DE19716468A1 - Einrichtung zur Oberflächeninspektion und Verwendung einer solchen Einrichtung - Google Patents

Einrichtung zur Oberflächeninspektion und Verwendung einer solchen Einrichtung

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Description

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1 und deren Verwendung, insbesondere in der Holzindustrie.
Eine solche Einrichtung ist aus der EP-A 0 634 648 zur Inspektion von Prüflingen in Form von gehobelten Profilbrettern bekannt, die mit der außerordentlich hohen Geschwindigkeit, mit der sie eine Hobelmaschine in Längsrichtung verlassen, eine Kamera passieren. Sie erfaßt auf der ihr zugewandten Oberfläche des Brettes längs eines quer zur Vorschubrichtung ausgeleuchteten Streifens Helligkeitsunterschiede aufgrund von Fehlstellen im Holz (wie Harzgallen, Astlöcher, Rindeneinschlüsse, Hobelbrand oder Kantenausbrüche) und deren Verteilung (Stückzahl pro Län­ geneinheit) und liefert eine entsprechende Folge von Videosignalen. Diese werden zur Qualitätsklassifikation und Gütesortierung einer Mustererkennung mittels spe­ zieller schneller Rechnerarchitekturen unterzogen, wie sie etwa in ELEKTRONIK Heft 25 (Seiten 34/35) vom 28.12.1989 oder in der EP-A 0 670 559 näher be­ schrieben sind.
Nicht zur Oberflächen-Bildverarbeitung, sondern zur optronischen Bestimmung der Breite eines sägerohen Brettes als dem Prüfling, ist es aus der DE-A 42 14 872 bekannt, dessen Waldkante aus zwei unterschiedlichen Richtungen anzustrahlen, um durch Kernschattenbildung den Kantenkontrast gegenüber der Umgebung zu verbessern.
Wenn es darum geht, auch noch eine weitere der Oberflächen eines in Längsrich­ tung transportierten Prüflings für die Bildverarbeitung optronisch zu erfassen - etwa auch die mit Nut bzw. die mit Feder ausgestattete Schmalseite eines Paneeles, auch die Seitenfläche eines Balkens oder auch die Unterfläche einer Kunststoff- oder Druckbahn -, dann ist es üblich, für diese weitere Blickrichtung eine weitere Kamera mit Beleuchtungseinrichtung einzusetzen. Das hat aber nicht nur den Nachteil, daß der apparative Aufwand gemäß der Anzahl der inspizierten Oberflä­ chen vervielfacht wird, sondern hinzu kommt auch noch ein ganz beträchtlicher datenverarbeitungstechnischer Mehraufwand für die schnelle synchronisierte (also positionsgerechte) Zusammenführung und Weiterverarbeitung der einzelnen sehr rasch und in ungeheurem Umfang anfallenden Videosignale von den verschiedenen autark arbeitenden Kameras.
In Erkenntnis dieser Gegebenheiten liegt vorliegender Erfindung die Aufgabe zu­ grunde, eine Einrichtung gattungsgemäßer Art dahingehend weiterzubilden, daß sie ohne großen apparativen und signalverarbeitungstechnischen Mehraufwand auch die Möglichkeit eröffnet, wenigstens auch noch eine zweite Fläche des Prüflings zu erfassen.
Jene Aufgabe ist erfindungsgemäß im wesentlichen dadurch gelöst, daß die Ein­ richtung auch nach dem Kennzeichnungsteil des Hauptanspruches ausgestaltet ist. Danach wird das Blickfeld der Kamera dafür ausgelegt, seitlich über die ohnehin erfaßte Oberfläche hinaus auch noch wenigstens eine neben dem Prüfling installier­ te Strahlen-Umlenkeinrichtung zu überdecken, um darüber auch noch z. B. die be­ nachbarte Seitenwand des Prüflings zu erfassen. Dafür genügt ein Reflektor, der nicht breiter als das (durch Sensoranordnung und Projektionsoptik bestimmte) Blickfeld der Kamera ist, also im Falle der bevorzugt eingesetzten Zeilenkamera nur wenige Millimeter mißt. Es können in der Aufnahmekamera aber auch mehrere Zeilen wirksam sein, um mehrere einander dicht benachbarte schmale Streifen qua­ si-gleichzeitig zu erfassen, was im Rahmen vorliegender Erfindung dem Einsatz einer Flächenkamera entspricht. Bei hinreichender Distanz der Umlenkeinrichtung zur seitlichen Prüflings-Berandung kann die zusätzlich inspizierte Fläche durch den lichten Abstand zwischen dem Prüfling und der Umlenkeinrichtung hindurch ge­ sondert ausgeleuchtet werden.
Die Umlenkeinrichtung kann für einfache Reflexion ausgelegt sein, aber auch da­ für, seitliche Randstrahlen des Kamera-Blickfeldes vor dem Prüfling in gegenein­ ander geneigte Teilstrahlen aufzuspalten, um diese dann insbesondere so auf den Prüfling zu richten, daß die Kante zwischen zwei zusammenstoßenden Außenflä­ chen des Prüflings erfaßt werden. Mittels geneigt zur Orthogonalen auf die Achse der zentralen Blickrichtung (nämlich der Kamera direkt auf die ihr zugewandte Prüflings-Oberfläche) orientierter Strahlenrichtungen können mit der einen statio­ när verbleibenden Kamera auch wahlweise die der ihr zugewandten Oberfläche gegenüberliegende Rückfläche des Prüflings unter relativ flachem Blickeinfallswin­ kel bzw. Unebenheiten auf der zur Kamera gelegenen Oberfläche selbst über pi­ xelweise Verrechnung der beiden einander aus unterschiedlichen Richtungen über­ lappenden Ansichten dreidimensional erfaßt werden.
So ist es mit einer einzigen Kamera möglich, gegeneinander abgewinkelt verlaufen­ de und sogar einander gegenüberliegende Oberflächen des Prüflings gleichzeitig zu inspizieren. Da diese Zusatzinformationen immer in strahlengeometrisch definier­ ten, vom zentralen Bild seitlich abgesetzten Randbereichen des von der Kamera gerade erfaßten Blickfeldes aufgereiht sind, sind sie in der Videosignalfolge zwangsläufig mit den in direkter Ansicht erfaßten zentralen Bildinformationen syn­ chronisiert und deshalb problemlos und ohne großen datenverarbeitungstechni­ schen Zusatzaufwand positionsgerecht aufzubereiten.
Weitere Vorteile und zusätzliche Weiterbildungen der erfindungsgemäßen Lösung und ihres Einsatzes ergeben sich aus den weiteren Ansprüchen und aus nachste­ hender Beschreibung von in der Zeichnung unter Beschränkung auf das Wesentli­ che stark abstrahiert und nur annähernd maßstabsgerecht skizzierten bevorzugten Realisierungsbeispielen. In der Zeichnung zeigt:
Fig. 1 eine erfindungsgemäße Einrichtung zur gleichzeitigen Inspektion dreier orthogonal zueinander orientierter Prüflings-Oberflächen mittels einer ein­ zigen Kamera im Aufriß,
Fig. 2 in Draufsicht die Zusammensetzung des von der Kamera entsprechend Fig. 1 erfaßten Bildstreifens,
Fig. 3 eine Einrichtung entsprechend Fig. 1 und Fig. 2, aber mit zusätzlicher seitli­ cher Beleuchtung, in Draufsicht,
Fig. 4 in Abwandlung der Gegebenheiten nach Fig. 1 bis Fig. 3 die Erfassung der Kante zwischen zwei aneinandergrenzenden Flächen,
Fig. 5 mit einer Anordnung nach Fig. 4 eine Rundum-Inspektion des Prüflings mittels einer einzigen Kamera und
Fig. 6 eine dreidimensionale Erfassung von Oberflächen-Unebenheiten mit einer Anordnung nach Fig. 4 bzw. Fig. 5.
Beim in Fig. 1 skizzierten Prüfling 11 kann es sich um einen gestreckten prismati­ schen Körper von im wesentlichen rechteckigem Querschnitt handeln, dann vor­ zugsweise um einen sägerohen oder gehobelten Holzbalken, aber ebenso um einen kantigen oder runden Stab aus beliebigem Material oder um eine dünne (praktisch nur Ober- und Unterfläche aber keine Seitenflächen aufweisende) Materialbahn. Der Prüflings-Oberfläche 12 gegenüber ist für die Inspektion dieser Oberfläche 12 eine vorzugsweise im sichtbaren Spektralbereich arbeitende, wenigstens einzeilig aufnehmende Kamera 13 angeordnet. Die Länge von deren dann entsprechend streifenförmigen Blickfeld 14, das sich gemäß den strahlengeometrischen Gesetz­ mäßigkeiten nach Maßgabe der Kamera-Projektionsoptik (nicht gesondert heraus­ gezeichnet) aus der Berandung 16r der elementaren Kamera-Blickrichtungen 16 ergibt, ist nun erfindungsgemäß bewußt nicht auf die Breite der, der Kamera 13 zugewandten, Oberfläche 12 beschränkt, sondern sie erstreckt sich quer zur Prüf­ lings-Transportrichtung seitlich darüber hinaus, also im Falle eines unrunden, pris­ matischen Querschnitts über wenigstens eine der die Oberfläche 12 berandenden Kanten 15 hinweg. Dadurch trifft eine der seitlichen Sichtlinien 16s auf eine neben dem Prüfling 11 angeordnete Umlenkeinrichtung 17 und über deren Reflektor auf eine geneigt gegenüber der von der Kamera 13 in direkter Sicht erfaßten Oberflä­ che 12 orientierte Seitenfläche 18 des Prüflings 11. Das Blickfeld 14 umfaßt also im Falle einer quer zur Längserstreckung des Prüflings 11 orientierten Zeilenkame­ ra 13 gemäß Fig. 2 in der Mitte einen vom zentralen Blickfeld 16z der Kamera 13, in direkter Sicht, unmittelbar auf der Oberfläche 12 erfaßten Streifen 19.12 und am Rande einen nicht unbedingt unmittelbar daran anschließenden Steifen 19.18 von der Seitenfläche 18 des Prüflings 11, welche vom Blickrichtungsrand 16s über eine Spiegelumlenkung erfaßt wird.
Die Abbildungen zweier quer zur Prüflings-Längserstreckung erfaßten Oberflä­ chenstreifen 19 würden lückenlos aufeinander folgen, wenn die dafür beiderseits des Prüflings 11 vorgesehenen Umlenkeinrichtungen 17 - insbesondere schmale Spiegel als reflektive Umlenkeinrichtungen 17 beim Einsatz einer Zeilen-Kamera 13 - unmittelbar an den Seitenflächen 18 des Prüflings 11 angeordnet wären. Es ist aber zweckmäßiger, einen gewissen seitlichen Abstand freizuhalten, um die Um­ lenkeinrichtungen 17 nicht durch Schwingungsausschläge zu gefährden, die bei sehr raschem Vorschub sehr langer Prüflinge 11 unvermeidbar auftreten. Die schmalen Umlenkeinrichtungen 17 beiderseits des Prüflings 11 sind deshalb (in und gegen Transportrichtung des Prüflings 11) gemäß Fig. 3 noch durch in Rich­ tung auf den Prüfling 11 vorragende widerstandsfähige Schutzwände 20 abge­ schottet, die z. B. als massive Metallkörper maschinenfest verankert sein können.
Wie aus Fig. 3 ersichtlich, eröffnet der lichte Abstand zwischen einer Seitenfläche 18 und der ihr benachbart zugeordneten Umlenkeinrichtung 17 darüber hinaus die Möglichkeit, auch den seitlichen Teil des (in Fig. 2 in Abwicklung dargestellten) Oberflächen-Bildstreifens 19 im reflektiv umgelenkten Blickfeld 14 aus einer auf das Empfindlichkeitsspektrum der Kamera 13 optimierten Strahlungsquelle 21 streifenförmig auszuleuchten. Die Lücken zwischen den aufgenommenen Streifen 19.12-19.18 stören aber nicht, fördern sogar die Auswertung bei der seriellen Pi­ xelzuordnung zu den gegeneinander abgewinkelt verlaufenden Flächen 12.18.
Würde man die seitlich vom Prüfling 11 stehende reflektive Umlenkeinrichtung 17 (gemäß Fig. 1 bis Fig. 3) in oder entgegen der Kamera-Blickrichtung 16z relativ zum Prüfling 11 weit genug hinter oder vor den Prüfling 11 verlagern und die Spiegelfläche der Umlenkeinrichtung 17 entsprechend verschwenken, dann würden die beiden seitlichen Teile des Streifens 19 über die seitliche Blickrich­ tungs-Berandung 16r sogar Bilder von der Rückfläche 22 bzw. von der Oberfläche 12 des Prüflings beinhalten können. Die sind aus strahlengeometrischen Gründen allerdings unter sehr flacher Blickrichtung gegen die jeweilige Fläche 22/12 aufge­ nommen, weshalb sich damit zwar Oberflächen-Unebenheiten 27 (Fig. 6) infolge ausgeprägter Schattenwürfe erfassen lassen, aber sich daraus u. U. keine besonders gut auswertbare Abbildung des in der Fläche 22 bzw. 12 befindlichen Musters er­ gibt. Außerdem wird infolge der Distanz zwischen Umlenkeinrichtung 17 und Sei­ tenfläche 18 die Übergangs-Kante 15 zwischen den Flächen 12-18 selbst im Blick­ feld 14 nicht zur Abbildung im Streifen 19 von der Kamera 13 erfaßt.
Eine günstigere Strahlführung mit zusätzlicher Kantenerfassung in dem weiterhin gelückten Erfassungsstreifen 19 wird jedoch durch den Einsatz einer kombiniert reflektiven und transmissiven Umlenkeinrichtung 17 gemäß etwa Fig. 4 für den Blickrichtungsrand 16r ermöglicht. Danach ist ein lichtoptischer Brechungskörper 23 dicht vor der Reflektorfläche der Umlenkeinrichtung 17 angeordnet. Wenn der wie dargestellt als (entsprechend der schmalen Spiegelfläche) dünne, dreieckförmig berandete Scheibe aus optischem Glas ausgestaltet ist, das ein optisch dichteres Medium als die Umgebung in Blickrichtung 16 vor der Kamera 13 aufweist, dann erfährt der randseitige Strahlengang 16r nach den Gesetzmäßigkeiten der geome­ trischen Optik eine Aufspaltung 16t-16s. Die resultiert, wie in Fig. 4 dargestellt, daraus, daß zusätzlich zur Reflexion an der Spiegelfläche der Umlenkeinrichtung 17 jeweils Brechung sowohl an der Eintrittsseite 24 wie an der Austrittsseite 25 auftritt, und außerdem die äußerste Berandung 16t der seitlichen Sichtlinie 16r nach Spiegelung am Reflektor zusätzlich eine Totalreflexion am Innern der Ein­ trittsseite 24 erfährt. Die Folge ist, daß der seitliche Bereich 16r der Blickrichtung 16t in zwei zueinander gegensinnig geneigte Einfallsrichtungen 26 aufgespalten wird, die sich bei einer geometrischen Konstellation gemäß Fig. 4 in der Umgebung der benachbarten Kante 15 überlappen und deren Verlauf sich über die Kontur sowie den Brechungsindex der Glasscheibe 23 konstruktiv in relativ weiten Gren­ zen beeinflussen läßt. Somit beinhaltet der von dem seitlichen Anteil 16r der Blick­ richtung 16 erzeugte seitliche Streifenteil 19.15 (Fig. 2) nun das Bild der Kante 15 selbst und der ihr beiderseits benachbarten Seiten (18 und 12 in Fig. 4). Auf diese Weise kann die Musterverarbeitung für das von der Kamera 13 gelieferte Videosi­ gnal nun auch eine Kantenanalyse (etwa hinsichtlich Ausbrüchen) beinhalten. Bei einer symmetrischen Anordnung der Umlenkeinrichtung 17 gemäß Fig. 4 liegen die beiden einander gegenüberliegenden Kanten 15/15 im Blickfeld 14, was aufgrund der für den Aufbau bekannten strahlengeometrischen Gegebenheiten in der vom Blickfeld 14 erfaßten Abbildung auch noch eine Auswertung des Videosignales zur Bestimmung der Breite des Prüflings 11 eröffnet.
Durch die Wahl der materialabhängigen optischen Brechungszahl des Brechungs­ körpers 23 und dessen Geometrie sowie durch die Lage der damit bestückten Um­ lenkeinrichtung 17 relativ zur Kamera 13 und zum Prüfling 11, insbesondere durch Verlagerung in und gegen die zentrale Blickrichtung 16z quer zur Ebene der Prüf­ lings-Oberfläche 12, läßt sich nicht nur gezielt jeweils die (bezüglich der Lage der Kamera 13 zum Prüfling 11) obere oder untere seitliche Ecke 15 wahlweise erfas­ sen, sondern außerdem bei entsprechend tief angeordneter Umlenkeinrichtung 17 (relativ zum Prüfling 11, bezogen auf die Position der Kamera 13) sogar auch die Prüflings-Rückseite 22.
Die Verwendung des Brechungskörpers 23 vor der einstellbaren Umlenkeinrich­ tung 17 eröffnet also mit einer einzigen Kamera 13 in fester Position bezüglich des Prüflings 11 sogar eine Rundumbetrachtung mit Mustererkennung auch auf der Rückseite 22. Das wiederum eröffnet besondere Möglichkeiten zur Qualitätsüber­ prüfung im Hinblick darauf, daß diese rückwärtigen Muster mit den unter gleicher Kameraposition erzielten oberflächenseitigen Mustern verglichen werden können, woraus etwa auf Durchbrechungen im Prüfling 11 oder auf Versatz zwischen beid­ seitiger Bedruckung einer Kunststoff- oder Papierbahn geschlossen werden kann.
Insbesondere läßt sich darüber hinaus durch Verrechnung der mehrfach erfaßten Bildpixel eine dreidimensionale also stereoskopische Beurteilung der räumlichen Struktur von Unebenheiten 27 auf der Oberfläche 12 erzielen, wenn die mit dem Brechungskörper 23 bestückten Umlenkeinrichtungen 17 relativ zum Prüfling 11 z. B. so weit zur Kamera 13 hin verlagert werden, daß zusätzlich zur direkten, or­ thogonalen Blickrichtung 16z z. B. die äußersten seitlichen Blickrichtungen 16t, die auf den der Kamera 13 zugewandten Flächen ihre Totalreflexion erfahren (während die Blickrichtungen 16s mit Spiegelreflexion in diesem Falle oberhalb des Prüflings weg verlaufen), gemäß Fig. 6 von der Seite her unter mäßig spitzem Winkel auf die Oberfläche 12 treffen. Damit lassen sich, durch die rechnerische Auswertung der Videosignale aus der Kamera 13, aufgrund der bekannten geometrischen Pixelzu­ ordnungen zusätzlich räumliche Informationen zur Klassifikation und Qualitätsbe­ urteilung hinsichtlich der Prüflings-Oberfläche 12 gewinnen.
Zusammenfassend ist also festzustellen, daß sich nach vorliegender Erfindung mit­ tels einer einzigen Kamera 13 zur Mustererkennung mehrere Außenflä­ chen-Bereiche 12, 18, 22 eines Prüflings 11 gleichzeitig erfassen lassen, wenn sich das Kamera-Blickfeld 14 seitlich über die Breitenprojektion auf den Prüfling 11 hinaus erstreckt und wenigstens eine daneben angeordnete Umlenkeinrichtung 17 mit erfaßt, über welche die randseitigen Kamera-Blickrichtungen 16r etwa quer zur zentralen Blickrichtung 16z auf den Prüfling 11 zurückgelenkt werden. Insbeson­ dere führt es zur Abbildung einer Kante 15 und der beiden an sie angrenzenden Flächenbereiche 18 und 12/22, wenn vor dem Reflektor der Umlenkeinrichtung 17 ein Brechungskörper 23 angeordnet ist, der die seitliche Blickrichtung 16r in eine gespiegelte und in eine, infolge Totalreflexion an der, der Kamera 13 zugewandten, Berandung, zusätzlich umgelenkte seitliche Einfallsrichtung 26 aufspaltet, die, etwa quer zur zentralen Blickrichtung 16z orientiert, zueinander gegensinnig geneigt auf den Prüfling 11 auftreffen. Auf diese Weise läßt sich mit der einzigen, stationär vor einer der Prüflings-Oberflächen 12 angeordneten Kamera 13 auch die Prüf­ lings-Breite vermessen und sogar die von der Kamera 13 abgelegene Prüflings- Rückseite 22 erfassen, aber auch die sichtseitige Oberfläche 12 durch Überlagerung von unter verschiedenen Blickrichtungen 16z, 16t aufgenommenen Bildern dreidi­ mensional analysieren. Verwendet wird eine solche Einrichtung erfindungsgemäß vorzugsweise zur Qualitätsprüfung und Gütesortierung hinsichtlich Oberflächenfeh­ len bei bahnenförmigen oder von prismatischen Prüflingen 11 wie insbesondere bei sägerauhen oder gehobelten Balken und Brettern im raschen Durchlauf an der Ka­ mera 13 vorbei.

Claims (13)

1. Einrichtung zur Oberflächeninspektion eines Prüflings (11), insbesondere zur Qualitätskontrolle und Klassifikation von Holzbalken und Holzbrettern, mittels einer Kamera (13), deren Blickrichtung (16) auf eine Fläche am Prüfling (11) gerichtet ist, dadurch gekennzeichnet, daß von der Kamera (13) her außer der zentralen, direkt auf den Prüfling (11) gerichteten Blickrichtung (16z) wenigstens eine seitliche Blickrichtung (16s) über eine Umlenkeinrichtung (17) auf den Prüfling (11) gerichtet ist, der in ei­ ner Position quer zur zentralen Blickrichtung (16z) neben dem Prüfling (11) angeordnet ist.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kamera (13) einen wenigstens einzeiligen Detektor aufweist dessen streifenförmiges Blickfeld (14) sich quer zur Achse der zentralen Blickrichtung (16z) sowie quer zur Längserstreckungs- und Vorschubrichtung des Prüflings (11) seitlich über den Prüfling (11) hinaus bis zum Erfassen wenigstens einer Umlenkeinrichtung (17) erstreckt.
3. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Umlenkeinrichtung (17) ein schmaler in Richtung des Blickfeldes (14) orientierter Reflektor ist.
4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Umlenkeinrichtung (17) einen Brechungskörper (23) zum Aufspalten randseitiger Blickrichtungen (16r) in gegensinnig geneigte Einfallsrichtungen (26) etwa quer zur zentralen, direkten Blickrichtung (16z) aufweist.
5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der seitlich zu äußerst gelegene Anteil der Blickrichtung (16t) vor dem Austritt aus dem Brechungskörper (23) eine Totalreflexion erfährt.
6. Einrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Umlenkeinrichtung (17) relativ zum Prüfling (11) in oder entgegen der zentralen Blickrichtung (16z) verlagerbar ist.
7. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß in den seitlichen Endbereichen des Blickfeldes (14) Kanten (15) des Prüf­ lings (11) und der an sie anschließenden Flächen (18; 12/22) abgebildet sind.
8. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die der Kamera (13) zugewandte Prüflings-Oberfläche (12) sowohl von der zentralen Blickrichtung (16z) wie auch von wenigstens einer seitlich dage­ gen geneigten Blickrichtung (16r) gleichzeitig erfaßt ist.
9. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß im Blickfeld (14) der Kamera (13) gleichzeitig über die zentrale Blickrich­ tung (16z) die der Kamera (13) zugewandt Prüflings-Oberfläche (12) und über eine gespiegelte Blickrichtung (16s) die ihr gegenüberliegende Rückfläche (22) des Prüflings (11) erfaßt ist.
10. Verwendung einer Einrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche zur gleichzeitigen Rundum-Erfassung von Prüflings-Flächen (12, 18, 22) mittels einer einzigen, stationär bezüglich des in ihrem Blickfeld (14) erfaßten Teiles des Prüflings (11) angeordneten, Kamera (13).
11. Verwendung einer Einrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche zum Vermessen des Abstandes zwischen am Prüfling (11) erfaßten Kanten (15).
12. Verwendung einer Einrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche zur dreidimensionalen Bilderfassung von Unebenheiten (27) auf der Oberfläche (12) des Prüflings (11).
13. Verwendung einer Einrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche zur Qualitätskontrolle und Gütesortierung von sägerauhen oder gehobelten Holz­ balken und Holzbrettern.
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