wärmekapazität eines Heizelements so di
mensioniert, daß sie kleiner oder gleich der Wärmekapazität
des Systems aus Thermometer und Absorber ist. Hieraus er
gibt sich, daß nur eine geringe Wärmemenge im Heizelement
gespeichert werden kann, die bei Erwärmung des Thermometers
als Folge einer Energiedeposition eines einfallenden Teil
chens oder einer einfallenden Strahlung nach Reduzierung
des Heizstroms im Heizelement schnell abgeführt wird. Hier
durch kann weiter eine schnelle Rückstellung des Thermome
ters in den Arbeitstemperaturpunkt erreicht werden, was ei
ne Signalbeschleunigung bewirkt. Diese verbesserte Be
schleunigung kann ferner durch eine Optimierung der Wärme
leitfähigkeit realisiert werden, die dadurch geschaffen wird,
daß ein Heizelement von einem mit einer Heizstromquelle
verbundenen Heizfilm gebildet wird, der flächig auf dem
Sensorbauteil aufgebracht ist. Als vorteilhaft erweist sich
hierbei, den Heizfilm mäanderförmig auszubilden. Statt ei
nen Heizfilm aufzubringen ist es auch möglich, daß das Hei
zelement von einem mit einer Heizstromquelle verbundenen
Widerstandselement gebildet wird, das auf das Sensorbauteil
aufgeklebt ist.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der
Erfindung weist die Kühleinrichtung zur Kopplung an das
Sensorbauteil beispielsweise ein Substrat, eine elektrisch
isolierende Schicht oder eine Membran auf. Die Vorteile der
Membran liegen dabei darin, daß sie im Vergleich zum
Substrat eine schwächere, jedoch trotzdem gleichmäßige
thermische Kopplung des Thermometers an die Wärmesenke er
möglicht. Des weiteren ergibt sich bei der Messung von
Röntgenstrahlung der Vorteil, daß unterhalb des Thermome
ters die Wahrscheinlichkeit einer Absorption aufgrund der
geringen Dicke im Vergleich zum Substrat sehr minimiert
ist. Somit ergibt sich im Gegensatz zum Substrat, keine
Verschlechterung der Energieauflösung aufgrund störender
Signale.
Um eine große Signalamplitude und somit auch eine gute
Energieauflösung von im Absorber auftretenden Ereignissen
am Thermometer registrieren zu können, ist es notwendig,
eine gute Kopplung der beiden Komponenten zu gewährleisten.
Dies kann dadurch erreicht werden, daß das Thermometer di
rekt auf dem Absorber aufgebracht ist. Ist hingegen eine
Ortsauflösung des im Absorber auftretenden Ereignisses ge
wünscht, so wird der Absorber über eine Verbindungseinrich
tung lokal an das Thermometer gekoppelt. Die Verbindungs
einrichtung kann dabei ein Bonddraht sein, der Absorber und
Thermometer miteinander verbindet. Es ist aber auch mög
lich, Absorber und Thermometer so nebeneinander anzuordnen,
daß auch wiederum nur eine lokale Kopplung ausgebildet
wird.
Für eine verbesserte Ortsauflösung eines im Absorber
auftretenden Ereignisses ist es gemäß einer weiteren vor
teilhaften Ausgestaltung der Erfindung möglich, das Thermo
meter mit einer Vielzahl von Thermometerelementen auszubil
den, die jeweils an verschiedenen Stellen an den Absorber
gekoppelt sind.
Vorteilhafterweise weist die Ausleseelektronik ein
SQUID-System mit einem einzelnen SQUID oder einer Gruppe
aus SQUIDs auf.
Für die in dem Mikrokalorimeter eingesetzten Komponen
ten sind folgende Materialien vorteilhaft. Das Thermometer
kann hierbei beispielsweise einen Elementsupraleiter, einen
Hochtemperatursupraleiter, eine Legierung, eine Zwei
schichtstruktur aus zwei Supraleitern, eine Zwei
schichtstruktur aus einem Supraleiter und einem Normallei
ter oder eine Dreischichtstruktur aus Normalleitern und Su
praleitern aufweisen. Dabei bestehen die Elementsupraleiter
beispielsweise aus Wolfram, Iridium, Aluminium oder Tantal,
die Zweischichtstrukturen aus einer Kombination von Iridi
um/Gold, Iridium/Silber, Aluminium/Silber, Tantal/Silber,
Tantal/Gold, Titan/Aluminium oder Titan/Gold. Der Absorber
sowie das Substrat weist beispielsweise ein Dielektrikum
wie Saphir, einen Halbleiter wie Silizium, Germanium oder
Galliumarsenid, oder ein Metall wie Gold oder Silber, ein
Halbmetall wie Wismut, Halbmetallegierungen wie Quecksil
ber-Tellurid, Kadmium-Tellurid oder Quecksilber-Kadmium-
Tellerurid, oder Supralleiter wie Tantal, Aluminium oder
Blei oder eine Kombination der einzelnen Materialien auf.
Der Heizfilm kann aus Gold oder Silber oder Platin beste
hen. Das Substrat ist beispielsweise aus Silizium, Germani
um oder Saphir und die Membran aus Silizium-Nitrid, Silizi
um-Oxid oder Aluminium-Oxid ausgebildet.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der
Erfindung wird eine Vielzahl von Mikrokalorimetern gemäß
der vorliegenden Erfindung zu einer Gruppe von Mikrokalori
metern nebeneinander angeordnet. Es können hierbei zum ei
nen dreidimensionale Strukturen ausgebildet werden, die
beispielsweise zur Beobachtung um ein Objekt herum angeord
net sind. Zum andern sind auch zwei dimensionale Strukturen
möglich, bei denen die Vielzahl von Mikrokalorimetern, ana
log zu einer CCD-Kamera, in einer Ebene angeordnet wird.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der
Erfindung wird ein erfindungsgemäßes Mikrokalorimeter bzw.
eine Gruppe von Mikrokalorimetern in eine Vorrichtung zum
Messen von Teilchen und Strahlung mit einer ersten Kühlein
richtung, mit einer zweiten Kühleinrichtung, die von der
ersten Kühleinrichtung vorgekühlt wird und selbst eine Be
triebstemperatur (TS) bereitstellt und mit einer Eintritts
öffnung zum Durchlassen von Teilchen und Strahlung als Er
fassungseinrichtung zum Erfassen von Teilchen und Strahlung
verwendet. Das Mikrokalorimeter ist dabei an die zweite
Kühleinrichtung thermisch gekoppelt.
Vorteilhafterweise weist die erste Kühleinrichtung ei
nen gekoppelten Stickstoff/Helium-Kühler, einen Pulsröhren-
Kühler, eine mechanische Kühleinrichtung wie einen Helium-
Kompressionkühler oder eine elektrische Kühleinrichtung wie
ein Peltierelement auf. Die zweite Kühleinrichtung weist
beispielsweise eine Entmagnetisierungsstufe, einen 3He/4He-
Entmischungskühler, einen 3He-Kühler, eine mechanische Küh
leinrichtung wie einen Helium-Kompressorkühler, eine elek
trische Kühleinrichtung wie ein Peltierelement oder eine
supraleitende Tunneldiode wie eine NIS-Diode auf.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der
Vorrichtung zum Messen von Teilchen und Strahlung weist die
Vorrichtung eine Fokussierungseinrichtung wie beispielswei
se eine Röntgenlinse, eine Wolter-Anordnung, eine Fresnel
linse, fokussierende Röhrenbündel, elektrische Fokussie
rungseinrichtungen oder magnetische Fokussierungseinrich
tungen auf, die von der Erfassungseinrichtung aus in Rich
tung der Eintrittsöffnung betrachtet, vor oder hinter der
Eintrittsöffnung angeordnet ist.
Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile der Erfin
dung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung bevor
zugter Ausführungsformen anhand der Zeichnung.
Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Mikroka
lorimeters mit seinen wesentlichen Komponenten,
Fig. 2 einen Diagramm, das einen typischen Verlauf
eines Phasenübergangs eines Thermometers in einem Mikroka
lorimeter darstellt,
Fig. 3 eine stark vereinfachte schematische Dar
stellung der Ausleseelektronik eines Mikrokalorimeters,
Fig. 4 jeweils ein Widerstands-Temperatur-Diagramm,
durch die das Einstellen des Thermometers auf den Arbeit
temperaturpunkt bzw. die Reaktion des Thermometers auf im
Absorber stattfindende Ereignisse erläutert werden,
Fig. 5 ein schematische Darstellung der elektri
schen Beschaltung eines Tieftemperaturkalorimeters im Stand
der Technik nach O. Meier und anderen,
Fig. 6 eine schematische Darstellung einer ersten
beispielhaften Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 7 eine schematische Darstellung einer zweiten
beispielhaften Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 8 eine schematische Darstellung einer dritten
beispielhaften Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 9 eine schematische Darstellung einer realen
Geometrie der dritten beispielhaften Ausführungsform der
Erfindung,
Fig. 10 eine schematische Darstellung einer realen
Geometrie einer vierten beispielhaften Ausführungsform der
Erfindung,
Fig. 11 eine schematische Darstellung einer fünften
beispielhaften Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 12 eine schematische Darstellung einer bei
spielhaften Ausführungsform einer Gruppe von Mikrokalorime
tern in einer ebenen Anordnung gemäß der Erfindung, und
Fig. 13 eine schematische Darstellung einer bei
spielhaften Ausführungsform einer Vorrichtung zum Messen
von Strahlung gemäß der Erfindung.
Fig. 6 zeigt eine schematische Darstellung der Anord
nung der einzelnen Komponenten eines Mikrokalorimeters ge
mäß einer ersten beispielhaften Ausführungsform der vorlie
genden Erfindung. Hier, wie auch in den folgenden Figuren,
werden gleiche Teile mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet.
Dabei ist, von unten nach oben betrachtet, zunächst auf
ein mit einer Wärmesenke (nicht dargestellt) verbundenen
Substrat 30 ein Thermometerfilm 1, auf diesen Thermometer
film 1 dann ein Absorber 2 und ein Heizfilm (1, 2) aufge
bracht. Alle Komponenten sind hierbei aneinander flächig
thermisch gekoppelt. Wie bereits erwähnt worden ist, wird
aufgrund der Ankopplung des Thermometers 1 über eine große
Fläche an die Wärmesenke eine gleichmäßige Kühlung er
reicht, die eine Signalbeschleunigung bewirkt. Des weiteren
wird die gesamte vom Heizfilm (1, 2) aufgebrachte Heizlei
stung über das Thermometer 1 in die Wärmesenke abgeführt,
so daß im wesentlichen nur die zum Einstellen des Arbeit
stemperaturpunkts notwendige Heizleistung bereit gestellt
werden muß, um einen bestimmten dynamischen Bereich einzu
stellen.
Ein typischer Herstellungsprozeß wird bezüglich der Er
läuterung der realen Geometrie der dritten vorteilhaften
Ausführungsform kurz skizziert.
Fig. 7 zeigt eine schematische Darstellung der Anord
nung der einzelnen Komponenten eines Mikrokalorimeters ge
mäß einer zweiten beispielhaften Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung.
Ähnlich zu der ersten vorteilhaften Ausführungsform
ist, von unten nach oben betrachtet, zunächst auf einem mit
einer Wärmesenke (nicht dargestellt) verbundenen Substrat
30 ein Thermometerfilm 1 aufgebracht. Auf diesen Thermome
terfilm 1 ist dann ein Absorber 2 und auf diesen wiederum
ein Heizfilm (1, 2) aufgebracht. Auch hier sind alle Kompo
nenten wieder aneinander flächig thermisch gekoppelt. Im
Gegensatz zur ersten Ausführungsform wird hier durch die
Kopplung des Heizfilms (1, 2) an den Absorber 2 eine groß
flächigere und damit gleichmäßigere Heizung des Thermome
ters 1 erreicht. Auch hierdurch kann wiederum eine Be
schleunigung der Signal bewirkt werden.
Fig. 8 zeigt eine schematische Darstellung der Anord
nung der einzelnen Komponenten eines Mikrokalorimeters ge
mäß einer dritten beispielhaften Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung. Diese Ausführungsform stellt eine Kom
bination der ersten beiden Ausführungsformen dar.
Auf ein mit einer Wärmesenke (nicht dargestellt) ver
bundenes Substrat 30 ist ein Thermometerfilm 1, auf diesen
Thermometerfilm 1 ein Absorber 2 und ein Heizfilm (1, 2)
aufgebracht. Schließlich ist auch der Absorber 2 wiederum
mit einem Heizfilm (1, 2) versehen. Alle Komponenten sind
aneinander flächig thermisch gekoppelt. Die Heizfilme (1, 2)
am Absorber 2 und am Thermometer 1 können dabei in Serie,
parallel oder unabhängig mit zwei verschiedenen Quellen be
schaltet werden. Ein Vorteil dieser Anordnung liegt darin,
daß eine großflächige und damit gleichmäßige Heizung des
Thermometers 1 bereit gestellt wird, wodurch eine gute Wär
meleitfähigkeit erreicht werden kann. Ferner kann je nach Wär
mekapazität der einzelnen Komponenten 1, 2, (1, 2) eine mehr
oder weniger schnelle aktive Kühlung von Absorber 2 und
Thermometer 1 erreicht werden. Unter aktiver Kühlung ver
steht man dabei die Wegnahme der Heizleistung bei einem im
Absorber stattfindenden Ereignis. Wie bereits erwähnt wor
den ist, sind eine geringe Wärmekapazität der Komponenten
Absorber 2 und Heizfilm (1, 2) bzw. eine gute Wärmeleitfä
higkeit zum Thermometer 1 eine Voraussetzung für eine
schnelle aktive Kühlung und somit eine Beschleunigung der
Signale.
Als besonderes Merkmal dieser Ausführungsform ist die
flächige Kopplung des Absorbers 2 an das Thermometer 1 zu
sehen. Kommt es nämlich im Absorber 2 zu einer Energiedepo
sition eines Teilchens, so kann die sich in Richtung des
Thermometers 1 thermalisierende Energie schnell an das
Thermometer 1 abgegeben werden. Dies bewirkt einen schnell
ansteigenden Signalpuls mit großer Amplitude, wodurch eine
gute Energieauflösung bezüglich einfallenden zu beobachten
den Teilchen bzw. Strahlung erzielt werden kann.
Die Fig. 9 zeigen eine schematische Darstellung ei
ner realen Geometrie der einzelnen Komponenten eines Mikro
kalorimeters gemäß der dritten beispielhaften Ausführungs
form der Erfindung.
Dabei zeigt Fig. 9a eine Draufsicht auf die Mikrokalo
riemeteranordnung, Fig. 9b eine Schnittansicht entlang der
in Fig. 9a dargestellten Linie b-b und Fig. 9c eine
Schnittansicht entlang der in Fig. 9a dargestellten Linie
c-c. Von oben nach unten betrachtet wird das Thermometer 1
über Kontaktierflächen aus Aluminium, sogenannte Aluminium-
Bondpads 35, 36 elektrisch kontaktiert und über supraleiten
de Drähte 45, 46 mittels einer Ausleseelektronik (nicht dar
gestellt), die im wesentlichen der aus der Veröffentlichung
von O. Meier bekannte entspricht, ausgelesen. Als Heizele
mente sind Goldheizer über einen elektrisch leitenden Ab
sorber 2 verbunden. Sie werden über Aluminium-Bondpads 37,
38 elektrisch kontaktiert und über supraleitende Drähte
47, 48 an eine Spannungsquelle (nicht dargestellt) ange
schlossen. Die Goldheizer sind über ihre thermische Leitfä
higkeit an das Thermometer 1 und den Absorber gekoppelt.
Ein typischer Herstellungsprozeß für eine derartige An
ordnung der Komponente eines Mikrokalorimeters verläuft
kurz dargestellt folgendermaßen. Zuerst wird ein Thermome
terfilm 1 auf das Substrat 30 aufgedampft oder gesputtert.
Sodann erfolgt eine Strukturierung des Thermometers 1 mit
tels eines photolithografischen Prozesses bzw. Ätzen und
Sputtern. Daraufhin wird mittels eines photolithographi
schen Prozesses eine sogenannte Lift-Off-Maske für die Hei
zer 22, 23 erstellt. Die Heizer 22, 23 werden aufgedampft
bzw. gesputtert und die Lift-Off-Maske wird entfernt. An
schließend wird eine Lift-Off-Maske für den Absorber 2 mit
tels eines photolithographischen Prozesses erstellt. Der
Absorber 2 wird aufgedampft bzw. gesputtert und die Lift-
Off-Maske wird entfernt. Daraufhin wird eine Lift-Off-Maske
für die Aluminium-Bondpads 35, 36, 37, 38 mittels eines photo
lithographischen Prozesses erstellt. Die Aluminium-Bondpads
35, 36, 37, 38 werden aufgedampft bzw. gesputtert und die
Lift-Off-Maske wird entfernt.
Die Fig. 10 zeigen eine schematische Darstellung ei
ner realen Geometrie der einzelnen Komponenten eines Mikro
kalorimeters gemäß der vierten beispielhaften Ausführungs
form der Erfindung.
Der Aufbau des Mikrokalorimeters dieser Ausführungsform
entspricht im wesentlichen dem der dritten beispielhaften
Ausführungsform, mit dem Unterschied, daß das Thermometer 1
auf einer Membran 32 angeordnet ist. Diese Membran 32 wird
bei der Herstellung auf das Substrat 30 aufgebracht, wobei
dann das Substrat 30 unterhalb des Thermometers 1 beispiels
weise durch Ätzen entfernt wird. Wie bereits erwähnt wird
durch diese Anordnung besonders bei der Messung von Rönt
genstrahlung die Energieauflösung verbessert, da die Wahr
scheinlichkeit für störende Signale, die von Ereignissen
unterhalb des Thermometers 1 herrühren, minimiert werden.
Typische Dimensionen für die in Mikrokalorimetern gemäß
der vorliegenden Erfindung verwendeten Komponenten betragen
für das Thermometer 1 1 mm × 1 mm × 0.1 µm, für den Absorber 2
250 µm × 250 µm × 1 µm, für die Membran 32 1,5 mm × 1,5 mm × 0,4 µm
und für das Substrat 30 1,5 mm × 1,5 mm × 1 mm.
Fig. 11 zeigt eine schematische Darstellung der Anord
nung der einzelnen Komponenten eines Mikrokalorimeters ge
mäß einer fünften beispielhaften Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung.
Der Aufbau des Mikrokalorimeters dieser Ausführungsform
entspricht im wesentlichen dem der dritten beispielhaften
Ausführungsform, mit dem Unterschied, daß das Thermometer 1
über einen Bonddraht 5 an den Absorber 2 gekoppelt ist, wo
bei der Absorber 2 nicht mit einem Heizelement versehen
ist. Diese kleinflächige bzw. lokale Kopplung der beiden
Komponenten 1, 2 bewirkt zwar eine schlechtere Wärmeleitfä
higkeit als die großflächige Kopplung gemäß der dritten
Ausführungsform und damit eine schlechtere Energieauflö
sung, ist jedoch eine ortsaufgelöste Erfassung von im Ab
sorber 2 stattfindenden Ereignissen möglich.
Wechselwirkt ein einfallendes Teilchen oder einfallen
de Strahlung im Absorber 2 in der Nähe des verbindenden
Bonddrahts 5, so wird relativ schnell Wärme über den Bond
draht 5 an das Thermometer 1 abgegeben und nur ein kleiner
Teil der deponierten Energie thermalisert im Absorber. Dies
hat einen schnell ansteigenden Signalpuls mit großer Ampli
tude zur Folge. Wechselwirkt ein einfallendes Teilchen
oder einfallende Strahlung hingegen im Absorber 2 weit ent
fernt vom verbindenden Bonddraht 5, so thermalisiert die
Energie zuerst im Absorber 2 und gelangt erst dann in das
Thermometer 1. Es entsteht somit ein langsam ansteigender
Signalpuls mit kleiner Amplitude.
Fig. 12 zeigt eine schematische Darstellung einer bei
spielhaften Ausführungsform einer Gruppe von Mikrokalorime
tern in einer ebenen Anordnung gemäß der Erfindung.
Stark vereinfacht und der besseren Übersicht halber et
was auseinander dargestellt sind Mikrokalorimeter mit ihren
Sensorbauteilen bestehend aus Absorber 2 und Thermometer 1
gezeigt, die in einer Ebene nebeneinander ähnlich dem Prin
zip einer CCD-Kamera angeordnet sind. Auf diese Weise las
sen sich zweidimensionale Abbildung mit den Vorteilen für
die erfindungsgemäßen Mikrokalorimeter erstellen.
Fig. 13 zeigt eine schematische Darstellung einer bei
spielhaften Ausführungsform einer Vorrichtung zum Messen
von Strahlung gemäß der Erfindung.
Von innen nach außen betrachtet, ist eine Erfassungs
einrichtung 100 für Teilchen und Strahlung, in diesem Fall
ein erfindungsgemäßes Mikrokalorimeter bzw. eine Gruppe von
Mikrokalorimetern an eine Entmagnetisierungsstufe 110, die
eine Wärmesenke mit einer Temperatur von ungefähr 50 bis
100 mK darstellt, thermische gekoppelt. Diese Anordnung
wird von einem mit flüssigem Helium gefüllten Behältnis
112, das ungefähr eine Temperatur von 4 K bereitstellt, um
geben. Durch ein Vakuum 102 abgetrennt folgt ein heliumge
kühlter Schild 114, der, durch ein weiteres Vakuum 102 ab
getrennt, von einem mit flüssigem Stickstoff gefüllten Be
hältnis 116, das ungefähr eine Temperatur von 77 K bereit
stellt, umgeben wird. Durch ein weiteres Vakuum 102 ge
trennt ist die gesamte innere Anordnung von einem äußeren
Mantel 120 umgeben. Damit Strahlung auf die Erfassungsein
richtung 100 treffen kann, sind Eintrittsfenster 118 vorge
sehen.
Eine derartige Vorrichtung eignet sich beispielsweise
zur Untersuchung von Oberflächenverunreinigungen mittels
Röntgenfluoreszensanalyse, wobei sich das zugrunde liegende
Meßprinzip folgendermaßen darstellen läßt. Mit einer Rönt
genquelle wird Röntgenstrahlung auf die zu untersuchende
Oberfläche eingestrahlt, wodurch die Atome auf der Oberflä
che angeregt werden. Diese Oberflächenatome senden bei ih
rer Relaxation bzw. Abregung die sogenannte Röntgenfluores
zenzstrahlung aus, die für jedes Element eine charakteri
stische Wellenlänge bzw. Frequenz aufweist. Der Nachweis
der Röntgenfluoreszenzstrahlung geschieht mit der oben be
schriebenen Vorrichtung, wobei anhand der gemessenen Fre
quenzverteilung auf die Häufigkeit der Oberflächenverunrei
nigungen und deren genaue Zusammensetzung geschlossen wer
den kann.
Eine erfindungsgemäße Vorrichtung bietet hierbei den
Vorteil, daß aufgrund des groß einstellbaren dynamischen
Bereichs ein breites Energiespektrum von Strahlung erfaßt
werden kann. Des weiteren ist aufgrund der guten Energie
auflösung eine genaue Differenzierung verschiedener Elemen
te möglich, selbst wenn deren Röntgenlinien dicht beieinan
der liegen. Zusätzlich dazu können große Oberflächen unter
sucht werden, da zum einen aufgrund der Signalbeschleuni
gung wenig Meßzeit erforderlich ist und zum anderen auf
grund der minimierten Heizleistung, die zweite Kühleinrich
tung, wie beispielsweise die Entmagnetisierungsstufe, lange
auf ihrer Temperatur gehalten werden kann.
Offenbart ist ein Mikrokalorimeter bzw. eine Gruppe
von Mikrokalorimetern, die ein Sensorbauteil bestehend aus
einem Thermometer mit einem supraleitenden Material und aus
einem an das Thermometer thermisch gekoppelten Absorber,
eine Kühleinrichtung, eine Heizeinrichtung und eine Ausle
seeinrichtung aufweisen, wobei die Kühleinrichtung und die
Heizeinrichtung getrennt voneinander an das Sensorbauteil
thermisch gekoppelt sind und zumindest die Kühleinrichtung
flächig mit dem Sensorbauteil thermisch gekoppelt ist.
Durch diese Anordnung läßt sich großer dynamischer Bereich
bei minimaler Heizleistung einstellen, es kann aber außer
dem eine getrennte Optimierung der Kühleinrichtung und die
Heizeinrichtung bewirkt werden, wodurch eine verbesserte
Energieauflösung bzw. eine Signalbeschleunigung erreicht
wird. Derartige Mikrokalorimeter werden beispielsweise bei
der Materialanalyse bzw. Qualitätssicherung mittels Rönt
genfluoreszenz-Analyse vorzugsweise in der Halbleiterindu
strie eingesetzt, sie eignen sich aber auch zur Bestimmung
von Molekülen in der Biotechnologie.
1
Thermometer
2
Absorber
5
Bonddraht zwischen Absorber und Thermometer
9
einfallendes Teilchen
10
Kühleinrichtung, Koppelung an die Wärmesenke
20
Heizeinrichtung, Heizfilm
22
,
23
Goldheizer
30
Substrat
32
Membran
35
,
36
Aluminiumbondpads am Thermometer
37
,
38
Aluminiumbondpads am Goldheizer
40
Ausleseelektronik
42
SQUID, SQUID-System
43
Regelglied, Wurzelzieher
44
Auslesekreis
45
,
46
supraleitende Auslesedrähte am Thermometer
47
,
48
supraleitende Drähte an dem Goldheizer
100
Erfassungseinrichtung für Teilchen/Strahlung
102
Vakuum
110
Entmagnetisierungsstufe, 2. Kühleinrichtung
112
Behältnis mit flüssigem Helium
114
heliumgekühltes Schild
116
Behältnis mit flüssigem Stickstoff
118
Eintrittsfenster
120
äußerer Mantel
ΔE deponierte Energie
IO
ΔE deponierte Energie
IO
Strom durch Ausleseelektronik
IT
IT
Strom durch Widerstand RT
L Auslesespule
PH
PH
, Pjoule
Heizleistung
R elektrischer Widerstand
ΔR Änderung des elektrischen Widerstands
RT
R elektrischer Widerstand
ΔR Änderung des elektrischen Widerstands
RT
elektrischer Widerstand des Thermometers
T Temperatur
TC
T Temperatur
TC
Sprungtemperatur eines Supraleiters
TS
TS
Temperatur der Wärmesenke bzw. des Kältebads
ΔT Änderung der Temperatur
ΔT+
ΔT Änderung der Temperatur
ΔT+
Temperaturerhöhung
ΔT₋ Temperaturerniedrigung
ΔTübergang
ΔT₋ Temperaturerniedrigung
ΔTübergang
Übergangsbereich, Übergangsbreite
Claims (29)
1. Mikrokalorimeter zum Messen eines Energiepulses, mit:
einem Sensorbauteil (1, 2) bestehend aus
einem Thermometer (1), das ein supraleitendes Material mit einem eine endliche Breite aufweisenden Übergangstemperaturbereich (ΔTübergang) von der normalleitenden in die supraleitende Phase aufweist, wobei die Sprungtemperatur (TC) in der Mitte des Übergangstemperaturbereichs (ΔTübergang) liegt und der elektrische Widerstand (R) des supraleitenden Materials innerhalb des Übergangstemperaturbereichs (ΔTübergang) mit wachsender Temperatur ansteigt, und aus
einem Absorber (2), der an das Thermometer (1) thermisch gekoppelt ist und in dem einfallende Teilchen (9) oder Strahlung (9) wechselwirkt;
einer Kühleinrichtung (10), die eine Betriebstemperatur (TS) unterhalb der Sprungtemperatur (TC) aufweist;
einer Heizeinrichtung (20, 22, 23), durch die der Temperaturarbeitspunkt des Thermometers (1) innerhalb des Übergangstemperaturbereichs (ΔTübergang) einstellbar ist;
eine Ausleseelektronik (40), die elektrisch mit dem Thermometer (1) verbunden ist und den durch das Thermometer (1) fließenden Strom erfaßt, dadurch gekennzeichnet, daß die Kühleinrichtung (10) und die Heizeinrichtung (20) an das Sensorbauteil (1, 2) getrennt voneinander thermisch gekoppelt sind und daß zumindest die Kühleinrichtung (10) flächig mit dem Sensorbauteil (1, 2) thermisch gekoppelt ist.
einem Sensorbauteil (1, 2) bestehend aus
einem Thermometer (1), das ein supraleitendes Material mit einem eine endliche Breite aufweisenden Übergangstemperaturbereich (ΔTübergang) von der normalleitenden in die supraleitende Phase aufweist, wobei die Sprungtemperatur (TC) in der Mitte des Übergangstemperaturbereichs (ΔTübergang) liegt und der elektrische Widerstand (R) des supraleitenden Materials innerhalb des Übergangstemperaturbereichs (ΔTübergang) mit wachsender Temperatur ansteigt, und aus
einem Absorber (2), der an das Thermometer (1) thermisch gekoppelt ist und in dem einfallende Teilchen (9) oder Strahlung (9) wechselwirkt;
einer Kühleinrichtung (10), die eine Betriebstemperatur (TS) unterhalb der Sprungtemperatur (TC) aufweist;
einer Heizeinrichtung (20, 22, 23), durch die der Temperaturarbeitspunkt des Thermometers (1) innerhalb des Übergangstemperaturbereichs (ΔTübergang) einstellbar ist;
eine Ausleseelektronik (40), die elektrisch mit dem Thermometer (1) verbunden ist und den durch das Thermometer (1) fließenden Strom erfaßt, dadurch gekennzeichnet, daß die Kühleinrichtung (10) und die Heizeinrichtung (20) an das Sensorbauteil (1, 2) getrennt voneinander thermisch gekoppelt sind und daß zumindest die Kühleinrichtung (10) flächig mit dem Sensorbauteil (1, 2) thermisch gekoppelt ist.
2. Mikrokalorimeter nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Heizeinrichtung (20, 22, 23) ein oder
mehrere Heizelemente (20, 22, 23) aufweist, die an das
Sensorbauteil (1, 2) gekoppelt sind.
3. Mikrokalorimeter nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Wärmekapazität eines Heizelements
(20, 22, 23) kleiner oder gleich der Wärmekapazität des
Sensorbauteils (1, 2) ist.
4. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß ein Heizelement (20, 22, 23) von
einem mit einer Heizstromquelle verbundenen Heizfilm
(20, 22, 23) gebildet wird, der flächig auf dem Sensorbauteil
(1, 2) aufgebracht ist.
5. Mikrokalorimeter nach Anspruch 4, dadurch
gekennzeichnet, daß der Heizfilm (20, 22, 23) mäanderförmig
ausgebildet ist.
6. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß ein Heizelement (20, 22, 23) von
einem mit einer Heizstromquelle verbundenen
Widerstandselement gebildet wird, das auf das Sensorbauteil
(1, 2) aufgeklebt ist.
7. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, daß die Heizeinrichtung (20, 22, 23)
ein Heizelement (20, 22, 23) aufweist, das an das Thermometer
(1) gekoppelt ist.
8. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, daß die Heizeinrichtung (20, 22, 23)
ein Heizelement (20, 22, 23) aufweist, das an den Absorber
(2) gekoppelt ist.
9. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, daß die Heizeinrichtung (20, 22, 23)
zwei Heizelemente (20, 22, 23) aufweist, die jeweils an das
Thermometer (1) und an den Absorber (2) gekoppelt sind.
10. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die Kühleinrichtung (10) ein
mit einer Wärmesenke verbundenes Substrat (30) aufweist,
auf dem das Sensorbauteil (1, 2) aufgebracht ist.
11. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die Kühleinrichtung (10) eine
mit einer Wärmesenke verbundene Membran (32) aufweist, auf
der das Sensorbauteil (1, 2) aufgebracht ist.
12. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die Kühleinrichtung (10) eine
mit einer Wärmesenke verbundene elektrisch isolierende
Schicht aufweist, auf der das Sensorbauteil (1, 2)
aufgebracht ist.
13. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 12,
dadurch gekennzeichnet, daß der Absorber (2) direkt auf dem
Thermometer (1) aufgebracht ist.
14. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 12,
dadurch gekennzeichnet, daß der Absorber (2) über eine
Verbindungseinrichtung (5) an das Thermometer (1) gekoppelt
ist.
15. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 12,
dadurch gekennzeichnet, daß das Thermometer (1) aus einer
Vielzahl von Thermometerelementen besteht, die jeweils an
verschiedenen Stellen an den Absorber (2) gekoppelt sind.
16. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 15,
dadurch gekennzeichnet, daß die Ausleseelektronik (40) ein
SQUID-System (42) aufweist.
17. Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 16,
dadurch gekennzeichnet, daß das Thermometer (1) einen
Elementsupraleiter oder einen Hochtemperatursupraleiter
oder eine Legierung oder eine Zweischichtstruktur aus zwei
Supraleitern oder eine Zweischichtstruktur aus einem
Supraleiter und einem Normalleiter oder eine
Dreischichtstruktur aus Normalleitern und Supraleitern
aufweist.
18. Mikrokalorimeter nach Anspruch 17, dadurch
gekennzeichnet, daß die Elementsupraleiter aus Wolfram oder
Iridium oder Aluminium oder Tantal, und die
Zweischichtstrukturen aus einer Kombination von
Iridium/Gold oder Iridium/Silber oder Aluminium/Silber oder
Tantal/Silber oder Tantal/Gold oder Titan/Aluminium oder
Titan/Gold bestehen.
19. Mikrokalorimeter nach Anspruch 1 bis 18, dadurch
gekennzeichnet, daß der Absorber (2) aus einem Dielektrikum
wie Saphir, oder einem Halbleiter wie Silizium oder
Germanium oder Galliumarsenid, oder aus einem Metall wie
Gold oder Silber, oder einem Halbmetall wie Wismut, oder
einer Halbmetallegierung wie Quecksilber-Tellurid oder
Kadmium-Tellurid oder Quecksilber-Kadmium-Tellerurid, oder
einem Supralleiter wie Tantal oder Aluminium oder Blei oder
aus einer Kombination der einzelnen Materialien besteht.
20. Mikrokalorimeter nach Anspruch 1 bis 19, dadurch
gekennzeichnet, daß der Heizfilm (20, 22, 23) aus Gold oder
Silber oder Platin besteht.
21. Mikrokalorimeter nach Anspruch 1 bis 20, dadurch
gekennzeichnet, daß das Substrat (30) aus einem
Dielektrikum wie Saphir, oder einem Halbleiter wie Silizium
oder Germanium oder Galliumarsenid, oder aus einem Metall
wie Gold oder Silber, oder einem Halbmetall wie Wismut,
oder einer Halbmetallegierung wie Quecksilber-Tellurid oder
Kadmium-Tellurid oder Quecksilber-Kadmium-Tellerurid, oder
einem Supralleiter wie Tantal oder Aluminium oder Blei oder
aus einer Kombination der einzelnen Materialien besteht.
22. Mikrokalorimeter nach Anspruch 1 bis 21, dadurch
gekennzeichnet, daß die Membran (32) aus Silizium-Nitrid
oder Silizium-Oxid oder Aluminium-Oxid besteht.
23. Gruppe von Mikrokalorimetern, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Vielzahl von Mikrokalorimetern nach einem der
Ansprüche 1 bis 22 nebeneinander angeordnet sind.
24. Gruppe von Mikrokalorimetern nach Anspruch 23, dadurch
gekennzeichnet, daß die Vielzahl von Mikrokalorimetern in
einer Ebene angeordnet ist.
25. Gruppe von Mikrokalorimetern nach Anspruch 23, dadurch
gekennzeichnet, daß die Vielzahl von Mikrokalorimetern in
Form einer dreidimensionalen Struktur angeordnet ist.
26. Vorrichtung zum Messen von Teilchen und Strahlung,
mit:
einer ersten Kühleinrichtung (112, 114, 116);
einer zweiten Kühleinrichtung (110), die von der ersten Kühleinrichtung (112, 114, 116) vorgekühlt wird und selbst eine Betriebstemperatur (TS) bereitstellt;
einer Eintrittsöffnung (118) zum Durchlassen von Teilchen und Strahlung;
einer Erfassungseinrichtung (100) zum Erfassen von Teilchen und Strahlung, dadurch gekennzeichnet, daß die Erfassungseinrichtung (100) ein Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 22 oder eine Gruppe aus Mikrokalorimetern nach einem der Ansprüche 23 bis 25 ist, das oder die an die zweite Kühleinrichtung (110) thermisch gekoppelt sind.
einer ersten Kühleinrichtung (112, 114, 116);
einer zweiten Kühleinrichtung (110), die von der ersten Kühleinrichtung (112, 114, 116) vorgekühlt wird und selbst eine Betriebstemperatur (TS) bereitstellt;
einer Eintrittsöffnung (118) zum Durchlassen von Teilchen und Strahlung;
einer Erfassungseinrichtung (100) zum Erfassen von Teilchen und Strahlung, dadurch gekennzeichnet, daß die Erfassungseinrichtung (100) ein Mikrokalorimeter nach einem der Ansprüche 1 bis 22 oder eine Gruppe aus Mikrokalorimetern nach einem der Ansprüche 23 bis 25 ist, das oder die an die zweite Kühleinrichtung (110) thermisch gekoppelt sind.
27. Vorrichtung zum Messen von Teilchen und Strahlung nach
Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, daß die erste
Kühleinrichtung (112, 114, 116) einen gekoppelten
Stickstoff/Helium-Kühler oder einen Pulsröhren-Kühler oder
eine mechanische Kühleinrichtung wie einen Helium-
Kompressionkühler oder eine elektrische Kühleinrichtung wie
ein Peltierelement aufweist.
28. Vorrichtung zum Messen von Teilchen und Strahlung nach
einem der Ansprüche 26 oder 27, dadurch gekennzeichnet, daß
die zweite Kühleinrichtung (110) eine
Entmagnetisierungsstufe oder einen 3He/4He-
Entmischungskühler oder einen 3He-Kühler oder eine
mechanische Kühleinrichtung wie einen Helium-
Kompressorkühler oder eine elektrische Kühleinrichtung wie
ein Peltierelement oder eine supraleitende Tunneldiode wie
eine NIS-Diode aufweist.
29. Vorrichtung zum Messen von Teilchen und Strahlung nach
einem der Ansprüche 26 oder 28, dadurch gekennzeichnet, daß
die Vorrichtung eine Fokussierungseinrichtung wie eine
Röntgenlinse oder eine Wolter-Anordnung oder eine
Fresnellinse oder fokussierende Röhrenbündel oder
elektrische Fokussierungseinrichtungen oder magnetische
Fokussierungseinrichtungen aufweist, die von der
Erfassungseinrichtung aus in Richtung der Eintrittsöffnung
betrachtet, vor oder hinter der Eintrittsöffnung angeordnet
ist.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998117786 DE19817786A1 (de) | 1998-04-21 | 1998-04-21 | Mikrokalorimeter |
DE29823004U DE29823004U1 (de) | 1998-04-21 | 1998-12-23 | Detektorvorrichtung |
PCT/EP1999/002588 WO1999054696A1 (de) | 1998-04-21 | 1999-04-16 | Mikrokalorimeter |
AU34217/99A AU3421799A (en) | 1998-04-21 | 1999-04-16 | Microcalorimeter |
EP99915762A EP1073888A1 (de) | 1998-04-21 | 1999-04-16 | Mikrokalorimeter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998117786 DE19817786A1 (de) | 1998-04-21 | 1998-04-21 | Mikrokalorimeter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19817786A1 true DE19817786A1 (de) | 1999-11-04 |
Family
ID=7865316
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1998117786 Withdrawn DE19817786A1 (de) | 1998-04-21 | 1998-04-21 | Mikrokalorimeter |
DE29823004U Expired - Lifetime DE29823004U1 (de) | 1998-04-21 | 1998-12-23 | Detektorvorrichtung |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE29823004U Expired - Lifetime DE29823004U1 (de) | 1998-04-21 | 1998-12-23 | Detektorvorrichtung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1073888A1 (de) |
AU (1) | AU3421799A (de) |
DE (2) | DE19817786A1 (de) |
WO (1) | WO1999054696A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19909048A1 (de) * | 1999-03-02 | 2000-09-14 | Csp Cryogenic Spectrometers Gm | Detektor mit Isolationsschicht |
WO2024003815A1 (en) * | 2022-07-01 | 2024-01-04 | International Business Machines Corporation | Self-calibrating transition edge thermometer |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE202007016275U1 (de) * | 2007-11-20 | 2009-05-20 | Consarctic Entwicklungs Und Handels Gmbh | Wärmetauscher |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5641961A (en) * | 1995-12-28 | 1997-06-24 | Stanford University | Application of electrothermal feedback for high resolution cryogenic particle detection using a transition edge sensor |
-
1998
- 1998-04-21 DE DE1998117786 patent/DE19817786A1/de not_active Withdrawn
- 1998-12-23 DE DE29823004U patent/DE29823004U1/de not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-04-16 WO PCT/EP1999/002588 patent/WO1999054696A1/de not_active Application Discontinuation
- 1999-04-16 AU AU34217/99A patent/AU3421799A/en not_active Abandoned
- 1999-04-16 EP EP99915762A patent/EP1073888A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5641961A (en) * | 1995-12-28 | 1997-06-24 | Stanford University | Application of electrothermal feedback for high resolution cryogenic particle detection using a transition edge sensor |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Appl. Phys. Lett., Vol. 69, No. 13, 1996, S. 1945-1947 * |
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, A 370, 1996, S. 177-179 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19909048A1 (de) * | 1999-03-02 | 2000-09-14 | Csp Cryogenic Spectrometers Gm | Detektor mit Isolationsschicht |
WO2024003815A1 (en) * | 2022-07-01 | 2024-01-04 | International Business Machines Corporation | Self-calibrating transition edge thermometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE29823004U1 (de) | 1999-08-12 |
WO1999054696A1 (de) | 1999-10-28 |
EP1073888A1 (de) | 2001-02-07 |
AU3421799A (en) | 1999-11-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4102524C2 (de) | Infrarotsensor | |
DE2953771C1 (de) | Gasdetektor | |
DE19710946A1 (de) | Thermopile-Sensor und Strahlungsthermometer mit einem Thermopile-Sensor | |
DE3529489A1 (de) | Verfahren und einrichtung zum bestimmen der waermekapazitaet einer probe | |
DE102008062612B4 (de) | Röntgenstrahlen-Analysator | |
EP1014056A2 (de) | Detektorvorrichtung | |
DE60314804T2 (de) | Supraleitendes, antennengekoppeltes, einen Hot-Spot aufweisendes Mikrobolometer, dessen Herstellungsverfahren und Gebrauch sowie ein bolometrisches Abbildungssystem | |
US6455849B1 (en) | Normal metal boundary conditions for multi-layer TES detectors | |
DE19605384C1 (de) | Thermoelektrischer Sensor | |
DE19817786A1 (de) | Mikrokalorimeter | |
EP0349550A1 (de) | Wärmestrahlungssensor | |
Yan et al. | Transition-Edge Sensor Optimization for Hard X-ray Applications | |
Mayadas et al. | One-dimensional superconductors | |
US3259866A (en) | Superconductors | |
EP0485401A1 (de) | Thermosäulen-strahlungsdetektor | |
DE19756069C1 (de) | Differenz-Thermoanalyse-Vorrichtung | |
DE4208692C2 (de) | Thermoelektrisches Kühlmaterial und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE102016207551A1 (de) | Integrierte thermoelektrische Struktur, Verfahren zur Herstellung einer integrierten thermoelektrischen Struktur, Verfahren zum Betrieb derselben als Detektor, thermoelektrischer Generator und thermoelektrisches Peltier-Element | |
DE19615244B4 (de) | Sensor zur strahlungspyrometrischen Messung bei hoher Umgebungstemperatur | |
US3251715A (en) | Method of forming a laminar superconductor | |
DE19909048A1 (de) | Detektor mit Isolationsschicht | |
DE19843599C1 (de) | Sensorelement sowie Verfahren zur bolometrischen Messung der Intensität von Infrarotlicht | |
WO2000025117A2 (de) | Energiedispersive diffraktometeranordnung | |
DE19833391C2 (de) | Thermoelektrisches Sensorsystem und Herstellungsverfahren | |
EP0989391A2 (de) | Sensorelement sowie Verfahren zur bolometrischen Messung der Intensität von Infraforlicht |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: EDAX INC., MAHWAH, N.J., US |
|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: TIGGES RECHTSANWAELTE, 40212 DUESSELDORF |
|
8130 | Withdrawal |