DE1204838B - Interferenz-Komparator - Google Patents

Interferenz-Komparator

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DE1204838B
DE1204838B DEO8313A DEO0008313A DE1204838B DE 1204838 B DE1204838 B DE 1204838B DE O8313 A DEO8313 A DE O8313A DE O0008313 A DEO0008313 A DE O0008313A DE 1204838 B DE1204838 B DE 1204838B
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Germany
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light
etalon
fabry
interferometer
light beam
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DEO8313A
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English (en)
Inventor
Tadashi Morokuma
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Olympus Corp
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Olympus Optical Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/25Fabry-Perot in interferometer, e.g. etalon, cavity

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

  • Interferenz-Komparator Gegenstand der Erfindung ist ein verbesserter Michelson-Interferenzkomparator.
  • Für genaueste Längenmessungen werden Interferometer verwendet, von welchen das Michelsonsche Interferometer und die Fabry-erot-Etalons die wichtigsten sind. Bei den Verfahren zur interferometrischen Längenmessung wird verlangt, daß die im Interferometer benutzte Lichtquelle eine scharfe Spektrallinie enthaltendes Licht möglichst hoher Intensität ausstrahlt, so daß Interferenzstreifen durch Differenzen in der optischen Weglänge, die gleich der zu messenden Länge ist, erhalten werden können.
  • Hierbei werden üblicherweise Entladungsröhren mit dem Kryptonisotop 86 Kr oder dem Quecksilberisotop 198 mg als Lichtquellen verwendet. Diese haben einzelne scharfe Spektrallinien, mit deren Licht Interferenzstreifen bei Differenzen in den optischen Weglängen von mehr als 60 cm erhalten werden können. Im allgemeinen hat sich die Wellenlänge der von einer gut durchkonstruierten 86-Kr-Lampe unter bestimmten Bedingungen wegen ihrer Stabilität als das beste Wellenlängenstandard erwiesen. Man muß jedoch sehr sorgfältig arbeiten und auf die Umgebungsbedingungen achten, da sich diese auf die Wellenlänge und auf die zu messende Länge anders auswirken, wenn die Messung unter anderen als den Standardbedingungen erfolgt, bei welchen die Länge definiert ist. So ändert sich z. B. die Länge eines Stahlstabes, der in der Industrie eine große Rolle spielt, mit Temperatur viel mehr, als die Wellenlänge des verwendeten Lichtes in Luft. Um die Länge bei Standard-Temperatur zu erhalten, müssen Korrekturen am Meßwert vorgenommen werden. Ähnliche Überlegungen müssen auch bei den anderen Wirkungen angestellt werden, wie z. B. beim Luftdruck und der Feuchtigkeit. Bei den konventionellen interferometrischen Längenmessungen wird folgender Korrektionsprozeß durchgeführt. Es werden die Temperatur, Luftdruck und Feuchtigkeit (und der Partialdruck von CO2) zugleich mit der Länge gemessen.
  • Die Länge wird dann auf Standardbedingungen mit Hilfe von Korrektionsformeln umgerechnet, die die Einflüsse der Umgebungsbedingungen auf die Wellenlänge und auf das Material berücksichtigen, dessen Länge gemessen werden soll. Diese Korrekturen sind ziemlich lästig und nehmen viel Zeit in Anspruch.
  • Wie aus der Edlenschen Korrektionsformel hervorgeht, ist dabei die Korrektur der Wellenlänge besonders schwierig.
  • Bei vielen auszuführenden Messungen wird es deshalb sehr vorteilhaft sein, wenn die Standardlänge ohne Messungen und Korrekturen hin- sichtlich der Umgebungseinflüsse erhalten werden kann.
  • Es ist deshalb Aufgabe der Erfindung, einen Interferenz-Komparator zu entwickeln, bei welchem eine Standardlänge bei Standardbedingungen automatisch erhalten wird, ohne daß zur Berücksichtigung der Umgebungsbedingungen, bei welchen die Längenmessung durchgeführt wird, Messungen und Korrekturen erforderlich sind. Die Grundidee zur Lösung dieser Aufgabe beruht darin, die Wellenlängen des in den IIauptteil des Komparators, also in das Interferometer, gelangenden oder von ihm herkommelden Lichtes so zu regulieren, daß die in Termen der Wellenlänge ausgedrückte Differenz der optischen Weglängen zwischen den beiden Interferometerspiegeln unabhängig von den Umgebungsbedingungen wird. Diese Grundidee erscheint bei keinem bisherigen Verfahren.
  • Erfindungsgemäß wird dies dadurch erreicht, daß einem an sich bekannten Michelson-Interferometer mindestens ein Fabry-Pérot-Etalon zugeordnet ist, der ein Paar planparalleler Platten mit relativ hohem Reflexionsvermögen und einen Distanzhalter aus einem Material enthält, dessen Wärmeausdehnungskoeffizient wenigstens annähernd dem des Materials gleichkommt, aus welchem der zu messende Artikel hergestellt ist, wobei die durch das Interferometer hindurchtretenden Lichtstrahlen untereinander eine Phasendifferenz aufweisen, die von der jeweiligen Neigung der Lichtstrahlen und von den Umgebungsbedingungen nicht beeinflußt wird.
  • Hierbei muß die Intensität der Interferenzstreifen den praktischen Anforderungen entsprechen. Die Intensität eines vom Fabry-Perot-Etalon kommenden Lichtbündels ist im allgemeinen viel geringer als die des einfallenden Lichtbündels, da wegen der Filtereigenschaften der reflektierenden Etalonbeläge Verluste eintreten. Diese Schwierigkeit kann dadurch beseitigt werden, daß das den Etalon und das Interferometer enthaltende optische System so eingerichtet wird, daß die Wellenlänge Ao des unter dem Winkel O zur optischen Achse verlaufenden Lichtstrah-Ies folgender Relation genügt 2 = Ä0 cos 0, worin Ao die Wellenlänge des längs der optischen Achse verlaufenden Lichtstrahles bedeutet.
  • Für die Erzeugung des zur Kompensation der Umgebungseinflüsse erforderlichen Wellenlängenbereiches sind breite Spektrallinien brauchbar. Diese Spektrallinien können aus Spektrallampen, wie Quecksilberdampf-Hoch- und Niederdruck-Entladungslampen erhalten werden, die billig und im Handel leicht erhältlich sind.
  • In der Zeichnung sind Ausführungsbeispiele des Erfindungsgegenstandes dargestellt: Fig.1 zeigt ein Schema eines bekannten optischen Systems, das bei herkömmlichen optischen Interferometern zur Längenmessung verwendet wird; Fig.2 zeigt ein Schema des optischen Systems, wie es beim vorliegenden Interferometer verwendet wird; Fig.3 bis 5 sind Schemas weiterer optischer Systeme, wie sie in den vorliegenden Interferenzkomparatoren zur Anwendung kommen; F i g. 6 zeigt eine schematische Seitenansicht eines Paares Fabry-Pérot-Etalons, die beim vorliegenden Interferometer verwendet werden.
  • In Fig. 1 der Zeichnung ist schematisch ein optisches System dargestellt, das beim herkömmlichen optischen Interferometer für die Längenmessung verwendet wird. Ein von einer Lichtquelle 10 kommender Lichtstrahl gelangt durch eine punktförmige Öffnung 12 zu einer Eintrittskollimatorlinse 14, die ihrerseits den von der punktförmigen Lichtquelle ausgesandten und darauffallenden Lichtstrahl in einen weitgehendst parallelen Strahl verwandelt. Der Parallelstrahl fällt unter einem Winkel von 450 auf einen Strahlenteiler, wie z. B. einen halbdurchlässig versilberten Planspiegel 16, wo er aufgespalten wird in einen reflektierten Strahl, der zu einem festen oder Vergleichsplanspiegel 18 wandert, und in einen hindurchgehenden Strahl, der zu einem beweglichen Planspiegel 20 wandert. Diese Spiegel 18 und 20 werfen die Strahlen auf den Spiegel 16 zurück, durch den der erste Strahl hindurchgeht, während der zweite reflektiert wird. So gelangen die zwei Strahlen am Spiegel 16 zur Interferenz, was im Feld der Sammellinse oder Lupe 22 beobachtet werden kann.
  • Die im Feld der Lupe 22 beobachteten Interferenzstreifen werden über eine (in der Zeichnung nicht ersichtliche) Vergleichsmarke hinweg verschoben, und zwar um einen Streifen bei jeder Verschiebung des beweglichen Spiegels 20, die einer halben Wellenlänge des von der Lichtquelle 10 ausgehenden Lichtes entspricht. Es ist bekannt, daß bei einer Verschiebung eines wie z. B. oben beschriebenen beweglichen Spiegels die Helligkeit eines Interferenzstrei- fens sich periodisch ändert, entsprechend der Verschiebung A/2 des Spiegels 20, wobei 2 eine Wellenlänge eines von einer Lichtquelle ausgehenden Lichtes ist. Indem man daher die Anzahl der Streifenhelligkeitswechsel von verschobenen Interferenzstreifen zählt, kann eine Verschiebungslänge des beweglichen Spiegels bestimmt werden.
  • Eine Vorrichtung zur Längenmessung durch Interferenz umfaßt eine geeignete Meßklemme (aus der Zeichnung nicht ersichtlich), wie z. B. eine Spindel oder ein Ablesemikroskop od. dgl., die am obenerwähnten beweglichen Spiegel befestigt werden.
  • In Fi g. 2 der Zeichnung ist ein gemäß Ausführungsbeispiel konstruiertes optisches System schematisch dargestellt. Wie daraus ersichtlich, trifft ein von einer punktförmigen Lichtquelle 10 kommender Lichtstrahl auf eine Kollimatorlinse 24, wo er in einen weitgehendst parallelen Strahl verwandelt wird, der wiederum durch den Fabry-Pérot-Etalon 26 zu einer Sammellinse 28 gelangt. Der durch die Linse 28 gesammelte Strahl wird durch eine Eintrittskollimatorlinse 14 hindurchgeleitet, um wiederum in einen weitgehendst parallelen Strahl übergeführt zu werden, der wiederum in derselben Weise verwendet wird wie der oben im Zusammenhang mit F i g. 1 beschriebene. In F i g. 2 bezeichnet ein gestrichelter Block einen wie in Fig. 1 dargestellten herkömmlichen Interferenz-Komparator. Vorzugsweise besitzt die Sammellinse 28 weitgehendst dieselbe Brennweite wie die Kollimatorlinse 14 und beide Linsen sind so angeordnet, daß ihre Brennpunkte sich an einem gemeinsamen Punkt treffen.
  • Der Fabry-Perot-Etalon besteht aus einem Paar planparalleler, aus einem geeigneten Material hergestellter Platten mit relativ hohem Reflexionsvermögen, die parallel zueinander angeordnet sind, und aus einem Distanzhalter der die planparallelen Platten in einem vorbestimmten Abstand anseinanderhält, und der aus einem Material hergestellt ist, dessen Wärmeausdehnungskoeffizient wenigstens annähernd gleich ist, dem des Materials, aus welchem der zu messende Gegenstand gefertigt ist.
  • Dies ermöglicht, dlas Verhältnis der Länge des zu messenden Artikels zur Wellenlänge des durch den Etalon hindurchgetretenen Lichtes innerhalb geeigneter Temperaturgrenzen konstant zu halten.
  • Mit anderen Worten, jeder Temperaturwechsel bewirkt die entsprechende Änderung in der Länge des Distanzhalters und daher in der Wellenlänge des durch den Etalon hindurchgelassenen Lichtes. Da jede Änderung der Wellenlänge des durchgelassenen Lichtes proportional ist einer Änderung der Länge des Distanzhalters, ist jede Änderung in der Länge des zu messenden Artikels proportional jener Wellenlänge. Aus diesem Grunde bleibt das Verhältnisnis der Länge des zu messenden Artikels zur Wellenlänge des durch den Etalon hindurchgelassenen Lichtes ungeachtet des Temperaturwechsels unverändert. Wohlbemerkt jedoch sollte dieser Temperaturwechsel innerhalb eines Bereichs bleiben, bei dem eine Änderung des Abstands zwischen dem Paar planparalleler Platten des Etalons höchstens gleich ist einer halben Wellenlänge des verwendeten Lichtes. Er darf aber nicht innerhalb unbeschränkter Grenzen stattfinden.
  • Darüber hinaus geht daraus hervor, daß die gemessenen Daten keineswegs durch eine Änderung des atmosphärischen Druckes beeinflußt werden, und zwar aus ähnlichen Gründen, wie die oben beschriebenen.
  • Bei einem Etalon, der aus einem ein geeignet hohes Reflexionsvermögen aufweisenden Material hergestellt ist und bei dem ein geeignet großer Abstand zwischen dem Paar planparalleler Platten vorhanden ist, besitzt ein in einer unter einem Winkel von 0 zur optischen Achse geneigten Richtung hindurchtretender Lichtstrahl eine Wellenlänge von A cos e, wobei 1 eine Wellenlänge eines entlang der optischen Achse hindurchtretenden Lichtstrahles ist.
  • Weiter weist der in jener Richtung hindurchgelassene Strahl eine Spektrallinie auf, dessen Breite viel schmaler sein kann als der von der Lichtquelle ausgehende Strahl. Bei der dargestellten Ausführung ist der unter dem Winkel von 0 mit Bezug auf dessen optische Achse durch den Fabry-Perot-Etalon hindurchtretende Lichtstrahl so angeordnet, um auch eine Neigung von e mit Bezug auf die optische Achse des Interferometers aufzuweisen.
  • Es ist den Fachleuten auf dem Gebiet bekannt, daß, wenn do eine Gangdifferenz zwischen Lichtstrahlen darstellt, die in der Richtung 0- = 0 durch einen Interferometer hindurchgetreten sind, eine optische Gangdifferenz d0 für Lichtstrahlen, die bei einer Neigung von 0 durch ihn hindurchgegangen sind, durch die Funktion dargestellt wird de = do cos 0.
  • Demnach wird die entsprechende Phasendifferenz s durch die Funktion dargestellt = = 2 n n ds = und = worin n ein Brechungsindex eines Mediums ist, durch das die Strahlen hindurchtreten und 0 eine Phasendifferenz zwischen solchen Strahlen, wenn e = 0. Mit anderen Worten, die Phasendifferenz wird' durch eine Neigung des Lichtstrahls nicht verändert.
  • Beim herkömmlichen Interferometer jedoch ist <pe nicht gleich 0. Um Interferenzstreifen mit hohen Kontrasten zu bilden, wenn die Phasendifferenz groß ist, muß man eine punktförmige Öffnung beim Brennpunkt einer Kollimatorlinse anbringen, um dadurch eine Querschnittsfläche eines dort hindurchtretenden Lichtbündels einzuengen.
  • Im Gegensatz dazu erlaubt die Erfindung, sich diese Einengung in hohem Maße zu erleichtern.
  • Eine solche Einengung jedoch kann wegen der Eigenschaften eines verwendeten Etalons nicht ohne jegliche Beschränkung erleichtert werden. Genauer gesagt, muß die Größe der Öffnung so festgelegt werden, daß, bei einem Etalon mit dem Abstand D zwischen dem Paar planparalleler Platten hat, kein Lichtstrahl durch die Öffnung hindurchgelassen wird, der eine größere Neigung als }AZID rad. aufweist.
  • Das Ausmaß der so festgelegten Öffnung ist weit größer, als das unter den Bedingungen für die Kontrastverbesserung erhaltene Ausmaß. Eine beschränkte Erleichterung der Einengung bezüglich der Öffnungsgröße ist zum Zweck der Bildung von hellen Interferenzstreifen vorteilhaft und besonders wirksam, wenn die Interferenzstreifen der Photometrie unterworfen werden, bei der eine Photozelle benutzt wird.
  • Weiter ist erforderlich, dahingehend zu wirken, daß eine Spektrallinie von Licht, das von einer Lichtquelle ausgeht, nicht Ä2/2D überschreitet.
  • Aus dem Vorangegangenen ist ersichtlich, daß die Erfindung die folgenden technischen Konzeptionen in sich schließt: 1. Indem die Lichtwellenlänge gemäß jedem Wechsel der Temperatur und/oder des atmosphärischen Druckes und/oder dergleichen geändert wird, wird sichergestellt, daß die Phasendifferenz zwischen den durch den Interferometer hindurchgelassenen Lichtstrahlen nicht von einem solchen Wechsel abhängt.
  • 2. Indem bewirkt wird, daß die Wellenlänge eines Lichtstrahles, der unter einem Winkel von 0 mit Bezug auf eine optische Achse eines Interferometers geneigt ist, gleich A cos 0 ist, wird sichergestellt, daß eine Phasendifferenz zwischen den durch den Interferometer hindurchgelassenen Lichtstrahlen nicht von ihrer Neigung abhängt.
  • In F i g. 3 der Zeichnung ist eine abgeänderte Anordnung schematisch dargestellt. Wie daraus ersichtlich, sind hier der Fabry-Perot-Etalon 26 und die damit verbundenen Linsen 24 und 28 an einer Austrittsseite eines Interferometers angebracht. Wie bei der in F i g. 2 gezeigten Anordnung besitzen hier die beiden Linsen 28 und 22 dieselben Brennweiten und sind so angeordnet, daß sich ihre Brennpunkte an einem gemeinsamen Punkt treffen. Ein von der Linse 22 in jeder Richtung ausgehender Lichtstrahl hat verschiedene Wellenlängen. Nachdem er die Linse 28 und den Etalon 26 durchlaufen hat, hat der Lichtstrahl nur eine einzige Wellenlänge von A cos 0. Somit sind die Bedingungen auch in der in F i g. 3 gezeigten Anordnung aufrechterhalten, dieselben also, wie sie zuvor im Zusammenhang mit F i g. 2 beschrieben wurden.
  • In den F i g. 4 und 5 sind Abänderungen der Ausführungsform dargestellt, bei denen ein Etalon auf einer optischen Bahn innerhalb eines Interferometers angebracht ist, wobei in der Abwandlung gemäß Fig.4 der Etalon an der Eintrittsseite angebracht ist, während in der Abwandlung gemäß F i g. 5 der Etalon an der Austrittsseite des Interferometers angebracht ist. Bei diesen beiden Abwandlungen sind die in F i g. 2 gezeigten Linsen 28 und 24 weggefallen. Genauer gesagt, wird ein durch den Etalon hindurchgelassener Lichtstrahl zu einem Strahlenteiler 16, wie z. B. einem halbdurchlässig versilberten Spiegel, geleitet, ohne daß seine Durchlaufrichtung geändert wird. Dementsprechend ist die obenerwähnte Konzeption (2) klar verwirklicht. Dies gilt für die Anordnung gemäß F i g. 5.
  • Die vorangehende Beschreibung richtet sich auf die Verwendung eines einzigen Fabry-Perot-EtaIons.
  • Wie bereits beschrieben, sind die Beschränkungen bezüglich der Größe einer Öffnung, jeder Änderung der Temperatur, des atmosphärischen Druckes usw., verglichen mit den früheren Methoden auf dem Gebiet, in hohem Maße weiter erleichtert, können aber nicht vollständig vermieden werden. Solche Beschränkungen können jedoch weiter erleichtert werden durch die Verwendung eines Paares Etalon, die zwischen den jeweiligen Paaren planparalleler Platten verschiedene Abstände aufweisen und wie in F i g. 6 dargestellt, hintereinander angebracht sind.
  • Dabei wird angenommen, daß ein Lichtstrahl zuerst durch einen Etalon 30 und dann durch einen Etalon 32 hindurchtritt.
  • Der Etalon 32 ist so entworfen und konstruiert, daß ein Abstand D2 zwischen einem Paar planparalleler Platten und sein Brechungsindex genügen, um eine Breite einer Spektrallinse von durch den Etalon durchgelassenem Licht kleiner zu machen als eine Breite einer Spektrallinie, die notwendig ist, um einen gewünschten zu messenden Abstand oder einen gewünschten Abstand zu erhalten, innerhalb dessen ein Paar kohärenter Strahlen interferieren können.
  • Der Etalon 30 ist so entworfen und konstruiert, daß ein Abstand Dl zwischen einem Paar planparalleler Platten und sein Reflexionsvermögen genügen, um eine Breite einer Spektrallinie von durch den Etalon durchgelassenen Licht kleiner als P/2D* zu machen und um den Abstand Dl kleiner als den Abstand D zu machen. Auf diese Weise kann die Beschränkung bezüglich einer Öffnung, verglichen mit der Anord nung, bei der nur ein einziger Etalon verwendet wird, um einen Faktor von fD2/D1 weiter erleichtert werden. In gleicher Weise können die Einflüsse des Temperatur- und/oder des atmosphärischen Druckwechsels um einen Faktor D21D1 verringert werden.
  • Auch können, um eine solche Beschränkung weiter zu erleichtern, drei oder mehr Etalons verwendet werden. Bei Verwendung von mindestens einem Paar Etalons versteht es sich, daß einer der Etalons an der Eintrittsseite, der andere an der Austrittsseite des Interferometers angebracht werden kann.

Claims (6)

  1. Patentansprüche: 1. Interferenz-Komparator, bestehend aus einer Lichtquelle mit nachfolgendem Kollimator, der das aus einem Punkt der Lichtquelle kommende Lichtbündel parallel macht, aus Mitteln zur Aufteilung des parallelen Lichtbündels in ein durchgelassenes und ein reflektiertes Lichtbündel, aus reflektierenden Mitteln, die das reflektierte Lichtbündel auf den Strahlenteiler zurücklenken, und aus bewegbaren reflektierenden Mitteln, die das durchgelassene Lichtbündel auf den Strahlenteiler reflektieren und die von diesem weg verschoben werden können, wobei die Teile so angeordnet sind, daß die von den beiden Reflexionsmitteln kommende Lichtbündel ein interferierendes Lichtbündel bilden, dessen Interferenzen über weitere optische Mittel beobachtet und vermessen werden können, d a d u r c h g e - kennzieichnet, daß dem Interferometer mindestens ein Fabry-Pérot-Etalon zugeordnet ist, der ein Paar planparalleler Platten mit relativ hohem Reflexionsvermögen und einen Distanzhalter aus einem Material enthält, dessen Wärmeausdehnungskoeffizient wenigstens annähernd dem des Materials gleichkommt, aus welchem der zu messende Artikel hergestellt ist, wobei die durch das Interferometer hindurchtretenden Lichtstrahlen untereinander eine Phasendifferenz aufweisen, die von der jeweiligen Neigung der Lichtstrahlen und' von den Umgebungsbedingungen nicht beeinflußt wird.
  2. 2. Interferenz-Komparator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Fabry-Pérot-Etalon an der Eintrittsseite des Interferometers angebracht ist und zwischen dem Etalon und dem Kollimator eine Sammellinse mit derselben Brennweite wie die Kollimatorlinse so angeordnet ist, daß sie beide ein telezentrisches System bilden.
  3. 3. Interferenz-Komparator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Fabry-Perot-Etalon an der Austrittsseite des Interierometers angebracht ist und zwischen Etalon und Ausgangsoptik eine Kollimationslinse mit der Brennweite der Ausgangsoptik derart angeordnet ist, daß beide ein telezentrisches System bilden.
  4. 4. Interferenz-Komparator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen Kollimatorlinse und Strahlenteiler mindestens ein Fabry-Perot-Etalon angeordnet ist.
  5. 5. Interferenz-Komparator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen Strahlenteiler und Austrittsoptik mindestens ein Fabry-Perot-Etalon angeordnet ist.
  6. 6. Interferenz-Komparator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens je ein Fabry-Perot-Etalon an Ein- und Austrittsseite des Interferometers angeordnet ist.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Gehrke, »Handbuch der physikalischen Optik«, 1927, Bd. 1, S. 430 bis 433 und 493 bis 494; Kohlrausch, »Praktische Physik«, 1955, Bd. 1, S. 568 und 569.
DEO8313A 1960-11-24 1961-10-19 Interferenz-Komparator Pending DE1204838B (de)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1773289B1 (de) * 1968-04-26 1970-12-03 Siemens Ag Digitale Laengenmessanordnung mit Laserinterferometer
WO1998038475A1 (en) * 1997-02-25 1998-09-03 Aberlink Technology Limited Apparatus for precise length measurement calibration
DE102007034942A1 (de) * 2007-04-05 2008-10-16 Carl Zeiss Sms Gmbh Vorrichtung zur Vermessung von Substraten

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
None *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1773289B1 (de) * 1968-04-26 1970-12-03 Siemens Ag Digitale Laengenmessanordnung mit Laserinterferometer
WO1998038475A1 (en) * 1997-02-25 1998-09-03 Aberlink Technology Limited Apparatus for precise length measurement calibration
DE102007034942A1 (de) * 2007-04-05 2008-10-16 Carl Zeiss Sms Gmbh Vorrichtung zur Vermessung von Substraten

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