DE19515024A1 - Reinigungsmittel und Verfahren zum Reinigen von Halbleiterscheiben - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Reinigungsmittel und ein Verfah­ ren zum Reinigen von Halbleiterscheiben. Ziel des Verfahrens ist es, Verunreinigungen von der Scheibenoberfläche zu ent­ fernen. Unter dem Begriff Verunreinigungen sind vor allem Fremdmetalle, organische Verbindungen und Partikel mit Durchmessern im Bereich von weniger als 1 µm zu verstehen.

Eine seit langem bekannte und oft verwendete Reinigungs- Methode ist die sogenannte RCA-Reinigung (W.Kern, D.A. Puotinen, RCA Review, vol. 31, p. 187-206 (1970)). Fester Bestandteil dieses Verfahrens sind zwei Reinigungsbäder, in denen die Halbleiterscheiben zunächst mit einer als SC1- Lösung bezeichneten, wässerigen Flüssigkeit und dann mit einer als SC2-Lösung bezeichneten, wässerigen Flüssigkeit behandelt werden. Während es sich bei der SC1-Lösung um eine Lösung von Wasserstoffperoxid und Ammoniumhydroxid handelt, deren oxidativ-alkalische Beschaffenheit für die Entfernung von Partikeln und organischen Rückständen verantwortlich ist, werden mit der auf verdünnter Salzsäure und Wasser­ stoffperoxid basierenden SC2-Lösung hauptsächlich Fremd­ metalle von den Oberflächen der behandelten Halbleiterschei­ ben entfernt. Nachteilig an der zweistufigen RCA-Reinigung ist, daß die SC1-Lösung die Oberflächen von Halbleiterschei­ ben zwar weitgehend von Partikeln befreit, gleichzeitig aber eine zusätzliche Quelle für die Verunreinigung der Halblei­ terscheiben mit Fremdmetallen wie Eisen, Zink und Aluminium ist. Ebenso wird zwar durch die anschließende Behandlung mit SC2-Lösung die meßbare Konzentration an Fremdmetallen auf den Scheibenoberflächen deutlich verringert, jedoch steigt durch diese Behandlung die Zahl der auf den Scheibenober­ flächen haftenden Partikel wieder an (P.H.Singer in Semicon­ ductor International, p. 36-39 (Dec. 1992)).

Verschiedene Verfahren zum Reinigen von Halbleiterscheiben unterstützen das Entfernen von Verunreinigungen dadurch, daß Energie, beispielsweise in Form von Schallwellen ("Megasonic- und Ultrasonic-Reinigung") (oder in Form von kinetischer Energie ("Scrubber-Verfahren")) in ein Reini­ gungsbad mit Halbleiterscheiben eingetragen wird. Bei den sogenannten "Scrubber-Verfahren" wird beispielsweise über Walzenstöcke auf den Seitenflächen von Halbleiterscheiben ein stark strömender Reinigungsmittel-Film erzeugt, der sehr wirksam oberflächlich anhaftende Partikel abzulösen vermag (W.C.Krusell, D.I.Golland, Proc.Electrochem.Soc., p. 23-32 (1990)).

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung bestand darin, ein Reinigungsmittel und ein Verfahren zum Reinigen von Halblei­ terscheiben anzugeben, die geeignet sind, Verunreinigungen auf den Oberflächen von Halbleiterscheiben wirksam zu ent­ fernen.

Gelöst wird die Aufgabe durch ein wässeriges Reinigungsmit­ tel zum Reinigen von Halbleiterscheiben, das dadurch gekenn­ zeichnet ist, daß das Reinigungsmittel mindestens ein Tensid und mindestens eine Verbindung, die einer Gruppe von Verbindungen angehört, die Bernsteinsäure und deren Derivate umfaßt, enthält und einen pH-Wert von 1 bis 5, vorzugsweise pH 1 bis 3 aufweist. Ferner wird die Aufgabe durch ein Verfahren gemäß dem kennzeichnenden Teil des unabhängigen Verfahrensanspruchs gelöst.

Das Reinigungsmittel und das Verfahren sind besonders zum Reinigen von Halbleiterscheiben aus Silicium geeignet.

Halbleiterscheiben müssen im Verlauf ihrer Herstellung mehr­ mals gereinigt werden. Üblicherweise wird jede mechanische oder chemische Behandlung der Scheibenoberflächen mit einem Reinigungsschritt abgeschlossen. Beispielsweise ist nach dem Läppen eine Scheibenreinigung ebenso notwendig, wie nach dem chemischen Ätzen oder nach dem Polieren. Die eingangs er­ wähnte RCA-Reinigung dient meistens zum Reinigen von polier­ ten Halbleiterscheiben. Prinzipiell kann jeder im Verlauf der Herstellung von Halbleiterscheiben fällige Reinigungs­ schritt mit einem Reinigungsmittel der vorliegenden Erfin­ dung durchgeführt werden. Bevorzugt ist es jedoch, das Rei­ nigungsmittel zum Reinigen von polierten Halbleiterscheiben einzusetzen. Besonders gute Reinigungsergebnisse lassen sich erzielen, wenn polierte Halbleiterscheiben mit einer SC1- Lösung oder einer SC1-Lösung und einer SC2-Lösung vorbehan­ delt und mit dem erfindungsgemäßen Reinigungsmittel nachge­ reinigt werden.

Die Halbleiterscheiben können zum Reinigen in ein Bad des Reinigungsmittels getaucht werden. Bevorzugt ist jedoch, die Reinigung der Halbleiterscheiben durch Zuführung von kineti­ scher Energie zum Reinigungsmittel zu unterstützen. Beson­ ders bevorzugt ist es, dazu das "Scrubber-Verfahren" zu ver­ wenden oder in Gegenwart des Reinigungsmittels eine oder mehreren Walzen aus Kunststoff parallel zur Scheibenseiten­ fläche zu bewegen. Die Halbleiterscheibe wird mechanisch nicht beansprucht, wenn das Tuch das Reinigungsmittel zu einem dünnen, über die Scheibenseitenfläche strömenden Film verteilt.

Das Reinigungsmittel enthält neben Wasser mindestens ein Tensid und mindestens eine Verbindung einer Gruppe von Verbindungen, die Bernsteinsäure und deren Derivate umfaßt. Ferner weist das Reinigungsmittel einen pH-Wert von 1 bis 5, vorzugsweise pH 1 bis 3 auf. Gegebenenfalls ist auch Salzsäure im Reinigungsmittel enthalten. Die Salzsäure kann beispielsweise verwendet werden, um den pH-Wert des Reinigungsmittels einzustellen.

Der Tensid-Anteil im Reinigungsmittel beträgt bevorzugt 0,01 bis 1 Gew.-%. Besonders bevorzugt sind Reinigungsmittel, die 0,01 bis 0,1 Gew.-% Tensid enthalten. Als Tenside können Einzelverbindungen oder Tensidgemische verwendet werden. Be­ vorzugt sind anionische, amphotere oder nichtionische Ten­ side, die in wässeriger Lösung einen neutralen oder schwach sauren pH-Wert erzeugen. Besonders bevorzugte Tenside sind Alkylphenoloxethylate sowie Alkylpolyglykolethersulfate.

Das Reinigungsmittel enthält eine oder mehrere Verbindungen aus einer Gruppe von Verbindungen, zu der Bernsteinsäure und deren Derivate gehören. Besonders zu erwähnende Mitglieder dieser Gruppe sind Bernsteinsäure, Sulfobernsteinsäure und deren Mono- und Diesterderivate. Besonders bevorzugt werden Bernsteinsäure (HOOCCH₂CH₂COOH) und/oder Sulfobernsteinsäure (HOOCCH₂CH(SO₃H) COOH) verwendet. Die Konzentration dieses Bestandteils des Reinigungsmittels beträgt vorzugsweise insgesamt 0,001 bis 1,0 Gew.-%, besonders bevorzugt 0,01 bis 0,1 Gew.-%.

Gegebenenfalls kann das Reinigungsmittel eine weitere Stoff­ komponente enthalten, die metallkomplexbildende Eigenschaf­ ten aufweist. Eriochromschwarz T und/oder Ferritin eignen sich dafür besonders gut.

Die Leistungsfähigkeit des Reinigungsmittels wird in der nachfolgenden Gegenüberstellung an Beispielen demonstriert:

Fünfzig polierte Siliciumscheiben mit einem Durchmesser von 150 mm wurden zunächst einer üblichen RCA-Reinigung unter­ worfen. Bei der Hälfte dieser Scheiben wurde anschließend deren Oberflächen auf Verunreinigungen untersucht (Ver­ gleichsbeispiele 1 und 2). Die andere Hälfte der Scheiben wurde mit Reinigungsmitteln gemäß der Erfindung nachgereinigt. Das wässerige Reinigungsmittel gemäß Beispiel 1 enthielt 0,05 Gew.-% Nonylphenol-Ethylenoxid-Addukt, 0,05 Gew.-% Sulfobernsteinsäure und war mit konzentrierter Salzsäure (0,01 Gew.-%) auf einen pH-Wert von pH 2 eingestellt worden. Das wässerige Reinigungsmittel gemäß Beispiel 2 wies einen pH-Wert von pH 2 auf und enthielt 0,03 Gew.-% Nonylphenol-Ethylenoxid-Addukt und 0,5 Gew.-% Sulfobernsteinsäure, jedoch keine Salzsäure.

Das Nachreinigen der Siliciumscheiben wurde im üblichen "Scrubber-Verfahren" durchgeführt. Anschließend wurde auch bei diesen Scheiben der restliche Verunreinigungspegel gemessen (Beispiele 1 und 2).

Zur Analytik der Partikel wurde ein handelsüblicher Partikelzähler verwendet. Mit diesem Meßgerät wurden die Partikel gezählt und in Abhängigkeit ihres mittleren Durchmessers in drei Sorten eingeteilt. Der Nachweis von Fremdmetallen auf der Oberfläche der Siliciumscheiben erfolgte durch VPD/TXRF-Meßung (vapor phase decomposition/total reflexion X-ray fluorescence), mit Ausnahme der Metalle Natrium und Aluminium, die mit VPD/AAS (vapor phase decomposition/atomic absorption spectroscopy) gemessen wurden.

Die Ergebnisse der Messungen sind in den folgenden Tabellen zusammengefaßt:

a) Partikel-Messung

b) Fremdmetall-Messung***)

Claims (8)

1. Wässeriges Reinigungsmittel zum Reinigen von Halbleiter­ scheiben, dadurch gekennzeichnet, daß das Reinigungsmit­ tel mindestens ein Tensid und mindestens eine Verbindung, die einer Gruppe von Verbindungen angehört, die Bernsteinsäure und deren Derivate umfaßt, enthält und einen pH-Wert von 1 bis 5, vorzugsweise pH 1 bis 3 aufweist.

2. Reinigungsmittel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß der Tensid-Anteil im Reinigungsmittel 0,01 bis 1 Gew.-%, vorzugsweise 0,01 bis 0,1 Gew.-% beträgt.

3. Reinigungsmittel nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, da­ durch gekennzeichnet, daß das Reinigungsmittel Bern­ steinsäure und/oder Sulfobernsteinsäure enthält.

4. Reinigungsmittel nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Reinigungsmittel zusätzlich Salzsäure enthält.

5. Verfahren zum Reinigen von Halbleiterscheiben, dadurch gekennzeichnet, daß auf den Seitenflächen von Halblei­ terscheiben ein Film eines wässerigen Reinigungsmittels erzeugt wird, wobei das Reinigungsmittel mindestens ein Tensid und mindestens eine Verbindung, die einer Gruppe von Verbindungen angehört, die Bernsteinsäure und deren Derivate umfaßt, enthält und einen pH-Wert von 1 bis 5, vorzugsweise pH 1 bis 3 aufweist.

6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Film mit Hilfe eines mechanischen Werkzeuges erzeugt wird.

7. Verfahren nach Anspruch 5 oder Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Reinigungsmittel Bernsteinsäure und/oder Sulfobernsteinsäure enthält.

8. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Reinigungsmittel zusätzlich Salzsäure enthält.