DE19539134C2 - Auswerteverfahren für berührungslos messende Weg-/Winkelaufnehmer mit sinusförmigen Spursignalen - Google Patents

Auswerteverfahren für berührungslos messende Weg-/Winkelaufnehmer mit sinusförmigen Spursignalen

Info

Publication number
DE19539134C2
DE19539134C2 DE1995139134 DE19539134A DE19539134C2 DE 19539134 C2 DE19539134 C2 DE 19539134C2 DE 1995139134 DE1995139134 DE 1995139134 DE 19539134 A DE19539134 A DE 19539134A DE 19539134 C2 DE19539134 C2 DE 19539134C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
angle
quadrant
output
signals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE1995139134
Other languages
English (en)
Other versions
DE19539134A1 (de
Inventor
Dieter Schoedlbauer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bourns Inc
Original Assignee
Ruf Electronics GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ruf Electronics GmbH filed Critical Ruf Electronics GmbH
Priority to DE1995139134 priority Critical patent/DE19539134C2/de
Publication of DE19539134A1 publication Critical patent/DE19539134A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19539134C2 publication Critical patent/DE19539134C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/244Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
    • G01D5/24404Interpolation using high frequency signals

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung des Tangens bzw. des Kotangens des Phasenwinkels alpha, abwechselnd in jeweils aufeinander folgenden Quadranten der Signalperiode, so daß nur die Phasenlage der beiden Signale zur Auswertung kommt und der genutzte Wertebereich der Winkelfunktionen zwischen -1 und +1 liegt. Das Verfahren vermeidet somit weitgehend den Einfluß von nicht stabilisierten Signalamplituden und führt bei vergleichsweise geringem Aufwand unmittelbar zu einem Ergebnis in digitalisieter Form. DOLLAR A Für die Bestimmung des jeweils gültigen Quadranten sowie der zugehörigen Winkelfunktionen wird ein Satz von vier sinusförmigen Signalen herangezogen, welche mit einer (örtlichen) Phasendifferenz von jeweils 45 DEG aufeinander folgen. DOLLAR A U¶0¶ (alpha) = A sin(alpha) und U¶1¶ (alpha) = A cos(alpha) sind die gemessenen Spursignale, aus denen durch Addition bzw. Subtraktion die zusätzlichen Signale U¶2¶ (alpha) und U¶3¶ (alpha) abgeleitet werden. Die Berechnung der Winkelfunktionen wird auf einen Vergleich zweier Analogspannungswerte mit sukzessiver Approximation zurückgeführt, wobei das Steuerregister des eingesetzten multiplizierenden Digital-Analog-(D/A)-Wandlers als Ergebnis das Bitmuster des (stets positiven) Ausdrucks DOLLAR F1 enthält, mit dessen Hilfe sich der gesuchte Phasenwinkel bzw. Lagewert alpha in konventioneller Weise über eine Winkeltabelle bestimmen läßt.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung des Phasenwinkels eines Positionsgebers gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches 1 und einen Positionsgeber gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches 7.
Aus der DE 41 00 666 A1 ist eine Interpolationsschaltung bekannt, die einen durch ein Sinus- und ein Cosinussignal aufgespannten Momentanvektor sukzessive durch einen mittels eines Vektorgenerators erzeugten Vergleichsvektor approximiert. In Komparatoren werden die Sinus- und Cosinus- Komponenten des Vergleichsvektors mit denen des Momentanvek­ tors verglichen und schrittweise solange verändert, bis Betrag und Winkel des Vergleichsvektors hinreichend genau mit dem Betrag und dem Winkel des Momentanvektors übereinstimmen.
Die DE 40 29 828 A1 beschreibt einen Drehwinkelsensor zur Bestimmung des Drehmoments an einer Lenksäule, bei dem vier Sinuswellensignale ausgewertet werden, wobei aus jeweils zwei dieser vier Signale mittels einer Winkelberech­ nungsschaltung der motorseitige bzw. der lenkradseitige Drehwinkel der Lenksäule und aus der Differenz der Torsions­ winkel ermittelt wird. Hierzu wird zunächst aus einem gemessenen Sinus- bzw. Cosinussignal ein hinsichtlich Mittenspannungsfehler korrigiertes Sinus- bzw. Cosinussignal berechnet. Aus den korrigierten Signalen wird, der Tangens gebildet und durch Anwenden der Arcustangensfunktion wird der Drehwinkel berechnet.
Aufgabe ist die Auswertung von zwei um 90° versetzten Sinussignalen (Sinus/Cosinus) für die genaue Bestimmung des Lagewertes innerhalb einer Signalperiode.
Die bekannten und derzeit eingesetzten Verfahren dienen hauptsächlich zur Steigerung der Auflösung bei inkrementalen Gebern mit sinusförmigen Spursignalen. Der gesuchte örtliche Lagewert setzt sich dabei aus zwei Anteilen zusammen: Für die Grobauflösung wird ein Periodenzähler verwendet, zur Feinauflösung innerhalb einer Signalperiode, d. h. zur Bestimmung des Phasenwinkels werden die digitalisierten Spannungswerte der beiden Spursignale herangezogen (siehe z. B. Zeitschrift Elektronik 1/94, "Spurenauswertung" mit Spezial-Chip, Seite 24ff.). Die digitalisierten Signalspannungswerte dienen direkt zur Adressierung der in einem Speicher abgelegten Winkeltabelle. Hierzu werden die Signale unabhängig voneinander entweder parallel in zwei getrennten Analog/Digital-(A/D)-Wandlern verarbeitet oder im Multiplexbetrieb mit einem Umsetzer konvertiert, sofern die Verarbeitungszeit dies erlaubt. Beiden Methoden ist im Gegensatz zu dem hier betrachteten Auswerteverfahren gemeinsam, daß die Signalamplituden der beiden Spuren jeweils unabhängig voneinander konstant sein müssen. Nur in diesem Fall existiert ein eindeutiger Zusammenhang zwischen den gemessenen Spannungswerten und dem gesuchten Phasenwinkel.
Es wird ein Approximationsverfahren für die Durchführung einer Tangens-Kotangens- Interpolation vorgeschlagen. Mit Hilfe dieser Methode läßt sich der Einfluß von nicht stabilisierten Signalamplituden weitgehend eliminieren, da vom Prinzip her nur die Phasenlage der beiden Signale zueinander zur Auswertung kommt.
Mathematische Beschreibung des Auswerteverfahrens
Die hier vorgestellte mathematische Beschreibung erhebt keinen Anspruch auf Vollständigkeit. Das Funktionsprinzip des Auswerteverfahrens wird jedoch ohne Beschränkung der Allgemeinheit hinreichend erfasst.
Die Fig. 1 bis 5 dienen zur graphischen Illustration der diskutierten Formeln.
Verwendete Formelzeichen und Abkürzungen:
α: Phasenwinkel, 0 ≦ α ≦ 2π
Ui: Signalspannungswerte mit Indices 0 ≦ i ≦ 3, siehe Text
A: Amplitude der Spursignale
Φ(x): Sprungfunktion, Φ(x) = 0 für x ≦ 0, Φ(x) = 1 für x < 0
q0, q1: Hilfsfunktionen, wie nachfolgend beschrieben
q(α): Nummer des Quadranten innerhalb einer Signalperiode, 0 ≦ q ≦ 3
cot_tan(α): je nach Quadrant wechselnde Winkelfunktion Tangens oder Kotangens
ϕ(α): Berechneter Lagewert (Endergebnis), 0 ≦ ϕ(α) ≦ 2π.
Gegeben sind die beiden sinusförmigen Spursignale U0 und U1 mit einer wechselseitigen Phasendifferenz von ±90 Grad (Fig. 1):
U0(α) = A.sin(α) (1)
U1(α) = A.cos(α) (2)
Durch Addition und Subtraktion der Meßspannungen (1) und (2) erhält man die Linearkombinationen U2 und U3 mit einer Phasenverschiebung von ±45° zu den Spursignalen (Fig. 2):
U2(α) = U1(α) + U0(α) = A.[cos(α) + sin(α)] (3)
U3(α) = U1(α) - U0(α) = A.[cos(α) - sin(α)] (4)
Zur Vermeidung von Singularitäten bei der nachfolgenden Quotientenbildung (Division durch Null) werden vier Quadranten q(α) definiert, in denen abwechselnd entweder eine Tangens- oder eine Kotangensfunktion zur Auswertung gelangt (siehe die Fig. 3 und 4).
Mit den Modellfunktionen q0, q1 gemäß
q0(α) = 1 - Φ[U0(α).U1(α)] (5)
q1(α) = 1 - Φ[U0(α)] (6)
ergeben sich die vier Quadranten q = 0 . . . 3 innerhalb einer Signalperiode zu
q(α) = q0(α) + 2.q1(α) (7)
Die Festlegung der jeweils verwendeten Winkelfunktion tan(α) oder cot(α) erfolgt mit Hilfe von q0(α). Hierzu wird eine Funktion cot_tan(α) wie folgt definiert (vgl. Fig. 4):
Für den gesuchten Lagewert ϕ(α) innerhalb einer Signalperiode erhält man den Ausdruck
Fig. 5 zeigt den erwarteten Verlauf von ϕ(α) gemäß Gl. (9).
Schaltungstechnische Realisierung
Das Kernstück des hier vorgestellten Verfahrens ist die sukzessiv-approximative Auswertung der Gln. (8a, 8b) durch einen Spannungsvergleich, ähnlich wie bei einem nach diesem Prinzip arbeitenden A/D-Wandler. Zum besseren Verständnis ist es vorteilhaft, die beiden Gleichungen umzuformen, z. B. Gl. (8a):
Aus
folgt
U2(α) - cot_tan(α).U3(α) = 0 (10)
Ein multiplizierender Digital-Analog-(D/A)-Wandler erzeugt die Ausgangsspannung Ua = cot_tan(α).U3(α), wobei das Analogsignal U3(α) prinzipiell als Referenzspannung URef dient und cot_tan(α) als Binärzahl über das eingegebene Bitmuster angenähert wird. Der Wandlerzyklus ist dann abgeschlossen, wenn durch Vergleich von Ua mit dem Signalspannungswert U2(α) mittels eines Komparators die Gleichung (10) "gelöst" ist und das Steuerregister demzufolge den Zahlenwert der gewünschten Winkelfunktion cot_tan(α) enthält. Anschließend läßt sich der gesuchte Phasenwinkel bzw. Lagewert ϕ(α) in konventioneller Weise über eine Winkeltabelle auslesen.
Für die praktische Durchführung der Multiplikation ist zu beachten, daß die cot-/tan-Funktionen wegen des Wertebereiches von -1 bis +1 beide Vorzeichen annehmen können (siehe Fig. 4).
Mit den Gleichungen (3) und (4) gilt
U2(α) + U3(α) = 2.U1(α)
und somit
Bei Auswertung der Gleichung (11) anstelle von (10) tritt kein Vorzeichenwechsel des Multiplikators mehr auf. Entsprechend lautet die Gl. (8b) in umgeschriebener Form
Die Fig. 6 zeigt die entsprechende Beschaltung der Tan-/Cot-Interpolation unter vorteilhafter Zugrundelegung der Gleichungen (11) und (12).
Die beiden Spursignale U0(α) und U1(α) werden verstärkt, zur Bildung von U2(α) und U3(α) addiert bzw. subtrahiert und mittels Halteglieder für die Dauer einer Abtastperiode "eingefroren". Zur Bestimmung des Quadranten q mit Bitmuster Dn+1Dn dient eine Quadrantenlogik, wobei zunächst die Spursignale U0(α) und U1(α) mit Hilfe von Komparatorschaltungen in die Logikzustände u0(α) und u1(α) übergeführt werden:
U0(α) < 0 ⇒ u0(α) = 1
U0(α) < 0 ⇒ u0(α) = 0
U1(α) < 0 ⇒ u1(α) = 1
U1(α) < 0 ⇒ u1(α) = 0
mit Dn+1, Dn = f(u0, u1)
Für Dn gilt die Funktionstabelle
d. h. Dn = u0 xor u1
Für Dn+1 gilt die Funktionstabelle
d. h. Dn+1 = u0
Das niederwertige Bit Dn des Quadranten entscheidet, ob U3(α) oder U2(α) als Referenzspannung URef für den D/A-Wandler dient, d. h. ob die Gl. (11) oder die Gl. (12) zur Auswertung kommt. Bei Verwendung eines Wandlers mit Bitbreite n steht nach dem Auslesen der Winkeltabelle der Lagewert ϕ(α) als durchgängige Binärzahl D0 . . . Dn+1 mit einer Auflösung von (n + 2) Bit zur Verfügung:
Dn-1 bis D0: Feinauflösung innerhalb des Quadranten Dn+1Dn mit n Bit
Dn+1Dn: Nummer des Quadranten

Claims (10)

1. Verfahren zur Ermittlung des Phasenwinkels (α) eines Positionsgebers, bei dem
  • a) der Positionsgeber in Abhängigkeit vom Phasenwin­ kel (α) ein sinusförmiges Ausgangssignal (U0(α) = A.sinα) und ein cosinusförmiges Ausgangssignal (U1(α) = A.cosα) liefert, dadurch gekennzeichnet, daß
  • b) mittels eines Addierers aus diesen Ausgangssigna­ len eine erste Liniearkombination (U2 = U1 + U0) und mittels eines Subtrahierers eine zweite Linearkombination (U3 = U1 - U0) erzeugt wird,
  • c) mittels einer Quadrantenlogik aus den Vorzeichen der sinus- und cosinusförmigen Ausgangssignale (U0, U1) bestimmt wird, in welchem Quadranten der Phasenwinkel (α) ist und ein entsprechendes digitales Quadrantensignal (Dn+1, Dn) erzeugt wird,
  • d) in Abhängigkeit von dem Quadrantensignal (Dn+1, Dn) entweder die erste oder die zweite Linearkom­ bination (U2, U3) mittels eines Digital-/Analog­ wandlers mit einem Iterationswinkelsignal (D0, . . ., Dn-1) zu einem analogen Multiplikationssignal multipliziert wird, wobei das Iterations­ winkelsignal (D0, . . ., Dn-1) schrittweise in Abhängigkeit vom Quadrantensignal (Dn+1, Dn) einer Funktion
    angenähert wird,
  • e) mittels eines Komparators, das Multiplikations­ signal mit dem Ausgangssignal (U1) verglichen wird und
  • f) bei Übereinstimmung des Multiplikationssignals mit dem Ausgangssignal (U1) das Quadrantensignal (Dn+1, Dn) zusammen mit dem Iterationswinkelsignal (D0, . . ., Dn-1) als ein dem Phasenwinkel entsprechen­ des Winkelsignal (Dn+1, Dn; D0, . . ., Dn-1) ausgegeben wird und bei Nichtübereinstimmung die Schritte d) bis f) mit einem modifizierten Iterationswinkel­ signal (D0, . . ., Dn-1) wiederholt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgangssignale (U0, U1) verstärkt werden und zur Bildung der Linearkombinationen (U2, U3) mittels eines Halteglieds für die Dauer einer Abtastperiode gehalten werden.
3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung des digitalen Quadrantensignals aus den Ausgangssignalen (U0, U1) Logiksignale (u0, u1) erzeugt werden, wobei
  • - einem Ausgangssignal U0 < 0 das Logiksignal u0 = 1,
  • - einem Ausgangssignal U0 < 0 das Logiksignal u0 = 0,
  • - einem Ausgangssignal U1 < 0 das Logiksignal u1 = 1,
  • - einem Ausgangssignal U1 < 0 das Logiksignal u1 = 0
zugeordnet ist.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Bits Dn+1 und Dn des digitalen Quadrantensignals (Dn+1, Dn) durch zugeordnete logische Operationen aus den Logiksignalen u0 und u1 gebildet werden, wobei Dn durch eine XOR-Operation aus u0 und u1 und Dn+1 durch eine Negierungs-Operation aus u0 gebildet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Vergleich des Multiplikations­ signals mit dem Ausgangssignal (U1) durch die Bildung einer Differenz
erfolgt, wobei das Iterationswinkelsignal (D0, . . ., Dn-1) durch sukzessive Approximation solange verändert wird, bis die Differenz Null ist.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Quadrantensignal (Dn+1, Dn) zusammen mit dem Iterationswinkelsignal (D0, . . ., Dn-1) mittels einer trigonometrischen Funktion oder einer Winkeltabelle auf einen Winkel abgebildet werden, der dem tatsächli­ chen Phasenwinkel entspricht.
7. Positionsgeber zur Ermittlung eines Phasenwinkels (α) mit
  • a) einem Sensor, der in Abhängigkeit von dem Phasen­ winkel (α) ein sinusförmiges Ausgangssignal (U0(α) = A.sinα) und ein cosinusförmiges Ausgangssignal (U1(α) = A.cosα) erzeugt, dadurch gekennzeichnet, daß
  • b) ein Addierer vorgesehen ist, der aus diesen Aus­ gangssignalen eine erste Linearkombination (U2 = U1 + U0) erzeugt und ein Subtrahierer, der eine zweite Linearkombination (U3 = U1 - U0) erzeugt,
  • c) eine Quadrantenlogik, die durch Untersuchung der Vorzeichen der Ausgangssignale (U0, U1) bestimmt, in welchem Quadranten der Phasenwinkel (α) ist und ein entsprechendes digitales Quadrantensignal (Dn+1, Dn) erzeugt,
  • d) einem Mikroprozessor, dem das digitale Quadranten­ signal (Dn+1, Dn) zugeführt wird,
  • e) einem Digital-/Analogwandler, dem in Abhängigkeit von dem Quadrantensignal (Dn+1, Dn) entweder die erste Linearkombination (U2) oder die zweite Linearkombination (U3) als Referenzsignal zuge­ führt wird, wobei der Mikroprozessor dem Digital- /Analogwandler laufend ein Iterationswinkelsignal (D0, . . ., Dn-1) zuführt, welches der Digital- /Analogwandler mit dem Referenzsignal zu einem Multiplikationssignal multipliziert, wobei das Iterationswinkelsignal (D0, . . ., Dn-1) schrittweise in Abhängigkeit vom Quadrantensignal (Dn+1, Dn) einer Funktion
    angenähert wird,
  • f) einem Komparator, dem das Multiplikationssignal zugeführt wird, wobei der Komparator das Multiplikationssignal mit dem Ausgangssignal (U1) vergleicht und dem Mikroprozessor ein Vergleichssignal zuführt und wobei der Mikro­ prozessor bei Übereinstimmung des Multiplikations­ signals mit dem Ausgangssignal (U1) das Quadran­ tensignal (Dn+1, Dn) zusammen mit dem Iterations­ winkelsignal (D0, . . ., Dn-1) als ein dem Phasenwinkel entsprechendes Winkelsignal (Dn+1, Dn; D0, . . ., Dn-1) ausgibt und bei Nichtübereinstimmung dem Digital- /Analogwandler im nächsten Takt ein modifiziertes Iterationswinkelsignal (D0, . . ., Dn-1) zuführt, bis das Multiplikationssignal mit dem Ausgangssignal (U1) übereinstimmt.
8. Positionsgeber nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein Verstärker zur Verstärkung der Ausgangssignale (U0, U1) und ein Halteglied vorgesehen ist, das die Ausgangssignale (U0, U1) zur Bildung der Linearkombina­ tionen (U2, U3) für die Dauer einer Abtastperiode hält.
9. Positionsgeber nach einem der Ansprüche 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß ein Schalter vorgesehen ist, der durch das Quadrantensignal (Dn+1, Dn) umschalt­ bar ist und der zwei Eingänge aufweist, an denen die Signale der Linearkombinationen (U2, U3) anliegen und einen Ausgang, der mit einem Referenzsignaleingang des Digital-/Analogwandlers verbunden ist.
10. Positionsgeber nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß ein Periodenzähler vorgese­ hen ist, der die vollen Umdrehungen des Positionsgebers ermittelt.
DE1995139134 1995-10-20 1995-10-20 Auswerteverfahren für berührungslos messende Weg-/Winkelaufnehmer mit sinusförmigen Spursignalen Expired - Lifetime DE19539134C2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1995139134 DE19539134C2 (de) 1995-10-20 1995-10-20 Auswerteverfahren für berührungslos messende Weg-/Winkelaufnehmer mit sinusförmigen Spursignalen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1995139134 DE19539134C2 (de) 1995-10-20 1995-10-20 Auswerteverfahren für berührungslos messende Weg-/Winkelaufnehmer mit sinusförmigen Spursignalen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19539134A1 DE19539134A1 (de) 1997-04-24
DE19539134C2 true DE19539134C2 (de) 2001-05-23

Family

ID=7775378

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1995139134 Expired - Lifetime DE19539134C2 (de) 1995-10-20 1995-10-20 Auswerteverfahren für berührungslos messende Weg-/Winkelaufnehmer mit sinusförmigen Spursignalen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19539134C2 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10301848A1 (de) * 2003-01-09 2004-07-22 Anton Rodi Messeinrichtung zur Erfassung von Größen insbesondere von Winkeln oder Wegstrecken
CN101430190B (zh) * 2007-11-06 2011-05-11 株式会社三丰 干涉仪
DE102011118928A1 (de) 2011-11-21 2013-05-23 Bourns, Inc. Drehwinkelsensor

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19719564A1 (de) * 1997-05-09 1998-11-12 Mannesmann Vdo Ag Verfahren zum Messen des Drehwinkels einer drehbaren Welle, insbesondere eines drehbaren Schalters und Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens
DE19729347A1 (de) * 1997-07-09 1999-01-14 Franz Gleixner Kapazitive Meßvorrichtung für Winkel oder Wege
DE19747753C1 (de) * 1997-10-29 1999-05-12 Ruf Electronics Gmbh Verfahren zum Ermitteln des Phasenwinkels bei Positionsgebern mit sinusförmigen Ausgangssignalen
DE19818799C2 (de) * 1997-12-20 1999-12-23 Daimler Chrysler Ag Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Winkeln
DE19831960A1 (de) * 1998-07-16 2000-01-20 Itt Mfg Enterprises Inc Wegsensor
DE19836599A1 (de) * 1998-08-13 2000-02-17 Windhorst Beteiligungsgesellsc Verfahren zur berührungslosen magnetischen Erfassung linearer Relativbewegungen zwischen Dauermagneten und elektronischen Sensoren
DE19849554C1 (de) 1998-10-27 2000-03-02 Ruf Electronics Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Absolutposition bei Weg- und Winkelgebern
DE19947370C2 (de) * 1999-10-01 2001-10-18 Ruf Electronics Gmbh Wegsensor
GB2356049B (en) * 1999-11-04 2004-04-28 Elliott Ind Ltd Improvements in or relating to position detectors
DE10042602A1 (de) * 2000-08-30 2002-03-28 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Erweiterung des Absolutwinkelmessbereiches bei Magnetfeldsensoren
DE10048911C1 (de) * 2000-10-02 2002-04-25 Ruf Electronics Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Absolutposition bei Weg- und Winkelgebern
DE10114258A1 (de) * 2001-03-22 2002-09-26 Ivo Gmbh & Co Winkelmessvorrichtung zur Erfassung der genauen absoluten Position einer Geberwelle
DE10210372A1 (de) * 2002-03-08 2003-09-25 Siemens Ag Drehwinkelsensor mit hoher Winkelauflösung
DE10334869B3 (de) 2003-07-29 2004-09-16 Tech3 E.K. Drehwinkelsensor
DE102011103576A1 (de) 2011-05-30 2012-12-06 Megamotive Gmbh & Co. Kg Drehwinkelsensor

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4029828A1 (de) * 1989-09-20 1991-04-25 Hitachi Ltd Einrichtung zur erfassung des drehwinkels einer rotierenden welle und diese einrichtung verwendende rotationssteuervorrichtung
DE4100666A1 (de) * 1990-11-07 1992-05-14 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Vorrichtung zur unterteilung von analogen periodischen signalen
DE4422868A1 (de) * 1994-06-30 1996-01-11 Itt Ind Gmbh Deutsche Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen eines Drehwinkels eines Magneten

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4029828A1 (de) * 1989-09-20 1991-04-25 Hitachi Ltd Einrichtung zur erfassung des drehwinkels einer rotierenden welle und diese einrichtung verwendende rotationssteuervorrichtung
DE4100666A1 (de) * 1990-11-07 1992-05-14 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Vorrichtung zur unterteilung von analogen periodischen signalen
DE4422868A1 (de) * 1994-06-30 1996-01-11 Itt Ind Gmbh Deutsche Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen eines Drehwinkels eines Magneten

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Thomas Henke: "Spurenauswertung mit Spezial-Chip",in: Elektronik 1/1994, S. 24-31 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10301848A1 (de) * 2003-01-09 2004-07-22 Anton Rodi Messeinrichtung zur Erfassung von Größen insbesondere von Winkeln oder Wegstrecken
DE10301848B4 (de) * 2003-01-09 2014-10-09 Anton Rodi Messeinrichtung zur Erfassung von Größen, insbesondere von Winkeln oder Wegstrecken
CN101430190B (zh) * 2007-11-06 2011-05-11 株式会社三丰 干涉仪
DE102011118928A1 (de) 2011-11-21 2013-05-23 Bourns, Inc. Drehwinkelsensor
WO2013075796A1 (de) 2011-11-21 2013-05-30 Bourns, Inc. Drehwinkelsensor
US9366523B2 (en) 2011-11-21 2016-06-14 Bourns, Inc. Rotation angle sensor
DE102011118928B4 (de) * 2011-11-21 2017-12-07 Bourns, Inc. Drehwinkelsensor

Also Published As

Publication number Publication date
DE19539134A1 (de) 1997-04-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19539134C2 (de) Auswerteverfahren für berührungslos messende Weg-/Winkelaufnehmer mit sinusförmigen Spursignalen
DE69727368T2 (de) Interpolationsschaltung für kodiervorrichtung
DE19747753C1 (de) Verfahren zum Ermitteln des Phasenwinkels bei Positionsgebern mit sinusförmigen Ausgangssignalen
DE19502399C2 (de) Verfahren zur Fehlerkorrektur bei einem Positionssensor
DE69634656T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Phasendetektion für ein Lageerfassungssystem
DE4331151C2 (de) System zur Messung der Absolutposition des beweglichen, zyklischen Teilungsmarken-Trägers eines inkrementalen Positionsgebers
WO2006015948A1 (de) Ermittlungsverfahren für ein lagesignal
CH628426A5 (de) Verfahren und vorrichtung zur kompensation fehlerhafter signalparameter.
DE3046797A1 (de) Elektrooptisches messsystem mit fehlerkorrektur
DE19548385A1 (de) Verfahren zur Ermittlung der Winkelposition einer Drehachse eines Gegenstandes durch einen Rechner
DE112015001715T5 (de) Verfahren zur Messung der Schwingverschiebung unter Verwendung des Zustandsvariationsprinzips
EP0269779B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Winkelgeschwindigkeit aus zwei Signalen, die jeweils eine Funktion des Drehwinkels sind
DE3838291C1 (de)
DE2934775A1 (de) Servosteuersystem
EP3124920B1 (de) Positionsmesseinrichtung und Verfahren zu deren Betrieb
DE102004021057A1 (de) Codierersignalinterpolationsdividierer
DE4443898A1 (de) Positionsmeßverfahren und Positionsmeßeinrichtung
DE10042602A1 (de) Verfahren zur Erweiterung des Absolutwinkelmessbereiches bei Magnetfeldsensoren
DE19747563A1 (de) Lageerfassungsvorrichtung
DE19934478A1 (de) Digitale Interpolationseinrichtung
DE19938802B4 (de) Verfahren und Schaltungsanorndung zur Interpolation
DE10247321B3 (de) Verfahren zum Offsetabgleich einer Sensoranordnung zur Erfassung einer Bewegung oder eines Drehwinkels
DE10114258A1 (de) Winkelmessvorrichtung zur Erfassung der genauen absoluten Position einer Geberwelle
DE3411115A1 (de) Kombinationssensor
WO2016004927A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung einer motorposition

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: RUF ELECTRONICS GMBH, 85635 HOEHENKIRCHEN-SIEGERTS

8181 Inventor (new situation)

Free format text: SCHOEDLBAUER, DIETER, DIPL.-PHYS. DR., 81825 MUENCHEN, DE

8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: RUF AUTOMOTIVE GMBH, 85635 HOEHENKIRCHEN-SIEGERTSBR

8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: BOURNS, INC., RIVERSIDE, CALIF., US

8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: VON BUELOW, T., DIPL.-ING.DIPL.-WIRTSCH.-ING.DR.RER

R071 Expiry of right