DE1598473C - Device for the automatic analytical testing of liquids - Google Patents

Device for the automatic analytical testing of liquids

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DE1598473C DE19671598473 DE1598473A DE1598473C DE 1598473 C DE1598473 C DE 1598473C DE 19671598473 DE19671598473 DE 19671598473 DE 1598473 A DE1598473 A DE 1598473A DE 1598473 C DE1598473 C DE 1598473C
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Description

Hierdurch ist ein einfacher Aufbau der Vorrichtung gegeben, die keine störanfälligen Bauteile aufweist und die wenig Raum in Anspruch nimmt. Die Vorrichtung ist mit gleich gutem Ergebnis zur analytischen Prüfung sowohl von Flüssigkeiten als auch von Gasen geeignet.This results in a simple structure of the device which has no components susceptible to failure and which takes up little space. The device is with the same good result as the analytical Suitable for testing both liquids and gases.

In der Zeichnung ist die Vorrichtung zur automatischen analytischen Prüfung von Flüssigkeiten an Hand von Ausführungsbeispielen dargestellt, und zwar zeigtIn the drawing the device for the automatic analytical testing of liquids is on Hand illustrated by embodiments, namely shows

Fig. 1 eine Ansicht der in einem Gerätegehäuse untergebrachten Vorrichtung in einer Ansicht von vorn,1 shows a view of the device accommodated in a device housing in a view from FIG front,

F i g. 2 die Vorrichtung zur Durchführung von Absorptionsmessungen in einer schematischen Darstellung undF i g. 2 the device for carrying out absorption measurements in a schematic representation and

F i g. 3 eine weitere Ausführungsform der Vorrichtung zur Durchführung von Fluoreszenzmessungen in einer schematischen Darstellung.F i g. 3 shows a further embodiment of the device for performing fluorescence measurements in FIG a schematic representation.

Die Vorrichtung gemäß F i g. 1 ist in einem Gerategehäuse oder in einer Einbautafel 10 angeordnet. Mit 11 ist ein Programmgeber bezeichnet, 12 und 13 sind ein Kompensator und ein Schreiber. Mit 14, 15, 16 sind ein Stufenschalter, eine Betriebsleuchte und ein Betriebsschalter bezeichnet. Der eigentliche Analysator 20 ist als Einbauelement ausgebildet und im unteren Abschnitt des Gerätegehäuses 10 untergebracht. The device according to FIG. 1 is in a device housing or arranged in a mounting panel 10. A programmer is designated by 11, 12 and 13 are a compensator and a writer. With 14, 15, 16 are a step switch, an operating light and denotes an operating switch. The actual analyzer 20 is designed as a built-in element and in housed lower portion of the device housing 10.

Der Analysator 20 für die Absorptionsmessung besteht gemäß F i g. 2 aus einem Gehäuse, in dem eine Quecksilberlampe oder Deuteriumlampe 21 als Lichtquelle angeordnet ist. Die angeregte Strahlung dieser Lichtquelle 21 wird durch einen Kondensor 22 gebündelt und parallel gerichtet, anschließend in einem Monochromatfilter (Interferenzfilter) 23 ausgefiltert und über einen Strahlenteiler 24 durch eine Meßküvette 25 zu dem der Meßküvette 25 nachgeschalteten Spiegel 26 geführt. Das von dem Spiegel 26 zurückgeworfene Licht durchstrahlt die Meßküvette 25 nochmals und trifft auf den Strahlenteiler 24 auf.The analyzer 20 for the absorption measurement consists of FIG. 2 from a housing in which a Mercury lamp or deuterium lamp 21 is arranged as a light source. The excited radiation this light source 21 is bundled by a condenser 22 and directed parallel, then in a monochromatic filter (interference filter) 23 filtered out and via a beam splitter 24 through a measuring cuvette 25 to the measuring cuvette 25 connected downstream Mirror 26 led. The light reflected by the mirror 26 shines through the measuring cuvette 25 again and hits the beam splitter 24.

Der Strahlenteiler 24 ist derart ausgebildet und im Strahlengang der von der Lichtquelle 21 kommenden Lichtstrahlen so angeordnet, daß die Lichtstrahlen beim ersten Auftreffen auf den Strahlenteiler 24 zur Hälfte senkrecht zur Einstrahlungsrichtung nach oben abgelenkt werden und einen Fotowiderstand 28 mit vorgeschalteter Irisblende 27, die verstellbar ausgebildet ist und die zur Grobregelung des Nullpunktes dient, beaufschlagen. Die durch den Strahlenteiler 24 hindurchgehenden Strahlen werden von dem Spiegel 26 reflektiert und beim Auftreffen auf den Strahlenteiler 24 senkrecht zur Einstrahlungsrichtung nach unten auf einen zweiten Fotowiderstand 29 abgelenkt. Vor dem Fotowiderstand 29 ist eine feste Blende 27 a angeordnet.The beam splitter 24 is designed in such a way and is in the beam path of the beam coming from the light source 21 Light beams arranged so that the light beams upon first impinging on the beam splitter 24 to Half perpendicular to the direction of irradiation are deflected upwards and a photo resistor 28 with upstream iris diaphragm 27, which is designed to be adjustable and which is used for coarse control of the zero point serves, act upon. The rays passing through the beam splitter 24 are from the mirror 26 is reflected and upon impingement on the beam splitter 24 perpendicular to the direction of irradiation deflected down onto a second photoresistor 29. In front of the photo resistor 29 there is a fixed one Aperture 27 a arranged.

Zur Messung hoher Konzentrationen mit geringen Schichtdicken von nur einigen Millimetern kann der Fotowiderstand 29 unmittelbar hinter der Meßküvette 25 an Stelle des Spiegels 26 angeordnet werden.To measure high concentrations with thin layers of just a few millimeters, the Photoresistor 29 can be arranged directly behind the measuring cuvette 25 in place of the mirror 26.

Die Meßküvette 25 ist in an sich bekannter Weise ausgebildet und mit einem Zulauf 30 und einem Ablauf 31 versehen.The measuring cuvette 25 is designed in a manner known per se and with an inlet 30 and a Drain 31 provided.

Die Fotowiderstände 28, 29 liegen für die elektrische Bezugswert- und Meßwerterfassung gemäß der Schaltungsanordnung nach dem deutschen Patent 1243 898 parallel zu Festwiderständen in einer Wheatstonschen Brücke,in der ein mit einem Fernsender mechanisch gekuppeltes Meßpotentiometer und ein Nullpotentiometer eingeschaltet sind, wobei diese beiden Potentiometer zur Gleichgewichtseinstellung der Meßbrücke mit steuerbaren Stellmotoren verbunden sind.The photo resistors 28, 29 are for the electrical reference value and measured value acquisition according to Circuit arrangement according to German Patent 1243 898 parallel to fixed resistors in a Wheatstone Bridge in which a measuring potentiometer mechanically coupled to a remote transmitter and a Zero potentiometers are turned on, these two potentiometers for setting the equilibrium the measuring bridge are connected to controllable servomotors.

Die Arbeitsweise der Vorrichtung mit automatischer Kompensation ist wie folgt: Die zu messenden Medien werden der Meßküvette 25 über das Magnetventil 33 der beiden im Zulauf 30 angeordneten Magnetventile 32, 33 zugeführt. Ein Programmschaltwerk bekannter Bauart betätigt in einstellbaren Zeitabständen die Magnetventile 32 und 33, wodurch entweder die zu untersuchende Probe oder das Vergleichsmedium, eine dem Nullpunkt entsprechende Lösung oder ein Inertgas durch die Meßküvette 25 mittels in der Zeichnung nicht dargestellter Pumpen gefördert wird.The operation of the device with automatic compensation is as follows: The ones to be measured Media are supplied to the measuring cuvette 25 via the solenoid valve 33 of the two solenoid valves arranged in the inlet 30 32, 33 supplied. A program switching mechanism of a known type operated at adjustable time intervals the solenoid valves 32 and 33, whereby either the sample to be examined or the reference medium, a solution corresponding to the zero point or an inert gas through the measuring cell 25 is promoted by means of pumps not shown in the drawing.

Ein in der Schaltungsanordnung vorgesehenes Kompensationsrelais schaltet den Verstärker wechselweise auf »Messen« und »Kompensation«. Die beiden für die Lichtintensitätsmessung verwendeten UV-empfindlichen Fotowiderstände 28, 29 liegen in der mit Wechselspannung gespeisten Wheatstonschen Brücke. Die beiden mittels Stellmotoren angetriebenen Potentiometer, nämlich das Nullpunktpotentiometer und das mit dem Fernsender mechanisch gekoppelte Meßpotentiometer gleichen die Brücke jeweils in den Stellungen »Messen« und »Kompensieren« ab. Ein Transistorverstärker bringt die beiden wechselweise eingeschalteten Stellmotore phasenrichtig auf Nullabgleich. Der Meßwert wird kontinuierlich angezeigt; er bleibt während des Abgleichvorganges stehen und korrigiert sich sofort wieder nach Beendigung des Brückenabgleiches.A compensation relay provided in the circuit arrangement switches the amplifier alternately on "measuring" and "compensation". The two used for the light intensity measurement UV-sensitive photoresistors 28, 29 are located in the Wheatstone that is fed with alternating voltage Bridge. The two potentiometers driven by servomotors, namely the zero point potentiometer and the measuring potentiometer mechanically coupled to the remote transmitter resemble the bridge in the positions »Measure« and »Compensate«. A transistor amplifier brings the two alternately switched on servomotors in the correct phase to zero adjustment. The measured value becomes continuous displayed; it stops during the adjustment process and corrects itself again immediately Completion of the bridge adjustment.

Meßwert und Korrekturwert werden getrennt auf einer 355°-Skala angezeigt. Das Korrekturwert-Potentiometer ist mit zwei Grenzkontakten versehen, die eine Alarmleuchte bei Unregelmäßigkeiten des Verstärkers und bei Verschmutzen der Küvette, d. h. bei Überschreiten des Korrekturbereiches, zum Ansprechen bringen. Die Meßwertskala ist mit einem einstellbaren Maximalkontakt versehen. Die Nullpunktkorrektur läßt sich im Bereich von drei Minuten bis zu einer Sekunde einstellen und wiederholt sich dann in regelmäßigen Abständen.The measured value and the correction value are displayed separately on a 355 ° scale. The correction value potentiometer is provided with two limit contacts that activate an alarm lamp in the event of irregularities in the Amplifier and if the cuvette is dirty, d. H. when the correction range is exceeded, to respond bring. The measured value scale is provided with an adjustable maximum contact. The zero point correction can be set in the range from three minutes to one second and repeated then at regular intervals.

Die Vorrichtung kann derart ausgebildet werden, daß auch Streulicht- und Fluoreszenzmessungen durchgeführt werden können. Gerade die Fluorometrie bietet für viele Substanzen die Möglichkeit, empfindliche quantitative Analysen durchzuführen. Die Vorrichtung 20 a zur Durchführung von Streulicht- und Fluoreszenzmessungen weist gemäß F i g. 3 etwa den gleichen Aufbau wie die Vorrichtung gemäß F i g. 2 auf, so daß die übereinstimmenden Bauteile in Fig. 3 mit den gleichen Bezugszeichen unter Hinzufügung des Buchstabens »α« versehen sind. Die angeregte Strahlung der Quecksilberdampflampe 21a wird durch den Kondensor 22 α über den Monochromator 23a, der einen Interferenzfilter mit dem gewünschten Durchlaßbereich darstellt, und den Strahlenteiler 24 a in die Küvette 25 a geleitet. Zu- und Ablauf der Meßküvette 25 α sind mit 30 α, 31 α bezeichnet. Am Boden der Meßküvette 25 α ist ein Fenster 40 vorgesehen. Das Fluoreszenzlicht wird senkrecht zur Einstrahlungsrichtung durch dieses Fenster 40 über die Linse 41 auf den Fotowiderstand 29 α mit vorgeschalteter fester Blende abgebildet. Zwischen der Linse 41 und dem Fotowiderstand 29 α bzw. derThe device can be designed in such a way that scattered light and fluorescence measurements can also be carried out. Fluorometry in particular offers the possibility of performing sensitive quantitative analyzes for many substances. The device 20 a for carrying out scattered light and fluorescence measurements has according to FIG. 3 has approximately the same structure as the device according to FIG. 2, so that the corresponding components in Fig. 3 are provided with the same reference numerals with the addition of the letter "α". The excited radiation of the mercury vapor lamp 21a is passed through the condenser 22 a via the monochromator 23 a, which is an interference filter with the desired pass band, and the beam splitter 24 a into the cuvette 25 a. The inlet and outlet of the measuring cuvette 25 α are denoted by 30 α, 31 α. A window 40 is provided at the bottom of the measuring cuvette 25 α. The fluorescent light is imaged perpendicular to the direction of irradiation through this window 40 via the lens 41 onto the photoresistor 29 α with an upstream fixed diaphragm. Between the lens 41 and the photoresistor 29 α or the

diesem vorgeschalteten Blende ist ein Sekundärfilter 42 angeordnet, das für das modifizierte Analysenverfahren spezifisch ist. Die Anordnung des Fotowiderstandes 28 a im Bereich des Strahlenteiler 24 a erfolgt in gleicher Weise wie bei der in F i g. 2 dargestellten Vorrichtung. Die Fotowiderstände 28 a, 29 a sind in gleicher Weise wie die Fotowiderstände 28,29 in einer mit Wechselspannung gespeisten Wheatstonschen Brücke geschaltet. Die Nullpunkt-Kompensation erfolgt nach dem oben beschriebenen Verfahren des Brückenabgleiches. Der Nullpunkt wird mittels einer Leer-Fluoreszenz-Vergleichslösung, ähnlich wie bei der Absorptionsmessung, automatisch abgeglichen. Sollen mit dieser Vorrichtung Trübungsmessungen durchgeführt werden, so entfällt das Sekundärfilter 42.A secondary filter 42, which is specific for the modified analysis method, is arranged in front of this diaphragm. The arrangement of the photoresistor 28 a in the area of the beam splitter 24 a takes place in the same way as in the case of FIG. 2 shown device. The photo resistors 28 a, 29 a are connected in the same way as the photo resistors 28, 29 in a Wheatstone bridge fed with alternating voltage. The zero point compensation is carried out according to the bridge adjustment procedure described above. The zero point is automatically adjusted using an empty fluorescence comparison solution, similar to the absorption measurement. If turbidity measurements are to be carried out with this device, the secondary filter 42 is not required.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings

Claims (5)

1 2 Substanz, einen durch Oxydation oder Reduktion Patentansprüche: veränderbaren Indikator Und die Prüfflüssigkeit mischt, mit einer Meßküvette zur Aufnahme dieser1 2 Substance, an indicator that can be changed by oxidation or reduction. And the test liquid mixes with a measuring cuvette to hold it 1. Vorrichtung zur automatischen analytischen Mischung und zwei Fotowiderständen zur Messung Prüfung von Flüssigkeit durch vergleichende licht- 5 der Durchlässigkeiten der Meßküvette und des Stanelektrische Messung der Durchlässigkeiten einer dards, die parallel zu Festwiderständen in einer Whe-Indikatoren, Puffer und Komplexone enthalten- atstonschen Brücke liegen.1. Device for automatic analytical mixing and two photoresistors for measurement Testing of liquid by comparing light transmittance 5 of the measuring cuvette and the Stanelectric Measurement of the permeabilities of a dards, parallel to fixed resistances in a whe indicators, Buffers and complexones contain- atston bridge lie. den Lösung und eines Standards, bei der man do- Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, diethe solution and a standard in which one do- The invention is based on the object that sierte Mengen eines spezifischen Oxydations- Vorrichtung zur automatischen analytischen Prüfung oder Reduktionsmittels oder einer komplexbil- io von Flüssigkeiten nach dem Hauptpatent zu verbesdenden Substanz, einen durch Oxydation oder sern, um eine Vorrichtung zu schaffen, die die an Reduktion veränderbaren Indikator und die Analysengeräte gestellten Forderungen erfüllt und Prüfflüssigkeit mischt, mit einer Meßküvette zur die darüber hinaus wirtschaftlich ist. Zur Lösung die-Aufnahme dieser Mischung und zwei Fotowider- ser Aufgabe wird gemäß der Erfindung eine Vorrichständen zur Messung der Durchlässigkeiten der 15 tung vorgeschlagen, die in der Weise ausgebildet ist, Meßküvette und des Standards, die parallel zu daß das von einer Lichtquelle kommende Licht zu-Festwiderständen in einer Wheatstonschen nächst auf einen Strahlenteiler auftrifft, wobei ein Brücke liegen, nach Patent 1 243 898, insbeson- Strahl einen Fotowiderstand unmittelbar erreicht und dere nach Anspruch 6, dadurch gekenn- den Standard angibt und der zweite Strahl den andezeichnet, daß das von einer Lichtquelle(21; 20 ren Fotowiderstand nach Passieren der Meßküvette 21a) kommende Licht zunächst auf einen Strah- erreicht und die Durchlässigkeit der Prüfflüssigkeit lenteiler (24; 24 a) auf trifft, wobei ein Strahl angibt.sized amounts of a specific oxidation device for automatic analytical testing or reducing agent or a complex bil- io of liquids to be verbesdenden according to the main patent Substance, either by oxidation or acidification, to create a device that can act on the Reduction changeable indicator and the analytical equipment met and requirements made Test liquid mixes with a measuring cuvette which is also economical. To solve the admission According to the invention, this mixture and two photo resistors become a device proposed for measuring the permeabilities of the 15 device, which is designed in such a way Measuring cuvette and the standard, which parallel to that the light coming from a light source to fixed resistances in a Wheatstone next hits a beam splitter, with a bridge lying, according to patent 1,243,898, in particular a beam directly reaching a photoresistor and the other according to claim 6, characterized in that indicates the standard and the second beam indicates the other, that the from a light source (21; 20 ren photoresistor after passing the measuring cuvette 21a) incoming light first reaches a beam and the permeability of the test liquid splitter (24; 24 a) hits, with a beam indicating. einen Fotowiderstand (28; 28 a) unmittelbar er- Nach einem Merkmal der Erfindung ist der voma photoresistor (28; 28 a) immediately after a feature of the invention is that of reicht und den Standard angibt und der zweite zweiten die Meßküvette passierenden und von einem Strahl den anderen Fotowiderstand (29; 29 a) 25 der Meßküvette nachgeordneten Spiegel reflektierte nach Passieren der Meßküvette (25; 25 d) erreicht Strahl beaufschlagte Fotowiderstand im Strahlengang und die Durchlässigkeit der Prüfflüssigkeit angibt. des vom Strahlenteiler abgelenkten Strahles angeord-ranges and indicates the standard and the second, second passing the measuring cuvette and from a beam the other photoresistor (29; 29 a) 25 reflected the mirror downstream of the measuring cuvette after passing the measuring cuvette (25; 25 d) reaches the beam acted photoresistor in the beam path and the transparency the test liquid indicates. of the beam deflected by the beam splitter 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge- net.2. Device according to claim 1, characterized in that. kennzeichnet, daß der vom zweiten die Meßkü- Ferner betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zuiindicates that the second the Meßkü- Furthermore, the invention relates to a device zui vette (25) passierenden und von einem der Meß- 30 automatischen analytischen Prüfung von Flüssigkeit, küvette (25) nachgeordneten Spiegel (26) reflek- bei der der vom zweiten die Meßküvette passierenden tierte Strahl beaufschlagte Fotowiderstand (29) Strahl beaufschlagte Fotowiderstand im Strahlengang im Strahlengang des vom Strahlenteiler (24) abge- der Lichtquelle der Meßküvette angeordnet ist. Zur lenkten Strahles angeordnet ist. . Streulicht- und Fluorenzmessung weist nach einervette (25) passing through and from one of the measuring 30 automatic analytical testing of liquid, The mirror (26) arranged downstream of the cuvette (25) is reflective in the case of the mirror (26) passing through the second cuvette directed beam acted upon photo resistor (29) beam acted upon photo resistor in the beam path is arranged in the beam path of the light source of the measuring cuvette from the beam splitter (24). To the directed beam is arranged. . Scattered light and fluorence measurement indicates a 3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge- 35 weiteren Ausgestaltung der Erfindung die Meßkükennzeichnet, daß der vom zweiten die Meßkü- vette bodenseitig ein Fenster auf, in dessen Bereich vette (25) passierenden Strahl beaufschlagte Fo- und außerhalb der Meßküvette der vom zweiten die towiderstand (29) im Strahlengang der Licht- Meßküvette passierenden Strahl beaufschlagte Fotoquelle (21) der Meßküvette (25) nachgeordnet ist. widerstand angeordnet ist, dem ein für das modifi-3. Device according to claim 1, characterized in another embodiment of the invention, the measuring element, that the second, the measuring cuvette, opens a window on the bottom, in its area vette (25) passing beam acted upon the Fo- and outside the measuring cuvette of the second die to resistance (29) in the beam path of the light measuring cuvette passing beam acted upon by the photo source (21) is arranged downstream of the measuring cuvette (25). resistance is arranged, the one for the modified 4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge- 40 zierte Analysenverfahren spezifischer Sekurtdärfilter kennzeichnet, daß zur Streulicht- und Fluorenz- vorgeschaltet ist.4. Apparatus according to claim 1, characterized in that the analytical methods of specific secondary filters are adorned indicates that the scattered light and fluorence is connected upstream. messung die Meßküvette (25 α) bodenseitig ein Eine Vielzahl von gasförmigen und flüssigen Kom-measurement the measuring cuvette (25 α) at the bottom a variety of gaseous and liquid com- Fenster (46) aufweist, in dessen Bereich und ponenten weisen spezifische Absorptionseigenschaf-Window (46), in the area and components of which have specific absorption properties außerhalb der Meßküvette (25 α) der vom zweiten ten in schmalen Banden des UV-Spektralbereichesoutside the measuring cuvette (25 α) of the second th in narrow bands of the UV spectral range die Meßküvette (25 a) passierenden Strahl beauf- 45 auf, so daß die erfindungsgemäße Vorrichtung viel-the beam passing through the measuring cuvette (25 a) so that the device according to the invention schlagte Fotowiderstand (29 α) angeordnet ist, seitig verwandt werden kann. So ist es möglich, nebenstruck photoresistor (29 α) is arranged, can be used on the side. So it is possible besides dem ein für das modifizierte Analysenverfahren Gasen wie NO2, Cl2, ClO2, O3, Phosgen und SO2 the one for the modified analysis method gases such as NO 2 , Cl 2 , ClO 2 , O 3 , phosgene and SO 2 spezifischer Sekundärfilter (42) vorgeschaltet ist. auch Dämpfe und Flüssigkeiten wie Hg, Aceton,specific secondary filter (42) is connected upstream. also vapors and liquids such as mercury, acetone, 5. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 4, dadurch Benzol, Phenol, Butadien, Nickelkarbonyl u. dgl. gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (21) als 50 analytisch mit gleich guten Meßergebnissen zu erfas-Quecksilberlampe oder als Deuteriumlampe aus- sen. Die Absorptionsmessungen sind in einfachster gebildet ist und daß dem von dem zweiten die Weise durchführbar. Auf Grund der hohen Empfind-Meßküvette (25) passierenden Strahl beaufschlag- lichkeit der Vorrichtung und der Unempfindlichkeit ten Fotowiderstand (29) eine verstellbare Iris- gegen Temperaturschwankungen sind genaueste blende vorgeschaltet ist. 55 Meßergebnisse erzielbar, denn bekannterweise werden die Meßergebnisse durch Temperaturschwankungen sehr beeinflußt. Darüber hinaus ist eine geringe5. Apparatus according to claim 1 to 4, characterized in that benzene, phenol, butadiene, nickel carbonyl and the like. characterized in that the light source (21) as 50 analytically detected with equally good measurement results to mercury lamp or outside as a deuterium lamp. The absorption measurements are formed in the simplest way and that the second can be carried out in the same way. Due to the high sensitivity measuring cell (25) passing beam exposure of the device and the insensitivity th photoresistor (29) an adjustable iris against temperature fluctuations are most accurate aperture is upstream. 55 measurement results are achievable because, as is well known, the measurement results are greatly influenced by temperature fluctuations. In addition, it is a low Wartungsnotwendigkeit gegeben. Die VerwendungGiven the need for maintenance. The usage der automatischen Nullpunktkompensation auch beithe automatic zero point compensation also with 60 Vorrichtungen für Absorptionsmessungen bietet die60 devices for absorption measurements are offered by the Das Patent 1 243 898, insbesondere dessen Patent- Möglichkeit, innerhalb eines jeden Meßzyklus Tem-The patent 1 243 898, in particular its patent possibility, within each measuring cycle Tem- anspruch 6, betrifft eine Vorrichtung zur automati- peratureinflüsse, Alterung der Fotowiderstände undClaim 6 relates to a device for automatic influences, aging of the photoresistors and sehen analytischen Prüfung von Flüssigkeit durch Veränderungen der Lichtquelle selbsttätig auszuglei-see analytical testing of liquids automatically compensated for by changes in the light source. vergleichende lichtelektrische Messung der Durchlas- chen. Ein weiterer Vorteil ist dadurch gegeben, daßcomparative photoelectric measurement of the vias. Another advantage is that sigkeiten einer Indikatoren, Puffer und Komplexone 65 die Lichtstrahlen der Lichtquelle nur in einer Rich-indicators, buffers and complex zones 65 the light rays of the light source only in one direction enthaltenden Lösung und eines Standards, bei der tung benutzt werden, so daß nur ein Spektralfilter er-containing solution and a standard are used in the process, so that only one spectral filter is man dosierte Mengen eines spezifischen Oxydations- forderlich wird und daß ein Strahlenteiler zur Auftei-one dosed amounts of a specific oxidation is required and that a beam splitter is used to divide oder Reduktionsmittels oder einer komplexbildenden lung des Meß- und Vergleichsstrahles vorgesehen ist.or reducing agent or a complex-forming development of the measuring and comparison beam is provided.
DE19671598473 1967-12-19 1967-12-19 Device for the automatic analytical testing of liquids Expired DE1598473C (en)

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