DE19756800C2 - In einem Halbleitersubstrat integriertes elektronisches Relais - Google Patents
In einem Halbleitersubstrat integriertes elektronisches RelaisInfo
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 4
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 9
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
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- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/04—Modifications for accelerating switching
- H03K17/041—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0412—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
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-
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- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
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- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/081—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0812—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein in einem Halbleiter
substrat integriertes elektronisches Relais mit einem Lei
stungs-DMOS-Transistor zum Ein- und Ausschalten des von der
positiven Klemme zur Masseklemme einer Energiequelle durch
eine Last fließenden Laststroms, mit einer Treiberschaltung,
die abhängig von einem Steuersignal zum Einschalten des
Laststroms an den Gate-Anschluß des Leistungs-DMOS-Tran
sistors eine Spannung anlegt, die höher als die Spannung an
der positiven Klemme der Energiequelle ist.
Ein elektronisches Relais für die Anwendung in einem Kraft
fahrzeug enthält wenigstens zwei Bestandteile, nämlich einen
Leistungs-DMOS-Transistor und eine integrierte Treiberschal
tung zum Steuern dieses Transistors über seine Gate-Spannung.
Ein solches elektronisches Relais ist in dem Handbuch "Data
Book Analog/Interface Integrated Circuits" Band 1/2, vom
24.1.1997 der Firma Motorola näher beschrieben und darge
stellt. Die Treiberschaltung dieses Relais hat dabei die
Typenbezeichnung MC 33091 A. Beim Einsatz dieses Relais in
einem Kraftfahrzeug kann es vorkommen, daß aufgrund eines
Fehlerzustandes eine Polaritätsumkehr der Versorgungsspannung
des Relais eintritt. In diesem Fehlerfall liegt dann am
Versorgungsspannungsanschluß des Relais das Massepotential,
während an seinem Masseanschluß die positive Spannung an
liegt. Dies hat zur Folge, daß die Substratdiode des Lei
stungs-DMOS-Transistors in den Durchlaßzustand geschaltet
wird. Somit entsteht ein stromführender Weg durch die Last
und die Substratdiode, und der über diesen Weg fließende
Strom, der sich aufgrund des Widerstandes der Last ergibt,
hat üblicherweise den gleichen Wert, wie der Strom, der im
Normalbetrieb fließt. Der Spannungsabfall an der Drain-
Source-Strecke des Leistungs-DMOS-Transistors beträgt in
diesem Betriebszustand etwa 0,7 V. Dieser Wert ist um ein
Vielfaches höher als der Spannungsabfall, der an diesem
Transistor im Normalbetrieb vorhanden ist. Die Verlustlei
stung, die dabei am Leistungs-DMOS-Transistor auftritt,
überschreitet dabei den zulässigen Grenzwert, so daß das
Relais in wenigen Millisekunden zerstört würde, wenn nicht
eine Schutzmaßnahme vorgesehen wäre.
Bei dem bekannten Relais besteht die Schutzmaßnahme darin,
daß zwischen dem Masseanschluß des Relais und dem Gate-
Anschluß des Leistungs-DMOS-Transistors eine Klemmdiode
eingefügt wird. Wenn die Polarität der Versorgungsspannung
aufgrund eines Fehlerzustandes umgekehrt wird, hält diese
Klemmdiode den Gate-Anschluß des Leistungs-DMOS-Transistors
auf einer Spannung, die um 0,7 V niedriger als die Versor
gungsspannung der Energiequelle ist. Der Leistungs-DMOS-
Transistor arbeitet in diesem Fall im Umkehrbetrieb und geht
in den leitenden Zustand über, weil seine effektive Gate-
Source-Spannung nahezu den Wert der Versorgungsspannung hat,
die im Normalfall vorhanden ist. Die Drain-Source-Spannung
ist dabei wesentlich niedriger als 0,7 V, so daß die Verlust
leistung unter den kritischen Wert fällt, bei dem er zerstört
würde.
Der Hauptnachteil der Verwendung dieser Klemmdiode ist jedoch
die Tatsache, daß sie nicht nur im Fehlerfall, also bei
Umkehr der Polarität der Versorgungsspannung wirksam ist,
sondern daß sie auch während des Normalbetriebs die minimale
Ausgangsspannung der Treiberschaltung, mit der der Leistungs-
DMOS-Transistor angesteuert wird, auf einen Wert begrenzt,
der um 0,7 V unter dem Massewert liegt. Das bedeutet, daß
sich die Gate-Spannung des Leistungs-DMOS-Transistors nicht
frei auf beliebige Werte einstellen kann, wenn dies aufgrund
besonderer Betriebsbedingungen erforderlich ist. Eine dieser
Bedingungen ist dann gegeben, wenn die Masseverbindung des
Relais unterbrochen wird, während die Masseverbindung an der
Last noch vorhanden ist. Dieser Fehlerfall kann vor allem bei
der Anwendung in einem Kraftfahrzeug auftreten, wo die Masse
verbindung an der Last beispielsweise über die Fahrzeugkaros
serie sichergestellt wird, während das Relais über eine eigene
Leitung an Masse angeschlossen ist, die unterbrochen werden
kann. Wenn in diesem Fall die Ausgangsspannung der Treiber
schaltung durch die Klemmdiode auf einen Wert nahe der Span
nung am Masseanschluß begrenzt wird, geht der Leistungs-DMOS-
Transistor in den leitenden Zustand über, so daß der Last
strom fließt, weil die von der Treiberschaltung abgegebene
Steuerspannung auf einen hohen Wert ansteigt, obwohl kein
Steuersignal am Steuereingang der Treiberschaltung vorhanden
ist, das diesen Zustand herbeiführen sollte. Dieses Einschal
ten des Laststroms ist ausschließlich eine Folge der Unter
brechung der Masseverbindung am Relais und ist somit äußerst
unerwünscht.
Ein weiterer Nachteil der Klemmung der Spannung am Gate-
Anschluß des Leistungs-DMOS-Transistors ergibt sich beim
Einsetzen des Relais zum Schalten induktiver Lasten. Bekannt
lich kann der Laststrom, der durch eine induktive Last
fließt, nicht augenblicklich abgeschaltet werden, sondern er
versucht auch nachdem Abschalten noch weiter zu fließen.
Moderne Leistungs-DMOS-Transistoren weisen zwar zwischen dem
Source-Anschluß und dem Drain-Anschluß eine Zener-Diode auf,
die nach Überschreiten ihrer Zenerspannung in den leitenden
Zustand übergeht und den nach dem Abschaltvorgang in der
induktiven Last erzeugten Strom abfließen läßt, jedoch kann
diese Zener-Diode nur dann in den leitenden Zustand über
gehen, wenn ihre Zenerspannung auch tatsächlich überschritten
wird. Da die Klemmdiode den Gate-Anschluß des Leistungs-DMOS-
Transistors jedoch, wie oben erwähnt, auf einem Wert hält,
der 0,7 V unter dem Massewert liegt, stellt sich aufgrund der
Gegen-EMK am Transistor eine Gate-Source-Spannung ein, die
den Transistor leitend macht, so daß die für den Durchbruch
der Zener-Diode erforderliche Spannung zwischen dem Source-
Anschluß und dem Drain-Anschluß nicht erreicht wird, und
somit der Strom nur langsam über den im Umkehrbetrieb arbei
tenden Transistor abfließen kann. Ein schnelles Schalten der
induktiven Last wird dadurch unmöglich gemacht.
Auch aus der DE 195 34 159 A1 ist ein elektronisches Relais bekannt, das
gegen eine Polaritätsumkehr der Spannungsversorgung geschützt ist. Dieses
Relais enthält einen Transistor, mit dem im Störfall bei umgekehrter Polarität der
Versorgungsbatterie der Leistungstransistor durch Klemmen seiner Gate-
Spannung im eingeschalteten Zustand gehalten wird, damit an ihm kein
zerstörender Spannungsabfall auftreten kann. Allerdings ist nicht dafür gesorgt,
daß im ungestörten Fall der Schutztransistor sicher gesperrt gehalten wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein in einem Halb
leitersubstrat integriertes elektronisches Relais zu schaf
fen, dessen Leistungstransistor gegen eine Zerstörung bei
Vertauschung der Polarität der Versorgungsspannung geschützt
ist und das auch das schnelle Schalten induktiver Lasten
ermöglicht.
Diese Aufgabe wird bei einem elektronischen Relais der ein
gangs angegebenen Art dadurch gelöst, daß in der Treiber
schaltung ein lateraler Transistor enthalten ist, dessen
Kollektor-Emitter-Strecke zwischen dem Gate-Anschluß des
Leistungs-DMOS-Transistors und dem Masseanschluß des Relais
liegt und dessen Basis-Anschluß mit einem Versorgungsspan
nungsanschluß der Treiberschaltung über eine Schottky-Diode
mit dem Gate-Anschluß des Leistungs-DMOS-Transistors in
Verbindung steht.
Bei einer solchen Ausgestaltung des elektronischen Relais
wird sichergestellt, daß der Gate-Anschluß des Leistungs-
DMOS-Transistors bei einer Vertauschung der Polarität der
Versorgungsspannung auf einen Wert geklemmt wird, der eine
Zerstörung des Transistors verhindert, während die Klemmwir
kung im Normalbetrieb nicht vorhanden ist, so daß der Gate-
Anschluß des Leistungs-DMOS-Transistors beliebige Spannungs
werte annehmen kann. Dies ist eine Voraussetzung für das
schnelle Schalten induktiver Lasten.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nun unter Bezug
nahme auf die Zeichnung näher erläutert, in deren einziger
Figur ein schematisches Schaltbild des erfindungsgemäßen
elektronischen Relais dargestellt ist.
Das in der Zeichnung dargestellte elektronische Relais 10
weist vier Anschlüsse auf, nämlich einen Versorgungsspan
nungsanschluß 12, einen Masseanschluß 14, einen Lastanschluß
16 und einen Steueranschluß 18. Wenn dieses Relais einge
schaltet wird, dann bedeutet dies, daß ein in ihm enthaltener
Leistungs-DMOS-Transistor 20 in den leitenden Zustand ver
setzt wird, so daß über diesen Transistor ein Laststrom zu
der durch einen Widerstand dargestellten Last 22 fließen
kann. Dieser Strom wird im vorliegenden Beispiel von der durch die
Batterie eines Kraftfahrzeugs gebildeten Energiequelle 24
geliefert, die eine mit dem Versorgungsspannungsanschluß 12
des Relais 10 verbundene positive Klemme 26, an der die
Spannung Vbat anliegt, und eine mit dem Masseanschluß 28 der
Last sowie mit dem Masseanschluß 14 des Relais 10 verbundene
Masseklemme 30 aufweist. Das Einschalten des Relais, also das
Versetzen des Leistungs-DMOS-Transistors 20 in den leitenden
Zustand geschieht dadurch, daß eine Treiberschaltung 32 unter
der Steuerung durch ein dem Steueranschluß 18 des Relais 10
zugefuhrtes Steuersignal dem Gate-Anschluß 34 des Leistungs-
DMOS-Transistors 20 eine Spannung zuführt, die höher als die
Spannung Vbat an seinem Drain-Anschluß 36 ist. Diese höhere
Spannung wird in der Treiberschaltung 32 in herkömmlicher
Weise mit Hilfe einer Ladungspumpe 54 erzeugt. Die Treiber
schaltung 32 hat einen Versorgungsspannungsanschluß 38, der
über einen Widerstand 40 mit dem Versorgungsspannungsan
schluß 12 des Relais 10 in Verbindung steht. Durch das Anle
gen der höheren Spannung an den Gate-Anschluß 34 wird er
reicht, daß die Spannung am Source-Anschluß des Leistungs-
DMOS-Transistors 20 den Wert Vbat erreicht, so daß der Tran
sistor voll durchschaltet und der maximale Strom durch die
Last 22 fließen kann. Das Sperren des Relais 10 geschieht
dadurch, daß die Treiberschaltung 32 an den Gate-Anschluß 34
Massepotential anlegt. In der Treiberschaltung 32 ist als
aktives Klemmelement ein lateraler Transistor 50 enthalten,
der im vorliegenden Fall ein pnp-Transistor ist. Wie zu
erkennen ist, liegt die Kollektor-Emitter-Strecke dieses pnp-
Transistors 50 zwischen dem Gate-Anschluß 34 des Leistungs-
DMOS-Transistors 20 und der Masseklemme 14 des Relais 10. Der
Basis-Anschluß ist über einen Widerstand 52 mit dem Versor
gungsspannungsanschluß 38 der Treiberschaltung 32 verbunden.
Außerdem liegt zwischen dem Ausgang der in der Treiberschal
tung 32 vorhandenen Ladungspumpe 54 eine Schottky-Diode 56.
In die Kollektorleitung des pnp-Transistors 50 ist ein Wider
stand 58 eingefügt, der als Gegenkoppelungswiderstand wirkt
und Stromspitzen dämpft, die als Störungen am Ausgang der
Ladungspumpe 54 auftreten können.
Unter normalen Betriebsbedingungen muß die unter Mitwirkung
des pnp-Transistors 50 gebildete Klemmschaltung inaktiv
bleiben, so daß sie den Normalbetrieb der Treiberschaltung
bei der Ansteuerung des Leistungs-DMOS-Transistors 20 nicht
stört. Der pnp-Transistor 50 muß im Normalbetrieb im ge
sperrten Zustand gehalten werden. Um dies zu erreichen, muß
sein Basisanschluß immer an die höchste auf dem Halbleiter-
Chip vorhandene Spannung gelegt werden. Die höchste Spannung
ist dabei entweder die Spannung Vcc, die als Versorgerspan
nung am Anschluß 38 der Treiberschaltung 32 wirkt, oder die
Ausgangsspannung der Ladungspumpe 54, wenn diese durch ein
Steuersignal am Eingang 18 aktiviert wird und den Leistungs-
DMOS-Transistor 20 durchschalten soll. In der Schaltung von
Fig. 1 wird die jeweils höhere Spannung über die Schottky-
Diode 56 oder über den Widerstand 52 an den Basisanschluß des
pnp-Transistors 50 angelegt. Der Widerstand 52 muß groß genug
gewählt werden, um den durch die Ladungspumpe 54 fließenden
Gleichstrom auf einen niedrigen Wert einzustellen, wenn die
Ausgangsspannung der Ladungspumpe 54 über der Spannung Vcc
liegt.
Wenn die Polarität der Versorgungsspannung in einem Fehler
fall umgekehrt wird, liegt die Masseklemme 14 des Relais 10
und somit der Emitter des pnp-Transistors 50 an einer Span
nung, die um etwa 0,7 V kleiner als die Spannung
Vcc ist. Der pnp-Transistor 50 wird dadurch eingeschaltet, so
daß der Gate-Anschluß des Leistungs-DMOS-Transistors 20 auf
die Spannung am Masseanschluß 14 gelegt wird. Die Drain-
Source-Spannung am Leistungs-DMOS-Transistor 20 wird daher
beträchtlich herabgesetzt, so daß die Verlustleistung unter
den Wert sinkt, der zu einer Zerstörung dieses Transistors
führen wurde. Wenn der Leistungs-DMOS-Transistor 20 abge
schaltet werden soll, muß die Spannung an seinem Gate-An
schluß 34 nahe der Spannung gehalten werden, die am Massean
schluß 28 der Last 22 vorhanden ist. Da der Transistor 50 ein
lateraler pnp-Transistor ist, ist keine parasitäre Kollektor-
Substrat-Diode vorhanden. Er bleibt daher im gesperrten
Zustand und beeinflußt die Spannung am Gate-Anschluß des
Leistungs-DMOS-Transistors 20 nicht, auch wenn die Gate-
Spannung niedriger als das Substratpotential der Treiber
schaltung 32 wird.
Wenn mit dem beschriebenen elektronischen Relais 10 eine
induktive Last 22 abgeschaltet werden soll, erzeugt die am
Source-Anschluß des DMOS-Leistungs-Transistors 20 aufgrund
der in der Last erzeugten Gegen-EMK auftretende Spannung
keine Spannungsdifferenz zwischen dem Gate-Anschluß 34 und
dem Source-Anschluß, da der Gate-Anschluß durch die aktive
Klemmschaltung nicht auf einem festen Spannungswert gehalten
wird. Der DMOS-Transistor bleibt daher gesperrt, so daß die
in ihm zwischen dem Source-Anschluß und dem Drain-Anschluß
vorhandene Zener-Diode durchbricht und den von der induktiven
Last nach dem Abschalten erzeugten Strom abfließen läßt. Wie
erwähnt, ist eine solche Zener-Diode in modernen Leistungs-
DMOS-Transistoren vorhanden, was sich nach außen hin so
äußert, als wurden sie im Umkehrbetrieb einen Avalanche-
Durchbruch zeigen. In den Datenblattern solcher moderner
Leistungs-DMOS-Transistoren sind ausdrücklich Angaben über
den Avalanche-Durchbruch im Umkehrbetrieb angegeben.
Es ist somit eine Schaltung für ein elektronisches Relais
beschrieben worden, dessen Bauteile alle in einer integrier
ten Schaltung untergebracht werden können und dessen
Leistungstransistor gegen eine Vertauschung der Versorgungs
spannung geschützt ist. Außerdem ermöglicht dieses Relais ein
schnelles Schalten induktiver Lasten.
Claims (2)
1. In einem Halbleitersubstrat integriertes elektronisches
Relais (10) mit einem Versorgungsspannungsanschluß (12)
und einem Masseanschluß (14), einem Leistungs-DMOS-Tran
sistor (20) zum Ein- und Ausschalten des von der positiven
Klemme (26) zur Masseklemme (30) einer Energiequelle (24)
durch eine Last (22) fließenden Laststroms, mit einer ei
nen Versorgungsspannungsanschluß (38) aufweisenden Trei
berschaltung (32), die abhängig von einem Steuersignal zum
Einschalten des Laststroms an den Gate-Anschluß (34) des
Leistungs-DMOS-Transistors (20) eine Spannung anlegt, die
höher als die Spannung an der positiven Klemme (26) der
Energiequelle (24) ist, dadurch gekennzeichnet, daß in der
Treiberschaltung (32) ein lateraler Transistor (50) ent
halten ist, dessen Kollektor-Emitter-Strecke zwischen dem
Gate-Anschluß (34) des Leistungs-DMOS-Transistors (20) und
dem Masseanschluß (14) des Relais (10) liegt und dessen
Basis-Anschluß mit dem Versorgungsspannungsanschluß (38)
der Treiberschaltung (32) und über eine Schottky-Diode
(56) mit dem Gate-Anschluß (34) des Leistungs-DMOS-
Transistors (20) in Verbindung steht.
2. Elektronisches Relais nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß in die Verbindung zwischen dem Kollektor des
lateralen pnp-Transistors (50) und dem Gate-Anschluß (34) des
Leistungs-DMOS-Transistors (20) ein Gegenkopplungs
widerstand (58) eingefügt ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997156800 DE19756800C2 (de) | 1997-12-19 | 1997-12-19 | In einem Halbleitersubstrat integriertes elektronisches Relais |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997156800 DE19756800C2 (de) | 1997-12-19 | 1997-12-19 | In einem Halbleitersubstrat integriertes elektronisches Relais |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19756800A1 DE19756800A1 (de) | 1999-07-15 |
DE19756800C2 true DE19756800C2 (de) | 2002-08-08 |
Family
ID=7852705
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1997156800 Expired - Fee Related DE19756800C2 (de) | 1997-12-19 | 1997-12-19 | In einem Halbleitersubstrat integriertes elektronisches Relais |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19756800C2 (de) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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DE19534159A1 (de) * | 1995-09-14 | 1997-03-20 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung mit einem Leistungsschalter |
-
1997
- 1997-12-19 DE DE1997156800 patent/DE19756800C2/de not_active Expired - Fee Related
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee | ||
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Effective date: 20140701 |