DE1260031B - Verfahren zum Nachbearbeiten von durch Legieren hergestellten pn-UEbergaengen - Google Patents
Verfahren zum Nachbearbeiten von durch Legieren hergestellten pn-UEbergaengenInfo
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Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. Cl.:
HOIl
Deutsche KL: 21g-11/02
Nummer: 1260 031
Aktenzeichen: L 36521 VIII c/21 ä
Anmeldetag: 8. Juli 1960
Auslegetag: 1. Februar 1968
Gleichrichter, z. B. aus p-Silizium, werden bekanntlich
in der Weise hergestellt, daß auf eine Siliziumscheibe auf der einen Seite eine Gold-Antimon-Legierung,
auf der anderen Seite eine Aluminium-Silizium-Legierung mit einer Molybdänscheibe als
Elektrode bei etwa 7000C anlegiert werden. Diese
Siliziumgleichrichter zeichnen sich gewöhnlich durch hohe Sperrspannungen bei geringen Rückströmen
aus. Mit größer werdender Fläche des pn-Überganges wird es aber immer schwieriger, die Legierungsbedingungen
so sauber zu halten, daß sie mit Sicherheit zu qualitativ guten pn-Übergängen führen. Da andererseits
die Materialkosten, beispielsweise für eine 1,5 bis 2 cm2 große Siliziümscheibe schon ins Gewicht
fallen, ist es von Bedeutung, ein Verfahren zu haben, das es gestattet, pn-Übergänge minderer
Qualität, insbesondere solche mit schlechten Sperreigenschaften, nachzuarbeiten, so daß sie zu qualitativ
guten Gleichrichtern führen.
Es hat sich gezeigt, daß die pn-Übergänge mit minderen Sperreigenschaften bei relativ hohen Rückströmen
dadurch zustande kommen, daß die Halbleiteroberfläche nicht mit der erforderlichen Reproduzierbarkeit
an Sauberkeit hergestellt werden kann.
Ein bißchen mehr oder weniger an Fremdatomen, as
die an der Oberfläche aus der Ätzlösung heraus absorbiert werden, wirkt sich in genanntem Sinn aus.
Es wurde nun gefunden, daß man solchen pn-Übergängen hohe Sperrspannungen bei relativ geringen
Rückströmen geben kann, wenn man nach der Lehre der vorliegenden Erfindung verfährt.
Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zum Nachbearbeiten von Halbleiterkörpern mit z. B. aus
Germanium oder Silizium durch Legieren hergestellten pn-Übergängen, bei dem erfindungsgemäß der
Halbleiterkörper nach dem Erstarren der Legierung unverändert bei gleichem Material nochmals einem
Legierungsprozeß unterzogen wird. Dabei ist es von Vorteil, wenn dieser zweite Legierungsprozeß unter
den gleichen Bedingungen durchgeführt wird wie der erste Legierungsprozeß.
Unter besonderen Umständen kann es jedoch zweckmäßig sein, bei dem zweiten Legierungsprozeß
eine Legierungstemperatur zu wählen, die nur wenig über dem Schmelzpunkt des Eutektikums der
Legierungskomponenten liegt. Auch kann es sich empfehlen, die Abkühlung der Schmelze langsamer
vorzunehmen als beim ersten Legierungsprozeß.
Die Wirkung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird noch verstärkt, wenn der den pn-übergang enthaltende
Halbleiter vor dem zweiten Legierungsprozeß geätzt und gegebenenfalls mit reinem Petrol-
Verfahren zum Nachbearbeiten
von durch Legieren hergestellten pn-Übergängen
Anmelder:
Licentia Patent-Verwaltungs-G. m. b. H.,
6000 Frankfurt 70, Theodor-Stern-Kai 1
6000 Frankfurt 70, Theodor-Stern-Kai 1
Als Erfinder benannt:
Richard Magner, 4788 Warstein
äther gewaschen wird. Auch empfiehlt es sich, den Halbleiterkörper nach dem zweiten Legierungsprozeß
zu ätzen.
Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich zum Nachbearbeiten von pn-Ubergängen mit unzureichenden
Sperreigenschaften. Obwohl es auch z. B. für die pn-Übergänge von Transistoren, insbesondere auf
deren pn-Übergänge am Kollektor von Belang ist, liegt seine wesentliche Bedeutung bei der Nachbearbeitung
von pn-Übergängen, die für Trockengleichrichter bestimmt sind.
Das Verfahren nach der Erfindung wird im folgenden in einem Beispiel erläutert:
Die geätzten und bei etwa 2500C ausgeheizten
Halbleiterkörper, deren pn-Ubergänge in der Güte unzureichend befunden werden, werden in reinem
Petroläther gewaschen und anschließend nochmals in die Legierungsformen gelegt und einem nochmaligen
Legierungsprozeß unterworfen. Die so behandelten Halbleiterkörper lassen sich nach einem nochmaligen
Ätzprozeß in den üblichen Säuremischungen, bestehend aus z. B. Salpetersäure, Flußsäure eventuell
auch mit Zugabe von Essigsäure, zu guten Gleichrichtern verarbeiten.
Die Erklärung für die Wirkung des Verfahrens nach der Erfindung dürfte in folgendem liegen. Beim
Rekristallisieren gegen Ende des Legierungsvorganges kann ein Teil der störenden Substanzen durch
Ausscheidung aus der Gold-Silizium-Schmelze an die Oberfläche transportiert werden. Ist die Menge der
Fremdsubstanz, die die angelöste Halbleiterschicht enthält, so gering, daß sie durch den Legierungsvorgang
an die Oberfläche gebracht wird, dann kann sie durch Ätzen von der Oberfläche entfernt werden. Bei
genügender Reinheit der Oberfläche, insbesondere der Randzone, erreicht man hochwertige pn-Über-
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gänge. Ist die störende Substanzmenge aber größer, so daß sie nicht in genügendem Umfang an die Oberfläche
der Gold-Silkium-Schicht gebracht wird, dann
zeigen solche pn-Übergänge eben unbefriedigende Ergebnisse.
Durch den Ätzprozeß entsteht in der Gold-Silizium-Schicht ein geringfügiger Überschuß an Gold,
da ja auch ein Teil des Siliziums aus dem GoId-Silizium-Eutektikum
in Lösung geht. Beim zweiten Legierungsvorgang, der ja bei gleicher Temperatur wie der erste stattfinden kann, ist das überschüssige
Gold in der Lage, die ankristallisierte Siliziumschicht etwas tiefer anzulösen, wodurch wieder die Möglichkeit
gegeben ist, die noch störenden Fremdsubstanzen an die Oberfläche zu bringen. Bei dem nachfolgenden
Ätzvorgang werden diese aus der Randzone entfernt. Diese Maßnahmen führen zu qualitativ
guten pn-Übergängen.
Claims (7)
1. Verfahren zum Nachbearbeiten von Halbleiterkörpern mit z. B. aus Germanium oder Silizium
durch Legieren hergestellten pn-Übergängen, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper nach dem Erstarren der
Legierung unverändert bei gleichem Material nochmals einem Legierungsprozeß unterzogen
wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Legierungsprozeß
unter den gleichen Temperaturbedingungen durchgeführt wird wie der erste Legierungsprozeß.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Legierungsprozeß
bei einer Temperatur durchgeführt wird, die nur wenig über dem Schmelzpunkt des Eutektikums
der Legierungskomponenten liegt.
4. Verfahren nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Abkühlung
der Schmelze langsamer erfolgt als beim ersten Legierungsprozeß.
5. Verfahren nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß der
Halbleiterkörper vor dem zweiten Legierungsprozeß geätzt wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper nach dem
Ätzen in reinem Petroläther gewaschen wird.
7. Verfahren nach Anspruch 1 oder einem der
folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper nach dem zweiten Legierungsprozeß geätzt wird.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 029 483;
britische Patentschrift Nr. 836 851;
F. J. Biondi, »Transistor Technologie«,
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 029 483;
britische Patentschrift Nr. 836 851;
F. J. Biondi, »Transistor Technologie«,
Van Nostrand Comp. Inc., New York, 1958,
S. 191 und 197.
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DE1029483B (de) * | 1954-01-28 | 1958-05-08 | Marconi Wireless Telegraph Co | Verfahren zur Herstellung von npn- oder pnp-Transistoren |
GB836851A (en) * | 1956-09-26 | 1960-06-09 | Gen Electric | Improvements in semiconductor devices and methods of making same |
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1961
- 1961-07-05 GB GB24286/61A patent/GB963222A/en not_active Expired
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Patent Citations (2)
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DE1029483B (de) * | 1954-01-28 | 1958-05-08 | Marconi Wireless Telegraph Co | Verfahren zur Herstellung von npn- oder pnp-Transistoren |
GB836851A (en) * | 1956-09-26 | 1960-06-09 | Gen Electric | Improvements in semiconductor devices and methods of making same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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BE605818A (fr) | 1961-11-03 |
GB963222A (en) | 1964-07-08 |
NL266775A (de) |
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