DE19619410A1 - Verfahren zur Temperaturkompensation der elektrischen Referenzspannungsquelle eines Analog/Digital-Wandlers und Waage mit temperaturkompensierter Referenzspannungsquelle - Google Patents
Verfahren zur Temperaturkompensation der elektrischen Referenzspannungsquelle eines Analog/Digital-Wandlers und Waage mit temperaturkompensierter ReferenzspannungsquelleInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Kompensation des
Temperaturkoeffizienten einer elektrischen Spannungsquelle, die als
Referenzspannungsquelle für einen Analog/Digital-Wandler dient und die in
gutem thermischen Kontakt mit einem Temperaturfühler steht, wobei der
Analog/Digital-Wandler die Größe einer analogen Eingangsspannung im
Verhältnis zur Referenzspannung in ein digitales Ausgangssignal umformt und
dieses Ausgangssignal einem Mikroprozessor zugeführt wird.
Zur Temperaturkompensation einer elektrischen Spannungsquelle sind zwei
Verfahren Stand der Technik: Im ersten Verfahren wird die Spannungsquelle mit
einem Heizelement und einem Temperaturfühler in guten thermischen Kontakt
gebracht und das Heizelement wird unter Benutzung des Temperaturfühlers so
geregelt, daß die Temperatur von Heizelement, Temperaturfühler und
Spannungsquelle konstant gehalten wird. Diese sogenannten thermostatisierten
Spannungsquellen sind kommerziell erhältlich und von daher allgemein bekannt.
Da nur die Möglichkeit zum Heizen besteht und nicht zum Kühlen, muß die
konstante Betriebstemperatur oberhalb der höchsten Gebrauchstemperatur
liegen. Dadurch ist eine dauernde Wärmezufuhr notwendig, was z. B. je nach
Umgebungstemperatur zu verschiedenen Temperaturgradienten innerhalb der
Schaltung, die die Spannungsquelle umgibt, führt. Um diese Wärmezufuhr klein
zu halten, ist eine thermische Isolierung der Spannungsquelle notwendig, was den
Einsatz von SMD-Bauelementen (Bauelementen zum direkten Auflöten auf die
Leiterbahnen einer Platine) für die Spannungsquelle sehr erschwert. Außerdem
führt die Thermostatisierung zu einer merklichen Einschaltdrift der
Spannungsquelle, da nach dem Einschalten der Netzversorgung die
Spannungsquelle erst die erhöhte Betriebstemperatur erreichen muß.
Im zweiten Verfahren gemäß dem Stand der Technik befinden sich die
Spannungsquelle und der Temperaturfühler etwa auf Umgebungstemperatur und
sind von einer gut wärmeleitenden Hülle umgeben. Diese Anordnung ist z. B. aus
dem DE-GM 83 19 517 bekannt, wo eine Zener-Diode als Referenz
spannungsquelle und der Temperaturfühler im Hohlraum eines Magneten einer
elektronischen Waage angeordnet sind. Zur Bestimmung des
Temperaturkoeffizienten der Referenzspannungsquelle muß dann der ganze
Magnet und damit wohl die ganze Waage in einem Wärmeschrank oder in einer
Klimakammer auf eine andere Temperatur gebracht werden, um aus der
Spannungsänderung und der Temperaturdifferenz den Temperaturkoeffizienten
der Referenzspannungsquelle zu berechnen; anschließend wird die
Temperaturkompensation durch ein entsprechend dem gemessenen
Temperaturkoeffizienten dimensioniertes Korrekturnetzwerk durchgeführt.
Dieses Verfahren ist jedoch durch das Aufheizen des kompletten Magneten bzw.
der kompletten Waage sehr langsam und erfordert einen großen apparativen
Aufwand, der z. B. eine Neubestimmung des Temperaturkoeffizienten nach einem
Servicefall, bei dem die Referenzspannungsquelle selbst oder Bauteile, die einen
Einfluß auf den Temperaturkoeffizienten der Referenzspannungsquelle haben,
ersetzt wurden, schwierig macht.
Als Variante des zweiten Verfahrens gemäß dem Stand der Technik ist es aus der
PCT-WO 85/01134 bekannt, einen NTC als Temperaturfühler zu benutzen und in
einem Widerstandsnetzwerk parallel zur Spannungsquelle zu schalten, um auf
diese Weise den Strom durch die Zener-Diode temperaturabhängig so zu
verändern, daß die Spannung etwa temperaturunabhängig wird. Auch bei dieser
Variante ist ein Ofen für das Aufheizen der Spannungsquelle vorgesehen,
außerdem ist die Bestimmung der Widerstandswerte des Widerstandsnetzwerkes
kompliziert und der Einbau bzw. der Wechsel der Widerstände zeitaufwendig.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein Verfahren zur Kompensation des
Temperaturkoeffizienten einer elektrischen Spannungsquelle anzugeben, das eine
einfache Bestimmung des Temperaturkoeffizienten einer nicht thermostatisierten
Spannungsquelle und eine einfache Temperaturkompensation erlaubt und daher
auch im Servicefall einsetzbar ist.
Dieses Verfahren soll insbesondere dazu eingesetzt werden, um den
Temperaturkoeffizienten der Referenzspannung im Analog/Digital-Wandler einer
elektronischen Waage zu messen und zu kompensieren.
Erfindungsgemäß wird dies dadurch erreicht, daß in einem ersten Schritt bei
normaler Betriebstemperatur dem Eingang des Analog/Digital-Wandlers eine
konstante Spannung zugeführt wird und das Ausgangssignal des
Analog/Digital-Wandlers und des Temperaturfühlers vom Mikroprozessor übernommen werden,
daß anschließend eine Wärmequelle eingeschaltet wird, die im wesentlichen nur
die Referenzspannungsquelle und den Temperaturfühler erwärmt, daß
anschließend das Ausgangssignal des Analog/Digital-Wandlers und des
Temperaturfühlers im erwärmten Zustand der Referenzspannungsquelle vom
Mikroprozessor übernommen werden, daß aus der Differenz der beiden
Ausgangssignale des Analog/Digital-Wandlers und der Differenz der beiden
Temperaturfühler-Signale der Temperaturkoeffizient der Referenz
spannungsquelle im Mikroprozessor bestimmt und abgespeichert wird und daß
der abgespeicherte Temperaturkoeffizient zur rechnerischen Korrektur des
Temperatureinflusses der Referenzspannungsquelle im Mikroprozessor dient.
Durch die lokale Erwärmung der Referenzspannungsquelle und des
dazugehörigen Temperaturfühlers ist nur ein geringer Energieeinsatz notwendig,
diese Erwärmung kann mit einfachen Hilfsmitteln erfolgen (z. B. externer
Lötkolben oder in der Schaltung eingebauter Heizwiderstand) und ist sehr schnell;
durch die digitale Speicherung des Temperaturkoeffizienten und die digitale,
rechnerische Korrektur kann eine Änderung des Korrekturkoeffizienten ohne
Hardwaretausch direkt durch das Abspeichern eines neuen
Temperaturkoeffizienten im Mikroprozessor erfolgen. Durch die schnelle
Temperaturänderung der Referenzspannungsquelle sind die Anforderungen an
die zeitliche Stabilität der Spannungsquelle, die die konstante Eingangsspannung
des Analog/Digital-Wandlers liefert, gering, so daß keine besonders langzeitstabile
Spannungsquellen hierfür benötigt werden.
Ist die Referenzspannungsquelle als Referenzspannung in einer Waage mit einem
Kalibrier- oder Justiergewicht eingebaut, so kann in einer vorteilhaften
Ausgestaltung auch der Wägegeber zusammen mit dem Kalibrier- oder
Justiergewicht als konstante Spannungsquelle für den Eingang des
Analog/Digital-Wandlers benutzt werden.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der schematischen Figuren beschrieben.
Dabei zeigt:
Fig. 1 das Blockschaltbild einer Waage mit Analog/Digital-Wandler und
Referenzspannungsquelle und
Fig. 2 das Ablaufdiagramm einer Bestimmung des Temperaturkoeffizienten der
Referenzspannungsquelle.
Das Verfahren soll am Beispiel einer elektronischen Waage erläutert werden, bei
der der Analog/Digital-Wandler zur Digitalisierung des analogen Ausgangssignals
eines Wägegebers eingesetzt ist. Die in Fig. 1 in einem Blockschaltbild gezeigte
Waage besteht aus einem Wägegeber 1 mit einer Waagschale 2, dem A/D-Wandler
3, der das analoge Ausgangssignal des Wägegebers 1 digitalisiert, einem
Mikroprozessor 5 zur Verrechnung des digitalisierten Signals des Wägegebers 1
und einer Anzeige 6. Die Spannungsquelle 4 ist dem A/D-Wandler 3 als
Referenzspannungsquelle zugeordnet; der A/D-Wandler 3 bestimmt in bekannter
Weise den Quotienten aus der Eingangsspannung von der Wägezelle 1 und der
Spannung der Referenzspannungsquelle 4. Der Wägegeber 1 weist ein
Kalibrier- bzw. Justiergewicht auf (schematisch mit 11 angedeutet), das durch einen Motor in
Wirkverbindung mit der Waagschale 2 gebracht werden kann. Dieser Motor für
das Kalibrier- bzw. Justiergewicht wird über die Leitung 13 vom Mikroprozessor
5 gesteuert. Weiter weist der Wägegeber 1 einen Temperaturfühler 12 auf, der in
Fig. 1 schematisch mit T′ angedeutet ist. Das Ausgangssignal des
Temperaturfühlers 12 wird über die Leitung 15 und den Umschalter 9 einem
zweiten A/D-Wandler 7 zugeführt, so daß der Mikroprozessor 5 ein digitales
Signal über die Temperatur des Wägegebers 1 erhält. Damit kann der
Mikroprozessor 5 in bekannter Weise eine Temperaturabhängigkeit des
Ausgangssignals der Wägezelle 1 rechnerisch mittels einer Korrekturformel
korrigieren, so daß der in der Anzeige 6 angezeigte Wert bei konstanter Belastung
der Waage temperaturunabhängig ist. Dabei ist vorausgesetzt, daß die
Referenzspannungsquelle 4 eine temperaturunabhängige Spannung liefert. - Die
im vorstehenden beschriebenen Teile der Waage sind allgemein bekannt, so daß
Einzelheiten des Aufbaues und der Funktion nicht beschrieben werden müssen.
Weiter weist nun die Referenzspannungsquelle 4 einen Temperaturfühler 14 auf,
der in Fig. 1 nur durch ein T schematisch angedeutet ist. Der Temperaturfühler 14
und die Spannungsquelle 4 befinden sich in gutem thermischen Kontakt, so daß
beide die gleiche Temperatur annehmen. Für praktische Zwecke reicht es im
allgemeinen aus, daß z. B. die Spannungsquelle 4 in Form einer Zener-Diode in
SMD-Bauform und der Temperaturfühler in Form eines temperaturabhängigen
SMD-Widerstandes unmittelbar nebeneinander auf einer Platine befestigt sind.
Das Ausgangssignal des Temperaturfühlers 14 wird, falls es digital ist, direkt dem
Mikroprozessor 5 zugeführt oder, falls es analog ist, einem A/D-Wandler. Dabei
kann der A/D-Wandler 7 mitbenutzt werden; die Auswahl, ob die Temperatur T′
der Wägezelle 1 oder die Temperatur T der Spannungsquelle 4 gemessen wird,
erfolgt durch den Umschalter 9, der vom Mikroprozessor 5 gesteuert wird.
Mit dieser Hardware kann dann der in Fig. 2 dargestellte Funktionsablauf zur
Bestimmung des Temperaturkoeffizienten der Referenzspannung 4 realisiert
werden. In einem ersten Schritt 20 wird geprüft, ob die normale
Betriebstemperatur erreicht ist, die vom Fühler 14 gemessene Temperatur T also
konstant ist. Ist dies der Fall, wird die gemessene Temperatur T übernommen und
als T1 definiert; gleichzeitig wird auch der Ausgang des A/D-Wandlers 3
übernommen und als U1 definiert. Der Eingang 16 des A/D-Wandlers 3 erhält
dabei eine konstante Eingangsspannung. Diese konstante Eingangsspannung kann
entweder durch eine externe Vergleichsspannung gegeben sein, die am Eingang 18
angeschlossen wird; sie kann aber auch im Beispiel der in Fig. 1 dargestellten
Waage durch das Ausgangssignal des Wägegebers 1 bei Belastung mit dem
Kalibrier- bzw. Justiergewicht 11 gegeben sein. Die Auswahl der beiden
Spannungsquellen erfolgt durch einen Umschalter 19, der z. B. durch eine
umsteckbare Kurzschlußbrücke realisiert sein kann und von Hand
umgeschaltet/umgesteckt wird. Im nächsten Schritt 21 wird nun eine Wärmequelle
eingeschaltet, die die Referenzspannungsquelle 4 lokal erwärmt. Die Leistung
dieser Wärmequelle kann gering sein, da zum einen nur die geringe Masse der
Referenzspannungsquelle 4 und des Temperaturfühlers 14 erwärmt werden muß
und da die Temperaturerhöhung nur etwa 10 K betragen muß. Je nach
Gegebenheit kann die Wärmequelle z. B. ein kleiner Lötkolben sein, der von der
Bedienungsperson an die Referenzspannungsquelle 4 gehalten wird; sie kann aber
auch durch einen Heizwiderstand 17 gebildet werden, der in unmittelbarer Nähe
der Referenzspannungsquelle 4 auf der Platine angeordnet ist. Ist beispielsweise
die Referenzspannungsquelle 4 als SMD-Bauelement auf einer Platine angeordnet,
so kann der Heizwiderstand 17 als SMD-Widerstand direkt daneben angeordnet
sein. Wegen der geringen benötigten Heizleistung kann diese normalerweise vom
Netzteil der Waage geliefert werden, so daß für den Heizwiderstand keine
gesonderte Spannungszuführung notwendig ist. - Hat die Referenz
spannungsquelle 4 ihre erhöhte Temperatur erreicht und ändert sich diese nicht
mehr (Überwachung im Schritt 22), so wird die erhöhte Temperatur als T2
übernommen und gleichzeitig wird der Ausgang des A/D-Wandlers 3 als U2
übernommen (Schritt 23). Aus den beiden gemessenen Werten U1 und U2 sowie
den beiden gemessenen Temperaturen T1 und T2 wird dann der
Temperaturkoeffizient (U2-U1)/(T2-T1) der Referenzspannungsquelle 4 vom
Mikroprozessor 5 ausgerechnet und abgespeichert (Schritt 24). Anschließend wird
die Wärmequelle abgeschaltet (Schritt 25) und im Falle der Waage aus Fig. 1 geht
diese in das normale Wägeprogramm über (Schritt 26). Der so ermittelte und
abgespeicherte Temperaturkoeffizient dient dann im Mikroprozessor 5 zur
rechnerischen Korrektur des Temperatureinflusses, der durch die
Temperaturabhängigkeit der Referenzspannungsquelle 4 verursacht ist.
Für die im vorstehenden beschriebene Bestimmung des Temperaturkoeffizienten
der Referenzspannungsquelle 4 wird also der A/D-Wandler 3 gewissermaßen
invers betrieben: Normalerweise wandelt der A/D-Wandler 3 variable Spannungen
am Eingang 16 in einen digitalen Wert um und benutzt dazu die (als konstant
vorausgesetzte) Spannung der Spannungsquelle 4 als Referenz. Bei der
erfindungsgemäßen Bestimmung des Temperaturkoeffizienten der Referenz
spannungsquelle 4 wird nun umgekehrt die Eingangsspannung konstant gehalten
und die Temperatur der Referenzspannungsquelle 4 geändert. Eine Veränderung
im digitalen Ausgangssignal wird dabei als Spannungsänderung der
Referenzspannungsquelle 4 interpretiert und zur Bestimmung deren Temperatur
koeffizienten ausgewertet. Da der gesamte Meßzyklus innerhalb weniger Minuten
abläuft, ergibt sich nicht nur eine Zeitersparnis gegenüber der Methode, die
gesamte Waage auf eine erhöhte Temperatur zu bringen; auch die Anforderungen
an die Konstanz der Spannung am Eingang des A/D-Wandlers 3 sinken, da die
Eingangsspannung nur in dieser Zeitspanne von Minuten konstant sein muß.
Dadurch kann für diese Eingangsspannung z. B. eine zweite Spannungsquelle
benutzt werden, die noch nicht temperaturkompensiert wurde. Man muß nur
dafür sorgen, daß die benutzte Eingangsspannungsquelle eine möglichst konstante
Temperatur beibehält. Im Reparaturfall z. B. kann eine erste Referenz
spannungsquelle temperaturkompensiert werden unter Benutzung einer zweiten
Referenzspannungsquelle als Eingangsspannung für den A/D-Wandler. Dabei
wird natürlich nur die erste Referenzspannungsquelle beheizt, während die zweite
Referenzspannungsquelle, die die Eingangsspannung für den A/D-Wandler liefert,
auf möglichst konstanter Temperatur bleibt. Anschließend wird in genau gleicher
Weise die zweite Referenzspannungsquelle unter Benutzung der ersten
Referenzspannungsquelle als Eingangsspannung für den A/D-Wandler
temperaturkompensiert. In gleicher Weise kann bei einer Waage im Servicefall der
noch nicht temperaturkompensierte Wägegeber 1 als konstante Eingangs
spannungsquelle für den A/D-Wandler 3 benutzt werden, da der Wägegeber 1 als
thermisch träges System in der kurzen Zeit der Messung seine Temperatur
praktisch nicht ändert. Anschließend an die Temperaturkompensation der
Referenzspannungsquelle 4 kann die Temperaturkompensation des Wägegebers 1
in bekannter Weise durchgeführt werden. Der Mikroprozessor 5 hat dann zwei
Temperaturkoeffizienten gespeichert und führt während des normalen
Wägebetriebes zwei rechnerische Temperaturkompensationen durch: Unter
Benutzung des Signals des Temperaturfühlers 12 und des
Temperaturkoeffizienten des Wägegebers 1 wird der vom Wägegeber 1
stammende Temperatureinfluß korrigiert; unter Benutzung des Signals des
Temperaturfühlers 14 und des Temperaturkoeffizienten der Referenz
spannungsquelle 4 wird der von der Referenzspannungsquelle stammende
Temperatureinfluß korrigiert. Beträgt der Temperaturkoeffizient des
Wägergebers 1 z. B. 3 · 10-6/K und der Temperaturkoeffizient der Referenz
spannungsquelle 4 z. B. 2 · 10-6/K, so multipliziert der Mikroprozessor 5 im
normalen Wägeprogramm das Ergebnis vom A/D-Wandler 3 mit einem Faktor
[1-3 · 10-6 (T′-T1) + 2 · 10-6 (T-T1)], wobei T′ die momentan gemessene
Temperatur des Temperaturfühlers 12 ist, T die momentan gemessene
Temperatur des Temperaturfühlers 14 und T1 die Temperatur, bei der die
komplette Waage justiert wurde. Das verschiedene Vorzeichen in der
Korrekturformel ergibt sich deshalb, da eine Erhöhung der Signalspannung vom
Wägegeber 1 ja zu einer Erhöhung des vom A/D-Wandler 3 abgegebene
Ausgangssignal führt, während eine Erhöhung der Referenzspannung zu einer
Erniedrigung des vom A/D-Wandlers 3 abgegebene Ausgangssignal führt.
Selbstverständlich kann das im vorstehenden in seinen Grundzügen beschriebene
Verfahren in den Details verfeinert werden, was jeder Fachmann leicht selber
leisten kann: Zum Beispiel kann nach der Messung bei der erhöhten Temperatur
T2 und dem Abschalten der Wärmequelle nochmal die niedrige Temperatur
gemessen werden und der Temperaturkoeffizient aus der Aufheizphase und der
Abkühlphase errechnet werden und es kann z. B. auch die Übereinstimmung
beider Werte kontrolliert werden. Auch ist es möglich, den ganzen Meßzyklus
nochmal zu wiederholen, um durch Mittelwertbildung eine höhere Genauigkeit
und die Möglichkeit für eine zusätzliche Plausibilitätskontrolle zu erhalten. - Bei
der Ansteuerung der Wärmequelle 17 ist es selbstverständlich möglich, die
Heizleistung anfangs groß zu wählen, um eine schnelle Temperaturerhöhung zu
erhalten, und dann die Heizleistung etwas zu drosseln, um ein schnelles
Temperaturgleichgewicht zu erhalten. - Auch ist es möglich, durch verschiedene
Heizleistungen zwei verschiedene Übertemperaturen einzustellen und die
jeweiligen Temperaturkoeffizienten zu bestimmen. Dadurch kann auch eine
nichtlineare Temperaturabhängigkeit der Referenzspannung durch eine
angepaßte nichtlineare Korrekturformel im Mikroprozessor 5 korrigiert wer
den. - Bei der Benutzung des Ausgangssignals des Wägegebers 1 als konstante
Eingangsspannung für den A/D-Wandler 3 ist es selbstverständlich möglich, das
Signal ohne aufgelegtes Kalibrier- bzw. Justiergewicht 11 vom Signal mit
aufgelegtem Kalibrier- bzw. Justiergewicht 11 abzuziehen, um Nullpunkts
veränderungen des Wägegebers 1 zu eliminieren. Alle diese Rechen- und
Steueroperationen kann vorteilhafterweise der Mikroprozessor 5 übernehmen, der
ja auch für die Bestimmung des Temperaturkoeffizienten vorgesehen ist und der
auch die rechnerische Berücksichtigung des Temperaturkoeffizienten während des
normalen Wägebetriebes durchführt.
Selbstverständlich ist es auch möglich, weitere Bauelemente des A/D-Wandlers 3
bzw. auch Bauelemente der sonstigen Elektronik, deren Temperaturkoeffizienten
ebenfalls in das Endergebnis eingehen, räumlich in unmittelbarer Nähe der
Referenzspannungsquelle 4 und des Temperaturfühlers 14 anzuordnen und
dadurch bei der Bestimmung des Temperaturkoeffizienten der
Referenzspannungsquelle mit zu erwärmen und dadurch den
Summen-Temperaturkoeffizienten zu messen und entsprechend zu kompensieren.
Weiterhin ist es auch möglich, die Bestimmung des Temperaturkoeffizienten der
Referenzspannungsquelle nicht nur beim Erstabgleich und im Servicefall
durchzuführen, sondern periodisch jeweils nach Ablauf einer im Mikroprozessor 5
vorgegebenen Zeitspanne (beispielsweise 1 × pro Monat). Beispielsweise
würde der Mikroprozessor 5 bei einer Waage mit Stand-by-Betriebszustand nach
Ablauf der vorgegebenen Zeitspanne das nächste Umschalten in den
Stand-by-Betriebszustand abwarten, dann selbsttätig eine neue Bestimmung des
Temperaturkoeffizienten der Referenzspannungsquelle starten, den neuen
Temperaturkoeffizienten statt des alten Temperaturkoeffizienten im
Mikroprozessor 5 abzuspeichern und für die zukünftige Berechnung der
Temperaturkorrektur benutzen.
Claims (9)
1. Verfahren zur Kompensation des Temperaturkoeffizienten einer elektrischen
Spannungsquelle (4), die als Referenzspannungsquelle für einen
Analog/Digital-Wandler (3) dient und die in gutem thermischen Kontakt mit
einem Temperaturfühler (14) steht, wobei der Analog/Digital-Wandler (3) die
Größe einer analogen Eingangsspannung im Verhältnis zur Referenzspannung
in ein digitales Ausgangssignal umformt und dieses Ausgangssignal einem
Mikroprozessor (5) zugeführt wird, in dem
- - in einem ersten Schritt bei normaler Betriebstemperatur dem Eingang des Analog/Digital-Wandlers (3) eine konstante Spannung zugeführt wird und das Ausgangssignal des Analog/Digital-Wandlers (3) und des Temperatur fühlers (14) vom Mikroprozessor (5) übernommen werden,
- - anschließend eine Wärmequelle (17) eingeschaltet wird, die im wesentlichen nur die Referenzspannungsquelle (4) und den Temperaturfühler (14) erwärmt,
- - anschließend das Ausgangssignal des Analog/Digital-Wandlers (3) und des Temperaturfühlers (14) im erwärmten Zustand der Referenz spannungsquelle (4) vom Mikroprozessor (5) übernommen werden,
- - aus der Differenz der beiden Ausgangssignale des Analog/Digital-Wandlers (3) und der Differenz der beiden Temperaturfühler-Signale der Temperaturkoeffizient der Referenzspannungsquelle (4) im Mikro prozessor (5) bestimmt und abgespeichert wird
- - und der abgespeicherte Temperaturkoeffizient zur rechnerischen Korrektur des Temperatureinflusses der Referenzspannungsquelle (4) im Mikroprozessor dient.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Referenzspannungsquelle (4) und der Temperaturfühler (14) direkt
nebeneinander auf einer Platine angeordnet sind.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Wärmequelle
ein Widerstand (17), der direkt neben der Spannungsquelle (4) auf der Platine
angeordnet ist, benutzt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die
Spannungsquelle (4), der Temperaturfühler (14) und der Widerstand (17)
SMD-Bauelemente sind.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
eine externe Wärmequelle benutzt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß
weitere Bauelemente, die in den Temperaturkoeffizienten der
Referenzspannungsquelle (4) oder des Analog/Digital-Wandlers (3) eingehen,
in der Nähe der Referenzspannungsquelle (4) angeordnet sind.
7. Waage mit einem Wägegeber (1), der ein analoges Ausgangssignal abgibt, mit
einem Analog/Digital-Wandler (3), der dieses Ausgangssignal digitalisiert und
einem Mikroprozessor (5) zuführt, mit einer elektrischen Spannungsquelle (4),
die als Referenzspannungsquelle für den Analog/Digital-Wandler (3) dient und
die in gutem thermischen Kontakt mit einem Temperaturfühler (14) steht, und
mit einem Kalibrier- oder Justiergewicht (11), das motorbetrieben mit der
Waagschale (2) des Wägegebers (1) in Wirkverbindung gebracht werden kann,
dadurch gekennzeichnet,
- - daß ein Heizwiderstand (17) in engem thermischen Kontakt zur Referenz spannungsquelle (4) vorhanden ist,
- - daß der Heizwiderstand (17) vom Mikroprozessor (5) angesteuert werden kann,
- - daß bei normaler Betriebstemperatur der Sprung des Ausgangssignals des Analog/Digital-Wandlers (3) beim Auflegen des Kalibrier- oder Justier gewichtes (11) und das Ausgangssignal des Temperaturfühlers (14) vom Mikroprozessor übernommen werden,
- - daß anschließend der Mikroprozessor (5) den Heizwiderstand (17) einschaltet,
- - daß der Sprung des Ausgangssignals des Analog/Digital-Wandlers (3) beim Auflegen des Kalibrier- oder Justiergewichtes (11) und das Ausgangs signal des Temperaturfühlers (14) im erwärmten Zustand der Referenz spannungsquelle (4) vom Mikroprozessor (5) übernommen werden,
- - daß aus der Differenz der beiden Ausgangssignalsprünge des Analog/Digital-Wandlers (3) und der Differenz der beiden Ausgangssignale des Temperaturfühlers (14) der Temperaturkoeffizient der Referenz spannungsquelle (4) vom Mikroprozessor (5) bestimmt und abgespeichert wird
- - und daß der abgespeicherte Temperaturkoeffizient zur rechnerischen Korrektur des Temperatureinflusses der Referenzspannungsquelle (4) auf das Wägeergebnis benutzt wird.
8. Waage nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Mikroprozessor (5)
eine Uhr aufweist und nach Ablauf einer vorgegebenen Zeit eine Bestimmung
des Temperaturkoeffizienten der Referenzspannungsquelle (4) startet.
9. Waage nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Mikroprozessor (5)
die Bestimmung des Temperaturkoeffizienten der Referenzspannungsquelle (4)
nur startet, wenn sich die Waage im Stand-by-Betriebszustand befindet.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19619410A DE19619410A1 (de) | 1995-06-24 | 1996-05-14 | Verfahren zur Temperaturkompensation der elektrischen Referenzspannungsquelle eines Analog/Digital-Wandlers und Waage mit temperaturkompensierter Referenzspannungsquelle |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19523033 | 1995-06-24 | ||
DE19619410A DE19619410A1 (de) | 1995-06-24 | 1996-05-14 | Verfahren zur Temperaturkompensation der elektrischen Referenzspannungsquelle eines Analog/Digital-Wandlers und Waage mit temperaturkompensierter Referenzspannungsquelle |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19619410A1 true DE19619410A1 (de) | 1997-01-02 |
Family
ID=7765194
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19619410A Withdrawn DE19619410A1 (de) | 1995-06-24 | 1996-05-14 | Verfahren zur Temperaturkompensation der elektrischen Referenzspannungsquelle eines Analog/Digital-Wandlers und Waage mit temperaturkompensierter Referenzspannungsquelle |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19619410A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102018133563A1 (de) * | 2018-12-21 | 2020-06-25 | Wipotec Gmbh | Waage mit Überlastdiagnose |
-
1996
- 1996-05-14 DE DE19619410A patent/DE19619410A1/de not_active Withdrawn
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102018133563A1 (de) * | 2018-12-21 | 2020-06-25 | Wipotec Gmbh | Waage mit Überlastdiagnose |
DE102018133563B4 (de) * | 2018-12-21 | 2020-10-22 | Wipotec Gmbh | Waage mit Überlastdiagnose |
US11307078B2 (en) | 2018-12-21 | 2022-04-19 | Wipotec Gmbh | Scale with overload detection measured by auxiliary voltage |
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