DE19603179C1 - Interferometrischer Neigungsmesser - Google Patents
Interferometrischer NeigungsmesserInfo
- Publication number
- DE19603179C1 DE19603179C1 DE1996103179 DE19603179A DE19603179C1 DE 19603179 C1 DE19603179 C1 DE 19603179C1 DE 1996103179 DE1996103179 DE 1996103179 DE 19603179 A DE19603179 A DE 19603179A DE 19603179 C1 DE19603179 C1 DE 19603179C1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- interferometric
- housing
- liquid
- optical element
- inclinometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C9/00—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
- G01C9/18—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels by using liquids
- G01C9/20—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels by using liquids the indication being based on the inclination of the surface of a liquid relative to its container
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C9/00—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
- G01C9/02—Details
- G01C9/06—Electric or photoelectric indication or reading means
- G01C2009/066—Electric or photoelectric indication or reading means optical
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen interferometrischen Neigungsmesser gemäß dem
Oberbegriff des ersten Anspruchs zur Ermittlung der Neigung von Geräten unter
Verwendung einer das Licht einer Lichtquelle reflektierenden
Flüssigkeitsoberfläche.
Es ist allgemein üblich, Neigungsmessungen an Geräten, z. B. zur
Horizontierung solcher Geräte, Libellen zu verwenden, bei denen die Position
einer in einem Flüssigkeitsvolumen vorhandenen Gasblase bestimmt wird.
Solche Libellen besitzen jedoch den Nachteil, daß Neigungen nur in einem
relativ kleinen Winkelbereich ausreichend genau gemessen werden können.
Aus der DD 2 36 986 ist eine Libelle zur Ermittlung der Winkelposition einer
Einrichtung bekannt, bei welcher bei Neigung der Libelle im Bezug auf die
horizontale Ebene durch die Gasblase Lichtstrahlen einer
Beleuchtungseinrichtung beeinflußt werden. In horizontaler Lage der Libelle
passieren die Lichtstrahlen die Einrichtung unbeeinflußt.
In der DE 41 10 858 A1 ist ein zweiachsiger Neigungsmesser mit einem
neigungsempfindlichen und strahlenablenkenden Sensor beschrieben, über den
eine geometrische Figur mit mindestens einem Winkel auf ein Lineararray von
Fotoempfängern projiziert wird. Dabei ist der neigungsempfindliche und
strahlenablenkende Sensor als ein Flüssigkeitsprisma ausgebildet. Die
Ablenkung des Strahlenbündels erfolgt durch Brechung am geneigten
Flüssigkeitshorizont, wobei die Flüssigkeit wie ein optischer Keil wirkt. Als
Flüssigkeit ist transparentes Silikonöl vorgesehen.
Es sind weiterhin Anordnungen zur Neigungsmessung bekannt, bei denen die
Neigung der Geräte oder von Teile dieser Anordnungen mittels Interferenz von
Lichtstrahlen an einer Flüssigkeitsoberfläche ermittelt wird. So ist aus der SU-PS
1 451 541 eine Anordnung bekannt, mit welcher unter Auswertung von
Interferenzen gleicher Dicke interferentiell die Neigung von Objekten ermittelt
werden kann.
Bei einer weiteren Anordnung zur interferentiellen Neigungsmessung unter der
Zurhilfenahme einer Flüssigkeitsoberfläche wird ein Strahl mittels Spiegel und
Strahlenteiler in vier Teilstrahlen zerlegt. Zwei der Teilstrahlen werden durch
eine Küvette geleitet. Jeder der Teilstrahlen wird mit einem außerhalb der
Küvette verlaufenden Teilstrahl zur Interferenz gebracht und die entstehenden
Interferenzmuster detektiert. Diese Anordnung ist jedoch kompliziert
aufgebaut. So sind zur Realisierung des Interferometerstrahlenganges viele
zusätzliche optische Bauelemente im Form von ganz- oder teilverspiegelten
Reflektoren notwendig. [XX. Kongreß der Internationalen Vereinigung der
Vermessungsingenieure (März 1994) in Melbourne, Commission 6, Bericht SGS
653.2, Zhide L. and Shushou Z., "The newest Development of EDM
Trigonometrical Levelling in China"].
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen interferometrischen
Neigungsmesser zu schaffen, welcher technisch einfach ohne zusätzliche
optische Bauelemente aufgebaut ist und mit welchem eine präzise Ermittlung
der Neigung von Geräten und Objekten in einem weiten Meßbereich in der
Größenordnung einer Bogensekunde oder Bruchteilen davon durchgeführt
werden kann.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe mit einem Neigungsmesser gemäß dem
kennzeichnenden Teil des ersten Patentanspruches gelöst. Nähere Einzelheiten
und Ausführungen sind in den weiteren Ansprüchen beschrieben.
Der erfindungsgemäße Neigungsmesser nach dem ersten Anspruch stellt ein
kompaktes, wenige einfache Bauteile umfassendes Meßgerät dar, mit welchem
eine präzise Ermittlung der Neigung von Geräten oder Teilen von Geräten
vorgenommen werden kann. Eine hohe Stabilität der Messungen in einem
großen Temperaturbereich, wie er insbesondere bei geodätischen Messungen
im Gelände vorhanden ist, wird vor allem dadurch erreicht, daß alle
wesentlichen Elemente innerhalb des Gehäuses des Neigungsmessers
untergebracht sind. Da auch der interferometrische Strahlengang (Meß- und
Referenzstrahlengang) sowie der Interferenzpunkt, bei dem die Interferenzen
entstehen, welche von der Neigung abhängig sind, sich innerhalb des Gehäuses
befinden, wird eine weitgehende Unabhängigkeit von Umwelteinflüssen und
damit auch eine stabile Messung erreicht.
Zur verlustarmen Einleitung in das und Herausführung des von der Lichtquelle
ausgehenden Lichtbündels aus dem Gehäuse heraus ist am lichtdurchlässigen
Element jeweils ein Ein- und Auskoppelelement in Form von Prismen
vorgesehen. Als Ein- und Auskoppelelemente können auch Lichtleiter eingesetzt
werden, die zwischen der Lichtquelle und dem optischen Element und/oder
zwischen dem optischen Element und der Empfängeranordnung eingebaut sind.
Es ist vorteilhaft, wenn das optische Element aus miteinander verbundenen
Glasplatten besteht, zwischen denen die strahlenteilende Schicht gelegen ist
und wenn dieses optische Element mindestens eine das Referenzstrahlenbündel
umlenkende Reflektorfläche besitzt, wobei diese Reflektorfläche auf der der
Lichtquelle zugewandten Fläche des optischen Elementes, an der auch das Ein-
und Auskoppelelement angeordnet sind, im Bereich zwischen diesen
Koppelelementen liegt. Die Glasplatten werden vorteilhaft durch Kleben oder
Kitten miteinander verbunden. Bei dieser Ausführungsform schließt das optische
Element gleichzeitig das Gehäuse nach außen flüssigkeitsdicht ab.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist das optische Element
eine Glasplatte, auf deren, der Flüssigkeit abgewandten Fläche die
strahlenteilende Schicht aufgebracht ist. Parallel zu dieser Schicht und in einem
Abstand von ihr ist ein reflektierendes Element in Form eines Spiegels im Innern
des Gehäuses vorgesehen, an welchem das Referenzstrahlenbündel zum auf der
strahlenteilenden Schicht liegenden Interferenzpunkt umgelenkt wird, um dort
mit dem Meßstrahlenbündel zu interferieren.
Ein besonders robuster Neigungsmesser ergibt sich, wenn das Gehäuse aus
Metall besteht. Zur Einleitung des von der Lichtquelle, z. B. einem Laser oder
einer Laserdiode, ausgehenden Lichtbündels in das Gehäuse hinein und zur
Herausführung der Interferenzen aus dem Gehäuse heraus zwecks Abbildung
auf die Empfängeranordnung besitzt das Gehäuse an der unteren Seite jeweils
ein Lichteintritts- und ein Lichtaustrittsfenster.
Vorteilhaft ist ferner, wenn als Lichtquelle ein Laser zur Anwendung kommt und
die Empfängeranordnung ein CCD-Elemente umfassender Zeilenempfänger ist
oder eine aus CCD-Elementen zusammengesetzter Matrixempfänger ist, so daß
mit der CCD-Zeile einachsige oder mit dem CCD-Array auch zweiachsige
Neigungsmessungen durchführbar sind.
Die Erfindung soll nachstehend an Ausführungsbeispielen näher erläutert
werden. In der Zeichnung zeigen
Fig. 1 einen Neigungsmesser mit zusammengesetztem optischen Element und
Fig. 2 einen Neigungsmesser mit gesondertem reflektierenden Element.
Der in Fig. 1 im Querschnitt vereinfacht dargestellte interferometrische
Neigungsmesser umfaßt ein Gehäuse 1, in welchem eine an ein Luftvolumen 2
grenzende Flüssigkeit 3 enthalten ist, und welches von unten durch ein
optisches Element 4 verschlossen ist. Dieses optische Element 4 besteht aus zwei,
insbesondere durch Kitten oder Kleben miteinander verbundenen Glasplatten
4.1 und 4.2, zwischen denen sich eine strahlenteilende Schicht 5 befindet. An
der äußeren Fläche 4.3 des optischen Elementes 4 sind ein optisches
Einkoppelelement 6 und ein Auskoppelelement 7 angeordnet. Der Bereich der
Fläche 4.3, welcher zwischen den Koppelelementen 6 und 7 liegt, ist als optische
Reflektorfläche ausgebildet.
Ein von einer Lichtquelle 8, vorzugsweise einem Laser, ausgehendes Lichtbündel
wird durch das Einkoppelelement 6 in das optische Element 4 eingeleitet und in
einem auf der strahlenteilenden Schicht 5 liegenden Punkt A in ein
Meßstrahlenbündel ABC und ein Referenzstrahlenbündel ADC aufgespalten,
welche beide nach Durchlaufen unterschiedlicher optischer Wege (Strecke ABC ≠
Strecke ADC) im ebenfalls auf der Schicht 5 liegenden Punkt C zur Interferenz
gebracht. Das Referenzstrahlenbündel ADC wird dabei an der reflektierenden
äußeren Fläche 4.3 des Elementes 4 reflektiert und durchläuft stets einen
konstanten, von der Neigung unabhängigen optischen Weg. Das
Meßstrahlenbündel ABC, dessen optische Weglänge von der Neigung des
Neigungsmessers abhängig ist, wird nach Durchlaufen der Flüssigkeit 3 am an
das Luftvolumen 2 grenzenden Flüssigkeitshorizont im Punkt B total reflektiert
und zum Interferenzpunkt C gelenkt. Die hier entstehenden Interferenzen
werden durch das Auskoppelelement 7 und ein nachgeordnetes
Abbildungssystem 9 auf eine fotoelektrische Empfängeranordnung 10
abgebildet, welche für Messungen in nur einer Richtung ein CCD-
Reihenempfänger oder für Messungen in zwei Koordinaten eine CCD-Matrix ist.
Diese Empfängeranordnung 10 erzeugt neigungsabhängige elektrische Signale,
die einer nachgeschalteten Auswerteeinrichtung 11 zur Ermittlung der Neigung
des untersuchten Objektes zugeführt werden.
Die in Fig. 2 dargestellte Ausführungsform eines erfindungsgemäßen interfero
metrischen Neigungsmessers umfaßt ein durch einen Deckel 12 abgeschlossenes
Gehäuse 13, welches an seiner der Lichtquelle 8 zugewandten Fläche ein Licht
eintrittsfenster 14 und ein Lichtaustrittsfenster 15 besitzt. In Innern des Gehäuses
13 ist eine an ein Luftvolumen 2 grenzende Flüssigkeit 3 vorgesehen. Diese Flüs
sigkeit ist auf einem als Glasplatte ausgebildeten optischen Element 16 ange
ordnet, welches an seiner, der Flüssigkeit 3 abgewandten Fläche mit einer
strahlenteilenden Schicht 17 zur Aufspaltung des von der Lichtquelle 8 ausge
henden Strahlenbündels in ein Meßstrahlenbündel A′B′D′ und ein Referenz
strahlenbündel A′D′C′ belegt ist. Parallel zu und in einem Abstand von dieser
Schicht 17 ist ein das Referenzstrahlenbündel A′D′C′ reflektierendes Element 18
im Gehäuse 1 angeordnet. Auch bei dieser Anordnung durchläuft das Referenz
strahlenbündel A′D′C einen neigungsinvarianten optischen Weg, während der
optische Weg des Meßstrahlenbündels ABC von der Neigung der Anordnung
abhängig ist. Meß- und Referenzstrahlengang interferieren im auf der strahlen
teilenden Schicht 17 liegenden Punkt C′. Zur Abbildung der Interferenzen auf
die Empfängeranordnung 10 ist das Abbildungssystem 9 vorgesehen. Die Verar
beitung der durch die Empfängeranordnung 10 erzeugten elektrischen, der
Neigung der Anordnung proportionalen Signale erfolgt analog wie bereits
oben im Zusammenhang mit Fig. 1 beschrieben.
Claims (10)
1. Interferometrischer Neigungsmesser, umfassend
- - ein Gehäuse, in welchem eine an ein Gasvolumen grenzende Flüssigkeit vorgesehen ist und welches in seinem unteren Bereich durch mindestens ein lichtdurchlässiges Element verschlossen ist,
- - eine insbesondere monochromatisches Licht durch dieses mindestens eine lichtdurchlässige Element in das Gehäuse aussendende Lichtquelle
- - und eine fotoelektrische Empfängeranordnung zur Erzeugung neigungs abhängiger Signale,
dadurch gekennzeichnet,
- - daß im Gehäuse (1) ein optisches Element (4; 16) mit einer strahlenteilenden Schicht (5; 17) zur Aufspaltung des von der Lichtquelle ausgesandten Strahlen bündels in ein Meß- (ABC; A′B′C′) und ein Referenzstrahlenbündel (ADC; A′D′C′), wobei das Meßstrahlenbündel (ABC; A′B′C′) nach Durchlaufen der Flüs sigkeit (3) und totaler Reflexion an der Flüssigkeitsoberfläche mit dem, einen neigungsinvarianten optischen Weg durchlaufenden Referenzstrahlenbündel (ADC; A′D′C′) zur Interferenz gebracht wird
- - und daß ein optisches Abbildungssystem (9) zur Abbildung der Interferenzen auf die fotoelektrische Empfängeranordnung (10) vorgesehen ist.
2. Interferometrischer Neigungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net,
daß zur Lichtein- und Lichtauskopplung jeweils ein optisches Ein- (6) und Aus
koppelelement (7) am optischen Element (4) angeordnet ist.
3. Interferometrischer Neigungsmesser nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekenn
zeichnet,
daß das optische Element (4) mindestens eine das Referenzstrahlenbündel (ADC)
reflektierende äußere Fläche (4.3) besitzt.
4. Interferometrischer Neigungsmesser nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet,
daß das optische Element (4) aus miteinander verbundenen Glasplatten (4.1;
4.2) besteht, zwischen denen die strahlenteilende Schicht (5) angeordnet ist.
5. Interferometrischer Neigungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net,
- - daß das optische Element (16) eine Glasplatte ist, auf deren, der Flüssigkeit (3) abgewandten Fläche die strahlenteilende Schicht (17) aufgebracht ist
- - und daß parallel zu und in einem festen Abstand von dieser Schicht (17) ein das Referenzstrahlenbündel (A′D′C′) reflektierendes Element (18) im Gehäuse (13) angeordnet ist.
6. Interferometrischer Neigungsmesser nach Anspruch 1 und 5, dadurch gekenn
zeichnet,
daß an der der Lichtquelle (8) und der Empfängeranordnung (10) zugewandten
Fläche des Gehäuses (13) jeweils ein Lichteintritts- (14) und ein Lichtaustrittsfen
ster (15) vorgesehen ist.
7. Interferometrischer Neigungsmesser nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekenn
zeichnet,
daß das Gehäuse (1) an seiner der Lichtquelle (8) und der Empfängeranordnung
(10) zugewandten Seite durch das optische Element (4) flüssigkeitsdicht abge
schlossen ist.
8. Interferometrischer Neigungsmesser nach Anspruch 1 bis 7, dadurch gekenn
zeichnet,
daß als Lichtquelle (8) ein Laser vorgesehen ist.
9. Interferometrischer Neigungsmesser nach Anspruch 1 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet,
daß als Empfängeranordnung (10) eine CCD-Zeile oder eine CCD-Matrix
vorgesehen ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1996103179 DE19603179C1 (de) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | Interferometrischer Neigungsmesser |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1996103179 DE19603179C1 (de) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | Interferometrischer Neigungsmesser |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19603179C1 true DE19603179C1 (de) | 1997-02-06 |
Family
ID=7783990
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1996103179 Expired - Fee Related DE19603179C1 (de) | 1996-01-30 | 1996-01-30 | Interferometrischer Neigungsmesser |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19603179C1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1245925A2 (de) * | 2001-03-28 | 2002-10-02 | Kabushiki Kaisha Topcon | Neigungsmessvorrichtung |
-
1996
- 1996-01-30 DE DE1996103179 patent/DE19603179C1/de not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
XX. Kongreß der Internationalen Vereinigung der Vermessungsingenieure (März 1994) in Melbourne, Commission 6, Bericht SGS 653.2, Zhide L. and Shushou Z., "The newest Development of EDM Trigonometrical Levelling in China" * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1245925A2 (de) * | 2001-03-28 | 2002-10-02 | Kabushiki Kaisha Topcon | Neigungsmessvorrichtung |
EP1245925A3 (de) * | 2001-03-28 | 2002-11-27 | Kabushiki Kaisha Topcon | Neigungsmessvorrichtung |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0321529B1 (de) | Vorrichtung zur messung von abständen zwischen einem optischen element mit grosser chromatischer aberration und einem gegenstand | |
DE19941638C1 (de) | Geodätisches Gerät mit Laseranordnung | |
DE19611290A1 (de) | Laserdioden-Gassensor | |
EP1636542B1 (de) | Verfahren und messvorrichtung zur berührungslosen messung von winkeln oder winkeländerungen an gegenständen | |
EP0420852A1 (de) | Interferometrische einrichtung. | |
WO1997038327A1 (de) | Anordnung zur vermessung der koordinaten eines oder mehrerer, an einem objekt angebrachten, retroreflektor(en) | |
EP0210263B1 (de) | Vorrichtung zur optischen ermittlung von gestaltsfehlern niedriger ordnung | |
DE19603179C1 (de) | Interferometrischer Neigungsmesser | |
DE4229313A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Abstandsmessung von Oberflächen | |
DE3406175A1 (de) | Spektralmesskopf | |
DE112015006912T5 (de) | Optisches Entfernungsmesssystem | |
DE19828454B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Temperatur einer Zielfläche | |
DE202007002771U1 (de) | Zweiachsiger optischer Neigungsmesser | |
EP0043522A1 (de) | Refraktometer | |
DE102006042642A1 (de) | Terahertz Time-Domain Spektrometer | |
EP0473940B1 (de) | Fotometeranordnung mit Streulichtfalle | |
EP0218613A1 (de) | Anordnung zur ausrichtung, prüfung und/oder vermessung zweidimensionaler objekte. | |
DE19707109C1 (de) | Optisches Vibrometer | |
DE3112633A1 (de) | "zweistufeninterferometer" | |
DE3643842A1 (de) | Verfahren zur beruehrungslosen bestimmung der raeumlichen lage eines auf der oberflaeche eines koerpers befindlichen objektpunkts | |
DE4138562C2 (de) | Mikroprofilometermeßkopf | |
DE19829513C2 (de) | Optische Vorrichtungen zur Abstandsmessung an schwer zugänglichen Stellen auf Basis des Triangulationssensorverfahrens | |
DE3833659A1 (de) | Verfahren und einrichtung zum beruehrungslosen geschwindigkeitsmessen | |
DE1099185B (de) | Interferenzlineal | |
DE10135329B4 (de) | Vorrichtung zur Messung von Neigungswinkeln |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: ZSP GEODAETISCHE SYSTEME GMBH, 07745 JENA, DE |
|
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: TRIMBLE JENA GMBH, 07745 JENA, DE |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |