DE19811989A1 - Dünnschichtspektrometer mit Transmissionsgitter - Google Patents
Dünnschichtspektrometer mit TransmissionsgitterInfo
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Abstract
Ein Spektrometer mit einer dünnen Lichtleiterschicht in einem in Dünnschichttechnologie hergestellten Schichtaufbau zwischen zwei Deckschichten niedrigeren Brechungsindexes, mit einer ein Gitter aufweisenden Endfläche der Lichtleiterschicht, die durch die Lichtleiterschicht hindurch mit zu analysierendem Licht bestrahlt wird, und mit einem Zeilensensor, auf den das Spektrum abgebildet wird, wobei das treppenförmige Stufengitter mit transparenten Stufenflächen und mit Stufenkanten senkrecht zur Schichtebene ausgebildet ist und an den Stufenflächen des Gitters ein zweites Medium angrenzt, dessen Brechungsindex kleiner ist als der der Lichtleiterschicht, ist dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter in Treppenrichtung kontinuierlich die Höhe und Breite seiner Stufen derart ändert, daß für zwei ausgewählte Wellenlängen jeweils die Gesamtlichtwege durch die Lichtleiterschicht und das zweite Medium bis zu einem der jeweiligen Wellenlänge zugehörigen Brennpunkt für alle benachbarten Frontflächen des Gitters eine Längendifferenz von demselben Vielfachen der jeweiligen Wellenlänge aufweisen.
Description
Die Erfindung betrifft ein Spektrometer nach dem Oberbegriff des Anspruches 1.
Dünnschichtspektrometer mit einem Schichtaufbau mit einer Lichtleiterschicht
und einem Stufengitter sind, wie die EP 0 250 824 A1 zeigt, in zwei grundsätzli
chen Bauvarianten des Gitters möglich und zwar zum einen als Reflexionsgitter,
wie dort in Fig. 1 gezeigt, und zum anderen als Transmissionsgitter, wie dort in
den Fig. 3 bis 6 gezeigt.
Ein Reflexionsgitter hat den Vorteil, daß es, wie in der erwähnten Fig. 1 gezeigt,
mit einer Gesamtkrümmung selbstfokussierend ausgebildet sein kann. Ein
Transmissionsgitter benötigt dagegen gesonderte Fokussiereinrichtungen, wie in
WO 97/27 460 dargestellt. Das Transmissionsgitter ergibt jedoch, wie in der
letztgenannten Schrift erläutert, den wesentlichen Vorteil gegenüber dem Refle
xionsgitter, daß bei geeigneter Wahl der Brechungsindizes in der Lichtleiter
schicht und in dem zweiten Medium die Stufenhöhe bei derselben Wellenlängen
auflösung des Spektrometers größer sein kann, also das Gitter mit relativ einfa
chen Herstellungsverfahren kostengünstig und präzise herstellbar ist.
Nach dem Stand der Technik sind bei beiden Gittertypen die Gitter mit durchge
hend konstanten Stufenabmessungen ausgebildet.
Es sind auch nicht gattungsgemäße fokussierende Stufengitter bekannt, bei denen
sich die Stufenabmessungen in Treppenrichtung kontinuierlich ändern. Solche
Stufengitter gehören grundsätzlich zum Typ der Fresnel-Zonenplatte, wie sie z. B.
beschrieben ist in
Grimsehls Lehrbuch der Physik 1944, Teubner Verlag, S. 387.
Grimsehls Lehrbuch der Physik 1944, Teubner Verlag, S. 387.
Eine modernere Anwendungen dieses Prinzips finden sich in dem Aufsatz
Collimating cylindrical diffractive lenses:
rigorous electromagnetic analysis and scalar approximation von Elias N. Glytsis et al., in APPLIED OPTICS/Vo. 37, No. 1/1. Januar 1998, Seiten 34-43.
Collimating cylindrical diffractive lenses:
rigorous electromagnetic analysis and scalar approximation von Elias N. Glytsis et al., in APPLIED OPTICS/Vo. 37, No. 1/1. Januar 1998, Seiten 34-43.
Bei dieser Konstruktion sind die Stufenhöhen konstant. Es ändert sich nur die
Stufenbreite.
Gemeinsam ist bei allen Gitterkonstruktionen nach dem Fresnel-Zo
nenplattenprinzip, daß sie nur eine einzige Wellenlänge auf einen Brennpunkt
abbilden können. Bei anderen Wellenlängen ergibt sich keine Abbildung, so daß
diese Konstruktion als Spektrometer grundsätzlich nicht verwendbar und daher
gattungsfremd ist.
Eine weitere nicht gattungsgemäße Gitterkonstruktion ist aus dem Aufsatz
Diffractive phase elements that implement wavelength demultiplexing and spatial annular focusing simultaneously von Bi-Zhen Dong et al. in J. Opt. Soc. Am. A/Vol. 14, No. 1, Januar 1997, Seiten 44-48
beschrieben. Bei diesem Gitter sind die Linienabstände konstant und die Stufen höhen nach einem komplizierten, völlig unregelmäßigen Höhenrelief angeordnet, das in einer sehr aufwendigen Rechnung nur näherungsweise fokussierende Be dingungen für unterschiedliche Wellenlängen schafft. Ein solches Höhenrelief ist dort in Fig. 2a dargestellt. Fig. 2b zeigt das Spektrum mit den entstehenden Beu gungsfehlern (Falschlinien). Für praktische Anwendungen ist diese Konstruktion ersichtlich nicht geeignet.
Diffractive phase elements that implement wavelength demultiplexing and spatial annular focusing simultaneously von Bi-Zhen Dong et al. in J. Opt. Soc. Am. A/Vol. 14, No. 1, Januar 1997, Seiten 44-48
beschrieben. Bei diesem Gitter sind die Linienabstände konstant und die Stufen höhen nach einem komplizierten, völlig unregelmäßigen Höhenrelief angeordnet, das in einer sehr aufwendigen Rechnung nur näherungsweise fokussierende Be dingungen für unterschiedliche Wellenlängen schafft. Ein solches Höhenrelief ist dort in Fig. 2a dargestellt. Fig. 2b zeigt das Spektrum mit den entstehenden Beu gungsfehlern (Falschlinien). Für praktische Anwendungen ist diese Konstruktion ersichtlich nicht geeignet.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein gattungsgemäßes
Spektrometer mit einem Transmissionsgitter zu schaffen, das auf einfache Weise
das Spektrum fokussiert.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den Merkmalen des Anspruches 1 ge
löst.
Das erfindungsgemäße Gitter kann in seiner Formgebung der einzelnen, unterein
ander ähnlichen, jedoch in einer Treppenrichtung immer kleiner werdenden Stu
fen nach der im Kennzeichen des Anspruches 1 angegebenen Bedingung sehr
einfach in aufeinanderfolgenden Rechenschritten Stufe für Stufe berechnet wer
den. Ein Computer schafft dies für die erforderlichen, z. B. 1000 Stufen, in sehr
kurzer Zeit. Dabei werden jeweils die Lichtwege (geometrische Weglänge multi
pliziert mit dem Brechungsindex im jeweiligen Medium) bis zum Gitter und von
dort weiter bis zum Brennpunkt berechnet und zwar jeweils für zwei benachbarte
Frontflächen des Gitters. Diese Berechnungen werden für zwei ausgewählte
Wellenlängen im zu analysierenden Spektrum mit zuvor an der gewollten Stelle
festgelegten Brennpunkten für jede Wellenlänge durchgeführt. Dabei ergibt sich
für jede Wellenlänge und für zwei an einer Stufe benachbarte Frontflächen in
dem der Wellenlänge zugehörigen Brennpunkt konstruktive Interferenz. Es ergibt
sich dabei auch für die Interferenz einer Frontfläche mit dem Licht der weiteren,
in einer Richtung folgenden Frontflächen konstruktive Interferenz mit einer
Lichtwegdifferenz mit höheren Vielfachen der Wellenlänge. Schließlich ergibt
sich hierbei, daß ein solches Gitter nicht nur die beiden ausgewählten Wellenlän
gen in den beiden Brennpunkten fokussiert, sondern auch dazwischenliegende
Wellenlängen und außerhalb dieses Intervalles liegende Wellenlängen in Brenn
punkten fokussiert, die mit nur sehr geringen, nicht störenden Abweichungen auf
der durch die beiden ausgewählten Brennpunkte liegenden Brennebene liegen. Es
wird auf diese Weise ein Spektrometer geschaffen, das mit einem Transmissions
gitter, unter Beibehaltung dessen günstiger Eigenschaften hinsichtlich der ver
wendbaren größeren Stufenhöhen, die Abbildung des Spektrums mit dem Gitter
selbst ergibt, so daß zusätzliche Fokussiereinrichtungen entbehrlich sind. Da
durch wird die Konstruktion gegenüber bekannten Spektrometern mit Transmis
sionsgitter und zusätzlichen Fokussiereinrichtungen erheblich vereinfacht.
Vorteilhaft sind die Merkmale des Anspruches 2 vorgesehen. Hier endet der
Schichtaufbau des Spektrometers am Stufengitter, so daß sich die Schichther
stellung vereinfachen läßt.
Alternativ sind die Merkmale des Anspruches 3 vorgesehen, bei dem das zweite
Medium durch eine zweite, jenseits des Stufengitters weiterführende Lichtleiter
schicht gebildet ist. Hierbei bestehen bessere Möglichkeiten durch Wahl der Me
dien der ersten und zweiten Lichtleiterschicht eine günstige, sehr kleine Differenz
der am Stufengitter aneinandergrenzenden Brechungsindizes zu erhalten mit der,
wie in WO 97/27 460 erläutert, bei gegebener Wellenlängenauflösung größere
Stufenhöhen möglich sind.
Vorteilhaft sind die Merkmale des Anspruches 4 vorgesehen. Hierbei gestaltet
sich durch den parallelen Lichteinfall auf das Gitter die Gitterberechnung nach
Anspruch 1 relativ einfach. Es sind jedoch Linsen oder Hohlspiegel erforderlich,
um das von einem Eintrittsspalt stammende Licht zu parallelisieren.
Vorteilhaft sind daher die Merkmale des Anspruches 5 vorgesehen, bei dem das
Gitter für divergierend einfallendes Licht berechnet ist.
In den Zeichnungen ist die Erfindung beispielsweise und schematisch dargestellt.
Es zeigen:
Fig. 1 die grundsätzlichen geometrischen Gegebenheiten im Schnitt durch
ein Stufengitter,
Fig. 2 eine dreidimensionale Ansicht eines Spektrometers mit Schichtauf
bau und Luft als zweitem Medium,
Fig. 3 schematisch die Draufsicht auf ein Spektrometer mit einem Hohl
spiegel zur Parallelisierung des von einem Eintrittsspalt kommen
den Lichtes,
Fig. 4 in einem Längsschnitt durch den Schichtaufbau ein Spektrometer
mit einer weiterführenden zweiten Lichtleiterschicht als zweites
Medium und
Fig. 5 eine Darstellung entsprechend Fig. 1 mit divergentem Lichteinfall
auf das Gitter.
Fig. 1 zeigt in einem Schnitt parallel zu den Lichtwegen eine Lichtleiterschicht 1
aus einem transparenten Medium mit dem Brechungsindex n1, die in einer als
Stufengitter 3 ausgebildeten Grenzfläche mit senkrecht zur Zeichnungsebene ste
henden Flächen an ein zweites Medium 2 angrenzt, das den Brechungsindex n2
aufweist. Das Stufengitter 3 wird durch die Lichtleiterschicht 1 mit parallelem, zu
analysierendem Licht 4 beleuchtet. An einer Endfläche 5 des zweiten Mediums 2
soll als Brennebene das Spektrum abgebildet werden, um von einem Sensor, z. B.
einem Zeilensensor 6 aufgenommen zu werden.
Licht tritt vom Gitter 3 in das zweite Medium 2 von den Frontflächen 7 des Git
ters aus. Berechnet man die Lichtwege von mittleren Punkten C, A, A', A'' der
Frontflächen 7 aus, so lassen sich die Bedingungen für konstruktive Interferenz
berechnen. Das dargestellte treppenförmig in einer Treppenrichtung kontinuier
lich größer werdende Stufengitter 3 wird gemäß Kennzeichen des Anspruches 1
wie folgt in seiner Form berechnet:
Licht fällt gemäß Fig. 1 von links in Richtung der Strahlen 4 auf das Gitter 3. Es wird zunächst eine Wellenlänge λb untersucht. Dieses Licht der Wellenlänge λb soll im Brennpunkt B auf der Endfläche 5 fokussiert werden.
Licht fällt gemäß Fig. 1 von links in Richtung der Strahlen 4 auf das Gitter 3. Es wird zunächst eine Wellenlänge λb untersucht. Dieses Licht der Wellenlänge λb soll im Brennpunkt B auf der Endfläche 5 fokussiert werden.
Im zweiten Medium 2 legt das Licht von dem Punkt C auf einer Frontfläche des
Gitters bis zum Brennpunkt B den Weg CB zurück. Der Lichtweg entspricht dem
Produkt CB.n2. Auf der benachbarten Frontfläche der nächsten Stufe liegt der
Punkt A. Bis zu diesem ist der Lichtweg in der Lichtleiterschicht 1 um die Strec
ke EC.n1 kleiner. Der Lichtweg im Medium 2 beträgt AB.n2. Konstruktive Inter
ferenz im Punkt B liegt vor, wenn die Formel
AB.n2 = BC.n2 + CE.n1 + mλb
erfüllt ist. Die Gesamtlichtwege des Lichtes durch diese beiden benachbarten
Gitterstufen (C und A) für die Wellenlänge λb unterscheiden sich also um ein
Vielfaches dieser Wellenlänge.
Nun wird die erwähnte geometrische Konstruktion, ausgehend von den Punkten
C und A, in bezug auf den Brennpunkt D gebildet. Es wird wiederum die oben
erwähnte Gleichung aufgestellt, jedoch mit der Wellenlänge λd. Man erhält zwei
unabhängige Gleichungen mit zwei Unbekannten in Form der Koordinaten des zu
berechnenden Punktes A, wenn vom Punkt C als festen Ursprungspunkt und den
beiden zuvor festgelegten Punkten B und D ausgegangen wird. Aus zwei Glei
chungen mit zwei Unbekannten kann z. B. in einem XY-Koordinatensystem die
Lage des zu berechnenden Punktes A ermittelt werden.
Mit derselben Berechnung kann nun, ausgehend vom Punkt A der Punkt A' und
in einem nächsten Schritt, ausgehend von diesem, der Punkt A'' berechnet wer
den. In dieser Weise kann das gesamte Gitter in der Form seiner Stufen festgelegt
werden durch Errechnung jeweils der Punkte A, A', A'' usw. als Mittelpunkte der
Frontflächen.
Bei dieser Berechnungsart muß jeweils von einer Stufe zur nächsten weiterge
rechnet werden, wobei in der oben erwähnten Gleichung jeweils der letzte Term
m.λb bzw. m.λd denselben Wert für m aufweist, beispielsweise 1.
Bei dieser Berechnungsart schrittweise von einer Stufe zur nächsten fortschrei
tend, würden Verrundungsfehler laufend addiert werden. Deshalb ist eine andere
Berechnungsweise günstiger, wie folgt:
Zunächst wird, wie oben angegeben, für beide Wellenlängen, ausgehend von C, der Punkt A berechnet. Im nächsten Schritt wird, ausgehend voll C, der Punkt A' direkt berechnet. Es ergeben sich für die beiden Wellenlängen dieselben Glei chungen, wie oben angegeben, jedoch ist nun m um 1 erhöht, also auf m + 1. Im nächsten Schritt wird dann, ausgehend von C, direkt A'' berechnet mit m + 2 usw. Ersichtlich ist hierbei die Rechengenauigkeit größer, da stets vom selben Punkt C aus gerechnet wird.
Zunächst wird, wie oben angegeben, für beide Wellenlängen, ausgehend von C, der Punkt A berechnet. Im nächsten Schritt wird, ausgehend voll C, der Punkt A' direkt berechnet. Es ergeben sich für die beiden Wellenlängen dieselben Glei chungen, wie oben angegeben, jedoch ist nun m um 1 erhöht, also auf m + 1. Im nächsten Schritt wird dann, ausgehend von C, direkt A'' berechnet mit m + 2 usw. Ersichtlich ist hierbei die Rechengenauigkeit größer, da stets vom selben Punkt C aus gerechnet wird.
Ein nach diesem Algorithmus berechnetes Gitter 3 fokussiert die Wellenlängen λb
und λd völlig fehlerfrei in den Punkten B und D. Es werden aber auch dazwi
schenliegende Wellenlängen zwischen den Punkten B und D in der Ebene 5 fo
kussiert und auch Wellenlängen jenseits der Wellenlängen λb und λd außerhalb
der Punkte B und D. Dabei ist die spektrale Abbildung in der Ebene 5 fehlerfrei.
Es entstehen lediglich sehr kleine, vernachlässigbare Fokussierfehler außerhalb
der Punkte B und D.
Ein solches Gitter kann zum Arbeiten im optischen Bereich bei Verwendung voll
Glas für die Lichtleiterschicht 1 und Luft für das zweite Medium 2 bei den Wel
lenlängen λb = 400 nm und λd = 550 nm bei dem Abstand CD von 10 mm einen
Abstand der Brennpunkte BD von 2 mm aufweisen. Dabei ergibt sich eine Git
terperiode von etwa 1 µm, die sich über beispielsweise 103 Stufen auf 5 µm nähe
rungsweise linear vergrößert. Die minimale Strukturbreite des so geschaffenen
selbstfokussierenden Gitters unterschreitet dabei nur wenig die Strukturgrößen
eines nicht fokussierenden Gitters mit konstanter Gitterperiode.
Die Berechnung wird sehr einfach mit einem Computer schrittweise durchge
führt. In die Berechnungen gehen als Parameter des zu berechnenden Gitters ein:
die Berechungsindices der beiden an das Gitter grenzenden Medien, die Lage der
beiden Brennpunkte B und D für zwei zuvor festgelegte Wellenlängen des Spek
trums in ihrem Abstand zueinander sowie in ihrem Abstand zum Gitter und der
Startpunkt C der Berechnung. Es ergibt sich dabei auf jeden Fall ein Gitter, bei
dem die Stufengröße in einer Richtung anwächst. Das Gitter kann dabei für einen
bestimmten Abstand der Punkte B und D in sich im wesentlichen gerade verlau
fen, wie in Fig. 1 dargestellt. Liegen die Brennpunkte B und D enger zusammen,
so hat es voll den Brennpunkten her gesehen eine konvexe Grundkrümmung, bei
weiter auseinanderliegender Brennpunkten eine konkave Grundkrümmung.
Eine Konstruktion mit Luft als zweitem Medium 2 ist in Fig. 2 in ihrem Ge
samtaufbau dargestellt. Die Lichtleitschicht 1 wird oben und unten voll Deck
schichten 9 und 10 kleineren Brechungsindex bedeckt. Dieser Schichtaufbau ist
auf einem Träger 11 angeordnet. Am Gitter 3 endet der Schichtaufbau. Das durch
die Lichtleiterschicht 1 ankommende parallele Licht 4 wird auf dem bereits in
Fig. 1 dargestellten Zeilensensor 6 fokussiert.
Fig. 3 zeigt schematisch eine Möglichkeit, ausgehend von einem Spalt 12, kom
mendes divergentes Licht an einem Hohlspiegel 13, z. B. einer Grenze der Licht
leitschicht 1 zu einem Material niedriger Brechungsindex, zu parallelisieren, da
mit es parallel auf das Stufengitter 3 fällt.
Fig. 4 zeigt in einem Längsschnitt durch dem Schichtaufbau einer Konstruktion
ähnlich wie Fig. 2 mit einem Träger 11, der Lichtleiterschicht 1 und den Deck
schichten 9 und 10, bei der jedoch die Lichtleiterschicht 1 am Gitter 3 nicht an
Luft (wie bei der Konstruktion der Fig. 2) sondern an eine weiterführende zweite
Lichtleiterschicht 14 grenzt, an deren Endfläche 5 der Zeilensensor 6 angeordnet
ist.
Fig. 5 zeigt eine schematische Darstellung der Abbildungsgeometrie entspre
chend der Darstellung der Fig. 1. Es ist hier erläutert, daß auch bei divergent von
dem Spalt 12 auf ein Gitter 3' fallendem Licht 4' fokussierende Bedingungen, also
Abbildung einer Wellenlänge λb auf den Brennpunkt B und einer Wellenlänge λd
auf den Brennpunkt D erreichbar ist. Die eingangs genannte Lichtweggleichung
ist nur geringfügig zu korrigieren, wobei auch in der Lichtleiterschicht 1 Dreiecke
ausgehend von dem Spalt 12 zu berücksichtigen sind.
Claims (5)
1. Spektrometer mit einer dünnen Lichtleiterschicht (1) in einem in Dünn
schichttechnologie hergestellten Schichtaufbau zwischen zwei Deck
schichten (10, 9) niedrigeren Brechungsindexes, mit einer ein Gitter (3, 3')
aufweisenden Endfläche der Lichtleiterschicht, die durch die Lichtleiter
schicht hindurch mit zu analysierendem Licht (4, 4') bestrahlt wird, und
mit einem Zeilensensor (6), auf den das Spektrum (B, D) abgebildet wird,
wobei das treppenförmige Stufengitter (3, 3') mit transparenten Stufenflä
chen (7) und mit Stufenkanten senkrecht zur Schichtebene ausgebildet ist
und an den Stufenflächen des Gitters ein zweites Medium (2) angrenzt,
dessen Brechungsindex kleiner ist als der der Lichtleiterschicht, dadurch
gekennzeichnet, daß das Gitter (3, 3') in Treppenrichtung kontinuierlich
die Höhe und Breite seiner Stufen derart ändert, daß für zwei ausgewählte
Wellenlängen (λb, λd) jeweils die Gesamtlichtwege durch die Lichtleiter
schicht (1) und das zweite Medium (2) bis zu einem der jeweiligen Wel
lenlänge zugehörigen Brennpunkt (B, D) für alle benachbarten Frontflä
chen (7) des Gitters (3) eine Längendifferenz voll demselben Vielfachen
der jeweiligen Wellenlänge aufweisen.
2. Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das zweite
Medium (2) Luft ist.
3. Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das zweite
Medium aus einer all das Gitter (3) angrenzenden zweiten Lichtleiter
schicht (14) gebildet ist.
4. Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter
(3) mit parallelem Licht (4) bestrahlt ist.
5. Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter
(3') mit divergentem Licht (4') bestrahlt ist.
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