DE112018005214T5

DE112018005214T5 - Strombasierte Temperaturmessvorrichtungen und -Verfahren

Info

Publication number: DE112018005214T5
Application number: DE112018005214.1T
Authority: DE
Inventors: James Bartling
Original assignee: Microchip Technology Inc
Current assignee: Microchip Technology Inc
Priority date: 2017-11-02
Filing date: 2018-11-02
Publication date: 2020-06-18
Also published as: CN111051831A; TW201923321A; US20190128748A1; WO2019090013A1; CN111051831B; US11187593B2

Abstract

Für die hochauflösende Temperaturmessung wird eine Proportional-To-Absolute-Temperature- (PTAT-) Stromquelle verwendet. Die PTAT-Stromquelle ist für eine feste Zeitdauer mit einem Kondensator gekoppelt, um den Kondensator auf eine Spannung aufzuladen, die proportional zu dem an den Kondensator angelegten Strom und somit proportional zur Temperatur ist. Die Spannung am Kondensator wird gemessen und aus der gemessenen Spannung wird eine Temperatur berechnet oder bestimmt.

Description

VERWANDTE PATENTANMELDUNG
Diese Anmeldung beansprucht Vorrang vor der Seriennummer 62/580,760 der vorläufigen US-Patentanmeldung im gemeinsamen Besitz; eingereicht am 2. November 2017; mit dem Titel „Current-Based Temperature Measurement Devices and Methods“ von James E. Bartling und wird hiermit für alle Zwecke durch Bezugnahme hierin aufgenommen.
TECHNISCHES GEBIET DER ERFINDUNG
Die vorliegende Offenbarung bezieht sich auf Temperaturmessvorrichtungen und -verfahren und insbesondere auf strombasierte Temperaturmessvorrichtungen und -verfahren, z. B. unter Verwendung einer Proportional-To-Absolute-Temperature- (PTAT-) Stromquelle zur Temperaturmessung.
HINTERGRUND DER ERFINDUNG
Zur Temperaturmessung werden verschiedene elektronische Verfahren eingesetzt. Beispielsweise verwenden einige Vorrichtungen oder Verfahren eine auf Widerstand basierende Temperaturmessung, z. B. indem ein Widerstand mit einer festen Stromquelle angesteuert wird, die Spannung über dem Widerstand gemessen wird und ein Temperaturwert als Funktion der gemessenen Spannung bestimmt wird. Widerstandsbasierte Techniken weisen jedoch häufig eine begrenzte Genauigkeit und/oder eine begrenzte Umwandlungsgeschwindigkeit auf.
Als ein anderes Beispiel kann eine Widerstandsteilertechnik zur Temperaturmessung verwendet werden, z. B. durch Verwenden von Widerständen in der Teilerschaltung mit verschiedenen bekannten Temperaturkoeffizienten. Diese Technik leidet jedoch typischerweise unter langsamen Reaktionszeiten, begrenzter Genauigkeit und/oder Lineari tätsprobl emen.
Als noch ein weiteres Beispiel verwenden einige Vorrichtungen oder Techniken eine diodenbasierte Temperaturmessung, z. B. durch Ansteuern einer Diode mit einer festen Stromquelle, Messen der Spannung über der Diode und Bestimmen eines Temperaturwerts als Funktion der gemessenen Spannung. Diodenbasierte Techniken leiden jedoch häufig unter einer langsamen Reaktionszeit, einer begrenzten Genauigkeit und/oder einer geringen Auflösung.
ZUSAMMENFASSUNG
Daher ist eine genaue, schnelle, zuverlässige und kostengünstige Methode zur Temperaturmessung erforderlich.
Gemäß einer Ausführungsform kann ein Temperaturmesssystem aufweisen: eine Proportional-To-Absolute-Temperature- (PTAT-) Stromquelle; einen Kondensator, der durch einen steuerbaren Schalter selektiv mit der PTAT-Stromquelle verbunden ist; einen Controller, der ausgebildet ist, um den Schalter zu steuern, um den Kondensator für eine Ladezeit mit der PTAT-Stromquelle zu koppeln, wobei der Kondensator während der Ladezeit auf eine Spannung aufgeladen werden kann; einen Analog-Digital-Wandler (ADC) mit einem an den Kondensator gekoppelten Eingang, der zum Erzeugen einer digitalen Repräsentation der Spannung am Kondensator ausgebildet ist; und eine elektronische Schaltung, die ausgebildet ist, um eine Temperatur basierend auf der digitalen Repräsentation der Spannung am Kondensator zu berechnen.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann eine Zero-Change-To-Absolute-Temperature-(ZTAT-) Stromsenke ausgebildet sein, um einen Kondensatorladestrom auf einen gewünschten Wert einzustellen. Gemäß einer weiteren Ausführungsform können PTAT- und ZTAT-Ströme durch Bandlückenschaltungen erzeugt werden. Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann ein Stromspiegel bereitgestellt werden, um den von der PTAT-Stromquelle verfügbaren Strom zu erhöhen. Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann ein Stromspiegel vorgesehen sein, um einen Temperaturkoeffizienten der PTAT-Stromquelle einzustellen. Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann ein Stromspiegel vorgesehen sein, um die Stromverarbeitung der ZTAT-Stromsenke zu erhöhen.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann das Temperaturmesssystem eine Temperaturmessauflösung aufweisen, die aus einer Gruppe ausgewählt ist, die aus weniger als 1 °C, weniger als 0,5 °C, weniger als 0,2 °C, weniger als 0,1 °C und weniger als besteht 0,05 °C besteht. Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann die Ladezeit aus einer Gruppe ausgewählt werden, die aus weniger als 1 Sekunde, weniger als 100 Millisekunden, weniger als 10 Millisekunden, weniger als 1 Millisekunde, weniger als 100 µs, weniger als 10 µs, weniger als 1 µs und weniger als 100 ns bestehen. Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann die Ladezeit etwa 625 ns betragen.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann das Temperaturmesssystem einen Mikrocontroller aufweisen. Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann der Mikrocontroller aufweisen: einen Mikroprozessor; einen Speicher, der mit dem Mikroprozessor gekoppelt ist und ein Programm zum Bestimmen der Temperatur aus der digitalen Repräsentation der Spannung am Kondensator speichert. Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann der Mikrocontroller den ADC und den steuerbaren Schalter umfassen. Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann ein Kurzschlussschalter vorgesehen sein, um den Kondensator vor dem Laden während der Ladezeit zu entladen. Gemäß einer weiteren Ausführungsform steuert der Controller den Kurzschlussschalter.
Gemäß einer anderen Ausführungsform kann ein Verfahren zum Messen der Temperatur die folgenden Schritte aufweisen: Bereitstellen eines Stroms proportional zur absoluten Temperatur (PTAT) von einer Stromquelle; Laden eines Kondensators mit dem Strom von der PTAT-Stromquelle für eine Ladezeit; Messen einer Spannung am Kondensator nach der Ladezeit; and Umwandlung der Messspannung in eine Temperatur.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Verfahrens kann der Schritt des Umwandelns der Messspannung in eine Temperatur die folgenden Schritte aufweisen: Bestimmen einer Referenzspannung am Kondensator, wobei die Referenzspannung gleich dem Strom von der PTAT-Stromquelle bei einer bestimmten Temperatur sein kann multipliziert mit der Ladezeit geteilt durch eine Kapazität des Kondensators; Bestimmen einer Strom-/Temperatursteigung der PTAT-Stromquelle; Umwandlung der Strom-/Temperatursteigung in eine Spannungs-/Temperatursteigung über die Ladezeit; und Berechnung der Temperatur aus der Referenzspannung und der Spannungs-/Temperatursteigung.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Verfahrens kann der Schritt des Einstellens des Kondensatorladestroms auf einen erwünschten Wert mit einer Stromsenke mit Nullveränderung zur absoluten Temperatur (ZTAT) durchgeführt werden. Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Verfahrens kann der Schritt des Erhöhens des Stroms von der PTAT-Stromquelle mit einer Spiegelstromquelle durchgeführt werden. Gemäß einer weiteren Ausführungsform des Verfahrens kann der Schritt des Erhöhens des Temperaturkoeffizienten der PTAT-Stromquelle mit einer Spiegelstromquelle durchgeführt werden.
Gemäß noch einer anderen Ausführungsform kann eine Vorrichtung zum Messen der Temperatur aufweisen: einen Mikrocontroller, der einen Mikroprozessor mit Speicher aufweist, einen Analog-Digital-Wandler (ADC) mit einem an den Mikroprozessor gekoppelten Ausgang, einen an einen Eingang des ADC gekoppelten Kondensator, einen ersten Schalter, der zwischen einem ersten Knoten und dem Kondensator gekoppelt ist, einen zweiten Schalter, der zwischen dem Kondensator und einer gemeinsamen Spannung (Masse) gekoppelt ist, eine Schaltsteuerung, die mit dem Mikroprozessor und dem ersten und zweiten Schalter gekoppelt ist, und einen Zeitgeber, der mit dem Mikroprozessor und der Schaltsteuerung gekoppelt ist; und eine Stromquelle proportional zur absoluten Temperatur (PTAT), die zwischen einer Versorgungsspannung und dem ersten Knoten gekoppelt ist; wobei der erste Schalter für eine bestimmte Zeit schließt und dann öffnet; der ADC nach einer bestimmten Zeit eine Spannung am Kondensator misst; und der Mikroprozessor die gemessene Spannung in eine Temperatur umwandelt.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann der zweite Schalter schließen und den Kondensator entladen, bevor der erste Schalter schließt. Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann eine Zero-Change-To-Absolute-Temperature- (ZTAT-) Stromsenke ausgebildet sein, um einen Ladestrom zum Kondensator einzustellen.
Figurenliste
Ein vollständigeres Verständnis der vorliegenden Anordnung kann unter Bezugnahme auf die folgende Beschreibung in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen erlangt werden, in denen:

1 ein schematisches Blockdiagramm eines PTAT-basierten Temperaturmesssystems gemäß einer spezifischen beispielhaften Ausführungsform dieser Anordnung veranschaulicht.

Während die vorliegende Offenbarung für verschiedene Modifikationen und alternative Formen zugänglich ist, wurden spezifische beispielhafte Ausführungsformen davon in den Zeichnungen gezeigt und werden hier im Detail beschrieben. Es sollte jedoch verstanden werden, dass die Beschreibung spezifischer beispielhafter Ausführungsformen hierin nicht dazu gedacht ist, die Offenbarung auf die hierin offengelegten Ausführungen zu beschränken.
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
Beispielhafte Aspekte der vorliegenden Offenbarung werden nachstehend in Verbindung mit 1 beschrieben, die ein beispielhaftes System zur Temperaturmessung unter Verwendung einer PTAT-Stromquelle gemäß einer beispielhaften Ausführungsform zeigt.
Ausführungsformen der vorliegenden Anordnung stellen Systeme, Vorrichtungen und Verfahren zur Bereitstellung einer hochauflösenden Temperaturmessung unter Verwendung einer Proportional-To-Absolute-Temperature- (PTAT-) Stromquelle bereit. Einige Ausführungsformen verwenden eine PTAT-Stromquelle, um einen Kondensator für eine feste Zeitdauer aufzuladen, um an den Kondensator eine Spannung anzulegen, die proportional zum Strom und somit proportional zur Temperatur des PTAT ist, die im Wesentlichen der Temperatur entsprechen kann, die ihn umgibt. Diese Spannung kann gemessen werden und eine Temperatur kann aus der gemessenen Spannung berechnet oder bestimmt werden.
Einige Ausführungsformen verwenden analoge Signale, die durch eine Bandlücke erzeugt werden. Beispielsweise kann eine Bandlücke entworfen werden, um eine Referenzspannung zu erzeugen, die über die Temperatur stabil ist. Zusätzlich kann eine Bandlücke drei Grundströme erzeugen:

1. PTAT - Proportional zur absoluten Temperatur. Die PTAT liefert einen Strom, der eine lineare Beziehung zur Temperatur hat.
2. ZTAT - Nulländerung auf absolute Temperatur. Der ZTAT liefert einen Strom, der stabil ist und sich mit der Temperatur nicht ändert. Dieser Strom kann verwendet werden, um den Offset des Temperaturmesskreises auf den gewünschten Wert einzustellen, wie nachstehend vollständiger offenbart.
3. NTAT - Negativ proportional zur absoluten Temperatur. Der NTAT liefert einen Strom, der einen negativen Temperaturkoeffizienten aufweist.

Einige Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung, z. B. das in 1 unten diskutierte Beispiel, verwenden die durch eine Bandlücke erzeugten PTAT- und ZTAT-Ströme, um eine hochauflösende Temperaturmessung bereitzustellen. Beispielsweise können einige Ausführungsformen die ZTAT verwenden, um den Offset auf den gewünschten PTAT-Wert einzustellen, wie nachstehend erörtert wird. Eine Stromspiegelschaltung kann in Kombination mit der Bandlücke verwendet werden, um PTAT und/oder ZTAT mit höherer Stromkapazität bereitzustellen und den Betriebsstrom von PTAT und/oder ZTAT einzustellen. Eine Stromspiegelschaltung kann auch eine Einstellung für die Änderung des Stroms pro Temperaturgrad bereitstellen, z. B. die Steigung in Mikroampere pro Grad Celsius (mA/°C). Das Delta der Temperaturänderung pro Grad Celsius und Kelvin ist das gleiche und wird hier austauschbar verwendet.
Unter Bezugnahme auf die Zeichnung sind die Details beispielhafter Ausführungsformen schematisch dargestellt. Gleiche Elemente in den Zeichnungen werden durch gleiche Zahlen dargestellt, und ähnliche Elemente werden durch gleiche Zahlen mit einem anderen Kleinbuchstaben-Suffix dargestellt. Unter Bezugnahme auf 1 ist ein schematisches Blockdiagramm eines PTAT-basierten Temperaturmesssystems gemäß einer spezifischen beispielhaften Ausführungsform dieser Anordnung dargestellt. 1 zeigt gemäß einer beispielhaften Ausführungsform ein beispielhaftes Temperaturmesssystem, das allgemein durch die Ziffer 100 dargestellt ist, zur Temperaturmessung unter Verwendung von PTAT- und ZTAT-Stromquellen, z. B. erzeugt durch eine Bandlücke. Das Temperaturmesssystem 100 kann eine PTAT-Stromquelle 120, eine ZTAT-Stromsenke 122, einen Kondensator 130, Schalter 132 und 134, einen Analog-Digital-Wandler (ADC) 140, einen Mikroprozessor 144, einen Speicher 142, einen Zeitgeber 146, und eine Schaltersteuerung 148 aufweisen. Alle vorgenannten Komponenten mit Ausnahme des PTAT 120 und des ZTAT 122 können in einem Mikrocontroller 102 bereitgestellt werden. Es wird in Betracht gezogen, und ist im Schutzumfang dieser Offenbarung, dass Stromspiegel verwendet werden können, um die Stromabgabe/-senkung des PTAT 120 und/oder ZTAT 122 zu erhöhen sowie die von jeder Vorrichtung bereitgestellte/abgesenkte Strommenge. Zusätzlich kann die Stromänderung in Bezug auf die Temperaturänderung (Steigung der Strom-/Temperaturübertragung) mit einem zugehörigen Stromspiegel eingestellt werden.
Der Mikroprozessor kann die Schaltersteuerung 148 anweisen, den Schalter 132 zu öffnen und den Schalter 134 zu schließen, um die Ladung am Kondensator 130 auf null zu setzen, und danach den Schalter 134 zu öffnen. Der Mikroprozessor kann den Zeitgeber 146 anweisen, zu starten und den Schalter 132 zu schließen, und dann den Schalter 132 zu öffnen, wenn der Zeitgeber 146 abläuft. Dies stellt eine präzise Ladezeit des Kondensators 130 bereit, der eine Spannung speichert. Der ADC 140 wandelt diese Spannung in einen digitalen Wert um, der dem Mikroprozessor 144 bereitgestellt wird. Der Mikroprozess 144 wird durch ein Programm in dem Speicher 142 gesteuert, das verwendet werden kann, um den digitalen Wert der Kondensatorspannung in eine Temperatur umzuwandeln. Die ZTAT-Stromsenke 122 kann als Offset zum Einstellen des Ladestroms zum Kondensator 130 auf einen erwünschten Wert verwendet werden (Umleiten von überschüssigem Strom von der PTAT).
Der Kondensator 130 kann in einen dem ADC 140 zugeordneten Abtast- und Haltekondensator integriert oder von diesem getrennt sein. Der Schalter 132 kann durch eine geeignete Steuerelektronik, z. B. den Mikroprozessor 144, den Zeitgeber 146 und die Schaltersteuerung 148, gesteuert werden, um den Schalter 132 bei T₁ zu schließen und den Schalter 132 nach einer vordefinierten Dauer (z. B. bestimmt durch den Zeitgeber 146) bei T₂ zu öffnen, so dass der Kondensator 130 während einer Ladezeit von T₂ - T₁ aufgeladen wird.
Die Ladezeit (über das Öffnen und Schließen des Schalters 132) kann basierend auf einem Taktsignal vom Zeitgeber 146 gesteuert werden. Das System 100 kann jede geeignete Ladezeit für den Kondensator 130 verwenden, z. B. 625 ns, die im folgenden Beispiel verwendet werden.
Eine beispielhafte Implementierung des Systems 100 kann wie folgt ausgebildet werden. Für diese Beispielimplementierung gelten zwei Gleichungen: $I = C * (V / T),$
wobei I Strom, C Kapazität, V Spannung und T Zeit ist; $I = 40 * K,$
wobei 40 gleich 40 nA pro Grad K (Steigung) ist und K die Temperatur in Kelvin ist.
Bei -40 °C (Celsius) beträgt der Strom I = 40(273 - 40) oder 9,32 Mikroampere (µA) nach Gleichung 2. Für Gleichung 1 verwenden wir: C = 5 Picofarad (pF), V = 0,2 Volt (V) und T = 625 Nanosekunden (ns). Daher ist I = 1,6 µA. Aus den Gleichungen 1 und 2 ergeben sich zwei unterschiedliche Werte für I, 1,6 µA und 9,32 µA. Der Strom von 9,32 µA kann vom PTAT 120 geliefert werden (1). Der Unterschied kann behoben werden, indem der ZTAT 122 (1) auf 7,72 µA eingestellt wird, um so den gewünschte Strom von 1,6 µA bei 233 K (-40 °C) zu gewährleisten. Die endgültige Gleichung lautet dann: $I = C * (V / T) + offset$
Kombinieren von Gleichung 1 und 2 $C * (V / T) + offset - 6 = Steigung * K$
Auflösen nach K $K = (C * (V / T) + offset) - Steigung$
Weiterhin ist die resultierende Steigung = 40 nA/°C * 625 ns/5 pF = 5,0 Millivolt (mV)/°C. Mit anderen Worten zeigt die PTAT-Stromquelle 120 eine Spannungs-/Temperatur-Beziehung von 5,0 mV/°C. Zu beachten ist, dass die Temperaturänderung pro Grad Celsius der Temperaturänderung pro Grad Kelvin entspricht.
Der beispielhafte 12-Bit-ADC mit 3,3 V bietet eine ADC-Auflösung von 3,3 V/4096 = 806 Mikrovolt (µV)/Anzahl (CNT). Somit ist die Temperaturauflösung dieser Beispielimplementierung = (806 µV/CNT/(5,0 mV/°C) = 0,161 °C/CNT.
Es versteht sich, dass die oben diskutierten Komponenten nur ein Beispiel sind. Somit können unterschiedliche PTAT-Stromquellen- und ADC-Komponenten mit unterschiedlichen Betriebsparametern verwendet werden.
Die vorliegende Erfindung kann einen oder mehrere Vorteile bereitstellen. Beispielsweise verwendet die Erfindung eine lineare Beziehung zwischen Strom und Temperatur. Als weiteres Beispiel können der Offset und die Verstärkung leicht eingestellt werden, um eine höhere Auflösung der Temperatur zu ermöglichen. Als weiteres Beispiel kann die Erfindung schnelle Messungen bereitstellen, z. B. weniger als 2 µs. Weiterhin kann die Erfindung einen sehr kleinen oder minimalen Einfluss auf die Chipfläche aufweisen (z. B. werden keine Operationsverstärker für eine bessere Auflösung benötigt). Zusätzlich kann das offenbarte System weniger Rauschen erzeugen als herkömmliche Systeme. Weiterhin kann das offenbarte System einfacher zu kalibrieren sein als herkömmliche Systeme.
Die vorliegende Erfindung wurde in Bezug auf eine oder mehrere bevorzugte Ausführungsformen beschrieben, und es sollte anerkannt werden, dass viele Äquivalente, Alternativen, Variationen und Modifikationen, abgesehen von den ausdrücklich angegebenen (z. B. Herstellungsverfahren, Produkt nach Verfahren usw.) möglich sind und im Schutzumfang der Erfindung liegen.

Claims

Temperaturmesssystem, das aufweist: eine Proportional-To-Absolute-Temperature- (PTAT-) Stromquelle; einen Kondensator, der durch einen steuerbaren Schalter selektiv mit der PTAT-Stromquelle verbunden ist; einen Controller, der ausgebildet ist, um den Schalter zu steuern, um den Kondensator für eine Ladezeit mit der PTAT-Stromquelle zu koppeln, wobei der Kondensator während der Ladezeit auf eine Spannung aufgeladen wird; einen Analog-Digital-Wandler (ADC), der einen Eingang aufweist, der mit dem Kondensator gekoppelt ist, und der ausgebildet ist, um eine digitale Repräsentation der Spannung am Kondensator zu erzeugen; und eine elektronische Schaltung, die ausgebildet ist, um eine Temperatur basierend auf der digitalen Repräsentation der Spannung am Kondensator zu berechnen.
Temperaturmesssystem nach Anspruch 1, das weiterhin eine Zero-Change-To-Absolute-Temperature- (ZTAT-) Stromsenke aufweist, die ausgebildet ist, einen Kondensatorladestrom auf einen erwünschten Wert einzustellen.
Temperaturmesssystem nach einem der Ansprüche 1 bis 2, wobei PTAT- und ZTAT-Ströme durch Bandlückenschaltungen erzeugt werden.
Temperaturmesssystem nach einem der Ansprüche 1 bis 3, das weiterhin einen ersten Stromspiegel aufweist, um den von der PTAT-Stromquelle verfügbaren Strom zu erhöhen.
Temperaturmesssystem nach einem der Ansprüche 1 bis 4, das weiterhin einen zweiten Stromspiegel aufweist, um einen Temperaturkoeffizienten der PTAT-Stromquelle einzustellen.
Temperaturmesssystem nach einem der Ansprüche 2 bis 5, das weiterhin einen dritten Stromspiegel aufweist, um die Strombewältigung der ZTAT-Stromsenke zu erhöhen.
Temperaturmesssystem nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei das Temperaturmesssystem eine Temperaturmessauflösung aufweist, die aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus weniger als 1 °C, weniger als 0,5 °C, weniger als 0,2 °C, weniger als 0,1 °C und weniger als 0,05 °C besteht.
Temperaturmesssystem nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei die Ladezeit aus der Gruppen ausgewählt ist, die aus weniger als 1 Sekunde, weniger als 100 Millisekunden, weniger als 10 Millisekunden, weniger als 1 Millisekunde, weniger als 100 µs, weniger als 10 µs, weniger als 1 µs und weniger als 100 ns besteht.
Temperaturmesssystem nach einem der Ansprüche 1 bis 8, wobei die Ladezeit etwa 625 ns beträgt.
Temperaturmesssystem nach einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei das Temperaturmesssystem einen Mikrocontroller aufweist.
Temperaturmesssystem nach Anspruch 10, wobei der Mikrocontroller aufweist: einen Mikroprozessor; und einen Speicher, der mit dem Mikroprozessor gekoppelt ist und ein Programm zum Bestimmen der Temperatur aus der digitalen Repräsentation der Spannung am Kondensator speichert.
Temperaturmesssystem nach einem der Ansprüche 10 bis 11, wobei der Mikrocontroller den ADC und den steuerbaren Schalter aufweist.
Temperaturmesssystem nach einem der Ansprüche 1 bis 12, das weiterhin einen Kurzschlussschalter zum Entladen des Kondensators vor dem Laden während der Ladezeit aufweist.
Temperaturmesssystem nach Anspruch 13, wobei der Controller den Kurzschlussschalter steuert.
Verfahren zum Messen der Temperatur, wobei das Verfahren die Schritte zum Betreiben eines der Temperaturmesssysteme nach den Ansprüchen 1 bis 14 aufweist.