DE1574654B2 - Magnetfeldabtastvorrichtung fuer informationstraeger - Google Patents
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- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims description 28
- 239000000969 carrier Substances 0.000 title 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 33
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 16
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 14
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 claims description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims 1
- 238000009501 film coating Methods 0.000 claims 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 claims 1
- 230000033764 rhythmic process Effects 0.000 claims 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N Fe2+ Chemical compound [Fe+2] CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000010985 leather Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/332—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using thin films
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
-
- H01L29/00—
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
- Mram Or Spin Memory Techniques (AREA)
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Description
3 4
gehalten. Die Modulation des elektrostatischen Feldes Schicht (außer von dem Leiterstreifen 22) durch Ätzen
wird durch die Ablenkung des als Gate-Elektrode entfernt wird. Nach dem teilweisen Entfernen der
wirkenden Leiterstreifens 22 bewirkt. Der Leiterstreifen Goldschicht und ferromagnetische^ Schicht wird die
22 wird durch ein auf einen ferromagnetischen Bereich entsprechende Photowiderstandsschicht entfernt, so
24 einwirkendes Magnetfeld abgelenkt. Der Bereich 24 5 daß der über der dünnen Siliziumoxydschicht oberhalb
kann aus einem bekannten ferromagnetischen Material der Halbleiterschicht 16 aufgehängte Leiterstreifen 22
hergestellt werden, das auf dem Leiterstreifen 22 abge- übrig bleibt. Der ferromagnetische Bereich 24 kann
lagert wird oder an diesem befestigbar ist. Das ferro- den Leiterstreifen 22 vollständig oder nur teilweise
magnetische Material kann entweder eine lineare oder bedecken. Im ersteren Falle muß ein kleiner Elek-
jine rechteckige Hysteresiskennlinie besitzen und aus io trodenbereich frei von magnetischem Material bleiben,
siner Dünnschichtablagerung bestehen. und eine externe Vorspannung an den Leiterstreifen 22
Der Arbeitspunkt des Feldeffekttransistors wird in angelegt werden.
bekannter Weise durch. Anlegen eines Spannungs- Das Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 eignet sich
potentials eingestellt und soll in der Mitte des linearen für Anwendungsfälle, in denen lediglich das Vorhan-Bereiches
der Arbeitskennlinie liegen, wenn sich der 15 densein eines Magnetfeldes festgestellt werden soll,
Leiterstreifen 22 in Ruhestellung befindet. Die Source- jedoch die Polarität der abgetasteten Information nicht
Elektrode 28 ist mit einem festen Potential, z. B. Masse, berücksichtigt werden muß. Für eine polaritätsabind
die Drain-Elektrode 30 z. B. mit einem positiven hängige Abtastung eines Magnetfeldes eignet sich das
Potential verbunden. Entfernt sich der Leiterstreifen Ausführungsbeispiel nach Fig. 3, das zwei permanent
12, dann wird der von der Source-Elektrode zur Drain- ao magnetische Bereiche 42 und 44 aufweist, die auf den
ilektrode fließende Strom kleiner, während er durch Leiterstreifen 22 angeordnet sind. Die beiden permaäne
Bewegung des Leiterstreifens 22 in Richtung zur nent magnetischen Bereiche 42 und 44 sind voneinialbleiterschicht
16 größer wird. Die in einem Magnet- ander beabstandet, wobei gleiche Pole gegenüberliegen,
eld enthaltende Information moduliert somit den Die permanent magnetischen Bereiche 42 und 44
lurch den Feldeffekttransistor fließenden Strom. 25 besitzen eine Breite von etwa 0,025 mm und haben
Der erfindungsgemäße Feldeffekttransistor kann einen Abstand von nur 0,0025 mm. Wenn zwei magneiurch
Abwandlung der herkömmlichen Fertigungs- tische Nordpole 46 und 48 gegenüberliegen, wie in
ichritte hergestellt werden. Das bevorzugte Ausfüh- Fig. 3 dargestellt, dann bewirkt eine »Südpol-Inforungsbeispiel
kann demgemäß bis zu dem Punkt mation« (z. B. ein Bit) unter den Nordpolen 46 und 48
jearbeitet werden, wo die Source-Elektrode 28, die 30 eine von der Halbleiterschicht 16 weg gerichtete AbDrain-Elektrode
30 und die zugeordneten Anschluß- lenkung der Leiterstreifen 22, wodurch der Stromfluß
•teilen 20 hergestellt sind und die Siliziumoxydschicht von der Source- zur Drain-Elektrode kleiner wird.
2 thermisch auf der Halbleiterschicht 16 aufgebracht Befindet sich eine Information entgegengesetzter PoIavorden
ist. Die Source- und Drain-Elektrodenan- rität unter den magnetischen Nordpolen 46 und 48,
chlüsse 20 sind, wie in den meisten herkömmlichen 35 dann wird der Leiterstreifen 22 in Richtung zur HaIbvlOS-Feldeffekttransistoren,
vertauschbar. Vorzugs- lederschicht 16 bewegt, wodurch der Stromfluß von
veise sollen die Source-Elektrode 28 und die Drain- der Source- zur Drain-Elektrode größer wird. Die
ilektrode 30 N-dotierte Bereiche in der P-dotierten Abtastvorrichtung in dem Ausführungsbeispiel nach
lalbleiterschicht 16 sein. Die Siliziumoxydschicht 12 Fig. 3 ist somit in der Lage, Informationen beider
iedeckt gleichförmig die Halbleiterschicht 16 mit 40 Polaritäten zu unterscheiden.
Ausnahme der Stellen, wo die Source- und Drain- Ein der Vorrichtung nach Fig. 3 ähnlicher Aufbau
ilektrodenanschlüsse 20 angebracht werden. Der Gate- läßt sich durch Trennung des Leiterstreifens 22 zwi-
ilektrodenanschluß wird jedoch nicht auf der Silizium- sehen den permanent magnetischen Bereichen 42 und
ixydschicht 12 angebracht, wie dies bei einem her- 44 herstellen. Damit können Magnetfelder geringer
lömmlichen MOS-Feldeffekttransistor mit isolierter 45 Stärke abgetastet werden, da die beiden Abschnitte
}ate-Elektrode der Fall ist. Statt dessen wird nach des Leiterstreifens 22 sich unabhängig voneinander
Vegätzen eines Teiles der Siliziumoxydschicht 12 über bewegen können, wodurch die Empfindlichkeit der
■er Halbleiterschicht 16 auf die Oberfläche der Halb- Vorrichtung größer wird.
iiterschicht 16 eine Photowiderstandsschicht auf ge- Fig. 3 zeigt eine erfindungsgemäße Vorrichtung
■rächt. Dann werden Öffnungen für die Source- und 50 mit einem MOS-Feldeffekttransistor zur Magnetfeld-
)rain-Elektrodenanschlüsse 20 ausgeätzt und eine abtastung relativ zur Bewegung eines magnetischen
joldschicht auf die Oberfläche der Halbleiterschicht Aufzeichnungsträgers, der eine Anzahl schematisch
6 aufgesprüht. Anschließend wird eine ferromagne- durch die punktierte Linie 68 dargestellter Informa-
sche Schicht über einem Teil der Goldschicht auf tionen enthält, die unter den magnetischen Polen 46
en Leiterstreifen 22 abgelagert. Wahlweise wird eine 55 und 48 vorbeibewegt werden. Es können Magnet-
hotowiderstandsschicht aufgebracht, und der Leiter- spuren sehr kleiner Abmessung durch die erfindungs-
xeifen 22 sowie die Source- und Drain-Elektroden- gemäße Vorrichtung abgetastet werden. Mit der erfin-
ereiche 28 und 30 werden mit Hilfe einer Maske dungsgemäßen Vorrichtung können Informationen mit
ffengelassen, so daß das Gold vom Source- und einer Aufzeichnungsdichte von mehr als 25 Spuren
>rain-Elektrodenanschluß 20 und die ferromagnetische 60 pro cm abgetastet \verden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Magnetfeldabtastvorrichtung für Informa- Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung einer
tionsträger mit magnetischen Markierungen aus 5 Magnetfeldabtastvorrichtung aus einem Feldeffekteinem
Metalloxyd-Halbleiter-Feldeffekttransistor transistor.
mit einer Source- und einer Drain-Elektrode und Die Erfindung ist dadurch' gekennzeichnet, daß auf
einer darüber beweglich angeordneten Gate-Elek- dem Leiterstreifen ein ferromagnetischer Bereich ange-
trode aus mindestens einem Leiterstreifen, da- ordnet ist, daß die Gate-Elektrode in Abhängigkeit
durch gekennzeichnet, daß auf dem Leiter- io von der Stärke und Richtung eines Magnetfeldes
streifen (22) ein ferromagnetischer Bereich (24) bewegt wird und daß mit dem Leiterstreifen eine
angeordnet ist, daß die Gate-Elektrode (22, 24) in . Spannungsquelle verbunden ist, so daß der zwischen
Abhängigkeit von der Stärke und Richtung eines der Source-Elektrode und der Drain-Elektrode flie-
Magnetfeldes bewegt wird und daß mit dem Leiter- ßende Strom im Rhythmus der örtlichen Lageverände-
streifen (22) eine Spannungsquelle verbunden ist, so 15 rung der Gate-Elektrode verändert wird,
daß der zwischen der Source-Elektrode (28) und Im folgenden wird die Erfindung an Hand von
der Drain-Elektrode (30) fließende Strom im Rhyth- Zeichnungen im einzelnen erläutert. In diesen zeigt
mus der örtlichen Lageveränderung der Gate- Fig. 1 eine Draufsicht auf die erfindungsgemäße
Elektrode (22, 24) verändert wird. Vorrichtung,
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge- 20 Fig. 2 einen Schnitt durch die Vorrichtung nach
kennzeichnet, daß der ferromagnetische Bereich Fig. 1,
(24) aus magnetischem Material mit linearer Hy- Fig. 3 eine Draufsicht auf ein zweites Ausführungs-
steresiskennlinie besteht. beispiel.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch ge- Ein Vorteil der Erfindung liegt in der wirtschaftkennzeichnet,
daß der ferromagnetische Bereich 25 liehen Herstellung des Feldeffekttransistors. Außer-(24)
aus magnetischem Material mit rechteckiger dem können mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung
Hysteresiskennlinie besteht. auch permanente Magnetfelder abgetastet werden,
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch was mit den bekannten Magnetköpfen nicht möglich
gekennzeichnet, daß der ferromagnetische Bereich ist. Die erfindungsgemäße Magnetfeldabtastvorrich-(24)
ein Dünnschichtüberzug ist. 30 tung kann wesentlich kleiner aufgebaut werden als die
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch ge- bekannten Magnetköpfe, so daß sehr dicht nebeneinkennzeichnet,
daß zwei längliche permanent magne- anderliegende Spuren abgetastet werden können,
tische Bereiche (42, 44) jeweils voneinander beab- Fig. 1 und 2 zeigen ein bevorzugtes erfindungsgestandet auf den Leiterstreifen (22) angeordnet sind mäßes Ausführungsbeispiel mit einem in Serie herstell- und benachbarte magnetische Pole (46, 48) die 35 baren Feldeffekttransistor zur Abtastung von Magnetgleiche Polarität aufweisen. feldern. Der Halbleiterkörper 10 kann aus beliebigem,
tische Bereiche (42, 44) jeweils voneinander beab- Fig. 1 und 2 zeigen ein bevorzugtes erfindungsgestandet auf den Leiterstreifen (22) angeordnet sind mäßes Ausführungsbeispiel mit einem in Serie herstell- und benachbarte magnetische Pole (46, 48) die 35 baren Feldeffekttransistor zur Abtastung von Magnetgleiche Polarität aufweisen. feldern. Der Halbleiterkörper 10 kann aus beliebigem,
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch ge- in der Halbleitertechnik für die Herstellung von MOS-kennzeichnet,
daß der Leiterstreifen (22) zwischen Feldeffekttransistoren gebräuchlichen Material beden
permanent magnetischen Bereichen (42, 44) stehen, z. B. mit Bor dotiertem Silizium. Der Halbgetrennt ist. 40 leiterkörper 10 kann aus poly kristallinem oder aus
monokristallinem Halbleitermaterial bestehen.
Über einer dotierten Halbleiterschicht 16 befindet
sich eine Siliziumoxydschicht 12. Die Schicht 16 wird
durch Bildung einer Inversionsschicht leitend, wenn
45 der als Gate-Elektrode wirkende, darüber beweglich
Die Erfindung betrifft eine Magnetfeldabtastvor- angebrachte Leiterstreifen 22 mit einer entsprechenden
richtung für Informationsträger mit magnetischen Vorspannung verbunden wird. Der MOS-Feldeffekt-Markierungen
aus einem Metalloxyd-Halbleiter-Feld- transistor ist ein als Verstärker arbeitender Majoritätseffekttransistor
mit einer Source- und einer Drain- träger mit N-dotierter Source-Elektrode und N-dotier-Elektrode
und einer darüber beweglich angeordneten 50 ter Drain-Elektrode in einer P-dotierten Schicht. Somit
Gate-Elektrode aus mindestens einem Leiterstreifen. sind die Ladungsträger Elektronen. Der Feldeffekt-
Ein Metalloxyd-Halbleiter-Feldeffekttransistor, im transistor soll dann arbeiten, wenn kein Strom fließt,
folgendenMOS-Feldeffekttransistorgenannt, miteinem es sei denn, die Gate-Elektrode ist mit der gleichen
zwischen der Source-Elektrode und der Drain-Elek- Polarität vorgespannt, wie die Drain-Elektrode. Die
trode verlaufenden elektrischen Leiter ist von Harvey 55 Gate-Elektrode in den Fig. 1 und 2 wird durch einen
C. Nathanson ,William E. Newell und Robert aufgehängten Leiterstreifen 22 gebildet, der entweder
A. Wickstrom in der Zeitschrift »Electronics«, an beiden Enden befestigt sein kann oder frei tragend,
20. September 1965, S. 84 bis 87, beschrieben. Der d. h. nur an einem Ende befestigt ist. Da der Leiterelektrische
Leiter in der Vorrichtung von Nathanson streifen 22 von der Source-Elektrode 28 und .der
schwingt in seiner mechanischen Resonanzfrequenz 60 Drain-Elektrode 30 isoliert ist, ist der Eingangswiderinfolge
eines elektrischen Eingangssignals, das an eine stand der erfindungsgemäßen Vorrichtung bei niedriörtlich
fixierte Metallplatte angelegt wird, die eine gen Frequenzen sehr hoch (in der Größenordnung
Platte eines Kondensators bildet. Als zweite Platte von 1014 Ohm).
dieses Kondensators dient der obengenannte band- Die Ladungsträger in der Inversionsschicht eines
förmige Leiter. Die bekannte Vorrichtung arbeitet nach 65 MOS-Feldeffekttransistors können moduliert werden,
dem Prinzip der kapazitiven Kopplung zwischen einer indem man entweder die Gatespannung oder den Gatefesten
Kondensatorplatte und einem beweglichen abstand ändert. Bei der Erfindung wird der Gatebandförmigen elektrischen Leiter, in dem Resonanz- abstand verändert und die Vorspannung konstant
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US62274267A | 1967-03-13 | 1967-03-13 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1574654A1 DE1574654A1 (de) | 1971-11-18 |
DE1574654B2 true DE1574654B2 (de) | 1973-05-03 |
DE1574654C3 DE1574654C3 (de) | 1973-11-29 |
Family
ID=24495344
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1574654A Expired DE1574654C3 (de) | 1967-03-13 | 1968-03-09 | Magnetfeldabtastvorrichtung fur Informationsträger |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3553540A (de) |
CH (1) | CH479137A (de) |
DE (1) | DE1574654C3 (de) |
FR (1) | FR1557294A (de) |
GB (1) | GB1154679A (de) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3924321A (en) * | 1970-11-23 | 1975-12-09 | Harris Corp | Radiation hardened mis devices |
US3886584A (en) * | 1970-11-23 | 1975-05-27 | Harris Corp | Radiation hardened mis devices |
US3896309A (en) * | 1973-05-21 | 1975-07-22 | Westinghouse Electric Corp | Radiation detecting device |
US4017884A (en) * | 1973-08-13 | 1977-04-12 | Siemens Aktiengesellschaft | Magnetic field sensitive diode and method of making same |
NL8002635A (nl) * | 1980-05-08 | 1981-12-01 | Philips Nv | Programmeerbare halfgeleiderinrichting en werkwijze ter vervaardiging daarvan. |
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FR2542453B1 (fr) * | 1983-03-07 | 1985-07-12 | Centre Electron Horloger | Dispositif miniature sensible au champ magnetique et appareil de mesure du champ magnetique incorporant un tel dispositif |
DE3515349A1 (de) * | 1985-04-27 | 1986-10-30 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn | Elektrischer geber zur messung mechanischer groessen |
US5463233A (en) * | 1993-06-23 | 1995-10-31 | Alliedsignal Inc. | Micromachined thermal switch |
DK94995A (da) * | 1995-08-24 | 1997-02-25 | Microtronic As | Magnetfeltsensor |
KR101375833B1 (ko) * | 2007-05-03 | 2014-03-18 | 삼성전자주식회사 | 게르마늄 나노로드를 구비한 전계효과 트랜지스터 및 그제조방법 |
KR102630448B1 (ko) * | 2016-09-29 | 2024-01-31 | 인텔 코포레이션 | 양자 컴퓨팅 어셈블리, 양자 컴퓨팅 어셈블리를 제조하는 방법, 및 양자 컴퓨팅 어셈블리를 동작시키는 방법 |
CN108039406B (zh) * | 2017-12-28 | 2024-03-08 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 一种磁传感器、其制备方法与使用方法 |
CN115453429B (zh) * | 2022-11-09 | 2023-03-24 | 南方电网数字电网研究院有限公司 | 磁传感器及其制备方法,磁场测量系统 |
-
1968
- 1968-02-20 GB GB8182/68A patent/GB1154679A/en not_active Expired
- 1968-03-09 DE DE1574654A patent/DE1574654C3/de not_active Expired
- 1968-03-11 CH CH366468A patent/CH479137A/fr not_active IP Right Cessation
- 1968-03-12 FR FR1557294D patent/FR1557294A/fr not_active Expired
-
1969
- 1969-01-08 US US789756A patent/US3553540A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH479137A (fr) | 1969-09-30 |
GB1154679A (en) | 1969-06-11 |
US3553540A (en) | 1971-01-05 |
DE1574654A1 (de) | 1971-11-18 |
FR1557294A (de) | 1969-02-14 |
DE1574654C3 (de) | 1973-11-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
EHJ | Ceased/non-payment of the annual fee |