DE19716468A1 - Einrichtung zur Oberflächeninspektion und Verwendung einer solchen Einrichtung - Google Patents
Einrichtung zur Oberflächeninspektion und Verwendung einer solchen EinrichtungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1
und deren Verwendung, insbesondere in der Holzindustrie.
Eine solche Einrichtung ist aus der EP-A 0 634 648 zur Inspektion von Prüflingen
in Form von gehobelten Profilbrettern bekannt, die mit der außerordentlich hohen
Geschwindigkeit, mit der sie eine Hobelmaschine in Längsrichtung verlassen, eine
Kamera passieren. Sie erfaßt auf der ihr zugewandten Oberfläche des Brettes längs
eines quer zur Vorschubrichtung ausgeleuchteten Streifens Helligkeitsunterschiede
aufgrund von Fehlstellen im Holz (wie Harzgallen, Astlöcher, Rindeneinschlüsse,
Hobelbrand oder Kantenausbrüche) und deren Verteilung (Stückzahl pro Län
geneinheit) und liefert eine entsprechende Folge von Videosignalen. Diese werden
zur Qualitätsklassifikation und Gütesortierung einer Mustererkennung mittels spe
zieller schneller Rechnerarchitekturen unterzogen, wie sie etwa in ELEKTRONIK
Heft 25 (Seiten 34/35) vom 28.12.1989 oder in der EP-A 0 670 559 näher be
schrieben sind.
Nicht zur Oberflächen-Bildverarbeitung, sondern zur optronischen Bestimmung
der Breite eines sägerohen Brettes als dem Prüfling, ist es aus der DE-A 42 14 872
bekannt, dessen Waldkante aus zwei unterschiedlichen Richtungen anzustrahlen,
um durch Kernschattenbildung den Kantenkontrast gegenüber der Umgebung zu
verbessern.
Wenn es darum geht, auch noch eine weitere der Oberflächen eines in Längsrich
tung transportierten Prüflings für die Bildverarbeitung optronisch zu erfassen -
etwa auch die mit Nut bzw. die mit Feder ausgestattete Schmalseite eines Paneeles,
auch die Seitenfläche eines Balkens oder auch die Unterfläche einer Kunststoff-
oder Druckbahn -, dann ist es üblich, für diese weitere Blickrichtung eine weitere
Kamera mit Beleuchtungseinrichtung einzusetzen. Das hat aber nicht nur den
Nachteil, daß der apparative Aufwand gemäß der Anzahl der inspizierten Oberflä
chen vervielfacht wird, sondern hinzu kommt auch noch ein ganz beträchtlicher
datenverarbeitungstechnischer Mehraufwand für die schnelle synchronisierte (also
positionsgerechte) Zusammenführung und Weiterverarbeitung der einzelnen sehr
rasch und in ungeheurem Umfang anfallenden Videosignale von den verschiedenen
autark arbeitenden Kameras.
In Erkenntnis dieser Gegebenheiten liegt vorliegender Erfindung die Aufgabe zu
grunde, eine Einrichtung gattungsgemäßer Art dahingehend weiterzubilden, daß sie
ohne großen apparativen und signalverarbeitungstechnischen Mehraufwand auch
die Möglichkeit eröffnet, wenigstens auch noch eine zweite Fläche des Prüflings zu
erfassen.
Jene Aufgabe ist erfindungsgemäß im wesentlichen dadurch gelöst, daß die Ein
richtung auch nach dem Kennzeichnungsteil des Hauptanspruches ausgestaltet ist.
Danach wird das Blickfeld der Kamera dafür ausgelegt, seitlich über die ohnehin
erfaßte Oberfläche hinaus auch noch wenigstens eine neben dem Prüfling installier
te Strahlen-Umlenkeinrichtung zu überdecken, um darüber auch noch z. B. die be
nachbarte Seitenwand des Prüflings zu erfassen. Dafür genügt ein Reflektor, der
nicht breiter als das (durch Sensoranordnung und Projektionsoptik bestimmte)
Blickfeld der Kamera ist, also im Falle der bevorzugt eingesetzten Zeilenkamera
nur wenige Millimeter mißt. Es können in der Aufnahmekamera aber auch mehrere
Zeilen wirksam sein, um mehrere einander dicht benachbarte schmale Streifen qua
si-gleichzeitig zu erfassen, was im Rahmen vorliegender Erfindung dem Einsatz
einer Flächenkamera entspricht. Bei hinreichender Distanz der Umlenkeinrichtung
zur seitlichen Prüflings-Berandung kann die zusätzlich inspizierte Fläche durch den
lichten Abstand zwischen dem Prüfling und der Umlenkeinrichtung hindurch ge
sondert ausgeleuchtet werden.
Die Umlenkeinrichtung kann für einfache Reflexion ausgelegt sein, aber auch da
für, seitliche Randstrahlen des Kamera-Blickfeldes vor dem Prüfling in gegenein
ander geneigte Teilstrahlen aufzuspalten, um diese dann insbesondere so auf den
Prüfling zu richten, daß die Kante zwischen zwei zusammenstoßenden Außenflä
chen des Prüflings erfaßt werden. Mittels geneigt zur Orthogonalen auf die Achse
der zentralen Blickrichtung (nämlich der Kamera direkt auf die ihr zugewandte
Prüflings-Oberfläche) orientierter Strahlenrichtungen können mit der einen statio
när verbleibenden Kamera auch wahlweise die der ihr zugewandten Oberfläche
gegenüberliegende Rückfläche des Prüflings unter relativ flachem Blickeinfallswin
kel bzw. Unebenheiten auf der zur Kamera gelegenen Oberfläche selbst über pi
xelweise Verrechnung der beiden einander aus unterschiedlichen Richtungen über
lappenden Ansichten dreidimensional erfaßt werden.
So ist es mit einer einzigen Kamera möglich, gegeneinander abgewinkelt verlaufen
de und sogar einander gegenüberliegende Oberflächen des Prüflings gleichzeitig zu
inspizieren. Da diese Zusatzinformationen immer in strahlengeometrisch definier
ten, vom zentralen Bild seitlich abgesetzten Randbereichen des von der Kamera
gerade erfaßten Blickfeldes aufgereiht sind, sind sie in der Videosignalfolge
zwangsläufig mit den in direkter Ansicht erfaßten zentralen Bildinformationen syn
chronisiert und deshalb problemlos und ohne großen datenverarbeitungstechni
schen Zusatzaufwand positionsgerecht aufzubereiten.
Weitere Vorteile und zusätzliche Weiterbildungen der erfindungsgemäßen Lösung
und ihres Einsatzes ergeben sich aus den weiteren Ansprüchen und aus nachste
hender Beschreibung von in der Zeichnung unter Beschränkung auf das Wesentli
che stark abstrahiert und nur annähernd maßstabsgerecht skizzierten bevorzugten
Realisierungsbeispielen. In der Zeichnung zeigt:
Fig. 1 eine erfindungsgemäße Einrichtung zur gleichzeitigen Inspektion dreier
orthogonal zueinander orientierter Prüflings-Oberflächen mittels einer ein
zigen Kamera im Aufriß,
Fig. 2 in Draufsicht die Zusammensetzung des von der Kamera entsprechend
Fig. 1 erfaßten Bildstreifens,
Fig. 3 eine Einrichtung entsprechend Fig. 1 und Fig. 2, aber mit zusätzlicher seitli
cher Beleuchtung, in Draufsicht,
Fig. 4 in Abwandlung der Gegebenheiten nach Fig. 1 bis Fig. 3 die Erfassung der
Kante zwischen zwei aneinandergrenzenden Flächen,
Fig. 5 mit einer Anordnung nach Fig. 4 eine Rundum-Inspektion des Prüflings
mittels einer einzigen Kamera und
Fig. 6 eine dreidimensionale Erfassung von Oberflächen-Unebenheiten mit einer
Anordnung nach Fig. 4 bzw. Fig. 5.
Beim in Fig. 1 skizzierten Prüfling 11 kann es sich um einen gestreckten prismati
schen Körper von im wesentlichen rechteckigem Querschnitt handeln, dann vor
zugsweise um einen sägerohen oder gehobelten Holzbalken, aber ebenso um einen
kantigen oder runden Stab aus beliebigem Material oder um eine dünne (praktisch
nur Ober- und Unterfläche aber keine Seitenflächen aufweisende) Materialbahn.
Der Prüflings-Oberfläche 12 gegenüber ist für die Inspektion dieser Oberfläche 12
eine vorzugsweise im sichtbaren Spektralbereich arbeitende, wenigstens einzeilig
aufnehmende Kamera 13 angeordnet. Die Länge von deren dann entsprechend
streifenförmigen Blickfeld 14, das sich gemäß den strahlengeometrischen Gesetz
mäßigkeiten nach Maßgabe der Kamera-Projektionsoptik (nicht gesondert heraus
gezeichnet) aus der Berandung 16r der elementaren Kamera-Blickrichtungen 16
ergibt, ist nun erfindungsgemäß bewußt nicht auf die Breite der, der Kamera 13
zugewandten, Oberfläche 12 beschränkt, sondern sie erstreckt sich quer zur Prüf
lings-Transportrichtung seitlich darüber hinaus, also im Falle eines unrunden, pris
matischen Querschnitts über wenigstens eine der die Oberfläche 12 berandenden
Kanten 15 hinweg. Dadurch trifft eine der seitlichen Sichtlinien 16s auf eine neben
dem Prüfling 11 angeordnete Umlenkeinrichtung 17 und über deren Reflektor auf
eine geneigt gegenüber der von der Kamera 13 in direkter Sicht erfaßten Oberflä
che 12 orientierte Seitenfläche 18 des Prüflings 11. Das Blickfeld 14 umfaßt also
im Falle einer quer zur Längserstreckung des Prüflings 11 orientierten Zeilenkame
ra 13 gemäß Fig. 2 in der Mitte einen vom zentralen Blickfeld 16z der Kamera 13,
in direkter Sicht, unmittelbar auf der Oberfläche 12 erfaßten Streifen 19.12 und am
Rande einen nicht unbedingt unmittelbar daran anschließenden Steifen 19.18 von
der Seitenfläche 18 des Prüflings 11, welche vom Blickrichtungsrand 16s über eine
Spiegelumlenkung erfaßt wird.
Die Abbildungen zweier quer zur Prüflings-Längserstreckung erfaßten Oberflä
chenstreifen 19 würden lückenlos aufeinander folgen, wenn die dafür beiderseits
des Prüflings 11 vorgesehenen Umlenkeinrichtungen 17 - insbesondere schmale
Spiegel als reflektive Umlenkeinrichtungen 17 beim Einsatz einer Zeilen-Kamera
13 - unmittelbar an den Seitenflächen 18 des Prüflings 11 angeordnet wären. Es ist
aber zweckmäßiger, einen gewissen seitlichen Abstand freizuhalten, um die Um
lenkeinrichtungen 17 nicht durch Schwingungsausschläge zu gefährden, die bei
sehr raschem Vorschub sehr langer Prüflinge 11 unvermeidbar auftreten. Die
schmalen Umlenkeinrichtungen 17 beiderseits des Prüflings 11 sind deshalb (in
und gegen Transportrichtung des Prüflings 11) gemäß Fig. 3 noch durch in Rich
tung auf den Prüfling 11 vorragende widerstandsfähige Schutzwände 20 abge
schottet, die z. B. als massive Metallkörper maschinenfest verankert sein können.
Wie aus Fig. 3 ersichtlich, eröffnet der lichte Abstand zwischen einer Seitenfläche
18 und der ihr benachbart zugeordneten Umlenkeinrichtung 17 darüber hinaus die
Möglichkeit, auch den seitlichen Teil des (in Fig. 2 in Abwicklung dargestellten)
Oberflächen-Bildstreifens 19 im reflektiv umgelenkten Blickfeld 14 aus einer auf
das Empfindlichkeitsspektrum der Kamera 13 optimierten Strahlungsquelle 21
streifenförmig auszuleuchten. Die Lücken zwischen den aufgenommenen Streifen
19.12-19.18 stören aber nicht, fördern sogar die Auswertung bei der seriellen Pi
xelzuordnung zu den gegeneinander abgewinkelt verlaufenden Flächen 12.18.
Würde man die seitlich vom Prüfling 11 stehende reflektive Umlenkeinrichtung 17
(gemäß Fig. 1 bis Fig. 3) in oder entgegen der Kamera-Blickrichtung 16z relativ
zum Prüfling 11 weit genug hinter oder vor den Prüfling 11 verlagern und die
Spiegelfläche der Umlenkeinrichtung 17 entsprechend verschwenken, dann würden
die beiden seitlichen Teile des Streifens 19 über die seitliche Blickrich
tungs-Berandung 16r sogar Bilder von der Rückfläche 22 bzw. von der Oberfläche
12 des Prüflings beinhalten können. Die sind aus strahlengeometrischen Gründen
allerdings unter sehr flacher Blickrichtung gegen die jeweilige Fläche 22/12 aufge
nommen, weshalb sich damit zwar Oberflächen-Unebenheiten 27 (Fig. 6) infolge
ausgeprägter Schattenwürfe erfassen lassen, aber sich daraus u. U. keine besonders
gut auswertbare Abbildung des in der Fläche 22 bzw. 12 befindlichen Musters er
gibt. Außerdem wird infolge der Distanz zwischen Umlenkeinrichtung 17 und Sei
tenfläche 18 die Übergangs-Kante 15 zwischen den Flächen 12-18 selbst im Blick
feld 14 nicht zur Abbildung im Streifen 19 von der Kamera 13 erfaßt.
Eine günstigere Strahlführung mit zusätzlicher Kantenerfassung in dem weiterhin
gelückten Erfassungsstreifen 19 wird jedoch durch den Einsatz einer kombiniert
reflektiven und transmissiven Umlenkeinrichtung 17 gemäß etwa Fig. 4 für den
Blickrichtungsrand 16r ermöglicht. Danach ist ein lichtoptischer Brechungskörper
23 dicht vor der Reflektorfläche der Umlenkeinrichtung 17 angeordnet. Wenn der
wie dargestellt als (entsprechend der schmalen Spiegelfläche) dünne, dreieckförmig
berandete Scheibe aus optischem Glas ausgestaltet ist, das ein optisch dichteres
Medium als die Umgebung in Blickrichtung 16 vor der Kamera 13 aufweist, dann
erfährt der randseitige Strahlengang 16r nach den Gesetzmäßigkeiten der geome
trischen Optik eine Aufspaltung 16t-16s. Die resultiert, wie in Fig. 4 dargestellt,
daraus, daß zusätzlich zur Reflexion an der Spiegelfläche der Umlenkeinrichtung
17 jeweils Brechung sowohl an der Eintrittsseite 24 wie an der Austrittsseite 25
auftritt, und außerdem die äußerste Berandung 16t der seitlichen Sichtlinie 16r
nach Spiegelung am Reflektor zusätzlich eine Totalreflexion am Innern der Ein
trittsseite 24 erfährt. Die Folge ist, daß der seitliche Bereich 16r der Blickrichtung
16t in zwei zueinander gegensinnig geneigte Einfallsrichtungen 26 aufgespalten
wird, die sich bei einer geometrischen Konstellation gemäß Fig. 4 in der Umgebung
der benachbarten Kante 15 überlappen und deren Verlauf sich über die Kontur
sowie den Brechungsindex der Glasscheibe 23 konstruktiv in relativ weiten Gren
zen beeinflussen läßt. Somit beinhaltet der von dem seitlichen Anteil 16r der Blick
richtung 16 erzeugte seitliche Streifenteil 19.15 (Fig. 2) nun das Bild der Kante 15
selbst und der ihr beiderseits benachbarten Seiten (18 und 12 in Fig. 4). Auf diese
Weise kann die Musterverarbeitung für das von der Kamera 13 gelieferte Videosi
gnal nun auch eine Kantenanalyse (etwa hinsichtlich Ausbrüchen) beinhalten. Bei
einer symmetrischen Anordnung der Umlenkeinrichtung 17 gemäß Fig. 4 liegen die
beiden einander gegenüberliegenden Kanten 15/15 im Blickfeld 14, was aufgrund
der für den Aufbau bekannten strahlengeometrischen Gegebenheiten in der vom
Blickfeld 14 erfaßten Abbildung auch noch eine Auswertung des Videosignales zur
Bestimmung der Breite des Prüflings 11 eröffnet.
Durch die Wahl der materialabhängigen optischen Brechungszahl des Brechungs
körpers 23 und dessen Geometrie sowie durch die Lage der damit bestückten Um
lenkeinrichtung 17 relativ zur Kamera 13 und zum Prüfling 11, insbesondere durch
Verlagerung in und gegen die zentrale Blickrichtung 16z quer zur Ebene der Prüf
lings-Oberfläche 12, läßt sich nicht nur gezielt jeweils die (bezüglich der Lage der
Kamera 13 zum Prüfling 11) obere oder untere seitliche Ecke 15 wahlweise erfas
sen, sondern außerdem bei entsprechend tief angeordneter Umlenkeinrichtung 17
(relativ zum Prüfling 11, bezogen auf die Position der Kamera 13) sogar auch die
Prüflings-Rückseite 22.
Die Verwendung des Brechungskörpers 23 vor der einstellbaren Umlenkeinrich
tung 17 eröffnet also mit einer einzigen Kamera 13 in fester Position bezüglich des
Prüflings 11 sogar eine Rundumbetrachtung mit Mustererkennung auch auf der
Rückseite 22. Das wiederum eröffnet besondere Möglichkeiten zur Qualitätsüber
prüfung im Hinblick darauf, daß diese rückwärtigen Muster mit den unter gleicher
Kameraposition erzielten oberflächenseitigen Mustern verglichen werden können,
woraus etwa auf Durchbrechungen im Prüfling 11 oder auf Versatz zwischen beid
seitiger Bedruckung einer Kunststoff- oder Papierbahn geschlossen werden kann.
Insbesondere läßt sich darüber hinaus durch Verrechnung der mehrfach erfaßten
Bildpixel eine dreidimensionale also stereoskopische Beurteilung der räumlichen
Struktur von Unebenheiten 27 auf der Oberfläche 12 erzielen, wenn die mit dem
Brechungskörper 23 bestückten Umlenkeinrichtungen 17 relativ zum Prüfling 11
z. B. so weit zur Kamera 13 hin verlagert werden, daß zusätzlich zur direkten, or
thogonalen Blickrichtung 16z z. B. die äußersten seitlichen Blickrichtungen 16t, die
auf den der Kamera 13 zugewandten Flächen ihre Totalreflexion erfahren (während
die Blickrichtungen 16s mit Spiegelreflexion in diesem Falle oberhalb des Prüflings
weg verlaufen), gemäß Fig. 6 von der Seite her unter mäßig spitzem Winkel auf die
Oberfläche 12 treffen. Damit lassen sich, durch die rechnerische Auswertung der
Videosignale aus der Kamera 13, aufgrund der bekannten geometrischen Pixelzu
ordnungen zusätzlich räumliche Informationen zur Klassifikation und Qualitätsbe
urteilung hinsichtlich der Prüflings-Oberfläche 12 gewinnen.
Zusammenfassend ist also festzustellen, daß sich nach vorliegender Erfindung mit
tels einer einzigen Kamera 13 zur Mustererkennung mehrere Außenflä
chen-Bereiche 12, 18, 22 eines Prüflings 11 gleichzeitig erfassen lassen, wenn sich
das Kamera-Blickfeld 14 seitlich über die Breitenprojektion auf den Prüfling 11
hinaus erstreckt und wenigstens eine daneben angeordnete Umlenkeinrichtung 17
mit erfaßt, über welche die randseitigen Kamera-Blickrichtungen 16r etwa quer zur
zentralen Blickrichtung 16z auf den Prüfling 11 zurückgelenkt werden. Insbeson
dere führt es zur Abbildung einer Kante 15 und der beiden an sie angrenzenden
Flächenbereiche 18 und 12/22, wenn vor dem Reflektor der Umlenkeinrichtung 17
ein Brechungskörper 23 angeordnet ist, der die seitliche Blickrichtung 16r in eine
gespiegelte und in eine, infolge Totalreflexion an der, der Kamera 13 zugewandten,
Berandung, zusätzlich umgelenkte seitliche Einfallsrichtung 26 aufspaltet, die, etwa
quer zur zentralen Blickrichtung 16z orientiert, zueinander gegensinnig geneigt auf
den Prüfling 11 auftreffen. Auf diese Weise läßt sich mit der einzigen, stationär vor
einer der Prüflings-Oberflächen 12 angeordneten Kamera 13 auch die Prüf
lings-Breite vermessen und sogar die von der Kamera 13 abgelegene Prüflings-
Rückseite 22 erfassen, aber auch die sichtseitige Oberfläche 12 durch Überlagerung
von unter verschiedenen Blickrichtungen 16z, 16t aufgenommenen Bildern dreidi
mensional analysieren. Verwendet wird eine solche Einrichtung erfindungsgemäß
vorzugsweise zur Qualitätsprüfung und Gütesortierung hinsichtlich Oberflächenfeh
len bei bahnenförmigen oder von prismatischen Prüflingen 11 wie insbesondere bei
sägerauhen oder gehobelten Balken und Brettern im raschen Durchlauf an der Ka
mera 13 vorbei.
Claims (13)
1. Einrichtung zur Oberflächeninspektion eines Prüflings (11), insbesondere zur
Qualitätskontrolle und Klassifikation von Holzbalken und Holzbrettern, mittels
einer Kamera (13), deren Blickrichtung (16) auf eine Fläche am Prüfling (11)
gerichtet ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß von der Kamera (13) her außer der zentralen, direkt auf den Prüfling (11)
gerichteten Blickrichtung (16z) wenigstens eine seitliche Blickrichtung (16s)
über eine Umlenkeinrichtung (17) auf den Prüfling (11) gerichtet ist, der in ei
ner Position quer zur zentralen Blickrichtung (16z) neben dem Prüfling (11)
angeordnet ist.
2. Einrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Kamera (13) einen wenigstens einzeiligen Detektor aufweist dessen
streifenförmiges Blickfeld (14) sich quer zur Achse der zentralen Blickrichtung
(16z) sowie quer zur Längserstreckungs- und Vorschubrichtung des Prüflings
(11) seitlich über den Prüfling (11) hinaus bis zum Erfassen wenigstens einer
Umlenkeinrichtung (17) erstreckt.
3. Einrichtung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Umlenkeinrichtung (17) ein schmaler in Richtung des Blickfeldes (14)
orientierter Reflektor ist.
4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Umlenkeinrichtung (17) einen Brechungskörper (23) zum Aufspalten
randseitiger Blickrichtungen (16r) in gegensinnig geneigte Einfallsrichtungen
(26) etwa quer zur zentralen, direkten Blickrichtung (16z) aufweist.
5. Einrichtung nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß der seitlich zu äußerst gelegene Anteil der Blickrichtung (16t) vor dem
Austritt aus dem Brechungskörper (23) eine Totalreflexion erfährt.
6. Einrichtung nach Anspruch 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Umlenkeinrichtung (17) relativ zum Prüfling (11) in oder entgegen der
zentralen Blickrichtung (16z) verlagerbar ist.
7. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß in den seitlichen Endbereichen des Blickfeldes (14) Kanten (15) des Prüf
lings (11) und der an sie anschließenden Flächen (18; 12/22) abgebildet sind.
8. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die der Kamera (13) zugewandte Prüflings-Oberfläche (12) sowohl von
der zentralen Blickrichtung (16z) wie auch von wenigstens einer seitlich dage
gen geneigten Blickrichtung (16r) gleichzeitig erfaßt ist.
9. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß im Blickfeld (14) der Kamera (13) gleichzeitig über die zentrale Blickrich
tung (16z) die der Kamera (13) zugewandt Prüflings-Oberfläche (12) und über
eine gespiegelte Blickrichtung (16s) die ihr gegenüberliegende Rückfläche (22)
des Prüflings (11) erfaßt ist.
10. Verwendung einer Einrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche zur
gleichzeitigen Rundum-Erfassung von Prüflings-Flächen (12, 18, 22) mittels
einer einzigen, stationär bezüglich des in ihrem Blickfeld (14) erfaßten Teiles
des Prüflings (11) angeordneten, Kamera (13).
11. Verwendung einer Einrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche zum
Vermessen des Abstandes zwischen am Prüfling (11) erfaßten Kanten (15).
12. Verwendung einer Einrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche zur
dreidimensionalen Bilderfassung von Unebenheiten (27) auf der Oberfläche
(12) des Prüflings (11).
13. Verwendung einer Einrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche zur
Qualitätskontrolle und Gütesortierung von sägerauhen oder gehobelten Holz
balken und Holzbrettern.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1997116468 DE19716468C2 (de) | 1997-04-21 | 1997-04-21 | Einrichtung zur Oberflächeninspektion, insbesondere von Holz |
Applications Claiming Priority (1)
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DE19716468C2 DE19716468C2 (de) | 1999-07-08 |
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ID=7827058
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