DE1225767C2 - Verfahren zum montieren einer halbleiterdiode - Google Patents
Verfahren zum montieren einer halbleiterdiodeInfo
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Description
i 225 767
3 4
wird und daß anschließend die elastische, mit einer Durchmesser des plattenförmigen Hälbleiterkör-
Glasumschmelzung versehene Zuleitung in das Glas- pers 7. Beim Einwerfen des Halbleiterkörpers in die
röhrchen eingeführt wird, bis das U-förmig gebogene Hülse wird dieser durch die inneren Wände der
Kontaktstück die noch freie Oberfläche des Halb- Hülse so geführt, daß er mit einer Oberfläche auf der
leiterkörpers unter vorgegebenem Druck berührt, 5 nach oben zeigenden Oberfläche der Trägerplatte
und dann mit dem Rand der Glasumhüllung ver- aufliegt,
schmolzen wird. , Anschließend wird die Führungshülse wieder ent-
Das Verfahren nach der Erfindung wird im fo- fernt.
genden an Hand der Zeichnung näher erläutert. Die Schließlich wird die zweite Teilanordnung so in
Figuren zeigen zwei Ausführungsbeispiele von nach io die Öffnung des Glasröhrchens 1 eingeführt, daß der
der Erfindung montierten Dioden. Kontaktteil 5 des Zuleitungsdrahtes 4 die freie Oberin
F i g. 1 besteht die fertig zusammengesetzte fläche des Halbleiterkörpers 7 berührt. Die zweite
Diode aus dem Glasröhrchen 1, in dessen eines Ende Teilanordnung wird mit einem genau vorbestimmten
ein mit einer Glasperle 8 versehener Zuleitungs- Druck auf den auf der Trägerplatte 6 liegenden Halbdraht
2 eingeschmolzen ist. Auf dem Zuleitungs- 15 leiterkörper 7 gepreßt. Unter Aufrechterhaltung des
draht 2 liegt die Trägerplatte 6 auf und auf der Trä- Druckes wird dann die Glasumschmelzung 3 mit den
gerplatte der Halbleiterkörper 7. Ein zweiter Zufüh- Rändern des Glasröhrchens 1 verschmolzen, so daß
rungsdraht 4, der an seinem unteren Ende einen ein dichter Abschluß entsteht. Nach dem Verschluß
U-förmigen Kontaktkörper 5 aufweist, berührt die des Gehäuses stehen somit die Trägerplatte und der
freie Oberfläche des Halbleiterkörpers 7 und ist mit ao Halbleiterkörper unter Druck und werden durch das
dem Glasröhrchen 1 an dessen oberer Öffnung durch Kontaktstück 5 und die als Widerlager dienende Zudie
Glasumschmelzung 3 verschmolzen. leitung 2 zusammengepreßt. Der Druck auf die Ein-Bei
der Montage der Diodenanordnung wird von zelteile wird noch dadurch erhöht, daß die Glasumzwei
vorgefertigten Teilanordnungen ausgegangen. hüllung der Diode nach dem Erkalten stärker
Die erste Teilanordnung besteht aus dem Glasrohr- 35 schrumpft als die Metallteile im Inneren. Die mechachen
1 mit der an dem zugeschmolzenen Ende einge- nische Festigkeit des Druckkontaktes kann noch verführten
Zuleitung 2. Die zweite Teilanordnung be- bessert werden, wenn man die Oberfläche der Trästeht
aus der Zuleitung 4, um die ein Glasteil 3 ge- geplatte 6 und die aufliegende Oberfläche des federnschmolzen
ist und die an ihrem einen Ende ein U-för- den Kontaktbandes 5 aufrauht. Die Oberfläche des
mig gebogenes Kontaktstück 5, z. B. aus einem Me- 30 Halbleiterkörpers 7 wird zweckmäßig ebenfalls protallband
einer Platinverbindung mit einem Zusatz filiert mit Rauhtiefen von 0,5 bis etwa 3 μ. Infolge
von Wolfram, aufweist. dieser definierten Rauhigkeit in Verbindung mit Im Hinblick auf möglichst gute elektrische Kon- Druck und der beim Einschmelzen der Glasvertakte
müssen zunächst die während der Lagerung Schlüsse auftretenden Temperatur tritt eine mechanientstandenen
Oxydschichten auf dem Zuleitungs- 35 sehe Oberfiächenverkettung (Ansintern) ein. Eine
draht 2 des ersten Teilstückes beseitigt werden. Man derartige Anordnung ist gegen Erschütterungen
kann dazu eine mechanische Behandlung anwenden. außerordentlich unempfindlich.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn die Oxydhäute in In Fig. 2 ist eine etwas abgewandelte Diodenform einer erhitzten Wasserstoffatmosphäre reduziert wer- dargestellt. Bei dieser ist der zweite Zuleitungsdraht 2 den. Es kann dabei gleichzeitig bei geeigneter Wahl 40 mit einem Metallzylinder 9 außerhalb des Glasröhrder Glasumhüllung erreicht werden, daß sich die chens 1 verschweißt. Der Metallzylinder ist mit dem Umhüllung schwärzt. Dieser Effekt tritt besonders Glasröhrchen dicht verbunden und ragt in dessen bei Verwendung von Bleiglas auf. Es läßt sich da- Inneres. Sein Querschnitt weist einen Durchmesser durch die nachträgliche Schwärzung der Glasumhül- auf, der nur wenig kiemer ist als der Innendurchlung nach Fertigstellung der Diode einsparen. Da 45 messer des Glasröhrchens. Die übrigen Teile entspre-Halbleiteranordnungen lichtempfindlich sind, müssen chen denen in F i g. 1 und sind mit den gleichen Bediese in lichtundurchlässige Umhüllungen eingebaut zugszeichen versehen.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn die Oxydhäute in In Fig. 2 ist eine etwas abgewandelte Diodenform einer erhitzten Wasserstoffatmosphäre reduziert wer- dargestellt. Bei dieser ist der zweite Zuleitungsdraht 2 den. Es kann dabei gleichzeitig bei geeigneter Wahl 40 mit einem Metallzylinder 9 außerhalb des Glasröhrder Glasumhüllung erreicht werden, daß sich die chens 1 verschweißt. Der Metallzylinder ist mit dem Umhüllung schwärzt. Dieser Effekt tritt besonders Glasröhrchen dicht verbunden und ragt in dessen bei Verwendung von Bleiglas auf. Es läßt sich da- Inneres. Sein Querschnitt weist einen Durchmesser durch die nachträgliche Schwärzung der Glasumhül- auf, der nur wenig kiemer ist als der Innendurchlung nach Fertigstellung der Diode einsparen. Da 45 messer des Glasröhrchens. Die übrigen Teile entspre-Halbleiteranordnungen lichtempfindlich sind, müssen chen denen in F i g. 1 und sind mit den gleichen Bediese in lichtundurchlässige Umhüllungen eingebaut zugszeichen versehen.
werden. Bei Verwendung von Glasumhüllungen Bei der Montage kann auf die Verwendung einer
wurde bisher zu diesem Zweck gewöhnlich das Glas- metallischen Trägerplatte 6 wie bei F i g. 1 verzichtet
gehäuse nachträglich mit einer lichtundurchlässigen 5° werden. Die Führungshülse wird auf die Oberfläche
Lackschicht überzogen. des Metallzylinders 9 aufgesetzt, und der Halbleiter-Nach
der Reinigung der ersten Teilanordnung körper 7 liegt nach dem Einbringen direkt auf dieser
wird in diese eine metallische Trägerplatte 6 einge- Oberfläche auf. Bei einer derartigen Anordnung sind
führt. Es eignet sich dafür z. B. eine Platte aus Silber. nur zwei Preßkontaktstellen gegenüber drei bei
Wann man den Durchmesser der Trägerplatte etwa 55 F i g. 1 vorhanden. Sie eignet sich besonders bei Anso
groß wie den Innendurchmesser des Glasrohr- Ordnungen für hohe Leistungen wegen der durch den
chens 1 macht, erreicht man, daß die Trägerplatte massiven Metallzylinder bedingten guten Wärmezwangsweise
durch die Führung der Wände des Glas- ableitung. Dagegen kann man nicht die Vorteile der
röhrchens auf den in das Röhrchen hineinragenden Oberflächenaufrauhung hinsichtlich der Erschütte-Teil
der Zuleitung 2 gelangt. 60 rungsf estigkeit ausnutzen, da der Metallzylinder be-
Nach dem Einbringen der Trägerplatte wird in die reits mit den Glasröhrchen verbunden ist.
Öffnung des Glasröhrchens 1 eine Hülse eingeführt. Während der Montage kann das Glasröhrchen 1
Die Hülse kann z. B. aus einem Metallrohr bestehen. der ersten Teilanordnung in Haltebacken eingespannt
Dieses ist so bemessen, daß es mit seiner Außenwand werden. Der Druck auf die zweite Teilanordnung in
an der Innenwand des Glasröhrchens anliegt und mit 65 Richtung der in der Zeichnung angegebenen Pfeile
seiner unteren Begrenzung auf der Trägerplatte 6 kann in einfacher Weise durch ein Gewicht ausgeübt
aufliegt. Der Innendurchmesser der Führungshülse werden,
wird so bemessen, daß er etwas größer ist als der Das Montageverfahren nach der Erfindung ermög-
licht es, glasumhüllte Halbleiterdioden kleiner Abmessungen in wirtschaftlich einfacher Weise ohne
Verwendung von Lötvorgängen herzustellen. Da keine Lötprozesse stattfinden, kann auch auf die
sonst übliche Ätzung nach den Lötprozessen verzichtet werden. Eine Diodenanordnung nach der Erfindung
ist besonders unempfindlich gegenüber starken Temperaturänderungen, da auftretende thermische
Spannungen sich wegen des Fehlens fester Lötverbindungen leichter ausgleichen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (8)
1. Verfahren zum Montieren einer Halbleiterdiode mit einer röhrchenförmigen Glasumhüllung,
bei der ein scheibenförmiger Halbleiterkörper mit einem wesentlich geringeren Durchmesser
als der Innendurchmesser der Glasumhüllung lediglich durch Druck zwischen mit der Glasumhüllung
verschmolzenen koaxialen piejktrpdenzuleituhgen
gehalten wird, von denen die eine unelastisch und die andere mittels eines U-förmig
gebogenen kontaktstückes elastisch ausgebildet ist, dadurch gekennzeichnet, daß zuerst
die unelastische Elektrodenzwleitung mit φ?
Glasumhüllung verschmolzen wird, daß nach dem Reinigen der mit der eingeschmolzenen
Zuleitung versehenen Glasumhüllung eine Führungshülle in die Glasumhüllung eingeschoben
und. auf den Rand des verbreiterten Endes der Zuleitung oder auf den Rand einer zwischengeschalteten
Trägerplatte aufgesetzt, der Halbleiterkörper durch die Führungshülse auf die Oberfläche der Zuleitung bzw. der Trägerplatte
gebracht und danach die Führungshülse wieder entfernt wird und daß anschließend die elastische,
mit einer Glasumschmelzung versehene Zuleitung in das Glasröhrchen eingeführt wird, bis
das U-förmig gebogene Kontaktstück die noch freie Oberfläche des Halbleiterkörpers unter vorgegebenem
Druck berührt, und dann mit dem Rand der Glasumhüllung verschmolzen wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Glasumhüllung mit der
eingeschmolzenen Zuleitung in einer erhitzten Wasserstoffatmosphäre gereinigt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Material für die Glasumhüllung
Bleiglas verwendet wird.
4. Verfahren mach (einem der Ansprüche 1
bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Außendurchmesser der metallischen Trägerplatte dem
Innendurchmesser der Glasumhüllung entsprechend bemessen wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß als Trägerplatte eine Silberplatte
verwendet wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche
der Trägerplatte und die des U-förmig gebogenen Kontaktstückes vor der Montage aufgerauht
werden.
7. Verfahren nach einem .der Ansprüche 1
bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Druck auf die in die Glasumhüllung eingeführte Zuleitung
mittels eines Gewichtes ausgeübt wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Außendurchmesser
der Führungshülse dem Innendurchmesser der Glasumhüllung und der Innendurchmesser
der Führungshülse dem Außendurchmesser des Halbleiterkörpers entsprechend bemessen
wird.
Pie Erfindung feßfrijfJ; ein Verfahren zum Montieren
einer Halbleiterdiode mit einer röhrchenförmigen
Glasumhüllung, bei der ein scheibenförmiger Halbleiterkörper mit einem wesentlich geringeren Durchmesser
als der Innendurchmesser der Glasumhüllung lediglich durch Druck zwischen mit der Glasumhüllung
verschmolzenen koaxialen Elektrodenzuleitungen gehalten wird, von denen die eine unelastisch
und die andere mittels eines U-förmig gebogenen Kontaktdruckes elastisch ausgebildet ist.
Glasdioderi 4er beschriebenen Art sind im Prinzip
begannt. Durch die französischen Patentschriften 1083 816 und 1167 971 sowie die USA,-Patentschriften
2 832 016 und 2 869 056 sind in einem Glasröhrchen untergebrachte Punktkontaktdioden
bekannt, die koaxiale Zuleitungen aufweisen, Glasdioden mit Halbleiterelementen, die flächenhafte
pn-Übergänge aufweisen, sind durch die USA.-Patentschriften 2 830 238 und 2 896134 bekannt-
ao geworden. Bei allen erwähnten Glasdioden werden jedoch die Kontakte zumindest mit einer Zuleitung
mittels eines Lotes hergestellt. Durch die USA.-Patentschrift2780758
und die britische Patentschrift 881833 sind Halbleiterbauelemente bekannt, bei
denen der Halbleiterkörper ausschließlich durch Druck kontaktiert und gehalten wird. Es handelt sich
dabei allerdings nicht um Glasdioden der in Frage stehenden Art, sondern vielmehr um Gehäuse, die
aus Metall- und Isolierstoffteilen zusammengesetzt sind. Schließlich sei aoch erwähnt, daß djarph die
deutsche Patentschrift .866 476 die Verwendung von Kanälen bekannt ist, mit deren Hilfe gleichförmige
Gegenstände wie Tabletten, pharmazeutische Preßlinge od. dgl. in eine Reihe von Näpfen eines fortlaufend
bewegten Gliedes verteilt werden.
Bei der Herstellung von Glasdioden ist es sehr schwierig, die einzelnen Teilstücke der Diodenanordnung
im Inneren eines Glasröhrchens zu montieren und miteinander ζμ vjerJLö,ten. Dieses trifft insbesondere
dann zu, wenn die Diode für die Verwendung hoher Frequenzen vorgesehen ist und daher der Halbleiterkörper
im Hinblick auf möglichst geringe Kapazitäten sehr kleine Abmessungen aufweisen muß. Der innere
Durchmesser des Glasröhrchens beträgt dann nur
1 bis 2 mm bei einer Länge von etwa 3 mm. Bei diesen Abmessungen ist es nicht mehr möglich, mit
Werkzeugen im Inneren des Röhrchens zu hantieren. Man ist daher dazu übergegangen, den eigentlichen
Halbleiterkörper auf eine mit einem Zuleitungsdraht im Inneren des Röhrchens verlötete Trägerplatte
aufzulegen und durch den Kontaktdruck der Gegenelektrode zu halten. Dabei ist es verhältnismäßig
schwierig, die einzelnen Teile in richtiger Lage in das Röhrchen einzuführen.
Die Erfindung gibt ein besonders vorteilhaftes und einfaches Verfahren zum Montieren derartiger
Dioden an, bei dem kein Lötvorgang erforderlich ist. Erfindungsgemäß wird .das 4adurch erreicht, daß
zuerst die unelastische Elektrodenzuleitung mit der Glasumhüllung verschmolzen wird, daß nach dem
Reinigen der mit der eingeschmolzenen Zuleitung versehenen Glasumhüllung eine Führungshülse in die
Glasumhüllung eingeschoben und auf den Rand des verbreiterten Endes der Zuleitung oder auf den Rand
einer zwischengeschalteten Trägerplatte aufgesetzt, der Halbleiterkörper durch die Führungshülse auf die
Oberfläche der Zuleitung bzw. der Trägerplatte gebracht und danach die Führungshülse wieder entfernt
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19621225767 DE1225767C2 (de) | 1962-03-15 | 1962-03-15 | Verfahren zum montieren einer halbleiterdiode |
GB6324/63A GB996369A (en) | 1962-03-15 | 1963-02-15 | Improvements relating to semi-conductor diodes |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEJ0021445 | 1962-03-15 | ||
DE19621225767 DE1225767C2 (de) | 1962-03-15 | 1962-03-15 | Verfahren zum montieren einer halbleiterdiode |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1225767B DE1225767B (de) | 1974-11-14 |
DE1225767C2 true DE1225767C2 (de) | 1974-11-14 |
Family
ID=25750855
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19621225767 Expired DE1225767C2 (de) | 1962-03-15 | 1962-03-15 | Verfahren zum montieren einer halbleiterdiode |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1225767C2 (de) |
GB (1) | GB996369A (de) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1083816A (fr) * | 1952-09-19 | 1955-01-12 | Thomson Houston Comp Francaise | Perfectionnements aux montages étanches pour redresseurs à semi-conducteurs |
FR1167971A (fr) * | 1956-10-19 | 1958-12-03 | Thomson Houston Comp Francaise | Nouveau procédé de fabrication des diodes à semi-conducteurs sous enveloppe scellée |
US2896134A (en) * | 1955-09-15 | 1959-07-21 | Hughes Aircraft Co | Loop contact for semiconductor |
-
1962
- 1962-03-15 DE DE19621225767 patent/DE1225767C2/de not_active Expired
-
1963
- 1963-02-15 GB GB6324/63A patent/GB996369A/en not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1083816A (fr) * | 1952-09-19 | 1955-01-12 | Thomson Houston Comp Francaise | Perfectionnements aux montages étanches pour redresseurs à semi-conducteurs |
US2896134A (en) * | 1955-09-15 | 1959-07-21 | Hughes Aircraft Co | Loop contact for semiconductor |
FR1167971A (fr) * | 1956-10-19 | 1958-12-03 | Thomson Houston Comp Francaise | Nouveau procédé de fabrication des diodes à semi-conducteurs sous enveloppe scellée |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB996369A (en) | 1965-06-23 |
DE1225767B (de) | 1974-11-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 |