DE1573717C3 - Druckempfindliches Halbleiterbauelement - Google Patents
Druckempfindliches HalbleiterbauelementInfo
- Publication number
- DE1573717C3 DE1573717C3 DE19661573717 DE1573717A DE1573717C3 DE 1573717 C3 DE1573717 C3 DE 1573717C3 DE 19661573717 DE19661573717 DE 19661573717 DE 1573717 A DE1573717 A DE 1573717A DE 1573717 C3 DE1573717 C3 DE 1573717C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- area
- pressure
- electrode
- region
- electrodes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 18
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 6
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 5
- 230000000903 blocking Effects 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052803 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating Effects 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000001960 triggered Effects 0.000 description 1
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein druckempfindliches Halbleiterbauelement nach dem Oberbegriff des Anspruchs
1. Bei einem bekannten Halbleiterbauelement dieser Art (DT-AS 11 32 247) handelt es sich um eine
stromgesteuerte Vierschichttriode. Die Zündung des Halbleiterbauelementes, also die Einleitung des Stromflusses
zwischen dem dritten Bereich und dem anderen ersten Bereich erfolgt dadurch, daß man von der
Steuerelektrode auf dem vierten Bereich zur Elektrode auf dem dritten Bereich einen schwachen Steuerstrom
schickt. Dieser Steuerstrom zündet das Halbleiterbauelement unmittelbar. Das Durchschalten durch Druckeinwirkung
auszulösen, ist bei diesem bekannten Halbleiterbauelement nicht vorgesehen.
Es sind durch Druckeinwirkung beeinflußbare Halbleiterbauelemente bekannt (US-PS 29 29 885), bei denen
ein steuerbarer Gleichrichter mit einer Sperrschicht oder ein Transistor kontinuierlich durch Druck in ihrer
Durchlaßfähigkeit beeinflußbar sind. Die Druckempfindlichkeit wird dadurch erreicht, daß die auf einer
Seite an der Sperrschicht anliegende Halbleiterschicht sehr dünn ausgebildet ist. Der Druck wird auf die mit
dieser Halbleiterschicht verbundene Elektrode ausgeübt.
Außerdem ist es bezüglich des Widerstandwertes elastisch deformierbarer p-n-Übergänge bekannt (Jornal
of Applied Physics, 1963, Bd. 34, Heft 7, S. 1958 bis 1970), daß die Druckempfindlichkeit durch am
p-n-Übergang angeordnete Störstellen des Kristallgitters erhöht werden kann. Solche Störstellen entsprechen
Rekombinationszentren, also tiefen Energieniveaus.
Ferner sind Vierschicht- bzw. Fünfschichthalbleiterbauelemente mit Thyristorcharakteristik bekannt, beispielsweise
aus der FR-PS 12 91321. Die bekannten Bauelemente bestehen aus einem Körper aus Halbleitermaterial
eines ersten Leitungstyps, an dessen einander gegenüberliegenden Hauptflächen je ein
erster Bereich entgegengesetzten Leitungstyps und mindestens in einem von diesen ein zweiter und ein
dritter je mit einer Elektrode verbundener Bereich des ersten Leitungstyps vorgesehen sind. Diese können als
in beiden Richtungen schaltbare Thyristoren aufgebaut sein.
Gegenüber den bekannten druckempfindlichen Halbleiterbauelementen liegt der Erfindung die Aufgabe
zugrunde, ein Bauelement der eingangs genannten Art zu schaffen, das ein vollkommenes Durchschalten
aufgrund eines nur mäßigen ausgeübten Drucks zeigt.
Diese Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 angegebene Erfindung gelöst.
Bei diesem Halbleiterbauelement bleibt der Strom- : fluß gesperrt, solange auf die mit dem vierten Bereich
verbundene Steuer-Elektrode Druck nicht ausgeübt wird. Durch Druck wird das Bauelement plötzlich
geschaltet. Es wird so ein Halbleiterbauelement zur Verfügung gestellt, das für Anwendungsfälle geeignet
ist, in denen die Stromsteuerung durch eine Drucksteuerung ersetzt werden soll oder muß. Eine geringe
Druckeinwirkung auf die Steuerelektrode hat zuverlässig das Durchschalten des-Halbleiterbauelementes zur
Folge.
Die Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 einen Schnitt durch ein Ausführungsbeispiel und
F i g. 2 die mit dem Element nach F i g. 1 erhaltene Spannungs-Strom-Kennlinie.
Das in F i g. 1 gezeigte Halbleiterbauelement hat einen p-Bereich 1, einen jeweils an eine der beiden
Oberflächen des p-Bereiches 1 anschließenden n-Bereich 2 bzw. 3, einen in Form eines Rings in den
n-Bereich 2 eingelassenen p-Bereich 4, einen n-Bereich 5, der im n-Bereich 2 mittig innerhalb des Bereichs 4
angeordnet ist, einen Bereich 6, der im n-Bereich 2 rings um den n-Bereich 5 gebildet ist und mit tiefe
Energieniveaus erzeugenden Störstoffen dotiert ist, eine in ohmschem Kontakt mit dem p-Bereich 4 stehende
ringförmig ausgebildete Elektrode 7, eine in ohmschem Kontakt mit dem n-Bereich 5 stehende Steuerelektrode
8 sowie eine mit dem n-Bereich 3 in ohmschem Kontakt stehende Elektrode 9.
Wird eine Gleichspannung derart an die Elektroden 7 und 9 angelegt, daß die Elektrode 7 zur positiven
Elektrode wird, dann bleibt, bis eine bestimmte Spannung erreicht ist, das Element gesperrt, und die
Grenzschicht zwischen dem n-Bereich 2 und dem p-Bereich 1 ist in Sperrichtung vorgespannt. Übersteigt
nun die angelegte Spannung den bestimmten Wert, dann bricht diese Grenzschicht durch und das Element
ist leitend. .
Auch wenn eine Gleichspannung an die Elektroden 7 und 8 derart angelegt wird, daß die Steuerelektrode 8
zur negativen Elektrode wird, bleibt das Element sperrend, bis. eine bestimmte Einschaltspannung erreicht
ist. Wird diese überschritten, schaltet das Element durch.
Diese Tatsache erklärt sich wie folgt: Zwischen dem n-Bereich 5 und dem n-Bereich 2 liegt der Bereich 6 mit
dem tiefe Energieniveaus erzeugenden Störstoff. Die Stärke des elektrischen Feldes nimmt in der Nähe der
zwischen dem n-Bereich 5 und dem n-Bereich 2 liegenden Grenzschicht schnell zu, da die Konzentration
der Störstoffe rings um die Grenzschicht hoch ist; bei der Einschaltspannung findet eine Lawinenentladung
statt und das Element schaltet durch.
Im folgenden sei angenommen, daß das Element bei
Anlegen einer unterhalb der bestimmten Spannung liegenden Gleichspannung an die Elektroden 7 und 9,
wobei die Elektrode 7 die positive Elektrode ist, und bei Anlegen einer unterhalb der Einschaltspannung liegenden
Gleichspannung an die Elektroden 8 und 7, wobei 5 die Steuerelektrode 8 die negative Elektrode ist,
gesperrt bleibt. Wird unter diesen Bedingungen die Steuerelektrode 8 druckbeaufschlagt, so wird der
Übergang zwischen den Elektroden 7 und 8 und infolge davon der Übergang zwischen den Elektroden 7 und 9
durchgeschaltet. Hört die Druckbeaufschlagung auf, so wird der Übergang zwischen den Elektroden 7 und 8
zwar wieder sperrend, der Übergang zwischen den Elektroden 7 und 9 kehrt jedoch nicht in den sperrenden
Zustand zurück. Der Stromfluß zwischen den Elektroden 7 und 9 kann also durch kurze Druckeinwirkung auf
die Steuerelektrode 8 vom abgeschalteten in den eingeschalteten Zustand gebracht werden.
Im nachfolgenden wird ein Beispiel beschrieben.
Phosphor wird in ein p-leitendes Si-Substrat mit einem spezifischen Widerstand von 5 Ω-cm von beiden
Oberflächen hereindiffundiert, um auf den Oberflächen dieses Si-Substrats η-Bereiche zu erhalten. Die Phosphor-Diffusion
wird auf bekannte Weise vorgenommen, und zwar durch Diffundieren von P2O5 in der
Dampfphase. Anschließend wird im η-Bereich auf einer Oberfläche des Substrats Al(0,8% B) einlegiert und an
einer anderen Stelle des gleichen Bereichs wird Kupfer eindiffundiert, und zwar bei niedriger Temperatur und
kurz nachdem das Kupfer auf diesen Bereich aufgedampft oder aufgeschichtet worden ist. Diffusionstemperatur
und Diffusionszeit sind sehr wichtig und werden gesteuert, um ein zu tiefes Eindrigen des Kupfers zu
verhindern, das auftreten kann, weil das Kupfer sehr leicht im Silizium diffundiert. Es haben sich eine
Diffusionstemperatur von etwa 8000C und eine Diffusionszeit von ungefähr 10 Minuten als am geeignetsten
erwiesen. Nach Entfernen des an der Oberfläche verbleibenden Kupfers mit Salpetersäure wird an dieser
Stelle Au(0,8%Sb) einlegiert und man erhält das Element nach Fig. 1. Die Elektrode 9 besteht aus
Au(0,8% Sb). Die Spannungs-Strom-Kennlinie eines Schaltelementes nach F i g. 1 nach dem eben beschriebenen
Aufbau ist in F i g. 2 dargestellt.
Der Übergang zwischen den Elektroden 7 und 9 ist bei 100 V und der Übergang zwischen den Elektroden 7
und 8 bei 20 V im sperrenden Zustand. Drückt man auf die Steuerelektrode 8, so geht der Bereich zwischen den
Elektroden 7 und 8 in den leitenden Zustand über. Anschließend geht auch der Bereich zwischen den
Elektroden 7 und 9 in den leitenden Zustand über. Die Erscheinung, daß der Bereich zwischen den Elektroden
7 und 9 durch einen zwischen den Elektroden 7 und 8 fließenden Strom eingeschaltet wird, beruht auf dem
gleichen Prinzip wie bei einem gesteuerten Gleichrichter.
Wenn auch in der vorstehenden Beschreibung die Bereiche des Halbleiterkörpers p-leitend bzw. n-leitend
sind, so ist dennoch die Art der Leitung dieser Bereiche austauschbar. Weiterhin können als tiefe Energieniveaus
erzeugende Störstoffe Kupfer, Eisen, Nickel, Kobalt, Mangan und Gold verwendet werden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Druckempfindliches Halbleiterbauelement mit einem Halbleiterkörper, der an seinen beiden einander gegenüberliegenden Hauptflächen jeweils einen ersten Bereich eines Leitfähigkeitstyps enthält, zwischen denen ein zweiter Bereich mit entgegengesetztem Leitfähigkeitstyp angeordnet ist, wobei in einem der ersten Bereiche ein dritter Bereich mit dem Leitfähigkeitstyp des zweiten Bereiches und getrennt von diesem ein vierter Bereich mit dem Leitfähigkeitstyp dieses ersten Bereiches und mit gegenüber diesem höherer Leitfähigkeit angeordnet sind, und'der andere erste Bereich, der dritte und der vierte Bereich je mit einer ohmschen Elektrode versehen sind, dadurch gekennzeichnet, daß in dem einen ersten Bereich (2) rings um den vierten Bereich (5) ein mit tiefe Energieniveaus erzeugendem Störstoff dotierter Bereich (6) angeordnet ist, und daß zur Steuerung des Stromflusses zwischen dem dritten Bereich (4) und dem vierten Bereich (5) eine Druckeinwirkung auf die Steuerelektrode (8) auf dem vierten Bereich (5) ausübbar ist.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6677065 | 1965-10-28 | ||
JP6001766 | 1966-09-08 | ||
DEM0071506 | 1966-10-28 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1573717C3 true DE1573717C3 (de) | 1977-04-14 |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3011557C2 (de) | Zweipoliger Überstromschutz | |
DE2932152A1 (de) | Ueberspannungsschutz zum schutz von einheiten, die halbleiterbauelemente fuer kleine leistungen enthalten | |
DE2107564B2 (de) | Durch Lichteinfall steuerbarer Thyristor | |
DE1489937A1 (de) | Halbleiterbauelement | |
DE1639019B2 (de) | Steuerbarer halbleitergleichrichter | |
DE1090331B (de) | Strombegrenzende Halbleiteranordnung, insbesondere Diode, mit einem Halbleiterkoerper mit einer Folge von wenigstens vier Zonen abwechselnd entgegengesetzten Leitfaehigkeitstyps | |
DE1924726A1 (de) | Feldeffektvorrichtung mit steuerbarem pn-UEbergang | |
DE3240564A1 (de) | Steuerbares halbleiterschaltelement | |
DE2238564A1 (de) | Thyristor | |
DE2915885C2 (de) | Thyristor mit Steuerung durch Feldeffekttransistor | |
DE1573717B2 (de) | Druckempfindliches halbleiterbauelement | |
DE1573717C3 (de) | Druckempfindliches Halbleiterbauelement | |
DE1639177C3 (de) | Monolithisch integrierte Gleichrichterschaltung | |
DE1208408B (de) | Steuerbares und schaltbares Halbleiterbauelement mit vier Schichten abwechselnd entgegengesetzten Leitungstyps | |
DE1439674C3 (de) | Steuerbares und schaltbares pn-Halbleiterbauelement für große elektrische Leistungen | |
DE1464979C3 (de) | Halbleiterschaltelement | |
DE1564545C3 (de) | Asymmetrische Halbleiter-Kippdiode | |
AT212376B (de) | Halbleiteranordnung | |
DE1564343B2 (de) | Halbleiterbauelement mit negativer widerstandscharakteristik | |
DE1965051C2 (de) | Halbleiterbauelement | |
DE1614035C3 (de) | Integrierte Halbleiteranordnung | |
AT227776B (de) | Tunneldiode, insbesondere zur Gleichrichtung kleiner Wechselspannungen | |
DE2628792A1 (de) | Thyristor | |
DE1489092C (de) | Steuerbare Halbleitergleichrichter | |
DE1464288C (de) | Flächentransistor und Verfahren zu seiner Herstellung |