DE19756963C1 - Verfahren und Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder kleiner Kapazitätsänderungen - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder kleiner KapazitätsänderungenInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder Kapazitätsänderungen einer Meßkapazität (1) mit Hilfe einer die Meßkapazität (1) mit einem zeitabhängigen Meßsignal beaufschlagenden Steuer- und Auswerteschaltung (2), bei welchem die Kapazität der Meßkapazität (1) von der Steuer- und Auswerteschaltung (2) anhand der Auswertung des Meßsignals bestimmt wird. Um Einflüsse von zumindest teilweise leitenden Fremdobjekten (7) in der Umgebung der Meßkapazität (1) auf die Messung der Kapazität der Meßkapazität (1) gezielt zu verändern, ist der Frequenzbereich für das Meßsignal bei der Messung der Kapazität der Meßkapazität (1) von der Steuer- und Auswerteschaltung (2) gezielt auswählbar.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung
zur Messung kleiner Kapazitäten oder Kapazitätsänderungen
einer Meßkapazität, mit Hilfe einer die Meßkapazität mit
einem zeitabhängigen Meßsignal beaufschlagenden Steuer-
und Auswerteschaltung, bei welchen die Kapazität der
Meßkapazität von der Steuer- und Auswerteschalung anhand
der Auswertung des Meßsignals bestimmt wird.
Solche Verfahren und Vorrichtungen zur Messung kleiner
Kapazitäten oder Kapazitätsänderungen einer eine oder
zwei Platten oder dergleichen aufweisenden Meßkapazität
sind aus dem Stand dar Technik in einer Vielzahl von
Ausgestaltungen bekannt (vgl. z. B. DE 38 29 427 A1). Sie
werden beispielsweise zur Detektion der Annäherung von
sog. Erfassungsobjekten verwendet. Für diesen Fall
spricht man üblicherweise von Verfahren zum Betrieb von
Näherungsschaltern bzw. von kapazitiven
Näherungssensoren.
Die bekannten Verfahren und Vorrichtungen verwenden die
Meßkapazität beispielsweise als den frequenzbestimmenden
Teil eines Oszillators, dessen Frequenz dann als Maß für
die unbekannte Kapazität der Meßkapazität verwendet wird.
Alternativ bestimmt die Steuer- und Auswerteschaltung die
Kapazität der Meßkapazität anhand des kapazitiven Anteils
der Impedanz der Meßkapazität. Die Grundlage der Messung
der Kapazität der Meßkapazität durch die Steuer- und
Auswerteschaltung bildet jeweils ein zeitabhängiges
Meßsignal, welches an der Meßkapazität anliegt.
Die Frequenzen für das an der Meßkapazität anliegende
Meßsignal bewegen sich bei den bekannten Verfahren und
Vorrichtungen im Bereich von etwa 100 Hz bis 100 kHz. Bei
den bekannten Verfahren und Vorrichtungen werden
unterschiedliche Frequenzbereiche für das Meßsignal
verwendet, um den Meßbereich für die Kapazitätsmessung
umzuschalten und/oder um den komplexen Scheinwiderstand
der Meßkapazität in einen für die Messung günstigen
Bereich zu bringen.
Kapazitive Näherungssensoren als eine Sonderform einer
Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitätsänderungen
werden seit geraumer Zeit dazu eingesetzt, die
Anwesenheit oder das Passieren von Erfassungsobjekten zu
erkennen. Solche kapazitiven Näherungssensoren haben oft
nur eine sehr geringe Reichweite von wenigen Zentimetern,
obwohl das Prinzip auch zur Detektion von insbesondere
größeren Erfassungsobjekten auf größere Entfernungen
- etwa 50 cm bis zu etwa 10 m - geeignet ist. Der Einsatz
der bekannten kapazitiven Näherungssensoren zur Detektion
über größere Entfernung ist bislang an dem Einfluß von
zumindest teilweise leitenden Fremdobjekten in der
Umgebung der Meßkapazität des kapazitiven
Näherungssensoren gescheitert. Dieser nicht zur
vernachlässigende Einfluß leitfähiger Fremdobjekte in der
Umgebung der Meßkapazität auf die Messung der Kapazität
oder der Kapazitätsveränderung der Meßkapazität soll im
folgenden beschrieben werden. Dabei ist zunächst darauf
hinzuweisen, daß dieser Einfluß der leitfähigen
Fremdobjekte nicht immer eine Störgröße darstellt,
sondern daß teilweise gerade dieser Einfluß gemessen oder
verstärkt werden soll.
Die Ursache für den Einfluß zumindest teilweise leitender
Fremdobjekte in der Umgebung der Meßkapazität auf die
Messung der Kapazität der Meßkapazität liegt darin, daß
eine Vorrichtung zur Messung dieser Kapazität stets eine
kapazitive Verbindung zum Erdpotential besitzt. Die Lage
der parasitären kapazitiven Verbindungen zum Erdpotential
wird im folgenden unter Bezugnahme auf Fig. 1 der
Zeichnung beschrieben. In Fig. 1 der Zeichnung ist eine
Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder
Kapazitätsänderungen einer Meßkapazität 1 mit einer die
Meßkapazität 1 mit einem zeitabhängigen Meßsignal
beaufschlagenden Steuer- und Auswerteschaltung 2
dargestellt. Die in Fig. 1 dargestellte Vorrichtung zur
Messung kleiner Kapazitäten weist zum Anschluß an eine
Stromverbindung einen Transformator 3 auf. Regelmäßig
besitzt ein Pol der Primärwicklung des Transformators 3
eine Verbindung zum Erdpotential 4. Die Kapazität des
Transformators 3 verursacht nun beispielsweise, in Fig. 1
gestrichelt angedeutet, eine erste parasitäre kapazitive
Verbindung 5 zwischen der Vorrichtung zur Messung der
Kapazität und dem Erdpotential 4. Selbst bei
batteriebetriebenen Vorrichtungen läßt sich eine minimale
parasitäre Kopplung zwischen den Anschlüssen der
Meßkapazität 1 und dem Erdpotential 4 nicht vermeiden,
was in Fig. 1 wiederum durch eine gestrichelt
eingezeichnete zweite parasitäre Kapazität 6 verdeutlicht
ist.
Dadurch, daß eine Vorrichtung zur Messung kleiner
Kapazitäten oder Kapazitätsänderungen einer Meßkapazität
über parasitäre Kapazitäten zumindest minimal mit dem
Erdpotential verbunden ist, haben sämtliche geerdeten,
leitfähigen Fremdobjekte in der Umgebung der Meßkapazität
wiederum kleine Kapazitäten zur Meßkapazität, von denen
zumindest ein gewisser Anteil parallel zur Meßkapazität
geschaltet ist und somit die Messung der Kapazität der
Meßkapazität beeinflußt. Könnte man die parasitären
Kapazitäten zwischen der Vorrichtung zur Messung kleiner
Kapazitäten und dem Erdpotential völlig vermeiden, wäre
kein Einfluß der leitfähigen Fremdobjekte in der Umgebung
der Meßkapazität auf die Messung der Kapazität der
Meßkapazität meßbar.
In Fig. 2 der Zeichnung ist eine Vorrichtung zur Messung
kleiner Kapazitäten einer Meßkapazität 1 in der Umgebung
einer Mehrzahl von geerdeten Fremdobjekten 7 dargestellt.
In Fig. 2 ist auch der Anteil der parasitären
Fremdkapazitäten 8 durch gestrichelt eingezeichnete
Kondensatoren angedeutet. Sämtliche in Fig. 2
dargestellten geerdeten Fremdobjekte 7 haben eine wie
auch immer gestaltete Verbindung zu dem Erdpotential 4,
mit dem auch die Vorrichtung zur Messung der Meßkapazität
1 über die erste und/oder zweite parasitäre Kapazität 5,
6 verbunden ist. Diese Verbindungen können durch
Rohrleitungen, die elektrische Verdrahtung eines
Gebäudes, aber auch durch Armierungsgitter in Bauwerken
oder einfach durch feuchte Materialien entstehen. Die
Verbindungen weisen ohmsche, induktive und kapazitive
Komponenten auf und der komplexe Gesamtwiderstand
zwischen dem - gedachten - Erdpotential der Vorrichtung
und jedem einzelnen geerdeten Fremdobjekt ergibt sich aus
vielen Reihen- und Parallelschaltungen aller Komponenten
und kann nicht konkret berechnet werden.
Fremdobjekte im Sinne der Erfindung sind sämtliche
vollständig oder teilweise leitfähigen Gegenstände.
Hierzu zählen nicht nur Metallteile, sondern auch
Gegenstände, die durch Feuchtigkeit oder andere Effekte
leitfähig werden. Zur Erläuterung der Bandbreite der in
Frage kommenden Fremdobjekte folgendes Beispiel:
Ein Aquarium kann ein solches Fremdobjekt bilden, indem
es beispielsweise an einer Wand mit innerer Eisen-
Armierung befestigt ist, mit der es galvanisch oder
zumindest über eine große Kapazität verbunden ist. Die
Eisen-Armierung kann wiederum über Feuchtigkeit im
Mauerwerk oder über eine gesonderte Gebäudeerdung
letztlich galvanisch und induktiv mit dem Schutzleiter
der Netzverdrahtung verbunden sein. Dieser Schutzleiter
nimmt seinen Weg bis zur Stromversorgung der Vorrichtung
zur Messung der Kapazität und ist zumindest kapazitiv
z. B. über den Transformator in der Stromversorgung der
Vorrichtung letztlich mit der Meßkapazität verbunden.
Der Einfluß der zumindest teilweise leitenden
Fremdobjekte auf die Messung der Kapazität der
Meßkapazität kann nun zunächst problematisch dahingehend
sein, daß sich die Fremdobjekte bewegen, vibrieren, in
ihrer wirksamen räumlichen Ausdehnung verändern oder auch
ihren Widerstand zum Erdpotential verändern und somit die
Detektierung von Erfassungsgegenständen behindern. Als
Beispiel für ein solches störendes Fremdobjekt sei nur
ein Aufzug genannt. Es kann jedoch auch im Gegenteil so
sein, daß genau die Bewegung eines Fremdobjektes
überwacht werden soll. Weiter sind für den Betrieb
beispielsweise eines kapazitiven Näherungssensors solche,
eventuell unvermeidlich vorhandenen Fremdobjekte
vorteilhaft, die wegen ihrer günstigen räumliche Position
und ihrer stabilen Befestigung als zweite
Kondensatorplatte der Meßkapazität dienen können. Die
Meßkapazität selbst kann in solchen Fällen auf nur eine
Kondensatorplatte beschränkt werden. Fremdobjekte sind
insbesondere dann unerwünscht, wenn sie sich bewegen
und/oder außerhalb des gewünschten Erfassungsbereiches
liegen.
Der Erfindung liegt nunmehr die Aufgabe zugrunde, die
Einflüsse von zumindest teilweise leitenden Fremdobjekten
in der Umgebung der Meßkapazität auf die Messung der
Kapazität der Meßkapazität besser kontrollierbar zu
machen.
Die zuvor hergeleitete und aufgezeigte Aufgabe ist gemäß
einer ersten Lehre der Erfindung dadurch gelöst, daß der
Frequenzbereich für das Meßsignal bei der Messung der
Kapazität der Meßkapazität zur Veränderung der Einflüsse
von zumindest teilweise leitenden Fremdobjekten in der
Umgebung der Meßkapazität auf die Messung der Kapazität
der Meßkapazität von der Steuer- und Auswerteschaltung
gezielt ausgewählt wird. Die erste Lehre der Erfindung
gewährleistet eine Kontrolle des Einflusses der
Fremdobjekte in der Umgebung der Meßkapazität dadurch,
daß der Frequenzbereich für das Meßsignal nicht zur Wahl
des Meßbereichs oder zur Beeinflussung anderer Effekte
der Meßkapazität dient, sondern daß der gewünschte
Einfluß der Fremdobjekte als Kriterium zur Wahl der
Meßfrequenz dient. Die Möglichkeit der Kontrolle des
Einflusses der Fremdobjekte ist, wie bereits erwähnt,
sowohl in die eine Richtung als auch in die andere
Richtung je nach Anwendungsfall vorteilhaft. Die erste
Lehre der Erfindung umfaßt nicht nur den Fall, in dem der
Frequenzbereich für das Meßsignal nach der Installation
einer Vorrichtung zur Verwirklichung des Verfahrens zur
Messung kleiner Kapazitäten einer Meßkapazität ausgewählt
wird, sondern auch den Fall, in dem der Frequenzbereich
für eine genau definierte Meßaufgabe bereits bei der
Konstruktion der Vorrichtung vorgegeben ist und die
Steuer- und Auswerteschaltung nur diese eine
voreingestellte Auswahl treffen kann. Dies ist dann
möglich, wenn die in der Umgebung der Meßkapazität
angeordneten Fremdobjekte in ihren Eigenschaften
zumindest annähernd bekannt sind.
Zur Minimierung der Einflüsse der zumindest teilweise
leitenden Fremdobjekte insbesondere in größerer
Entfernung also mit längeren Verbindungen zu einer
Vorrichtung zur Verwirklichung des Verfahrens gemäß der
ersten Lehre der Erfindung werden hohe Frequenzen für das
Meßsignal ausgewählt. Über diese hohen Frequenzen wird
der komplexe Gesamtwiderstand zwischen dem Fremdobjekt
und der Vorrichtung zur Verwirklichung des Verfahrens
abhängig von der Länge der Verbindung und der
Induktivität der Verbindung deutlich erhöht, so daß ein
Einfluß ganz oder teilweise auszuschließen ist.
Besonders vorteilhaft ist die Wahl von Frequenzen für das
Meßsignal größer oder gleich 1 MHz. Dies ergibt sich
daraus, daß Erdkabel etwa eine Induktivität von 1 µH/m
aufweisen. Wenn man also beispielsweise von 5 m Erdkabel
ausgeht, dann ergeben sich 5 µH. Diese 5 m Erdkabel
besitzen bei den im Stand der Technik üblichen Frequenzen
für das Meßsignal von 100 Hz bis 100 kHz einen induktiven
Widerstand von 3 mΩ bis 3 Ω. Bei der erfindungsgemäß
vorgeschlagenen Meßfrequenz von 1 MHz bis z. B. 100 MHz
erhöht sich jedoch dieser Widerstand auf 30 Ω bis 3000 Ω,
wodurch es ersichtlich möglich wird, den Einfluß der
zumindest teilweise leitenden Fremdobjekte auf die
Messung der Kapazität der Meßkapazität gezielt über die
Wahl des Frequenzbereiches für das Meßsignal zu steuern.
Die Verwirklichung der beschriebenen Ausgestaltung der
ersten Lehre der Erfindung bei der Messung von
Kapazitäten im pF-Bereich, bei der die Meßfrequenz - ohne
Bereichswechsel und ohne Änderung der Meßaufgabe
"Kapazitätsmessung"; üblicherweise ändert man die
Meßfrequenz auch dann, wenn z. B. induktive oder ohmsche
Anteile des Erfassungsobjektes ignoriert oder
ausdrücklich gemessen werden sollen - z. B. im Bereich von
100 kHz bis 10 MHz einstellbar ist, gewährleistet es, daß
der Anschluß von Fremdobjekten, die über eine 5 m lange
Verbindung mit dem eigenen - gedachten - Erdpotential
gekoppelt sind, gezielt mit einem ohmschen Anteil von 3 Ω
bis 300 Ω überlagert wird, so daß der Einfluß auf die
Messung der Kapazität willkürlich bestimmbar ist. In der
Praxis verstärkt sich dieser Effekt noch deutlich, weil
die "Erdleitung" sich durch den zufälligen Verlauf der
Netzspannungsinstallation oder von Rohrleitungen ergibt,
und sich somit bei z. B. 5 m Luftlinie eine effektive Länge
der Erdleitung von 20 m ergeben kann, wodurch der
induktive Widerstand linear stärker wird.
Ist man umgekehrt an der Beobachtung von zumindest
teilweise leitenden Fremdobjekten auch in größerer
Entfernung von der Meßkapazität interessiert, so ist es
vorteilhaft, zur Maximierung der Einflüsse der zumindest
teilweise leitenden Fremdobjekte niedrige Frequenzen für
das Meßsignal auszuwählen.
Eine für den Anwender vereinfachte Anwendung des
Verfahrens ergibt sich durch die Ausgestaltung, daß eine
Veränderung der Einflüsse der zumindest teilweise
leitenden Fremdobjekte auf die Messung der Kapazität der
Meßkapazität anhand der Auswertung charakteristischer
Veränderungen bei der Messung der Kapazität der
Meßkapazität vorgenommen wird. Entweder ist aus der
Anwendung ein bestimmtes Verhalten der Meßkapazität oder
der Fremdobjekte bekannt. So kann z. B. bei Anwendung des
Verfahrens gemäß der ersten Lehre der Erfindung in einem
kapazitiven Näherungssensor häufig sichergestellt werden,
daß das Erfassungsobjekt den Sensorbereich schneller oder
langsamer als innerhalb einer bestimmten Zeit verläßt und
alle zeitlich längeren oder kürzeren Ausschläge bei der
Messung der Kapazität der Meßkapazität dem Einfluß eines
Fremdobjektes zuzuschreiben sind. Es ist auch möglich,
daß zu bestimmten Zeiten keine durch Erfassungsobjekte
verursachten Änderungen bei der Messung der Meßkapazität
auftreten können. Gemäß der beschriebenen Ausgestaltung
des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht in den
beschriebenen Fällen durch automatische Anpassung des
Frequenzbereiches für das Meßsignal die Möglichkeit, die
als Störungen erkannten Ausschläge bei der Messung der
Kapazität der Meßkapazität zu minimieren.
Alternativ oder kumulativ läßt sich das Verfahren gemäß
der ersten Lehre der Erfindung weiter dadurch verbessern,
daß zur Identifizierung der Einflüsse der zumindest
teilweise leitenden Fremdobjekte auf die Messung der
Kapazität der Meßkapazität eine definierte Beeinflussung
der Kapazität der Meßkapazität während einer
Installationsphase vorgenommen wird. Während dieser
Installationsphase werden bestimmte Verhaltensweisen bei
der Messung der Kapazität der Meßkapazität gespeichert,
die durch Fremdobjekte entstehen, so daß es einer
Vorrichtung zur Verwirklichung des Verfahrens gemäß der
ersten Lehre der Erfindung anhand der gespeicherten Daten
möglich ist, zu erkennen, welche Veränderung bei der
Messung der Kapazität der Meßkapazität durch
Erfassungsobjekte oder durch Fremdobjekte verursacht
sind. Auch bei dieser Ausgestaltung des Verfahrens gemäß
der ersten Lehre der Erfindung ist es vorteilhaft, wenn
die in diesem Fall erkennbaren Einflüsse von
Fremdobjekten anhand der Veränderung des
Frequenzbereiches für das Meßsignal minimiert werden,
während der Einfluß von Erfassungsobjekten auf die
Messung der Kapazität der Meßkapazität maximiert wird.
Wie bereits angeklungen, bietet sich eine Verwirklichung
des Verfahrens gemäß der ersten Lehre der Erfindung
insbesondere dann an, wenn Änderungen bei der Messung der
Meßkapazität von der Steuer- und Auswerteschaltung zur
Detektion der Annäherung von Erfassungsobjekten
ausgewertet werden. Insbesondere ist die Verwirklichung
des Verfahrens gemäß der ersten Lehre der Erfindung bei
der Detektion der Annäherung von Personen vorteilhaft, da
diese häufig über relativ große Entfernungen stattfinden
soll und außerdem regelmäßig durch die Anwesenheit
zumindest teilweise leitfähiger Fremdobjekte gestört
wird. Hier ist beispielsweise die Detektion zum Zwecke
der Personenerfassung bzw. Zählung von Personen in
Ladengeschäften oder Kaufhäusern zu nennen.
Die zweite Lehre der Erfindung betrifft eine Vorrichtung
zur Messung kleiner Kapazitäten oder Kapazitätsänderungen
einer Meßkapazität die gemäß der zweiten Lehre der
Erfindung dadurch ausgestaltet ist, daß die Steuer- und
Auswerteschaltung einen den Frequenzbereich für das
Meßsignal bei der Messung der Kapazität der Meßkapazität
zur Veränderung der Einflüsse von zumindest teilweise
leitenden Fremdobjekten in der Umgebung der Meßkapazität
auf die Messung der Kapazität der Meßkapazität gezielt
auswählenden Frequenzwähler aufweist. Die mit der zweiten
Lehre der Erfindung gewährleisteten Vorteile entsprechen
den bereits im Zusammenhang mit der ersten Lehre der
Erfindung beschriebenen Vorteilen.
Um die Einflüsse der zumindest teilweise leitenden
Fremdobjekte spürbar zu verändern ist die Vorrichtung der
zweiten Lehre der Erfindung gemäß einer ersten
Ausgestaltung dadurch gekennzeichnet, daß der
Frequenzbereich für das Meßsignal von dem Frequenzwähler
in weiten Grenzen beeinflußbar ist. Vorzugsweise ist der
Frequenzbereich für das Meßsignal vor dem Frequenzwähler
mindestens um den Faktor 10 beeinflußbar. Diese Maßnahmen
gewährleisten, daß der Einfluß von Fremdobjekten auf die
Messung der Kapazität der Meßkapazität der Vorrichtung
gezielt gesteigert oder gesenkt werden kann. Zur
Verwirklichung der erfindungsgemäßen Vorteile durch die
Steigerung oder Senkung der Einflüsse von Fremdobjekten
ist es ausreichend, den Frequenzbereich für das Meßsignal
innerhalb der möglichen Frequenzspanne grob einzustellen.
Es ist also durchaus denkbar innerhalb der möglichen
Frequenzspanne nur zwei Einstellungsmöglichkeiten für den
Frequenzwähler vorzusehen.
Die gezielte Beeinflußbarkeit der Einflüsse von
Fremdobjekten in der Nähe der Meßkapazität ermöglichen
eine besonders vorteilhafte Verwendung der Vorrichtung
gemäß der zweiten Lehre der Erfindung als kapazitiven
Näherungssensor.
Da sich die Vorrichtung gemäß der zweiten Lehre der
Erfindung insbesondere für den Einsatz als kapazitiver
Näherungssensor eignet, ist es vorteilhaft, wenn der
Frequenzbereich für das Meßsignal durch ein von außen
zugängliches Betätigungselement manuell beeinflußbar ist,
insbesondere um etwa ±30% veränderbar ist. Eine
derartige Feineinstellung des Frequenzbereichs bietet die
Möglichkeit, gegenseitige Störungen zwischen einem
kapazitiven Näherungssensor gemäß der zweiten Lehre der
Erfindung und Warensicherungsschranken zu vermeiden, wie
sie in den Ein- und Ausgängen von Warenhäusern und
Ladengeschäften zum Schutz gegen Diebstähle üblich sind.
In diesem Bereich werden kapazitive Näherungssensoren
gemäß der zweiten Lehre der Erfindung zur Detektion der
Annäherung von Personen eingesetzt. Manche der in diesen
Bereichen eingesetzten Warensicherungsschranken arbeiten
mit ähnlichen Frequenzen wie ein kapazitiver
Näherungssensor gemäß der zweiten Lehre der Erfindung.
Die Frequenz, mit denen die Warensicherungsschranken
arbeiten, kann meist systembedingt nicht verändert
werden, so daß eine eventuelle gegenseitige Beeinflussung
dadurch beseitigbar ist, daß der Frequenzbereich für das
Meßsignal eines kapazitiven Näherungssensors gemäß der
zweiten Lehre der Erfindung in solch einem Fall um bis zu
±30% veränderbar ist.
Die Feineinstellung des Frequenzbereiches für das
Meßsignal, insbesondere um einen Wert von ±30%, kann
nicht nur mittels eines Betätigungselementes manuell
sondern auch automatisch etwa selbstlernend erfolgen.
Sowohl die Grobbeinflussung des Frequenzbereiches zur
Veränderung des Einflusses von Fremdobjekten auf die
Messung der Kapazität der Meßkapazität als auch die
Feineinstellung des Frequenzbereiches des Meßsignals kann
mittels eines einzigen Frequenzwählers, beispielsweise
eines guten Potentiometers, insbesondere manuell,
erfolgen. Die Feineinstellung ist dabei nur notwendig,
wenn Wechselwirkungen zwischen der Vorrichtung gemäß der
zweiten Lehre der Erfindung und umgebenden elektronischen
Anlagen, etwa Warensicherungsschranken, zu befürchten
sind.
Gemäß einer dritten Lehre der Erfindung findet eine
Veränderung der Einflüsse von zumindest teilweise
leitenden Fremdobjekten in der Umgebung der Meßkapazität
einer Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder
Kapazitätsänderungen der Meßkapazität dadurch statt, daß
ein Ferritkern, wie er zur Anordnung an einem Netzkabel
eines elektrischen Gerätes - beispielsweise an einem
Netzkabel eines Schaltnetzteils - bekannt ist, zumindest
an der Erdverbindung eines zumindest teilweise
leitfähigen Fremdobjektes zur Minimierung des Einflusses
des zumindest teilweise leitfähigen Fremdobjektes auf
eine Vorrichtung zur Messung der Kapazität oder
Kapazitätsänderung einer Meßkapazität angeordnet ist.
Durch die Maßnahme gemäß der dritten Lehre der Erfindung
wird, wie beispielsweise auch durch das Wickeln der
Erdverbindung eines zumindest teilweise leitfähigen
Fremdobjektes zu einer Spule, die Induktivität der
Erdverbindung erhöht. Weitere Maßnahmen zur Erhöhung der
Induktivität, etwa durch Anordnung einer gesonderten
Induktivität, sind dem Fachmann geläufig. Durch die
erhöhte Induktivität ist gewährleistet, daß der komplexe
Widerstand zwischen dem zumindest teilweise leitfähigen
Fremdobjekt und dem Erdpotential vergrößert wird, so daß,
wie oben beschrieben, der Einfluß des Fremdobjektes auf
die Messung der Meßkapazität minimiert ist.
Im einzelnen gibt es nun eine Vielzahl von Möglichkeiten
das erfindungsgemäße Verfahren und die erfindungsgemäße
Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder
Kapazitätsänderungen einer Meßkapazität auszugestalten
und weiterzubilden. Dazu wird einerseits auf die den
Patentansprüchen 1 und 9 nachgeordneten Patentansprüche
sowie andererseits auf die Beschreibung eines bevorzugten
Ausführungsbeispiels in Verbindung mit der Zeichnung
verwiesen. In der Zeichnung zeigt:
Fig. 3 schematisch ein Ausführungsbeispiel einer
Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder
Kapazitätsänderungen einer Meßkapazität gemäß
der zweiten Lehre der Erfindung.
Das in Fig. 3 dargestellte Ausführungsbeispiel weist eine
Meßkapazität 1 und eine die Meßkapazität 1 mit einem
zeitabhängigen Meßsignal beaufschlagende Steuer- und
Auswerteschaltung 2 auf.
In Fig. 3 nicht dargestellt ist die Energieversorgung des
Ausführungsbeispiels.
Gemäß der zweiten Lehre der Erfindung weist die Steuer-
und Auswerteschaltung 2 einen den Frequenzbereich für das
Meßsignal bei der Messung der Kapazität der Meßkapazität
1 zur Veränderung der Einflüsse von hier nicht
dargestellten, zumindest teilweise leitenden
Fremdobjekten in der Umgebung der Meßkapazität 1 auf die
Messung der Kapazität der Meßkapazität 1 gezielt
auswählenden Frequenzwähler 9 auf.
Erfindungsgemäß dient die gezielte Auswahl des
Frequenzbereiches bzw. der Frequenz, abhängig von dem
Auswerteverfahren zur Bestimmung der Kapazität der
Meßkapazität 1, nicht zur Wahl des Meßbereiches oder zur
Beeinflussung anderer Effekte der Meßkapazität 1.
Zur Beeinflussung des durch den Frequenzwähler 9
vorgegebenen Frequenzbereichs für das Meßsignal ist bei
dem in Fig. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel einer
Vorrichtung zur Messung der Kapazität einer Meßkapazität
1 ein von außen zugängliches Betätigungselement 10
angeordnet, das manuell beeinflußbar ist.
Die Einstellungen des Frequenzwählers 9 und des
Betätigungselementes 10 können alternativ entweder von
Hand, also durch eine Bedienungsperson, oder automatisch von
der Steuer- und Auswerteschaltung 2 anhand der Ergebnisse
bei der Messung der Kapazität der Meßkapazität verändert
werden.
1
Meßkapazität
2
Steuer- und Auswerteschaltung
3
Transformator
4
Erdpotential
5
erste parasitäre Kapazität
6
zweite parasitäre Kapazität
7
Fremdobjekte
8
Fremdkapazität
9
Frequenzwähler
10
Betätigungselement
Claims (15)
1. Verfahren zur Messung kleiner Kapazitäten oder
Kapazitätsänderungen einer Meßkapazität, mit Hilfe einer
die Meßkapazität mit einem zeitabhängigen Meßsignal
beaufschlagenden Steuer- und Auswerteschaltung, bei
welchem die Kapazität der Meßkapazität von der Steuer-
und Auswerteschaltung anhand der Auswertung des
Meßsignals bestimmt wird,
dadurch gekennzeichnet, daß der
Frequenzbereich für das Meßsignal bei der Messung der
Kapazität der Meßkapazität zur Veränderung der Einflüsse
von zumindest teilweise leitenden Fremdobjekten in der
Umgebung der Meßkapazität auf die Messung der Kapazität
der Meßkapazität von der Steuer- und Auswerteschaltung
gezielt ausgewählt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß zur Minimierung
der Einflüsse der zumindest teilweise leitenden
Fremdobjekte hohe Frequenzen für das Meßsignal ausgewählt
werden.
3. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß die Frequenzen
für das Meßsignal größer oder gleich 1 MHz gewählt werden.
4. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß zur
Maximierung der Einflüsse der zumindest teilweise
leitenden Fremdobjekte niedrige Frequenzen für das
Meßsignal ausgewählt werden.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß eine
Veränderung der Einflüsse der zumindest teilweise
leitenden Fremdobjekte auf die Messung der Kapazität der
Meßkapazität anhand der Auswertung charakteristischer
Veränderungen bei der Messung der Kapazität der
Meßkapazität vorgenommen wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß zur
Identifizierung der Einflüsse der zumindest teilweise
leitenden Fremdobjekte auf die Messung der Kapazität der
Meßkapazität eine definierte Beeinflussung der Messung
der Kapazität der Meßkapazität während einer
Installationsphase vorgenommen wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, daß Änderungen bei
der Messung der Kapazität der Meßkapazität von der
Steuer- und Auswerteschaltung zur Detektion der
Annäherung von Erfassungsobjekten ausgewertet werden.
8. Verfahren nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß Änderungen bei
der Messung der Meßkapazität von der Steuer- und
Auswerteschaltung zur Detektion der Annäherung von
Personen ausgewertet werden.
9. Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder
Kapazitätsänderungen einer Meßkapazität (1), mit einer
die Meßkapazität (1) mit einem zeitabhängigen Meßsignal
beaufschlagenden Steuer- und Auswerteschaltung (2), wobei
die Kapazität der Meßkapazität von der Steuer- und
Auswerteschaltung anhand der Auswertung des Meßsignals
bestimmbar ist, insbesondere zur Verwirklichung eines
Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß die Steuer-
und Auswerteschaltung (2) einen den Frequenzbereich für
das Meßsignal bei der Messung der Kapazität der
Meßkapazität (1) zur Veränderung der Einflüsse von
zumindest teilweise leitenden Fremdobjekten (7) in der
Umgebung der Meßkapazität (1) auf die Messung der
Kapazität der Meßkapazität (1) gezielt auswählenden
Frequenzwähler (9) aufweist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß der
Frequenzbereich für das Meßsignal von dem Frequenzwähler
(9) in weiten Grenzen beeinflußbar ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß der
Frequenzbereich für das Meßsignal von dem Frequenzwähler
(9) mindestens um den Faktor 10 beeinflußbar ist.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 11,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Vorrichtung zur Verwendung als kapazitiver
Näherungssensor ausgestaltet ist.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12,
dadurch gekennzeichnet, daß der
Frequenzbereich für das Meßsignal durch ein von außen
zugängliches Betätigungselement (10) manuell beeinflußbar
ist.
14. Vorrichtung nach Anspruch 13,
dadurch gekennzeichnet, daß der
Frequenzbereich für das Meßsignal durch das von außen
zugängliche Betätigungselement (10) um ±30% veränderbar
ist.
15. Verwendung eines Ferritkernes zur Anordnung an
einem Netzkabel eines elektrischen Gerätes in Verbindung
mit einem Verfahren oder einer Vorrichtung nach einem der
Ansprüche 1 bis 14,
dadurch gekennzeichnet, daß der Ferritkern
zumindest an der Erdverbindung eines zumindest teilweise
leitfähigen Fremdobjektes (7) zur Minimierung des
Einflusses des zumindest teilweise leitfähigen
Fremdobjektes (7) auf eine Vorrichtung zur Messung der
Kapazität oder Kapazitätsänderung einer Meßkapazität (1)
angeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19756963A DE19756963C1 (de) | 1997-12-20 | 1997-12-20 | Verfahren und Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder kleiner Kapazitätsänderungen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19756963A DE19756963C1 (de) | 1997-12-20 | 1997-12-20 | Verfahren und Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder kleiner Kapazitätsänderungen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19756963C1 true DE19756963C1 (de) | 1999-09-23 |
Family
ID=7852795
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19756963A Expired - Lifetime DE19756963C1 (de) | 1997-12-20 | 1997-12-20 | Verfahren und Vorrichtung zur Messung kleiner Kapazitäten oder kleiner Kapazitätsänderungen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19756963C1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19955464A1 (de) * | 1999-11-08 | 2001-07-19 | Heinz Brych | Vorrichtung zur Detektion und Identifikation von Gegenständen |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3829427A1 (de) * | 1988-08-31 | 1990-03-01 | Philips Patentverwaltung | Messgeraet zur ermittlung der kapazitaet eines kabels |
DE19524387C1 (de) * | 1995-07-04 | 1996-11-07 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung und Verfahren zum Messen eines Kapazitätsunterschiedes zwischen einer ersten Kapazität C1 und einer zweiten Kapazität C2 |
DE19701899A1 (de) * | 1996-01-21 | 1997-10-30 | Ifm Electronic Gmbh | Schaltungsanordnung zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitätsänderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes |
-
1997
- 1997-12-20 DE DE19756963A patent/DE19756963C1/de not_active Expired - Lifetime
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