DE19720226C1 - Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Chipkarten - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von ChipkartenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung
zur Herstellung von Chipkarten.
Bei kontaktlosen Chipkarten sind passive Übertragungs
elemente, insbesondere Spulen oder elektrisch leitende
Schichten für eine kapazitive Daten- und Energieübertragung
im Inneren des Kartenkörpers eingegossen oder einlaminiert.
Um diese Bauteile nun an einen Chip anschließen zu können,
wird in der EP 0 671 705 A2 vorgeschlagen, schon bei der
Fertigung eine Öffnung dort zu lassen, wo sich die Kontakte
befinden. Dadurch wird die Fertigung der Kartenkörper
wesentlich erschwert. Darüber hinaus ist die weitere Hand
habung (Verpackung, Versand usw. ) derartig vorgefertigter
Kartenkörper zu Kunden sehr schwierig und kann die Karten
körper unbrauchbar machen, wenn die Kunden individuelle Chips
einsetzen wollen.
Aus der DE 195 00 925 A1 ist eine Chipkarte dieser Art be
kannt, bei welcher ein getrenntes, also zusätzliches Über
tragungsmodul eingesetzt wird, um die elektrisch leitende
Verbindung zwischen dem im Kartenkörper eingebetteten Bauteil
und dem Chip herzustellen. Auch diese Anordnung bzw. dieses
Verfahren sind aufwendig.
Aus der DE 42 41 482 A1 sind ein Verfahren und eine Einrich
tung zur Herstellung von IC-Karten bekannt. Dabei wird in
eine aus Kunststoff bestehende Karte zunächst eine Mulde
eingebracht, worin ein IC-Baustein mit außen liegenden Kon
taktflächen vorgesehen ist. Zur Herstellung der Mulde wird
zunächst ein Sackloch in die Karte vorzugsweise durch Fräsen
eingebracht. Anschließend wird die Mulde mit Hilfe eines Prä
gestempels ausgeformt, wobei das vom Prägestempel verdrängte
Material in das Sackloch ausweicht. Das Ausformen der Mulde
erfolgt vorzugsweise durch Warmprägen.
Aus der US 5 563 444 ist ein transportierbarer Gegenstand
bekannt, der in einem Kunststoffträger einen Hohlraum zur
Aufnahme einer Mikroschaltung aufweist. Die Mikroschaltung
enthält einen leitenden Chip mit voneinander elektrisch iso
lierten Zonen. Die Grundfläche des Hohlraums hat einen Umriß,
der aus einer Reihe von Bögen gebildet ist, die im Verhältnis
zum Chipdurchmesser einen relativ kleinen Radius haben. Die
seitlichen Begrenzungen des Hohlraums sind um etwa 10° nach
innen geneigt. Durch diese geometrische Anordnung kann eine
Mikroschaltung mit verhältnismäßig wenig Klebstoff in dem
Hohlraum befestigt werden.
Aus der WO 97/05571 A1 ist ein Datenträger mit einem Modul,
das ein Bauteil aufweist, und eine Spule bekannt. Weiterhin
ist darin ein Verfahren zum Herstellen eines solchen Daten
trägers beschrieben. Die Spulenwindungen der Spule sind dabei
so angeordnet, daß sie zumindest in ihrem zu dem Bauteil be
nachbarten Bereich in einem außerhalb des Bauteilniveauberei
ches liegenden Windungsniveaubereich liegen. Zwei Anschluß
kontakte des Bauteils sind so ausgebildet, daß sie sich zu
zwei Spulenanschlußkontakten hin erstrecken, die in dem Win
dungsniveaubereich liegen. Eine unmittelbare Berührung der
Spulenanschlußkontakte mit den Anschlußkontakten des Bauele
ments ist jedoch nicht vorgesehen. Die elektrische Verbindung
zwischen den Spulenanschlußkontakten und den Anschlußkontak
ten des Bauelements erfolgt durch einen elektrisch leitenden
Klebstoff.
Auch die Vorrichtungen bzw. Verfahren gemäß den drei letztge
nannten Druckschriften sind nicht geeignet, eine sichere Bau
teil-Kontaktierung mit einfachen Mitteln zu ermöglichen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Weg auf
zuzeigen, wie auf einfache Weise eine sichere Bauteil-
Kontaktierung erzielbar ist.
Diese Aufgabe wird verfahrensmäßig durch den Gegenstand des
Anspruches 1 und vorrichtungsmäßig durch den Gegenstand des
Anspruches 6 gelöst.
Ein wesentlicher Punkt der Erfindung liegt darin, daß man
eine echte Regelung des Einsenkvorgangs dadurch durchführt,
daß man das zu kontaktierende Bauteil selbst bzw. dessen
Position mit in den Bearbeitungsvorgang bzw. in die Regelung
einbezieht. Es wird also nicht mehr davon ausgegangen, daß
die zu kontaktierende Schicht in einer ganz bestimmten Tiefe
unter der Kartenoberfläche liegt - was durch Fertigungs
toleranzen sehr unterschiedlich sein kann -, es wird vielmehr
davon ausgegangen, daß man die Entfernung zwischen dem Ein
senkwerkzeug und der zu kontaktierenden Schicht zumindest so
messen kann, daß der direkte Kontakt zwischen dem Einsenk
werkzeug und dem Kontaktabschnitt feststellbar ist.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird die
elektrische Impedanz zwischen dem elektrischen Bauteil und
mindestens einer mit dem Einsenkwerkzeug verbundenen Meß
elektrode gemessen. Hierfür eignet sich insbesondere eine
Kapazitätsmessung (oder auch eine Verlustfaktor-Messung), da
zu Beginn des Einsenkvorganges das im Kartenkörper einge
bettete Bauteil zunächst "isoliert" ist. Dann, wenn das mit
der Meßelektrode elektrisch verbundene Einsenkwerkzeug in
elektrisch leitende Verbindung zum Kontaktabschnitt kommt,
wird diese Impedanz kurzgeschlossen, erfährt also eine extrem
starke Änderung.
Diese Kapazitäts- oder Verlustfaktormessung kann durch die
Feststellung einer Resonanzfrequenz (und/oder einer Dämpfung)
eines Schwingkreises erfolgen, in welchen die Meßelektrode
und das eingebettete Bauteil sowie das dazwischenliegende
Kartenmaterial mit einbezogen sind. In diesem Fall regt man
den Schwingkreis durch kurze Impulse (Blips) an und be
obachtet den Abklingvorgang der Schwingung hinsichtlich der
Nulldurchgänge, um die Resonanzfrequenz bzw. die Dämpfung des
Schwingkreises festzustellen. Dann, wenn das Einsenkwerkzeug
die Impedanz kurzschließt, erfährt dieser Ausschwingvorgang
eine extrem starke Änderung.
Um eine möglichst hohe Arbeitsgeschwindigkeit zu erzielen und
dennoch nicht aufgrund von Vorschub-Totzeiten die oftmals
sehr dünnen (15 µm dicken) Kontaktschichten zu zerstören bzw.
zu durchbrechen, ist es von Vorteil, wenn man einen wesent
lichen Teil der einzuarbeitenden Ausnehmung im Steuerungs
betrieb durchführt, bei welchem das Einsenkwerkzeug aufgrund
gespeicherter Steuerdaten geführt wird. Diese sind dann so
den zu erwartenden Toleranzen angepaßt, daß die Kontakte
sicher noch nicht vom Einsenkwerkzeug berührt werden, solange
im Steuerbetrieb gearbeitet wird. In diesem Betriebsmodus
wird das Einsenkwerkzeug mit einer erhöhten Vorschubge
schwindigkeit betrieben. Sobald die voreingestellte Tiefen
grenze erreicht ist, wird auf eine niedrigere Vorschubge
schwindigkeit umgeschaltet, um den Vorschub dann anhalten zu
können, wenn das Einsenkwerkzeug einen (elektrischen) Kontakt
mit dem Kontaktabschnitt des im Kartenkörper eingebetteten
Bauteils hergestellt hat.
Vorzugsweise wird die Impedanz zwischen dem eingebetteten
Bauteil und einer Halteeinrichtung gemessen, auf welcher der
Kartenkörper mit seiner, der Oberfläche gegenüberliegenden
Unterfläche aufliegt. Dann, wenn das Einsenkwerkzeug einen
elektrischen Kontakt zum Kontaktabschnitt des eingebetteten
Bauteils herstellt und dieses mit der Meßelektrode elektrisch
verbindet, steigt die Kapazität zwischen der Halteeinrichtung
und der Meßelektrode.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Ausführungs
beispielen erläutert, die unter Bezug auf die beigefügten
Abbildung beschrieben werden. Hierbei zeigen
Fig. 1: eine Draufsicht auf eine in ihrer Mittelebene
geschnittene Karte,
Fig. 2: einen Schnitt durch eine vollständige Karte in einer
Position, wie sie mit der Linie II-II in Fig. 1 angedeutet
ist,
Fig. 3: einen Längsschnitt entsprechend dem nach Fig. 2
durch einen Kartenkörper sowie eine Bearbeitungsvorrichtung,
in welche der Kartenkörper eingesetzt ist,
Fig. 4: ein elektrisches Ersatzschaltbild der Meßanordnung
unter Einbeziehung der Vorrichtung nach Fig. 3,
Fig. 5: eine zweite Ausführungsform der Erfindung in einer
Ansicht ähnlich der nach Fig. 3 jedoch mit einer angepaßten
Meßelektrode,
Fig. 6: ein elektrisches Ersatzschaltbild zur Ausführungs
form der Erfindung nach Fig. 5,
Fig. 7: eine weitere Ausführungsform der Erfindung mit einer
Darstellung ähnlich der nach den Fig. 3 und 5, und
Fig. 8: ein elektrisches Ersatzschaltbild der Anordnung nach
Fig. 7.
In der nachfolgenden Darstellung werden für gleiche und
gleich wirkende Teile dieselben Bezugsziffern verwendet.
In den Fig. 1 und 2 ist sehr schematisiert ein Karten
körper 10 gezeigt, in welchem ein Bauteil 11, hier eine Spule
bestehend aus einer Leiterbahn 14 und einem ersten und einem
zweiten Kontaktabschnitt 12 und 13 eingebettet ist. Bei einem
so hergestellten Kartenkörper müssen nun die Kontaktab
schnitte 12 und 13 freigelegt werden und zwar derart, daß die
Metallschicht (meist Kupfer), die sehr dünn ist, nicht durch
brochen wird.
Hierzu wird der Kartenkörper 10, wie schematisiert in den
Fig. 3, 5 und 7 gezeigt, auf eine Halteeinrichtung 20
aufgelegt, die den Kartenkörper 10 mit seiner Oberseite, in
welche Ausnehmungen 15 eingebracht werden sollen, gegen eine
Andruckplatte 30 drückt und in dieser Position hält. Dadurch
ist der Kartenkörper während der Bearbeitung vollständig
fixiert.
Die Andruckplatte 30 weist in diesem Beispiel eine erste und
eine zweite Bohrung 31 und 32 auf, die so in der Andruckplat
te 30 angebracht sind, daß sie über den Kontaktabschnitten 12
und 13 angeordnet sind. Sie sind so dimensioniert, daß der
Fräskopf 28 eines Fräswerkzeugs 29 durch die Bohrungen 31, 32
hindurchgeführt und in das Material des Kartenkörpers 10
hineingefahren werden kann.
Die Halteeinrichtung 20 umfaßt nun einen Stempel 21, der auf
und ab bewegbar ist, um einen Kartenkörper 10 einzuspannen
und freizugeben. Im Stempel 21 ist eine Elektrode 22 über
einen Isolator 23 isoliert gehalten, auf welcher der Karten
körper 10 aufliegt. Die Elektrode 22 ist mit einem Anschluß
kontakt A verbunden. Die Andruckplatte 30 wiederum ist mit
Masse verbunden, wie auch das Fräswerkzeug 29 mitsamt dem
Fräzkopf 28.
Nachfolgend wird anhand von Fig. 4 eine mögliche Meßein
richtung erläutert, mittels welcher feststellbar ist, wenn
der Fräskopf 28 einen elektrischen Kontakt zum Bauteil 11
bzw. zu dessen ersten Kontaktabschnitt 13 herstellt.
Die in Fig. 4 gezeigte Meßanorndung ist (natürlich auf den
ersten Blick) als Wheatstone-Brücke zu erkennen, deren eines
Paar von Zweigen von ohmschen Widerständen R1, R2 gebildet
wird und von deren anderen Zweigen der eine (untere) Zweig
von einem Meßkondensator C1 gebildet ist. Der andere
Kondensator ist einerseits durch die Fläche der Elektrode 22
gebildet, andererseits durch die gegenüberliegende Fläche der
Andruckplatte 30.
Das Bauteil 11 bzw. seine Kontaktabschnitte 12, 13 sowie
seine Leiterbahn 14 bilden eine weitere Kondensatorfläche,
die der Elektrode 22 gegenüberliegt. Zunächst, also wenn das
Fräswerkzeug 29 bzw. der Fräskopf 28 den Kontaktabschnitt 13
noch nicht berührt, während die Ausnehmung 15 geschaffen
wird, hängt das elektrische Bauteil (die Kontaktabschnitte
12, 13 und die Leiterbahn 14) sozusagen in der Luft. Der in
Fig. 4 gezeigte Schalter ist offen. Dann, wenn der Fräskopf
28 einen elektrischen Kontakt zum Kontaktabschnitt 13 her
stellt, wird das Bauteil 11 auf Masse gelegt, so daß die
Flächenabschnitte - gebildet aus den Kontaktabschnitten 12
und 13 sowie der Leiterbahn 14 - elektrisch parallel ge
schaltet werden zur Andruckplatte 30. Dadurch steigt die
Kapazität in der Wheatstone-Brücke W, so daß bei einer ge
eigneten vorherigen Abstimmung der Brücke eine von einem
Meßgenerator G abgegebene Wechselspannung nun nicht mehr
kompensiert sondern über einen Meßgleichrichter auf einen
Differenzverstärker A gegeben und von diesem als verstärktes
Signal einer Steuereinrichtung S zugeführt werden kann,
welche einen (nicht gezeigten) Vorschubmechanismus für das
Fräswerkzeug 29 anhält und den Einsenkvorgang beendet.
Die in den Fig. 5 und 6 gezeigte Variante der Erfindung
unterscheidet sich von der nach den Fig. 3 und 4 lediglich
dadurch, daß die Elektrode 22 nicht wie in Fig. 3 gezeigt
ganzflächig sondern der Form des Bauteils 11 bzw. dessen
Leiterbahn 14 angepaßt ist. Dadurch wird die Kapazität
zwischen der Andruckplatte 30 und der Elektrode 22 ver
ringert, nicht aber zwischen der Elektrode 22 und dem Bauteil
11 bzw. der Leiterbahn 14. Dies wiederum führt dazu, daß die
Kapazitätsänderung bei Kontakt zwischen dem Fräskopf 28 und
dem zweiten Kontaktabschnitt 13 größer ist gegenüber der
Kapazitätsänderung bei der Ausführungsform der Erfindung nach
Fig. 3.
Die in den Fig. 7 und 8 gezeigte Ausführungsform der
Erfindung unterscheidet sich von der nach den Fig. 5 und 6
dadurch, daß kein fester Meßkondensator C1 vorgesehen ist.
Vielmehr wird der zweite Abschnitt des kapazitiven Brücken
zweiges durch einen Kondensator gebildet, dessen eine Fläche
von der Andruckplatte 30 und dessen andere Fläche durch eine
Elektrode 22' gebildet ist, die ebenso wie die Elektrode 22
über einen Isolator 23' im Stempel 21 gehalten ist. Diese
Elektrode 22' ist nun an einer Stelle des Stempels 21 (zum
Beispiel in seinem Zentrum) angeordnet, an welcher nicht die
Leiterbahn 14 sondern ausschließlich die Andruckplatte 30
angeordnet ist. Dadurch gelingt es, die Gesamtanordnung (bei
einer entsprechenden Abstimmung der Meßwiderstände R1 und R2)
entsprechend der jeweiligen Kartendicke sozusagen selbst
kalibrierend aufzubauen.
Selbstverständlich ist es auch möglich, andere Meßein
richtungen bzw. Meßverfahren zu verwenden bzw. die hier
erläuterten Möglichkeiten miteinander zu kombinieren. Wichtig
ist, daß der elektrische Kontakt zwischen dem Fräskopf 28 und
dem Bauteil 11 (bzw. einem Kontaktabschnitt 12, 13) dazu
verwendet wird, den Einsenkvorgang zu beenden.
Insbesondere sei darauf hingewiesen, daß die Elektroden 22
natürlich nicht nur im Stempel 21, sondern ohne weiteres auch
in der Andruckplatte 30 vorgesehen sein können.
10
Kartenkörper
11
Bauteil
12
erster Kontaktabschnitt
13
zweiter Kontaktabschnitt
14
Leiterbahn
15
Ausnehmung
20
Halteeinrichtung
21
Stempel
22
Elektrode
23
Isolator
28
Fräskopf
29
Fräswerkzeug
30
Andruckplatte
31
erste Bohrung
32
zweite Bohrung
Claims (8)
1. Verfahren zur Herstellung von Chipkarten, bei denen eine
elektrisch leitende Verbindung zwischen einem Kontaktab
schnitt (12, 13) eines ersten, in einem Kartenkörper
(10) eingebetteten Bauteils (11), insbesondere einer An
tenneneinrichtung (14) und einem Kontakt eines zweiten,
in oder auf dem Kartenkörper (10) ein- oder aufzusetzen
den Bauteils geschaffen wird, wobei in eine Oberfläche
des Kartenkörpers mittels eines Einsenkwerkzeugs (28,
29) eine Ausnehmung (15) bis zu einer Tiefe eingesenkt
wird, in der sich der Kontaktabschnitt (12, 13) befin
det, wobei während des Einsenkens eine mindestens zwei
stufige Messung eines Abstands zwischen dem Kontakt
abschnitt (12, 13) und dem Einsenkwerkzeug durchgeführt
und der Einsenkvorgang dann abgebrochen wird, wenn die
Messung im wesentlichen eine Berührung des Kontaktab
schnitts durch das Einsenkwerkzeug ergibt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die elektrische Impedanz zwischen dem eingebetteten
Bauteil und mindestens einer mit dem Einsenkwerkzeug
verbundenen Meßelektrode (22) und/oder die Impedanz zwi
schen einer Meßelektrode (22) und einer Gegenelektrode
gemessen wird, zu welcher das eingebettete Bauteil über
das Einsenkwerkzeug elektrisch parallel schaltbar ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Messung durch die Feststellung einer Resonanz
frequenz und/oder Dämpfung eines Schwingkreises erfolgt,
in welchen die Meßelektrode und das Bauteil einbezogen
sind.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, daß das Einsenkwerkzeug ent
sprechend voreingestellten Steuerwerten nahe der Ober
fläche mit höherer Geschwindigkeit abgesenkt wird als in
tieferen Bereichen des Kartenkörpers.
5. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Impedanz zwischen dem eingebetteten Bauteil und
einer Halteeinrichtung gemessen wird, auf welcher der
Kartenkörper mit seiner, der Oberfläche gegenüber
liegenden Unterfläche aufliegt.
6. Vorrichtung zur Herstellung von Chipkarten, bei denen
eine elektrisch leitende Verbindung zwischen einem
Kontaktabschnitt (12, 13) eines ersten, in einem Karten
körper (10) eingebetteten Bauteils (11), insbesondere
einer Antenneneinrichtung (14) und einem Kontakt eines
zweiten, in oder auf den Kartenkörper ein- oder aufzu
setzenden Bauteil geschaffen wird, umfassend ein Ein
senkwerkzeug (28, 29), insbesondere einen Fräser zum
Einsenken einer Ausnehmung (15) in eine Oberfläche des
Kartenkörpers (10) bis zu einer Tiefe, in der sich der
Kontaktabschnitt (12, 13) befindet, und eine Meß
vorrichtung, die während des Einsenkens den Abstand
zwischen dem Einsenkwerkzeug (28, 29) und dem Kontakt
abschnitt (12, 13) in mindestens zwei Stufen mißt und
den Einsenkvorgang dann abbricht, wenn die Messung eine
Berührung des Kontaktabschnitts (12, 13) durch das Ein
senkwerkzeug (28, 29) ergibt.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
die Meßvorrichtung zur Durchführung einer Impedanz
messung ausgebildet ist.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 oder 7, ge
kennzeichnet durch eine Haltevorrichtung (20) zum
Fixieren des Kartenkörpers (10) vorzugsweise mit seiner,
der Oberfläche gegenüberliegenden Unterfläche, die
mindestens eine, das eingebettete Bauteil (12-14)
überdeckende Meßelektrode (22) aufweist, die elektrisch
isoliert derart angeordnet ist, daß die Impedanz/Ka
pazität zwischen der Meßelektrode (22) und dem einge
betteten Bauteil (12-14) meßbar ist.
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